专利名称：：一种半导体致冷组件的试验装置的制作方法
技术领域：
：本实用新型涉及一种半导体致冷组件的试验装置，更具体地说是涉及半导体冰箱主要电器零部件的试验装置。
背景技术：
：对于半导体冰箱家电产品，进行关键零部件的可靠性试—睑是非常有必要的。试验结果是否有效取决于3个方面试验方法(多特性应力的仿真程度决定方法)的正确度。试验手段(多特性应力的自动化程度、模拟精度决定试验手段)的有效度。试验技术的先进程度(控制手段可编程性，试验观察、记录的自动化程度)。通常的试验手段有两种，一是采用半导体冰箱整机试验；二是直接用半导体致冷组件进行模拟试验。半导体水箱整机试验模拟用户使用情况，在特定的环境中连续致冷或致热，依靠试验过程观测温度.功率曲线图判定整机的性能变化情况；对于半导体致冷组件试验时热面温度《8(TC的限定条件则靠限温器来保护。不具备电致冷、电致热交变寿命试验、电耐久性寿命试验条件1)半导体致冷组件在较短的时间内频繁的改变电源极性，会使散热器上的限温器常常处于超温保护状态，影响试^^效果。2)用较大的散热器，热面温度小于8(TC同样影响试验效果。3)半导体致冷组件生产厂要求在工作参数下，热端的温度必须低于80。C，(含改变电流方向冷端变成热端)。否则由于热端温度太高，极易造成器件短路或断缆使致冷器报废。
实用新型内容针对现有^t支术的缺点，本实用新型的目的是提供一种可靠性高、试验结果准确的半导体致冷组件的试^r装置。为实现上述目的，本实用新型的技术方案为一种半导体致冷组件的试-睑装置，包括内装有水的试验容器、对试验容器水的温度进行调控的水温调控系统、置于试-验容器内的半导体致冷组件、与水温调控系统及半导体致冷组件连接的试l^控制器，水温调控系统将试验中的半导体致冷组件控制于一温度范围内，试-验控制器对半导体致冷组件进行极性切换、通电及断电循环控制，并利用一电脑测试仪纟全测试验结果。该试验控制器包括电源、脉冲信号源及中间继电器，电源的正极通过一中间继电器的�？サ懔又涟氲继逯吕渥榧恼氲继逯吕渥榧母杭直鹆又恋缭锤杭巴ü�-一中间继电器的常开触点连接至电源正极，脉冲信号源用于控制中间继电器的�？サ愕谋蘸匣蚨峡�。8个中间继电器组成D0D7脉冲分配矩阵，半导体致冷组件的数量为4，电源的正极分别通过中间继电器DO~D3的�？サ阌氚氲继逯吕渥榧恼偶傲樱氲继逯吕渥榧母杭又恋缭锤杭氲继逯吕渥榧母杭狗直鹜ü屑浼痰缙鱀4~D7的�？サ阌氲缭吹恼偶傲�。该水温调控系统包括设于试验容器内的加热器及温度传感器，且该加热器及温度传感器与试验控制器连接。该水温调控系统还包括冷却水源及"i殳于冷却水源内的第一水泵，该第一水泵通过管道与试验容器连通，且该第一水泵与试-睑控制器连接，冷却水源由冷冻拒自身的制冷系统和外接增冷压缩^/L的蒸发器对冷拒内水进^f亍制冷形成。该试验容器还设有一与试验控制器连接的水位开关，该水位开关检测到试验容器缺水时，则启动设于冷却水源中的第二水泵补水。与现有技术相比，本实用新型的试验装置，在控制半导体致冷组件的热面温度后，使得半导体致冷组件的快速模拟可靠性试验条件可行，并利用电源、脉冲信号源及多个中间继电器组成的脉冲分配矩阵，对组件正向通电、断电，再反向通电、断电，并循环多次试验，试验控制器通过对水温调控系统的控制从而可产生温度不同的试验工况，通过调整脉冲信号源发出信号的脉冲宽度调整组件极性切换的特性，故该试验过程适用性强，具有良好的控制效果，试验结果准确。图1为本实用新型半导体致冷组件极性控制的原理示意图；图2为本实用新型半导体致冷组件的试验装置的结构示意图。