专利名称：一种干涉型高光谱成像仪的mtf在轨检测方法
技术领域：
本发明涉及一种干涉型高光谱成像仪的MTF在轨检测方法，特别涉及ー种环境减灾卫星高光谱成像仪的光谱漂移检测方法。
背景技术：
干渉型高光谱成像仪具有很高的光谱分辨率，它以纳米级的光谱分辨率获得丰富的地物空间信息、辐射信息和光谱信息，其信息的充分应用程度取决于干渉型高光谱数据的成像质量。干渉型高光谱成像仪在成像过程中由于大气的影响，会引起成像质量下降；并且随着在轨时间的增长，成像系统中光学、探測器和电子学子系统等衰减的影响，也会使成像质量逐渐退化，从而降低图像中信息的应用能力。因而，对干渉型高光谱数据的成像质量的评价是十分必要的。调制传递函数(MTF)是评价在轨干涉型高光谱成像仪数据质量的ー个重要物理參数，它能客观地反映一个成像系统的空间频率特性，是目前国际上通行的评价成像质量的方法。目前，针对多光谱传感器的MTF已经有较为成熟的在轨检测方法，而对于干渉型高光谱成像仪的MTF在轨检测方法，到目前为止，尚未见国内外文献资料中有关这方面的检测方法。
发明内容
本发明的技术解决问题是克服现有技术的不足，提供一种干涉型高光谱成像仪的MTF在轨检测方法。本发明的技术解决方案是一种干涉型高光谱成像仪的MTF在轨检测方法，步骤如下(I)读取高光谱成像仪干涉数据图，对该高光谱成像仪干涉数据进行离散傅立叶逆变换得到干渉型高光谱成像仪光谱数据图；(2)在高光谱成像仪光谱数据图中选取“刃边”图像�？椋酶猛枷衲？榈男旁氡萐NR选取适合计算干涉型高光谱成像仪MTF的有效波段；(3)在适合计算干涉型高光谱成像仪MTF的有效波段上，进行刃边图像�？榈娜斜叩闾崛。唤斜叩隳夂闲纬杀咴道┥⒑鼸SF ；(4)对边缘扩散函数ESF进行微分计算，将微分计算结果进行拟合得到线扩散函数LSF，然后再对LSF进行离散傅里叶变换计算出干涉型高光谱成像仪的有效波段MTF ；(5)依据上述确定的有效波段MTF，对各有效波段MTF进行平均，最终得到干涉型高光谱成像仪整体的MTF。所述步骤⑵有效波段的判断依据为
权利要求
1.一种干涉型高光谱成像仪的MTF在轨检测方法，其特征在于步骤如下 (1)读取高光谱成像仪干涉数据图，对该高光谱成像仪干涉数据进行离散傅立叶逆变换得到干渉型高光谱成像仪光谱数据图； (2)在高光谱成像仪光谱数据图中选取“刃边”图像�？椋酶猛枷衲？榈男旁氡萐NR选取适合计算干涉型高光谱成像仪MTF的有效波段； (3)在适合计算干涉型高光谱成像仪MTF的有效波段上，进行刃边图像模块的刃边点提�。唤斜叩隳夂闲纬杀咴道┥⒑鼸SF ； (4)对边缘扩散函数ESF进行微分计算，将微分计算结果进行拟合得到线扩散函数LSF，然后再对LSF进行离散傅里叶变换计算出干涉型高光谱成像仪的有效波段MTF ； (5)依据上述确定的有效波段MTF，对各有效波段MTF进行平均，最终得到干涉型高光谱成像仪整体的MTF。
2.根据权利要求I所述的ー种干涉型高光谱成像仪的MTF在轨检测方法，其特征在于所述步骤(2)有效波段的判断依据为
全文摘要
一种干涉型高光谱成像仪的MTF在轨检测方法，(1)读取高光谱成像仪干涉数据图，对该高光谱成像仪干涉数据进行离散傅立叶逆变换得到干涉型高光谱成像仪光谱数据图；(2)在高光谱成像仪光谱数据图中选取“刃边”图像�？椋酶猛枷衲？榈男旁氡萐NR选取适合计算干涉型高光谱成像仪MTF的有效波段；(3)在有效波段上，进行刃边图像模块的刃边点提�。唤斜叩隳夂闲纬杀咴道┥⒑鼸SF；(4)对边缘扩散函数ESF进行微分计算，将微分计算结果进行拟合得到线扩散函数LSF，然后再对LSF进行离散傅里叶变换计算出干涉型高光谱成像仪的有效波段MTF；(5)依据上述确定的有效波段MTF，对各有效波段MTF进行平均，最终得到干涉型高光谱成像仪整体的MTF。
文档编号G01J3/45GK102692273SQ20121017903
公开日2012年9月26日 申请日期2012年5月31日 优先权日2012年5月31日
发明者傅俏燕, 潘志强, 王爱春, 闵祥军, 韩启金 申请人:中国资源卫星应用中心
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