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专利名称：一种具有老化及测试功能的治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及老化测试技术领域，具体的涉及一种具有老化及测试功能的治具。
背景技术：
随着社会的发展，人们对电子产品的质量要求是越来越高，为了提高电子产品的出厂质量，在出厂前需要对电子产品进行一 系列的老化测试。现有技术中，对电子产品进行老化测试时，采用对电子产品进行单个电连接测试，然而这种单个产品测试的方式效率很低；另一方面，电子产品的老化测试时，往往需要进行如光照老化、湿热老化等多个项目的老化测试，则电子产品的接口需要与不同的测试设备进行电连接，在测试项目转换时，电子产品的接口需要多次插拔，导致接口磨损大，从而影响了电子产品的使用寿命。为了解决上述技术问题，中国实用新型专利(专利号201120161188.X)公开了一种具有老化及测试功能的治具，其技术方案包括有基座、信号接口装置、产品固定座和电接触板，电接触板设置有多个AC信号接口组，AC信号接口组与信号接口装置电连接，当电接触板滑动到与产品固定座的端面贴合时，AC信号接口组与产品固定座上的电子产品安装孔相对应且AC信号接口组位于电子产品安装孔上方。虽然，该治具可同时进行多个电子产品的老化测试，将信号接口装置与测试设备电连接后进行老化测试，可避免由于多次拔插而对电子产品接口的磨损。然而，其缺陷在于对电子产品进行老化测试前，该治具仍需要连接电子负载才能完成老化测试，因此，该工序大大降低了老化测试效率；另一方面，操作时需要先将电接触板移动至与产品固定座的端面贴合的位置处，然后将电接触板固定住，使电接触板上的电接触端组与电子产品的接口电连接，然后将信号接口装置与测试设备电连接，方能完成电子产品的一项老化测试。该过程操作繁琐，而且使用过程中，电接触板反复前后滑动容易受损，造成接触不良或定位不准确，从而降低了老化测试效率。因此，针对现有技术中的不足，亟需提供一种操作简单、老化测试效率高、无需连接电子负载的具有老化及测试功能的治具。
发明内容本实用新型的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种操作简单、老化测试效率高、无需连接电子负载的具有老化及测试功能的治具。本实用新型的目的通过以下技术方案实现提供一种具有老化及测试功能的治具，所述治具包括有配合使用的子治具和母治具，其中所述子治具包括有底座和上盖，所述底座设置有底座PCB板，所述底座PCB板设置有子治具DC信号连接装置，所述底座与所述上盖相对的内表面开设有产品放置槽，所述产品放置槽内设置有DC信号接口，所述DC信号接口通过所述底座PCB板与所述子治具DC信号连接装置电连接，所述上盖内设置有上盖PCB板，所述上盖PCB板设置有子治具AC信号连接装置以及与所述子治具AC信号连接装置电连接的AC信号接ロ ；所述母治具包括有壳体、基座、以及设置于基座的母治具DC信号连接装置和母治具AC信号连接装置，所述基座下方设置有电源、时序板和电子负载，所述壳体的底部设置有导电铜板；当所迷子、母治具配合使用时，所述子治具的底座设置于所述母治具的基座，所述子治具DC信号连接装置和所述母治具DC信号连接装置电连接，所述子治具AC信号连接装置和所述母治具AC信号连接装置电连接。优选的，所述底座的一侧开设有DC安装槽，所述第一 DC信号接口装置与所述DC安装槽相配合且安装于所述DC安装槽内；所述上盖的一侧开设有AC安装槽，所述第一 AC信号接口装置与所述AC安装槽相配合且安装于所述AC安装槽内。优选的，所述上盖与所述底座相対的内表面开设有插孔，所述AC信号接ロ设置于所述插孔内。优选的，所述底座与所述上盖铰接。进ー步的，所述上盖的内表面设置有第一固定座，所述第一固定座设置有铰链，所述底座的内表面设置有第二固定座，所述第二固定座开设有穿孔，所述铰链轴穿设于所述穿孔。另ー优选的，所述子治具还包括有锁扣装置，所述锁扣装置包括有固定于所述底座的第一支座、固定于所述上盖的第二支座、以及锁扣臂，所述锁扣臂的一端卡接于所述第一支座，所述锁扣臂的另一端铰接于所述第二支座。进ー步的，所述锁扣臂呈倒L形，所述锁扣臂的弯折部设置有铰接轴，所述铰接轴与所述第二支座铰接，所述铰接轴套设有扭簧；所述第一支座开设有卡槽，所述锁扣臂的一端设置有与所述卡槽相匹配的卡凸。另ー优选的，所述子治具DC信号连接装置、所述子治具AC信号连接装置、所述母治具DC信号连接装置以及所述母治具AC信号连接装置均设置有两个。