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专利名称：一种led元件测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测试装置领域，特别涉及一种LED (发光二极管)元件测试装置。
背景技术：
半导体LED是一种重要的光电子器件，它在科学研究和工农业生产中均有非常广泛的应用。发光二极管虽�。既凡饬克母飨罟夂头洳问⒎且患资�。现有的测试方法，是将单颗LED灯的两极进行导线的焊接。图Ia为现有技术LED灯及焊接测试示意图，图Ib为LED元件I的侧视图，由于LED元件I本身尺寸限制，将导线焊接在LED电极2上较为困难，经常容易损坏LED本身，对LED样品造成了浪费；另外一方面由于LED元件I本身电阻较�。附臃椒ㄔ斐傻暮附拥缱瓒云溆跋旖洗螅诮蠰ED测试时，造成测试数据准确度不高。
实用新型内容(一)解决的技术问题针对上述缺点，本实用新型为了解决现有技术中由于焊接造成的LED样品损坏及焊接电阻的影响，提供了一种LED元件测试装置。(二)技术方案为解决上述技术问题，本实用新型具体采用如下方案进行本实用新型提供一种LED元件测试装置，所述LED元件测试装置包括调节杆、第一滑块及第二滑块，其中，所述第一滑块及所述第二滑块设置在所述调节杆上，所述第一滑块和第二滑块相对的侧面分别设置导电电极，每一导电电极连接一导线。优选地，所述第一滑块固定设置于调节杆一端，第二滑块设置在调节杆上，通过在调节杆上的滑动以调节第一滑块和第二滑块之间的距离。所述第一滑块及第二滑块设置在调节杆上，通过在调节杆上的滑动以调节第一滑块和第二滑块之间的距离。进一步地，还包括设置在第一滑块和第二滑块之间的至少一个辅助滑块，所述辅助滑块两侧面设置有导电电极，且两导电电极分别连接一导线。优选地，所述导线的一端连接导电电极，另一端延伸至滑块的外部。优选地，所述第一滑块、第二滑块和辅助滑块上包括螺母固定件。优选地，所述调节杆上具有固定卡扣，所述第一滑块、第二滑块和辅助滑块上具有活动卡扣。进一步地，所述调节杆的宽度大于两个LED灯的宽度。(三)有益效果本实用新型中，通过此LED元件测试装置进行测试，方便，快捷，省时省力，能够有效的避免由于焊接造成的样品损坏，接触电阻保持稳定，使得LED的测试结果更加可信准确。
图I为现有技术LED灯及焊接测试示意图；图2为本实用新型一实施例结构示意图；图3为本实用新型螺母固定方式结构示意图；图4为本实用新型卡扣固定方式结构示意图；图5为图4的A-A’切线剖面图；图6为本实用新型另一实施例结构示意图；图7a为本实用新型辅助滑块俯视图；图7b为本实用新型辅助滑块正视图。·附图标记说明I—LED 元件；2—LED 电极；3—第一滑块；4一第二滑块；5—导电电极；6—固定螺母；7—调节杆；8—导线； 9—辅助滑块；10—空腔； 11—固定卡扣；12—活动卡扣。
具体实施方式
下面将结合附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。图2为本实用新型实施例结构示意图，所述LED元件I测试装置包括第一滑块3、第二滑块4和调节杆7，第一滑块3和第二滑块4设置在调节杆7上，第一滑块3及第二滑块4相对的侧面分别设置有导电电极5，每一导电电极5连接一导线8，导线8 一端连接导电电极5，另一端延伸到滑块的外部。所述第一滑块3固定设置于调节杆7—端，第二滑块4通过在调节杆7上的滑动调节第一滑块3和第二滑块4之间的距离。当需要将第二滑块4固定时，采用如图3所示的螺母固定件，在第二滑块4上设置固定螺母6，通过旋转固定螺母6使其在第二滑块4上垂直移动，从而将第二滑块4固定在调节杆7上。也可采用如图4和图5所示的卡扣固定方式，在调节杆7的一侧设置固定卡扣11，第二滑块4 一侧设置有活动卡扣12，第二滑块4套取在设置有固定卡扣11的调节杆7上，通过与活动卡扣12的配合将第二滑块4固定在调节杆7上。