专利名称：一种高效电器寿命测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电器寿命测试领域，更具体的说涉及一种高效电器寿命测试装置。
背景技术：
在进行电器开关的寿命测试时，无论是采用哪一个标准，都要进行电器寿命耐受力测试，这个测试是所有测试的关键过程，同时也是耗时最长的实验。按相关的标准，每个被测开关要作�？�/常闭两种独立实验，而每一个独立实验要作交、直流的不同测试，每个测试包括两个不同的测试点(高电压低电流和低电压高电流)，也就是说，每个开关需要分别作6种不同的测试。按照相关的标准(诸如UL508、EN60947-5-1或GB14048.5)，耐受力实验的频率为接通I秒，断开9秒(每次10秒)，共作5000次，全部完成时间为13.9小时，为了能目击到实验的结果(UL实验需由UL公司来人现场目击)，一般只能晚上开始测试，第二天早上来看结果，因此一个完整实验需要8天时间，效率非常低。有鉴于此，本发明人针对现有技术中的上述缺陷深入研究，遂有本案产生。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种高效电器寿命测试装置，以解决现有测试装置存在测试效率低下的问题。为了达成上述目的，本实用新型的解决方案是:一种高效电器寿命测试装置，其中，包括控制器、切换开关以及至少两条测试通路，每条测试通路可接入一待测电器开关并对其进行测试，每条测试通路中均包括一个用于控制当前测试通路对应待测电器开关进行�？虺１帐笛榈牟馐钥兀每刂破骷觳饣竦盟胁馐钥氐墓ぷ髯刺们谢豢赜胫辽倭教醪馐酝肪嗔⒃诳刂破鞯目刂葡略褚坏氐纪ㄆ渲幸惶醪馐酝罚么τ诘纪ǖ牟馐酝反τ诔１帐笛樽刺保溆嗖馐酝反τ诔？笛樽刺＝徊剑弥辽倭教醪馐酝肺谝徊馐酝�、第二测试通路和第三测试通路，该控制器在第一测试通路处于9s常开状态过程时，依次将切换开关切换至第二测试通路和第三测试通路，在切换至第三测试通路时第二测试通路处于�？刺⒃诘谝徊馐酝反τ诔１兆刺鼻谢换乩�。采用上述结构后，本实用新型涉及的一种高效电器寿命测试装置，其在一条测试通路处于�？笛樽刺保梢岳们谢豢厝闷渌醪馐酝反τ诔１帐笛樽刺绱丝梢酝倍灾辽倭教ù獾缙骺亟惺倜馐浴Ｓ胂钟械牡缙魇倜馐蕴ㄖ荒芤桓鲆桓隹夭馐韵啾龋臼涤眯滦推骄刻ú馐允奔浯蟠笏醵蹋馐孕室泊蟠筇岣�。
[0011]图1为本实用新型涉及一种高效电器寿命测试装置的原理框图；图2为本实用新型第一实施例的程序框图；图2A为本实用新型第一实施例配置三条测试通路时的电路示意图；图2B为本实用新型第一实施例配置三条测试通路时的对比波形图；图3为本实用新型第二实施例的电路示意图。图中:高效电器寿命测试装置 100控制器I切换开关2至少两条测试通路3第一测试通路31第二测试通路32第三测试通路33测试开关4。
具体实施方式
为了进一步解释本实用新型的技术方案，下面通过具体实施例来对本实用新型进行详细阐述。如图1所示，本实用新型涉及的一种高效电器寿命测试装置100，包括控制器1、切换开关2以及至少两条测试通路3 ，每条测试通路可接入一待测电器开关并对其进行测试，每条测试通路中均包括一个测试开关4，该测试开关4用于控制当前测试通路对应待测电器开关进行�？虺１帐笛�。该控制器I与所有测试开关4和切换开关2均相连，该控制器I检测获得所有测试开关4的工作状态，该切换开关2与至少两条测试通路3均相连并在控制器I的控制下择一地导通其中一条测试通路，该处于导通的测试通路处于常闭实验状态，其余测试通路处于�？笛樽刺�。