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专利名称：物质表面性质参数测定方法
技术领域：
本发明涉及胶体化学、界面化学、 质的表面参数进行测定的方法。
背景技术：
材料科学技术领域，具体涉及一种对物
物质的表面电位、表面电荷总量、表面电荷密度、表面电场强度和比表面 积等表面性质不仅在胶体与界面科学、材料科学、生命科学、土壤科学、生态 与环境科学等领域的科学研究中有广泛应用，而且在造纸、水泥、陶资、化学 机械研磨、煤浆、涂料、化妆品、食品工业、混合分散体系等化学工程领域也 有着广泛的应用，因此，对上述物质表面性质参数的测定显得尤为重要。
现有技术中，对于物质表面电荷总量的测定，普遍采用指示离子吸附法和
电位滴定法，采用离子吸附法，必须首先获知在K或OH-的吸附总量中，有多
少是参与静电吸附的，但由于tf和otr还参与化学键的吸附，无法预知参与静
电吸附的吸附量，因此该方法不能测定一个含有可变电荷的体系在任意pH值、 任意电解质浓度和任意温度下的表面电荷总量;而电位滴定法不仅不适合于含 有永久电荷体系的电荷总量的测定，而且即使是可变电荷体系，其可靠性也一 直是个疑问，因此目前还没有适用于不同条件和不同体系中物质表面电荷总量 的通用测定方法。
现有技术中，对物质表面电荷密度进行测定的方法之一是基于如下公式
0 s
式中，w是表面电荷密度，7;是表面电荷总量，s是比表面积。
由于该方法中需要表面电荷总量这一参数，所以表面电荷总量测定中的问
题在表面电荷密度测定中一定存在。不仅如此，基于上式的表面电荷密度测定 中，我们还需要一个比表面积的测定数据。然而，不同的比表面积测定方法， 其测定结果存在很大的差异。所以， 一个依赖于比表面积这一参数的表面电荷 密度测定方法，其结果的可靠性难以把握。
现有技术中表面电荷密度测定的方法之二是，在得到物质的表面电位值后，
利用Gouy-Chapman的相关公式可间接地获得表面电荷密度值。但因目前还没 有一个广泛适用的表面电位的准确测定方法。所以，目前表面电荷密度测定的 这一方法的应用仍然存在困难。
现有技术中电场强度基于下式进行测定
式中五o是表面电场强度，s是介质介电常数，水的e-8.9xlO"Gc"Jdm。由 于对表面电荷密度的依赖，表面电场强度测定中存在与表面电荷密度测定相同 的问题。
现有技术中，对于物质比表面积的测定，已有多种测定方法，如通常采用 的惰性气体吸附法、离子负吸附法、乙二醇乙醚吸附法或甘油吸附法等等。但 同一种物质釆用这些不同的测定方法，其结果往往相差十分悬殊。
本申请中的物质表面电位定义为双电层中扩散层起始面或OHP (外 Helmholtz面)上的电位。现有技术中的物质表面电位的测定方法，包括电荷密 度法、负吸附法、正吸附法、二级共振发生法、pH指示分子法、荧光发生法、 原子力显微法和Zeta电位法等。所有这些方法都有自己的局限性。电荷密度法、 负吸附方法、正吸附法和二级共振发生法都只适合于中性条件下、单一电解质 体系的恒电荷样品的表面电位值测定。pH指示分子法、荧光测定法和原子力显 微法将对物质表面本身的状态产生破坏，所以其测定结果的可靠性往往难以把 握。Zeta电位法测定的并不是表面电位，它是电泳过程中剪切面(或滑动面) 上的电位，而剪切面通常远离这里所定义的表面。Zeta电位可以在不同的pH、 电解质和温度条件下进行测定，所以，正因为目前没有在各种条件下广泛适用
的、准确的表面电位测定方法，人们只能把Zeta电位作为表面电位的代用品。 但近年来的大量研究已经表明，用Zeta电位法测定表面电位，通常只具有定性 的意义。除此之外，Zeta电位法对测定对象的条件要求非常苛刻，即它要求胶 体悬液的颗粒密度不能太高，而颗粒的粒径也不能太大。即使是美国Colloidal Dynamics公司新推出的Zetaprobe型Zeta电位仪的最高颗粒密度也仅仅为60°/o (体积密度)。所以根本无法实现密度更高的体系，或固体颗粒物质的"原态" 测定。
综上所述，目前对于物质表面电荷总量、比表面积和物质表面电位的测定， 没有可靠且广泛适用的方法，而分别依赖于物质表面电荷总量、比表面积测定 结果的物质表面电场强度、表面电荷密度的测定也因此具有同样的缺陷。现有 技术中更没有能对上述5个参数进行联合测定的方法。

发明内容