具体实施方式本实用新型的电致冷、电致热交变寿命试验装置按试验条件进行供电极性的切换、通电时间的控制、循环次数计数，致冷组件热面温度的工况控制。如图1及图2所示，一种半导体致冷组件的试验装置，包括内装有水的试验容器、对试验容器水的温度进行调控的水温调控系统、置于试验容器内的半导体致冷组件、与水温调控系统及半导体致冷组件连接的试验控制器，水温调控系统将半导体致冷组件控制于一温度范围内，试-险控制器对半导体致冷组件进行极性切换、通电及断电循环控制，并利用一电脑测试仪检测试验结果。。该试验控制器包括电源、脉冲信号源及多个中间继电器，电源的正极通过一中间继电器的�？サ懔又涟氲继逯吕渥榧恼氲继逯吕渥榧母杭直鹆又恋缭锤杭巴ü硪恢屑浼痰缙鞯某？サ懔又恋缭凑龀逍藕旁从糜诳刂浦屑浼痰缙鞯目ɑ蚬乇�。8个中间继电器组成D0D7脉冲分配矩阵，半导体致冷组件的数量为4，电源的正才及分别通过中间继电器DO~D3的�？サ阌氚氲继逯吕渥榧恼齘l连接，半导体致冷组件的负极连接至电源负极，半导体致冷组件的负极还分别通过中间继电器D4~D7的�？サ阌氲缭吹恼偶傲牌�。该水温调控系统包括设于试验容器内的加热器及温度传感器，且该加热器及温度传感器与试验控制器连接。该水温调控系统还包括冷却水源及设于冷却水源内的第一水泵，该第一水泵通过管道与试-睑容器连通，且该第一水泵与试验控制器连接，冷却水源由冷冻拒自身的制冷系统和外接增冷压缩机的蒸发器对冷拒内水进行制冷形成，用于保证冷却水源的温度与试-睑容器中水温有较大的温差置换空间。试验装置为防止因试验过程中容器缺水造成被试验半导体致冷组件的损坏，该试验容器还设有一与试验控制器连接的水位开关，该水位开关检测到试验容器缺水时，则启动设于冷却水源中的第二水泵补水，保证试验容器内的水容积。试验控制器通过设于内部的4^定扫描电路、8位LED显示器进行按键操作，输入用户按试验条件编制的功能命令；通过采样外部输入温度模拟量用于试验容器内的水温控制、采样外部输入水位开关位置信号用于试^^容器水位控制。另外，本实用新型还提供了一种半导体致冷组件的试验方法，其包括以下步骤'a.将半导体致冷组件置于装有水的试^^容器内，利用水温调控系统将半导体致冷组件控制于一温度范围内；b.利用试验控制器对半导体致冷组件进行极性切换、通电及断电循环控制；c.检测半导体致冷组件的电阻、最大温差变化范围是否小于或等于试验前的10%,是则合格，否则不合格。上述半导体致冷组件的温度控制在65。C-8(TC，并利用电源、脉冲信号源及多个中间继电器组成的脉沖分配矩阵，对组件正向通电、断电，再反向通电、断电，并循环多次。中间继电器的数量为8，组成D0D7脉冲分配矩阵，利用脉冲信号源对中间继电器D0-D7进4亍序列控制，当对中间继电器DO、Dl、D2、D3时序控制时，分别对应为半导体致冷组件E1、E2、E3、E4正向通电6S,当对中间继电器D4、D5、D6、D7时序控制时，分别为半导体致冷组件E1E4反向通电6S，组件El在中间继电器DO时序控制下正向通电6秒后，在中间继电器Dl、D2、D3时序控制时组件El停电18秒，中间继电器D4反向通电6秒后，在中间继电器D5、D6、D7时序控制时组件El再停电18秒，以此类推组件E2、E3、E4在中间继电器D1、D2、D3及中间继电器D5、D6、D7的时序控制下完成一个极性切换周期。试验控制器根据设定温度，通过控制冷却水源中的第一水泵及试^r容器内6的加热器，来达到试验过程中半导体致冷组件的热面温度控制在65。