另ー优选的，所述子治具的底座和上盖均设置有定位柱，所述母治具设置有与所述定位柱相配合的定位孔。另ー优选的，所述母治具的基座设置有无线传感器。本实用新型的有益效果本实用新型的ー种具有老化及测试功能的治具，包括有子治具和母治具。工作吋，电子产品安装于产品放置槽内，电子产品的DC连接端与DC信号接ロ电连接，并通过底座PCB板与子治具DC信号连接装置电连接，同吋，电子产品的AC连接端与上盖的AC信号接ロ电连接，AC信号接ロ通过上盖PCB板与子治具AC信号连接装置电连接。当需要对电子产品进行老化吋，子治具和母治具配合使用，此时，子治具的底座设置于母治具的基座，子治具DC信号连接装置和母治具DC信号连接装置电连接，子治具AC信号连接装置和母治具AC信号连接装置电连接。由于母治具装载有电子负载和电源，因此，老化时无需对子治具単独连接负载，只需要将母治具DC信号连接装置和母治具AC信号连接装置依次与老化设备电连接，即可完成电子产品的老化；当需要进行测试时，只需要将母治具DC信号连接装置和母治具AC信号连接装置依次与测试设备电连接，即可完成电子产品的测试。测试时，子治、具也可単独使用，只需要将子治具DC信号连接装置和子治具AC信号连接装置依次与测试设备电连接，即可完成电子产品的测试，子治具也可与母治具配合使用。由此，本实用新型的由子治具和母治具组合后的治具，无需连接电子负载，实现了对电子产品进行老化以及测试的功能，其操作简单快速，大大提高了电子产品的老化和测试效率，从而提高了生产效率，有利于企业的规模化生产，特别适于现代化企业快速发展的需要。

图I为本实用新型的实施例I的子、母治具的使用状态的结构示意图。图2为本实用新型的实施例I的子治具的结构示意图。图3为本实用新型的实施例I的子治具的底座的结构示意图。图4为本实用新型的实施例I的子治具的上盖的结构示意图。图5为本实用新型的实施例2的子治具的锁扣装置的结构示意图。图6为本实用新型的实施例I的母治具的结构示意图。图7为本实用新型的实施例I的母治具的另一角度的结构示意图。图8为本实用新型的实施例I的母治具的分解结构示意图。图I至图8中包括有子治具I、底座11、子治具DC信号连接装置111、DC信号接ロ 112、产品放置槽113、第二固定座114、穿孔115、定位柱116 ；上盖12、子治具AC信号连接装置121、插孔123 ；第一固定座124、铰链轴125 ；锁扣装置3、第一支座31、卡槽311、第二支座32、锁扣臂33、卡凸331、弯折部332、铰接轴34、扭簧341 ；母治具4、壳体41、导电铜板411 ;基座42、电源421、时序板422、电子负载423、无线传感器424 ；母治具DC信号连接装置43、母治具AC信号连接装置44、定位孔45、散热风扇46 ；电子产品5。
具体实施方式
下面结合实施例及附图对本实用新型作进ー步详细的描述，但本实用新型的实施方式不限于此。实施例I本实用新型的ー种具有老化及测试功能的治具的实施例I如图I至图8所示，包括有配合使用的子治具I和母治具4，其中子治具I包括有底座11和设置于底座11上方的上盖12，底座11设置有底座PCB板，底座PCB板设置有子治具DC信号连接装置111，底座11与上盖12相対的内表面开设有产品放置槽113，用于放置电子产品5。产品放置槽113内设置有DC信号接ロ 112，DC信号接ロ 112通过底座PCB板与子治具DC信号连接装置111电连接；上盖12内设置有上盖PCB板，上盖PCB板设置有子治具AC信号连接装置121和与子治具AC信号连接装置121电连接的AC信号接ロ。[0045]工作时，电子产品5安装于底座11的产品放置槽113内，电子产品5的DC连接端与DC信号接口 112电连接，并通过底座PCB板与子治具DC信号连接装置111电连接，从而使电子产品5的DC连接端与子治具DC信号连接装置111电连接；电子产品5的AC连接端与上盖12的AC信号接口电连接，AC信号接口通过上盖PCB板与子治具AC信号连接装置121电连接，从而使电子产品5的AC信号接口与子治具AC信号连接装置121电连接。母治具4包括有壳体41、基座42、以及设置于基座42的母治具DC信号连接装置43和母治具AC信号连接装置44，其中基座42下方设置有电源421、时序板422和电子负载423，从而为提供老化时所需的电源和电子负载。壳体41的底部设置有导电铜板411，通过该导电铜板411可对母治具4进行通电老化。