有鉴于此，为了解决上述问题，本发明提供一种物质表面性质参数的通用
实现物质表面电位、表面电荷总量、表面电荷密度、表面电场强度和比表面积 的联合测定。
本发明的目的是这样实现的，物质表面性质参数测定方法，其特征在于 包括如下步骤
1) 对待测物表面进行饱和处理；
2) 将经过饱和处理的待测物与含指示电解质的溶液混合，所述指示电解质 溶液中包括至少一种二价金属阳离子A"和一种一价金属阳离子B+;
3) 待步骤2)所得混合物离子交换平衡后，测定所述混合物的本体溶液中 指示电解质阳离子及氢离子的平衡浓度值；
4) 将步骤3)所得指示电解质阳离子浓度值代入下式进行运算，获得物质 表面电4立^。
式中，p。是物质表面电位，/ 是气体常数，r是温度，F是Faraday常数；c/ 是待测体系溶液中B+的初始浓度，它等于加该离子的摩尔数除以水总体积； 是待测体系溶液中A"的初始浓度，它等于所加该离子的摩尔数除以水总体积。 c/是交换反应平衡时本体溶液中B+的浓度，c/是交换反应平衡时本体溶液中 A"的初始浓度。仏是含"8++八2+"的体系中与A"水化半径有关的A"的相对有 效电荷系数；&是含"8++八2+"的体系中与B+水化半径有关的S+的相对有效电荷 系数。
进一步，步骤4)之后，还包括如下步骤
5) 根据步骤4)所得表面电位值，获得物质的比表面积；
进一步，步骤4)之后，还包括如下步骤
根据步骤4)所得表面电位值，获得物质的表面电荷密度；
进一步，获得物质表面电荷密度之后还包括如下步骤
6) 根据步骤5)所得表面电荷密度，获得表面电场强度。
进一步，获得物质表面电荷密度之后还包括如下步骤根据步骤5)所得 表面电荷密度和比表面积，获得物质的表面电荷总量。
进一步，步骤1)中，J吏用酸溶液，通过恒流法对待测物表面进行饱和处理。
进一步，所述酸溶液为HC1或HN03溶液； 进一步，步骤1)具体包括如下步骤
11) 用0.1mol/l的HC1或HN03溶液匀速流过待测物，使待测物表面电荷 全被《和CT或NO:所饱和；
12) 用水匀速流过待测物，洗去多余的If和(T或NO、； 13 )抽去待测物中的间隙水；
进一步，所述指示电解质的阴离子与所述酸的根相同；
进一步，所述指示电解质的阴离子与所述酸的根相同；
进一步，所述指示电解质为"ACl2和BCl"，其中，A"为Ca"或Mg2+， B+ 为K+或Na+;
进一步，所述指示电解质为a(n03)2和bn03,其中，A"为Ca"或Mg2+, B+为K+或Na+;
进一步，步骤3)中，采用如下步骤获得所述本体溶液中氢离子及指示电 解质阳离子的平衡浓度值
31 )测定所述本体溶液中B+、 A"和H"的活度值"//、 ^和^;
32)将步骤31 )所得的活度值作为浓度初始值，通过以下步骤进行迭代运 算，得到B+、 A"和H+的活度系数和浓度
321 )将步骤31 )所得的活度值作为各离子浓度初始值，通过以下式运算， 得到体系的离子强度
式中/,是第/次迭代时的离子强度，c,是第/次迭代时的JT浓度，C是 第/次迭代时的B+浓度，c/"是第/次迭代时的A"浓度；
322)根据离子强度，通过下式计算得到B+、 A^和H+的活度系数
<formula>formula see original document page 11</formula>
式中，y,、 Z和^分别是第/次迭代时tf、 b+和a"的活度系数，r是温
度；
323 )根据步骤322)所得活度系数，通过下式计算得到B+、 A"和H+的平
衡浓度值:<formula>formula see original document page 12</formula>
A 7, A
式中，C、 c/和^分别是第/次迭代时H+、 B+和A"的平衡离子浓度;
进一步，步骤31)中，使用"H^ B+-A""复合电极和检测器检测所述本体 溶液中A^、 B+和H"的活度；
进一步，步骤32)中，迭代到第HH1次，当(/wA)/D0.001时，终止
迭代运算，将323 )中的最后结果作为平衡浓度值；
进一步，利用迭代运算中离子强度的最后值/,由下式计算有效电荷系数
A = 0.0297 ln/ + l ^ = -0.0297 ln/ + l ;
进一步，步骤5)中，根据步骤4)所得表面电位值，通过下式计算物质的 比表面积、
<formula>formula see original document page 12</formula>5