C8(TC之间。另外，试-险过程中还可通过对致冷组件通电电流的^见测，了解致冷组件工作状态。通过本实用新型的实践证明，本装置控制准确，而且试验数据真实可靠，对照以前的可靠性试验手段，具有显著的效果和突出的进步。下面列出三种半导体致冷产品的试验结果，如表1^2所示，其中表1为致冷组件电致冷、电致热交变寿命试验前后性能^^t对比，表2为试验结果。<table>tableseeoriginaldocumentpage7</column></row><table>表21#12704致冷组件的试验结果最大温差变化范围等于试验前26.8%、，变化大于10%的验收标准，不合格。3#12705致冷组件的试验结果最大温差变化范围等于试验前的26%，变化大于ioy。的-险收标准，不合格。12706致冷组件试验结果最大温差变化范围小于或等于10%的验收标准，合格。权利要求1、一种半导体致冷组件的试验装置，其特征在于包括内装有水的试验容器、对试验容器水的温度进行调控的水温调控系统、置于试验容器内的半导体致冷组件、与水温调控系统及半导体致冷组件连接的试验控制器，水温调控系统将试验中的半导体致冷组件控制于一温度范围内，试验控制器对半导体致冷组件进行极性切换、通电及断电循环控制，并利用一电脑测试仪检测试验结果。2、根据权利要求1所述的半导体致冷组件的试验装置，其特征在于该试验控制器包括电源、脉冲信号源及中间继电器，电源的正极通过一中间继电器的常开触点连接至半导体致冷组件的正极，半导体致冷组件的负极分别连接至电源负极及通过另一中间继电器的�？サ懔又恋缭凑龀逍藕旁从糜诳刂浦屑浼痰缙鞯某？サ愕谋蘸匣蚨峡�。3、冲艮据权利要求2所述的半导体致冷组件的试验装置，其特征在于8个中间继电器组成DO~D7脉冲分配矩阵，半导体致冷组件的数量为4,电源的正极分别通过中间继电器DO~D3的�？サ阌氚氲继逯吕渥榧恼樱氲继逯吕渥榧母杭又恋缭锤杭氲继逯吕渥榧母杭狗直鹜ü屑渌俚缙鱀4D7的�？サ阌氲缭吹恼�。4、根据权利要求l所述的半导体致冷组件的试验装置，其特征在于该水温调控系统包括设于试验容器内的加热器及温度传感器，且该加热器及温度传感器与试验控制器连接。5、根据权利要求4所述的半导体致冷组件的试验装置，其特征在于该水温调控系统还包括冷却水源及设于冷却水源内的第一水泵，该第一水泵通过管道与试-验容器连通，且该第一水泵与试验控制器连接，冷却水源由冷冻拒自身的制冷系统和外接增冷压缩才几的蒸发器对冷柜内水进行制冷形成。6、根据权利要求l所述的半导体致冷组件的试验装置，其特征在于该试验容器还设有一与试验控制器连接的水位开关，该水位开关检测到试验容器缺水时，则启动设于冷却水源中的第二水泵补水。专利摘要本实用新型公开了一种半导体致冷组件的试验装置，其包括内装有水的试验容器、对试验容器水的温度进行调控的水温调控系统、置于试验容器内的半导体致冷组件、与水温调控系统及半导体致冷组件连接的试验控制器，水温调控系统将半导体致冷组件控制于一温度范围内，试验控制器对半导体致冷组件进行极性切换、通电及断电循环控制，并利用一电脑测试仪检测试验结果。本实用新型可靠性高、试验结果准确。文档编号G01R31/00GK201281735SQ20082020256公开日2009年7月29日申请日期2008年10月28日优先权日2008年10月28日发明者鲍德君申请人:海信科龙电器股份有限公司;海信容声(广东)冰箱有限公司
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