当需要进行老化时，子治具I和母治具4配合使用，母治具4用于提供子治具所需的电子负载。此时，子治具I的底座11设置于母治具4的基座42，子治具DC信号连接装置111和母治具DC信号连接装置43电连接，子治具AC信号连接装置121和母治具AC信号连接装置44电连接。只需要将母治具DC信号连接装置43和母治具AC信号连接装置44依次与老化设备电连接，即可完成电子产品5的老化；当需要进行测试时，只需要将母治具DC信号连接装置43和母治具AC信号连接装置44依次与与测试设备电连接，即可完成电子产品5的测试。由此，本实用新型的由子治具I和母治具4组合后的治具，无需连接电子负载，实现了老化以及测试的功能，其操作过程简单快速，大大提高了电子产品5的老化以及测试效率，从而提高了生产效率，有利于企业的规模化生产，特别适于现代化企业快速发展的需要。同时，由于电子产品5的接口只需一次插拔即可完成多项老化及测试，从而避免对电子产品5的接口的磨损，有利于提高电子产品5的性能，延长其使用寿命。具体的，底座11的一侧开设有DC安装槽，第一 DC信号接口装置111与DC安装槽相配合且安装于DC安装槽内；具体的，上盖12的一侧开设有AC安装槽，第一 AC信号接口装置121与AC安装槽相配合且安装于AC安装槽内。进一步的，上盖12的内表面开设有插孔123，AC信号接口设置于插孔123内。作为优选的实施方案，AC信号接口为金属弹片，当电子产品5的AC连接端插入该插孔123时，电子产品5的AC连接端与金属弹片触接，金属弹片通过上盖PCB板与子治具AC信号连接装置121电连接，从而使电子产品5的AC连接端与子治具AC信号连接装置121电连接。当然，AC信号接口还可以采用其他具有导电性的接口装置，以起到将电子产品5与子治具AC信号连接装置121进行电连接的作用。进一步的，底座11与上盖12铰接，以使上盖12可相对于底座11翻转，便于打开上盖I，取放电子产品5。上盖12的内表面设置有第一固定座124，第一固定座124设置有铰链轴125，底座11的内表面设置有第二固定座114，第二固定座114开设有穿孔115，铰链轴125穿设于穿孔 115。[0058]本实施例中，作为优选的实施方案，当电子产品5为电源件吋，DC信号接ロ 112可设置为USB接ロ，根据不同的电子产品5的需要，DC信号接ロ 112还可设置为其他形式的
信号接ロ。根据生产需要，底座11的产品放置槽113可以设置多个，产品放置槽113可呈两列设置，也可以呈一列设置。实施例2本实施例的ー种具有老化及测试功能的治具參见图2至图5，在实施例I的基础上，在本实施例中未解释的特征，采用实施例I中的解释，在此不再进行赘述。本实施例与实施例I的区别在于·子治具I还包括有锁扣装置3，用于当上盖与底座11合拢时，将其锁住，而不发生相对移动。锁扣装置3包括有固定于底座11的第一支座31、固定于上盖12的第二支座32、以及锁扣臂33，锁扣臂33的一端卡接于第一支座31，锁扣臂33的另一端铰接于第二支座32。具体的，锁扣臂33呈倒L形，锁扣臂33的弯折部332设置有铰接轴34，该铰接轴34与第二支座32铰接，铰接轴34套设有扭簧341。具体的，第一支座31开设有卡槽311，锁扣臂33的一端设置有与该卡槽311相匹配的卡凸331。使用时，当电子产品5安装至产品放置槽113内后，将上盖12翻转至底座的上方并合拢，将锁扣臂33—端的卡凸331卡接于第一支座31的卡槽311中，锁扣装置3即可将上盖12与底座11锁紧；当老化及测试完成后，按压锁扣臂33的弯折部332，使卡凸331由卡槽311中脱离，即可打开锁扣装置3，然后翻转上盖12，可将电子产品5取出。实施例3本实施例的ー种具有老化及测试功能的治具參见图I、图2和图6，在实施例I的基础上，在本实施例中未解释的特征，采用实施例I中的解释，在此不再进行赘述。本实施例与实施例I的区别在于參照图2，子治具DC信号连接装置111、子治具AC信号连接装置121、母治具DC信号连接装置43以及母治具AC信号连接装置44均设置有两个，可分别与不同的老化或是测试设备电连接，有利于进ー步提高老化及测试效率。子治具I的底座11和上盖12均设置有定位柱116，母治具4设置有与该定位柱116相配合的定位孔45，将子治具I与母治具4安装吋，以起到准确定位的作用。进ー步的，壳体41设置有散热风扇46，便于老化时快速的将热量散发出去。实施例4本实施例的ー种具有老化及测试功能的治具參见图8，在实施例I的基础上，在本实施例中未解释的特征，采用实施例I中的解释，在此不再进行赘述。