式中，r是水的总体积，单位1;5"是比表面积，单位dm2/g; /c是Debye-Htickel 参数，单位dm"，并由下式计算
X* 二
式中，s是介质介电常数，水的e二8.9xl0^c2/Jdm;
进一步，根据步骤4)所得表面电位值，通过下式计算物质的表面电荷密
度:
<formula>formula see original document page 12</formula>
式中w是表面电荷密度，单位C/dm2;
进一步，步骤6)中，根据步骤5)所得表面电荷密度，通过下式计算物质 的表面电场强度
式中五o是物质表面电场强度，单位V/dm;
进一步，根据步骤5)所得表面电荷密度和比表面积，通过下式计算表面 电荷总量
<formula>formula see original document page 13</formula>
式中j;是物质的表面电荷总量，单位c/g。 本发明的物质表面性质参数联合测定方法通过对指示电解质的平衡离子
浓度进行测定，进而计算出物质表面电位，排除H+或非指示性离子(即除A" 和B+之外的其它任意离子)与物质表面发生化学反应造成的不确定性，由于 在任意的pH、任意的电解质类型构成及任意电解质浓度和温度下，对于任意 电荷类型的物质表面，平衡体系的表面电位与所用的指示阳离子浓度之间始终 满足下式
<formula>formula see original document page 13</formula>这就确保了本方法是一个适用于任意条件、任意物质类型的通用测定方 法，相应地，以表面电位测定为基础，获取物质表面电荷密度、表面电场强度、
比表面积和表面电荷总量都适用于任意条件、任意物质类型；同时，现有技术 中对于不同的物质表面性质参数需要使用不同的方法和设备进行测定，而利用 本系统能同时对这些参数联合测定。
本发明的其他优点、目标，和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行 阐述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是 显而易见的，或者可以从本发明的实践中得到教导。本发明的目标和其他优点
可以通过下面的说明书，权利要求书，以及附图中所特别指出的结构来实现和 获得。


为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本
发明作进一步的详细描述，其中
图1示出了物质表面性质参数分析系统样品处理装置的结构示意图； 图2示出了物质表面性质参数分析系统检测系统的结构示意图。
具体实施例方式
以下将参照附图，对本发明的优选实施例进行详细的描述。
本实施例的物质表面性质参数测定方法，包括如下步骤
1)对待测物表面进行饱和处理，具体包括如下步骤
11 )取3-5g待测样品装入样品容纳装置，用0.1mol/l的HC1溶液150-250ml, 以lml/min的流速匀速流过待测物，使待测物表面电荷全被lf和CT所饱和； 亦可采用HN03溶液对待测样品进行饱和处理；
12) 用150-250ml水以lml/min的流速匀速流过待测物，洗去多余的tf和
cr;
13) 用恒流泵抽去待测物中的间隙水，直至无水流出为止。
2 )向样品池中加入已知浓度的KC1、HC1(或KOH )和CaCl2混合溶液50ml, 充分搅拌后放置、平衡24小时以上；其中KCl和CaCl2作为指示电解质，HC1 和KOH用于调节pH值；上述各电解质浓度可根据研究者的要求而确定，但以 平衡时体系离子强度控制在0.2mol/l以内为宜。本步骤中亦可采用其他指示电 解质，但指示电解质至少为两种，包括至少一种二价金属阳离子，如Ca2+、 Mg2+ 等，和一种一价金属阳离子，如Li+、 Na+ 、 Na+等，所述指示电解质的阴离子 应与步骤ll)中所述酸的阴离子与相同，如步骤ll)中采用HN03溶液对待测
样品表面进行饱和处理，则本步骤中可采用NaN03和Ca ( N03) 2作为指示电 解质，采用HN03和NaOH用于调节pH值。
以下以使用HC1溶液对待测样品表面进行饱和处理，使用KC1和CaCl2作 为指示电解质为例对本发明进行说明