如图6所示，也可以将所述第一滑块3及第二滑块4均设置在调节杆7上，通过在调节杆7上的滑动以调节第一滑块3和第二滑块4之间的距离。当需要将第一滑块3和第二滑块4固定时，可以采用如图3所示的螺母固定件，也可以采用如图4和图5所示的卡扣固定方式。进一步地，当需要进行多个LED灯串联测试时，可以将如图7a和7b所示的辅助滑块9通过空腔10套取在第一滑块3和第二滑块4之间的调节杆7上，并根据所需要测试的LED灯的个数放置相应数目的辅助滑块9。所述辅助滑块9两侧面均设置有导电电极5，且两导电电极5分别连接一导线8，导线8延伸至辅助滑块8的外部。辅助滑块9可以采用如图3所示的螺母固定件，也可以采用如图4和图5中所示的卡扣固定方式。另外，通过将调节杆7的宽度设置为大于两个LED灯的宽度，可以将两个以上LED灯进行并联测试。在进行LED元件I测试时，将LED灯水平放置在调节杆7上，其中LED灯一侧LED电极2靠近第一滑块3电极侧，采用图6所示的装置时，需要先将第一滑块3固定，滑动第二滑块4或辅助滑块9向LED灯另一侧LED电极2移动，当第一滑块3与第二滑块4或辅助滑块9将LED灯夹紧时，第二滑块4便通过固定件固定于调节杆7上。此时将各延伸至滑块外部的导线8分别连接测试仪器，对该LED灯进行测试评价。以上实施方式仅用于说明本实用新型，而并非对本实用新型的限制，有关技术领 域的普通技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本实用新型的范畴，本实用新型的实际保护范围应由权利要求限定。
权利要求1.一种LED元件测试装置，其特征在于，所述LED元件测试装置包括调节杆、第一滑块及第二滑块，其中，所述第一滑块及所述第二滑块设置在所述调节杆上，所述第一滑块和第二滑块相对的侧面分别设置导电电极，每一导电电极连接一导线。
2.根据权利要求I所述的LED元件测试装置，其特征在于，所述第一滑块固定设置于调节杆一端，第二滑块设置在调节杆上，通过在调节杆上的滑动以调节第一滑块和第二滑块之间的距离。
3.根据权利要求I所述的LED元件测试装置，其特征在于，所述第一滑块及第二滑块设置在调节杆上，通过在调节杆上的滑动以调节第一滑块和第二滑块之间的距离。
4.根据权利要求2或3所述的LED元件测试装置，其特征在于，还包括设置在第一滑块和第二滑块之间的至少一个辅助滑块，所述辅助滑块两侧面设置有导电电极，且两导电电极分别连接一导线。
5.根据权利要求4所述的LED元件测试装置，其特征在于，所述导线的一端连接导电电极，另一端延伸至滑块的外部。
6.根据权利要求I至3任一所述的LED元件测试装置，其特征在于，所述第一滑块、第二滑块和辅助滑块上包括螺母固定件。
7.根据权利要求I至3任一所述的LED元件测试装置，其特征在于，所述调节杆上具有固定卡扣，所述第一滑块、第二滑块和辅助滑块上具有活动卡扣。
8.根据权利要求I至3任一所述的LED元件测试装置，其特征在于，所述调节杆的宽度大于两个LED灯的宽度。
专利摘要本实用新型公开了一种LED元件测试装置，涉及测试装置领域，所述LED元件测试装置包括调节杆、第一滑块及第二滑块，其中，所述第一滑块及所述第二滑块设置在所述调节杆上，所述第一滑块和第二滑块相对的侧面分别设置导电电极，每一导电电极连接一导线。本实用新型中，通过此LED元件测试装置进行测试，方便，快捷，省时省力，能够有效的避免由于焊接造成的样品损坏，并且接触电阻保持稳定，使得LED的测试结果更加可信准确。
文档编号G01R31/26GK202631690SQ20122027819
公开日2012年12月26日 申请日期2012年6月13日 优先权日2012年6月13日
发明者肖光辉, 尹大根 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方显示技术有限公司