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专利名称：一种异形台阶和窄面台阶测试用游标高度尺的制作方法
技术领域：
本发明属于测量线性尺寸的机械量具，涉及一种测量异形台阶、窄面台阶 高度尺寸的游标高度尺。
背景技术：
目前国内外对标准台阶或宽面台阶测量已经有相关的测量工具，可用游标 高度尺、游标深度尺和游标卡尺进行测量。若将这类测量工具用于非金属异形
台阶或窄面台阶(图4')高度尺寸测量，易出现测量基准不易确定；造成测量 误差较大，影响产品符合性的准确判断，对产品的可靠性质量产生隐患。如使 用标准的游标高度尺测量时，由于底座大无法》文入凹面内，且测量头方向不匹 配，无法测量；使用游标深度尺和游标卡尺测量时，异形台阶或窄面台阶的基 准面太窄，基准不易确定。
中国专利授权公告号CN2575600Y公开的"高度尺"和中国专利授权公告 号CN2570730Y公开的"双柱高度尺"改进了底座的抓握方式，增加了整体的 稳定性。公告号为CN2105666U的中国专利申请"双基准高度尺"，设计了一 种在高度尺原标尺的一侧有标尺和活动游标，形成高度尺的第二基准，该高度 尺对旋转零件划线(或测量)时免除了繁杂的基准换算，遮免了基准换算中的
错误，提高了工作效率和产品合格率。
上述各种高度尺皆有其所长，由于底座长度太长或底面积太大，无法放入 凹部确定基准；底座窄边与测量尺头成180度角，测量尺的水平方向的最大长 度超出了测量件的被测量范围；测量尺头为三角斜面，无法伸入被测窄面确定尺寸。

实用新型内容
本实用新型解决的技术问题是克服现有游标高度尺、游标深度尺和游标 卡尺无法测量异形台阶、窄面台阶高度尺寸的问题，设计"种操作便捷、测量精度高的异形台阶和窄面台阶测试用游标高度尺。
本实用新型解决技术问题的方案是对现有的游标高度尺进行改进，缩小其 底座尺寸、改变测量尺与底座的设置方向，设计一种新的测量异形台阶、窄面 台阶高度尺寸的游标高度尺。这种游标高度尺的结构包括底座、主尺、副尺、 测量尺，其中，主尺与底座连接且与底座底面垂直，副尺套在主尺上，测量尺 与副尺连接，用螺钉锁紧，与副尺一起在主尺上滑动；所不同的是，在确保底 座定位准确、可靠基础上，缩小底座的尺寸，所述底座尺寸为63mmX20mm X10mm;将测量尺的位置设置为与底座的窄边平行，测量尺的测量头结构设 计为小型长方体。
根据本实用新型，所述高度尺的测量测量范围可为0~150mm;测量精度 为0.02mm。
根据本实用新型，所述测量尺5的测量头尺寸为10mmX8mmX3mm。
由上述技术方案可以看出，本实用新型通过缩小底座尺寸、改变测量尺与 底座的设置方向及测量头结构，可以方便地进行异形台阶、窄面台阶高度尺寸 测量。其定位准确、测量精度高、测量范围宽，设有三种测量测尺(型I 0~50mm， II型0~100mm, III型0~150mm)可供选择。由于本实用新型底座结构尺寸 比一般高度尺的底座有大幅度缩小(一般高度尺底座110 mmX60 mmX30 mm),重量约0.3kg,使该游标高度尺具有轻便、小巧的特点。适用于各种金 属和非金属异形台阶或窄面台阶尺寸测量。

图1本实用新型高度尺主视图
图2本实用新型高度尺侧视图
图3本实用新型高度尺俯^L图
图4本实用新型测量异形台阶或窄面台阶实施例示意图具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，