3)待步骤2)所得混合物离子交换平衡后(即连续搅拌下平衡24小时； 在非搅拌条件下平衡时间要求至少72小时，并根据样品类型，平衡时间还会有 差异)，测定所述混合物的本体溶液中指示电解质阳离子及氢离子的平衡浓度 值，具体包括如下步骤
31) 测定所述本体溶液中H+、 K+和Ca"的活度值^、 ^和ac。；
32) 将步骤31 )所得的活度值作为相应离子浓度的初始值，通过以下步骤 进行迭代运算，得到K+、 Ca"和f的活度系数和浓度，迭代到第HH1次，当 (/wA)//a+1<0.001时，终止迭代运算
321) 将步骤31)所得的活度值作为初始值，通过以下式运算，得到体系 的离子强度<formula>formula see original document page 15</formula>
式中/,是第/次迭代时的离子强度，单位mo1/1, c,是第/次迭代时的tf 浓度，c,是第/次迭代时的K+浓度，c尸。是第/次迭代时的C,浓度；
322) 根据离子强度，通过下式计算得到Na+、 Ca"和fT的活度系数
<formula>formula see original document page 15</formula>式中y,、 y,和""分别是第/次迭代时tf、 K+和Ca"的活度系数，r是温
度，单位K;
323 )根据步骤322)所得活度系数，通过下式计算得到K+、 Ca"和tf的 平衡浓度值
<formula>formula see original document page 16</formula>式中，c,w、 ^和c"分别是第/次迭代时IT、 K+和Ca"的平衡离子浓
度；
4)将步骤3)所得K+和Ca"的平衡离子浓度(最后一次迭代运算得到的 平衡浓度值)代入下式进行运算，获得物质表面电位^:
式中，^是物质表面电位，i 是气体常数，T是温度，F是Faraday常数， c/是开始加入KC1时体系的K+的浓度，cC是开始加入CaCl2时体系的Ca2+
的浓度，《是K+的平衡浓度值，c^是Ca"的平衡浓度值，&是含"^+�&2+" 的体系中与k+水化半径有关的k+的相对有效电荷系数；/ 01是含"^+032+"的体 系中与Ca"水化半径有关的Ca^的相对有效电荷系数，利用迭代运算中离子强 度的最后值/，由下式计算有效电荷系数
<formula>formula see original document page 16</formula>
)根据步骤4)所得表面电位值，通过下式计算物质的比表面积
P函<formula>formula see original document page 16</formula>
式中，F是水的总体积，单位1; S是比表面积，单位dm2/g; ;c是Debye-Hiickel 参数，单位dm"，并由下式计算<formula>formula see original document page 16</formula>
式中，s是介质介电常数，水的e-8.9xlO"GC々Jdm; 根据步骤4)所得表面电位值，通过下式计算物质的表面电荷密度:
<formula>formula see original document page 17</formula>
式中W是表面电荷密度，其符号与表面电位的符号相同，单位C/dm2
<formula>formula see original document page 17</formula>
6)根据步骤5)所得表面电荷密度，通过下式计算物质的表面电场强度
式中五t)是物质表面电场强度，单位V/dm 根据5)所得表面电荷密度和比表面积，通过下式计算表面电荷总量
<formula>formula see original document page 17</formula>
式中7;是物质的表面电荷总量，单位C/g。 可使用如下的物质表面性质参数分析系统进行分析，该系统包括样品处理 装置和检测系统，参见图1、图2,所述样品处理装置包括样品容纳装置11， 用以容纳被测物；所述样品容纳装置ll还包括进液管12和出液管13，所述出 液管13与样品容纳装置11底部连通，所述进液管12与样品容纳装置11连通， 所述出液管13与恒流泵连接；所述样品容纳装置11内还设有搅拌装置15;样品 容纳装置11内还设有温度探头14、搅拌器15和"1!"-]<:+-032+"复合电极16，所 述温度探头14和"H、 K+- Ca""复合电极16与检测系统连接，所述检测系统包 括电子测温计21、毫伏计22、 pH运算器23、 K+活度运算器24、 Ca"活度运算 器25、 "fT、 Ca"和K+，，浓度运算器26和表面参数运算器27，其中电子测温计 21与温度探头14连接，三个毫伏计22的输入端分别与"rf"- K+- Ca""复合电极 16中电极、K+电极和Ca"电极的输出端连接，电子测温计21的输出端和 三个毫伏计22的输出端分别与pH运算器23、 K+活度运算器24和Ca"活度运 算器25的输入端连接，pH运算器23、 K+活度运算器24和Ca"活度运算器25