具体地，在图1所示的原理图中，该至少两条测试通路3为第一测试通路31、第二测试通路32和第三测试通路33，该控制器I在第一测试通路31处于9s�？刺淌保来谓谢豢�2切换至第二测试通路32和第三测试通路33，在切换至第三测试通路33时第二测试通路32处于�？刺⒃诘谝徊馐酝�31处于常闭状态时切换回来。这样，本实用新型涉及的一种高效电器寿命测试装置100，其在一条测试通路处于�？笛樽刺保梢岳们谢豢�2让其他条测试通路处于常闭实验状态，如此可以同时对至少两台待测电器开关进行寿命测试。请参照图2、图2A和图2B所示，其为本实用新型的第一实施例，其利用开关断开的9秒时间(在现有技术中，该9秒的时间负载部不工作),使设备负载继续工作。具体地,在被测开关断开3.0秒左右时间，及时地将另一个被测开关接入，当第二个开关又断开时，又将第三个开关接入，只要在9秒内顺序接通各个开关，就可以充分利用设备的潜力，这三个开关参数应相同。如果三个开关的测试参数不同，即可通过内部程序的调整，及时更换负载接入参数即可，如此可以在同一个测试装置上实现3倍效率的提升。请参照图3所示，其为本实用新型的第二实施例，其仅测试一个开关，就可以将�？�(NO)和常闭(NC)分开(同一个产品的两个样品)，即将一个样品的�？拥憬釉贏通道，而将(同一个产品)的常闭接点接在B通道上，控制A通道气动阀，使�？鱅秒后断开9秒，只有在A通道断开3秒后，B通道复位I秒，此时B通道气动阀一直压住实现常闭通，类似三个通道原理，可以完成同一种产品的�？�、常闭同时测试，其相较于传统测试，提高了 2倍的效率。综上所述，本实用新型与现有的电器寿命测试台只能一个一个开关测试相比，本实用新型平均每台测试时间大大缩短，测试效率也大大提高。上述实施例和图式并非限定本实用新型的产品形态和式样，任何所属技术领域的普通技术人员对其所做的适当变化或修饰，皆应视为不脱离本实用新型的专利范畴。
权利要求1.一种高效电器寿命测试装置，其特征在于，包括控制器、切换开关以及至少两条测试通路，每条测试通路可接入一待测电器开关并对其进行测试，每条测试通路中均包括一个用于控制当前测试通路对应待测电器开关进行�？虺１帐笛榈牟馐钥兀每刂破骷觳饣竦盟胁馐钥氐墓ぷ髯刺们谢豢赜胫辽倭教醪馐酝肪嗔⒃诳刂破鞯目刂葡略褚坏氐纪ㄆ渲幸惶醪馐酝罚么τ诘纪ǖ牟馐酝反τ诔１帐笛樽刺保溆嗖馐酝反τ诔？笛樽刺�。
2.如权利要求1所述的一种高效电器寿命测试装置，其特征在于，该至少两条测试通路为第一测试通路、第二测试通路和第三测试通路，该控制器在第一测试通路处于9s�？刺淌保来谓谢豢厍谢恢恋诙馐酝泛偷谌馐酝罚谇谢恢恋谌馐酝肥钡诙馐酝反τ诔？刺⒃诘谝徊馐酝反τ诔１兆刺鼻谢换乩�。
专利摘要本实用新型公开一种高效电器寿命测试装置，包括控制器、切换开关以及至少两条测试通路，每条测试通路可接入一待测电器开关并对其进行测试，每条测试通路中均包括一个用于控制当前测试通路对应待测电器开关进行�？虺１帐笛榈牟馐钥兀每刂破骷觳饣竦盟胁馐钥氐墓ぷ髯刺们谢豢赜胫辽倭教醪馐酝肪嗔⒃诳刂破鞯目刂葡略褚坏氐纪ㄆ渲幸惶醪馐酝罚么τ诘纪ǖ牟馐酝反τ诔１帐笛樽刺保溆嗖馐酝反τ诔？笛樽刺�。与现有的电器寿命测试台只能一个一个开关测试相比，本实用新型平均每台测试时间大大缩短，测试效率也大大提高。
文档编号G01R31/327GK202939282SQ201220554550
公开日2013年5月15日 申请日期2012年10月26日 优先权日2012年10月26日
发明者游振森, 卢淑娇, 吴励强 申请人:三实电器(漳州)有限公司
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