本实施例与实施例3的区别在于母治具4的基座42设置有无线传感器424，便于对子治具I以及母治具4的自动化控制。[0076]可将组合后的子母治具用于一条自动化老化生产线，通过输送装置将子母治具输送至老化设备中，该无线传感器423可将老化过程的数据实时地传送至控制系统，从而实现对电子产品5的自动化控制，实现无需操作，从而大大提高生产效率，节约生产成本。最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对本实用新型保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细地说明，本领域的普 通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。
权利要求1.ー种具有老化及测试功能的治具，其特征在于所述治具包括有配合使用的子治具和母治具，其中 所述子治具包括有底座和上盖，所述底座设置有底座PCB板，所述底座PCB板设置有子治具DC信号连接装置，所述底座与所述上盖相対的内表面开设有产品放置槽，所述产品放置槽内设置有DC信号接ロ，所述DC信号接ロ通过所述底座PCB板与所述子治具DC信号连接装置电连接，所述上盖内设置有上盖PCB板，所述上盖PCB板设置有子治具AC信号连接装置以及与所述子治具AC信号连接装置电连接的AC信号接ロ ； 所述母治具包括有壳体、基座、以及设置于基座的母治具DC信号连接装置和母治具AC信号连接装置，所述基座下方设置有电源、时序板和电子负载，所述壳体的底部设置有导电铜板； 当所迷子、母治具配合使用时，所述子治具的底座设置于所述母治具的基座，所述子治具DC信号连接装置和所述母治具DC信号连接装置电连接，所述子治具AC信号连接装置和所述母治具AC信号连接装置电连接。
2.根据权利要求I所述的ー种具有老化及测试功能的治具，其特征在于所述底座的一侧开设有DC安装槽，所述第一 DC信号接ロ装置与所述DC安装槽相配合且安装于所述DC安装槽内； 所述上盖的一侧开设有AC安装槽，所述第一 AC信号接口装置与所述AC安装槽相配合且安装于所述AC安装槽内。
3.根据权利要求I所述的ー种具有老化及测试功能的治具，其特征在于所述上盖与所述底座相対的内表面开设有插孔，所述AC信号接ロ设置于所述插孔内。
4.根据权利要求I所述的ー种具有老化及测试功能的治具，其特征在于所述底座与所述上盖铰接。
5.根据权利要求4所述的ー种具有老化及测试功能的治具，其特征在于所述上盖的内表面设置有第一固定座，所述第一固定座设置有铰链，所述底座的内表面设置有第二固定座，所述第二固定座开设有穿孔，所述铰链轴穿设于所述穿孔。
6.根据权利要求I所述的ー种具有老化及测试功能的治具，其特征在于所述子治具还包括有锁扣装置，所述锁扣装置包括有固定于所述底座的第一支座、固定于所述上盖的第二支座、以及锁扣臂，所述锁扣臂的一端卡接于所述第一支座，所述锁扣臂的另一端铰接于所述第二支座。
7.根据权利要求6所述的ー种具有老化及测试功能的治具，其特征在于所述锁扣臂呈倒L形，所述锁扣臂的弯折部设置有铰接轴，所述铰接轴与所述第二支座铰接，所述铰接轴套设有扭簧； 所述第一支座开设有卡槽，所述锁扣臂的一端设置有与所述卡槽相匹配的卡凸。
8.根据权利要求I所述的ー种具有老化及测试功能的治具，其特征在于所述子治具DC信号连接装置、所述子治具AC信号连接装置、所述母治具DC信号连接装置以及所述母治具AC信号连接装置均设置有两个。
9.根据权利要求I所述的ー种具有老化及测试功能的治具，其特征在于所述子治具的底座和上盖均设置有定位柱，所述母治具设置有与所述定位柱相配合的定位孔。
10.根据权利要求I所述的ー种具有老化及测试功能的治具，其特征在于所述母治具的基座设置有 无线传感器。
专利摘要本实用新型涉及老化测试技术领域，具体的涉及一种具有老化及测试功能的治具，其结构包括有配合使用的子治具和母治具，当子、母治具配合使用时，子治具的底座设置于母治具的基座，子治具DC信号连接装置和母治具DC信号连接装置电连接，子治具AC信号连接装置和母治具AC信号连接装置电连接。本实用新型的组合治具，无需连接电子负载，能够实现对电子产品进行老化以及测试的功能，其操作简单快速，老化测试效率高，特别适于现代化企业快速发展的需要。
文档编号G01R1/04GK202433462SQ20122004340
公开日2012年9月12日 申请日期2012年2月10日 优先权日2012年2月10日
发明者刘坚辉, 李垂猛, 邵继铭 申请人:东莞市冠佳电子设备有限公司