分别运算出K+、 Ca^和H+的活度后，结合电子测温计21所测温度被同时输出 到"tf、 Ca"和K+"浓度运算器26, "H\ Ca"和K+"浓度运算器26将K+、 Ca2+ 和tf的活度转换为I^、 Ca"和K+的平衡浓度，结合电子测温计21所测温度同 时输出到表面参数运算器27,由表面参数运算器27计算出物质表面电位、表 面电荷总量、表面电荷密度、表面电场强度和比表面积。
以上所述仅为本发明的优选实施例，并不用于限制本发明，显然，本领 域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和 范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技 术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
权利要求
1. 物质表面性质参数测定方法，其特征在于包括如下步骤1)对待测物表面进行饱和处理；2)将经过饱和处理的待测物与含指示电解质的溶液混合，所述指示电解质溶液中包括至少一种二价金属阳离子A2+和一种一价金属阳离子B+；3)待步骤2)所得混合物离子交换平衡后，测定所述混合物的本体溶液中指示电解质阳离子及氢离子的平衡浓度值；4)将步骤3)所得指示电解质阳离子浓度值代入下式进行运算，获得物质表面电位式中，是物质表面电位，R是气体常数，T是温度，F是Faraday常数；cB0是待测体系溶液中B+的初始浓度，它等于所加该离子的摩尔数除以水总体积；cA0是待测体系溶液中A2+的初始浓度，它等于所加该离子的摩尔数除以水总体积。cB∞是交换反应平衡时本体溶液中B+的浓度，cA∞是交换反应平衡时本体溶液中A2+的初始浓度。βA是含“B++A2+”的体系中与A2+水化半径有关的A2+的相对有效电荷系数；βB是含“B++A2+”的体系中与B+水化半径有关的B+的相对有效电荷系数。
2. 如权利要求1所述的物质表面性质参数测定方法，其特征在于步骤4) 之后，还包括如下步骤5)根据步骤4)所得表面电位值，获得物质的比表面积。
3. 如权利要求2所述的物质表面性质参数测定方法，其特征在于步骤5) 中，根据步骤4)所得表面电位值，通过下式计算物质的比表面积<formula>formula see original document page 3</formula>式中，F是水的总体积，单位1; S是比表面积，单位dm2/g; k是Debye-Hiickel 参数，单位dm"，并由下式计算V f灯式中，e是介质介电常数，水的￡=8.9xlO-1QC2/Jdm。
4.如权利要求1所述的物质表面性质参数测定方法，其特征在于步骤4) 之后，还包括如下步骤根据步骤4)所得表面电位值，获得物质的表面电荷密度。
5.如权利要求4所述的物质表面性质参数测定方法，其特征在于根据步 骤4)所得表面电位值，通过下式计算物质的表面电荷密度<formula>formula see original document page 3</formula>式中(7o是表面电荷密度，单位C/dm2。
6. 如权利要求4所述的物质表面性质参数测定方法，其特征在于获得物 质表面电荷密度之后还包括如下步骤6)根据步骤5)所得表面电荷密度，获得表面电场强度。
7. 如权利要求6所述的物质表面性质参数测定方法，其特征在于步骤6) 中，根据步骤5)所得表面电荷密度，通过下式计算物质的表面电场强度式中五o是物质表面电场强度，单位V/dm'<formula>formula see original document page 3</formula>
