专利名称：一种用测长机检定长度大于200mm三等量块的装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及光学计量仪器的量块检定装置，特别是一种用测长机检定长度大于200mm三等量块的装置。
背景技术：
测长机是国家标准GB/T 7400-1992《测长机》规定的标准光学计量仪器，它可以用比较法测量量块的中心长度及长度变动量。但由于测长机微米刻度尺的示值误差是 0. 2-0. 25 μ m,而三等量块长度测量不确定度为0. 10 μ mX L，不满足标准件和校对件的选择原则(标准量的误差一般占被测量允许误差的1/10-1/3)，所以测长机不能用于三等量块的检定。
发明内容本实用新型的目的在于提供一种用测长机检定长度大于200mm三等量块的装置， 对传统的测长机头架进行了修改。该机构由头架、底盘、上层底座组成，将接触式干涉仪装夹在原卧式光学计管的位置上，便可以对三等量块进行检定。本实用新型的构成一种用测长机检定长度大于200mm三等量块的装置，由基座、 尾架、尾管、工作台、头架、接触式干涉仪、微动组、底盘、上层底座和量块架组成，该装置重新设计了测长机的头架，在基座上安装底盘，在底盘上是上层底座，在上层底座上安装头架，接触式干涉仪装夹在头架上，用锁紧螺钉锁紧。与现有技术比较，本实用新型测量时将接触式干涉仪装夹在头架上，便可对三等量块进行检定，测量数据从接触式干涉仪中读�。猛芳芙峁辜虻ィ杀镜土咀爸美┐罅瞬獬せ挠τ梅段В瓤梢月惚炯屏恐行牡募於ㄊ褂茫部晌欣嗨菩枨蟮目突峁┌镏�。同时这样的改进并不破坏测长机原头架部分，可以根据测量需要选择使用，可视为对测长机使用性能的延伸。
附图是本实用新型结构示意图。图中1.尾架，2.手轮，3.尾管，4.球面测帽A，5.基准二等量块，6.被检三等量块，7.工作台，8.球面测帽B，9.头架，10.锁紧螺钉，11.接触式干涉仪，12.微动组，13.底盘，14.上层底座，15.锁紧手轮，16.量块架，17.摆动手轮A，18.读数手轮，19.升降手轮， 20.摆动手轮B，21.基座。
具体实施方式
如图所示，一种用测长机检定长度大于200mm三等量块的装置，由基座、尾架、尾管、工作台、头架、接触式干涉仪、微动组、底盘、上层底座和量块架组成，该装置重新设计了测长机的头架9，在基座21上安装底盘13，在底盘13上是上层底座14，在上层底座上安装头架9，接触式干涉仪11装夹在头架9上，用锁紧螺钉10锁紧。检定三等量块的步骤如下(1)将基准二等量块5与被检三等量块6并列装夹在量块架16上，且一并放置在工作台7上；(2)转动升降手轮19，使基准二等量块5的两工作面分别与球面测帽A 4、球面测帽B 8接触；(3)转动摆动手轮A 17，同时观察接触式干涉仪11示值变化，当示值为最小值时， 停止转动摆动手轮A 17 ；(4)转动摆动手轮B 20，同时观察接触式干涉仪11示值变化，当示值为最小值时， 停止转动摆动手轮B 20 ；(5)通过微动组12使接触式干涉仪11的示值对准在零位；(6)转动读数手轮18，使被检三等量块6的两工作面分别与球面测帽A 4、球面测帽B 8接触；(7)重复操作步骤(3)、(4)；(8)此时接触式干涉仪11的示值即为被检三等量块6的中心长度偏差。
权利要求1. 一种用测长机检定长度大于200mm三等量块的装置，由基座、尾架、尾管、工作台、头架、接触式干涉仪、微动组、底盘、上层底座和量块架组成，其特征在于该装置重新设计了测长机的头架(9)，在基座(21)上安装底盘(13)，在底盘(13)上是上层底座(14)，在上层底座上安装头架(9)，接触式干涉仪(11)装夹在头架(9)上，用锁紧螺钉(10)锁紧。
专利摘要一种用测长机检定长度大于200mm三等量块的装置，由基座、尾架、尾管、工作台、头架、接触式干涉仪、微动组、底盘、上层底座和量块架组成，该装置重新设计了测长机的头架，在基座上安装底盘，在底盘上是上层底座，在上层底座上安装头架，接触式干涉仪装夹在头架上，用锁紧螺钉锁紧。本实用新型测量时将接触式干涉仪装夹在头架上，便可对三等量块进行检定，测量数据从接触式干涉仪中读�。猛芳芙峁辜虻ィ杀镜土┐罅瞬獬せ挠τ梅段�。
文档编号G01B11/02GK202329556SQ201120449719
公开日2012年7月11日 申请日期2011年11月15日 优先权日2011年11月15日
发明者张贵川, 王殿民, 盛梅, 龚红梅 申请人:贵阳新天光电科技有限公司
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