以下结合附图对本实 用新型作进一步详细描述。
如图1、图2和图3所示，本实用新型游标高度尺由底座1、主尺2、副尺 3、测量头5等部件构成，其中，主尺2与底座1连接且与底座1底面垂直， 副尺3套在主尺2上，测量尺5与副尺3连接，用螺钉4锁紧，并与副尺同在 主尺上作滑动；开槽平端紧定螺钉6与副尺3连接。
如图1和图2所示，本实用新型的底座1的结构尺寸为63mmX20mmX 10 mm,远小于一般高度尺底座的尺寸110 mmX60 mmX30 mm，可以方便 地将此小尺寸底座置于凹部以确定基准；其次将测量尺5的位置设置为与底座 1的窄边平行，松开螺钉4，测量尺5便可'以水平方向伸缩，以方便测量，提 高高度尺的稳定度，保证测量准确度。测量尺5的测量头结构为长方体，结构 尺寸只有10mmX8mmX3mm,可以伸进异形台阶或窄面台阶进行测量。克 服了现有的测量尺头为三角斜面，尺寸太宽无法伸入被测窄面进行测量的缺陷。
如图4所示，用本实用新型的游标高度尺测量窄面台阶时，将高度尺底座 1置于被测工件的凹槽底面，将测量尺5的测量头移至窄面台阶a表面，按着 底座1并扶着主尺2,将测量头5轻轻下压至工件窄面a,锁紧游标尺紧固螺 钉4,即可读数测量。
再如图4所示，用本实用新型的游标高度尺测量异型台阶时，将高度尺底 座1置于被测工件的凹槽底面，将测量尺5的测量头伸进异型台阶b表面，按 着底座1并扶着主尺2,将测量头5轻轻下压至工件异型台阶面b,锁紧游标 尺紧固螺钉4，即可读数测量。
本实用新型提供了三种测量范围的高度尺，其中，l型高度尺的测量范围 0~50mm; II型高度尺的测量范围0~100mm; III型高度尺的测量范围 0~150mm。根据测量高度可选择所需型号高度尺，其测量精度可达0.02mm。
权利要求1、一种异形台阶和窄面台阶测试用游标高度尺，包括底座(1)、主尺(2)、副尺(3)、测量尺(5)，主尺(2)与底座(1)连接且与底座(1)底面垂直，副尺(3)套在主尺(2)上，测量尺(5)与副尺(3)连接，用螺钉(4)锁紧，可与副尺(3)同在主尺(2)上作滑动，其特征在于所述测量尺(5)与底座(1)的窄边平行，测量尺(5)的测量头结构为长方体。
2、 根据权利要求1所述的异形台阶和窄面台阶测试用游标高度尺，其特征 在于所述底座(1)的尺寸为63mmX20mmX10mm。'
3、 根据权利要求1所述的异形台阶和窄面台阶测试用游标高度尺，其特征 在于所述高度尺的测量范围为0 150mm;测量精度为0.02mm。
4、根据权利要求1所述的异形台阶和窄面台阶测试用专用游标高度尺，其 特征在于测量尺(5)的测量头尺寸为10mmX8mmX3mm。
专利摘要本实用新型涉及一种异形台阶和窄面台阶测试用游标高度尺，其结构包括底座、主尺、副尺、测量尺，其中，主尺与底座连接且与底座底面垂直，副尺套在主尺上，测量尺与副尺连接，用螺钉锁紧，可与副尺一起在主尺上滑动；其特别之处是，在确保底座定位准确、可靠基础上，将底座的尺寸缩小为63mm×20mm×10mm；将测量尺与底座的窄边平行，测量尺的测量头结构为小型长方体。可方便进行异形台阶、窄面台阶高度尺寸测量。其定位准确、测量精度高、测量范围宽，轻便、小巧，适用于各种金属和非金属异形台阶或窄面台阶尺寸测量。
文档编号G01B3/20GK201247025SQ200820029248
公开日2009年5月27日 申请日期2008年5月30日 优先权日2008年5月30日
发明者王安民 申请人:西安航天化学动力厂