8.如权利要求4所述的物质表面性质参数测定方法，其特征在于获得物 质表面电荷密度之后还包括如下步骤根据所得表面电荷密度和比表面积，获 得物质的表面电荷总量。
9. 如权利要求8所述的物质表面性质参数测定方法，其特征在于根据所 得表面电荷密度和比表面积，通过下式计算表面电荷总量rc = s x cr。式中z;是物质的表面电荷总量，单位c/g。
10. 如权利要求i至9中任一项所述的物质表面性质参数测定方法，其特征在于步骤l)中，使用酸溶液，通过恒流法对待测物表面进行饱和处理。
11. 如权利要求10所述的物质表面性质参数测定方法，其特征在于所述 酸溶液为HC1或HN03溶液。
12. 如权利要求11所述的物质表面性质参数测定方法，其特征在于步骤1 ) 具体包括如下步骤11) 用0.1mol/l的HC1溶液匀速流过待测物，使待测物表面电荷全被f和cr所饱和；12) 用水匀速流过待测物，洗去多余的H"和Cr;13) 抽去待测物中的间隙水。
13. 如权利要求IO所述的物质表面性质参数测定方法，其特征在于所述 指示电解质的阴离子与所述酸的4艮相同。
14. 如权利要求13所述的物质表面性质参数测定方法，其特征在于所述 指示电解质为"ACb和BCl"，其中，八2+为Ca2+或Mg2+， B+为K+或Na+。
15. 如权利要求13所述的物质表面性质参数测定方法，其特征在于所述 指示电解质为A(N03)2和BN03,其中，A"为Ca"或Mg2+， B+为K+或Na+。
16. 如权利要求1至9中任一项所述的物质表面性质参数测定方法，其特 征在于步骤3)中，采用如下步骤获得所述本体溶液中氢离子及指示电解质 阳离子的平衡浓度值 31) 测定所述本体溶液中IT、 B+和A"的活度值32) 将步骤31)所得的活度值作为浓度初始值，通过以下步骤进行迭代运 算，得到B+、 A"和tf的活度系数和浓度321 )将步骤31 )所得的活度值作为各离子浓度初始值，通过以下式运算， 得到体系的离子强度式中/,是第/次迭代时的离子强度，c,是第/次迭代时的PT浓度，c产是 第/次迭代时的B+浓度，^是第/次迭代时的A"浓度；322)根据离子强度，通过下式计算得到B+、 A"和H+的活度系数<formula>formula see original document page 5</formula>式中，y,、 y,和y,分别是第/次迭代时H+、 B+和A"的活度系数，T是温度；323 )根据步骤322)所得活度系数，通过下式计算得到PT、 B+和A^的平 衡浓度值<formula>formula see original document page 5</formula>式中，c,、 ^和^分别是第/次迭代时H"、 B+和A"的平衡离子浓度。
17. 如权利要求16所述的物质表面性质参数测定方法，其特征在于步骤 31)中，使用"H+- B+- A""复合电极和检测器检测所述本体溶液中A2+、 B+和 H+的活度。
18. 如权利要求16所述的物质表面性质参数测定方法，其特征在于步骤32)中，迭代到第/=&+1次，当(A+广/0//^0.001时，终止迭代运算，将323 )所得的最后结果作为平衡浓度值。
19.如权利要求16所述的物质表面性质参数测定方法，其特征在于利用 迭代运算中离子强度的最后值/，由下式计算有效电荷系数A = 0.0297 ln/ + l < ^ = -0.0297 ln/ + l °
全文摘要
本发明提供一种物质表面性质参数的通用测定方法，能在不同条件下对不同类型物质的表面电位进行准确测定，包括如下步骤对待测物表面进行饱和处理；将经过饱和处理的待测物与指示电解质溶液混合；测定所述混合物的本体溶液中指示电解质阳离子及氢离子的平衡浓度值；根据指示电解质阳离子的平衡浓度值，计算物质表面电位；在进一步的技术方案中，还根据物质表面电位，计算物质比表面积、表面电荷密度，根据物质表面电荷密度，计算物质表面电场强度；根据物质表面电荷密度和比表面积，计算物质表面电荷总量；本发明的方法，是所属技术领域中首次获得的，能广泛适用于不同条件、不同电荷类型物质的表面性质参数的通用测定方法，并可实现联合测定。
文档编号G01R29/12GK101393238SQ20081023289
公开日2009年3月25日 申请日期2008年10月20日 优先权日2008年10月20日
发明者捷 侯, 吴劳生, 朱华玲, 航 李 申请人:西南大学