专利名称：保持架窗孔直径、基准高度检具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种保持架窗孔直径、基准高度检具。
背景技术：
等速万向节的球笼保持架、偏心保持架的窗孔直接与钢球配合，因此加工要求较高，一般窗孔基准为H±0.006，窗孔直径为D±0.015，D(13-23mm)，H(5-9mm)。开始，我们采用高度检具来检测基准高度，再用内径百分表测量窗孔直径，由于10-18mm内径百分表示值误差为0.015mm，18-35内径百分表示值误差为0.020mm。因此，根本不能满足我们的测量要求，且测量效率低下。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种保持架窗孔直径、基准高度检具。
它具有测量平台，在测量平台上设有两只传感器，两只传感器经传感器接线与两只电感式测微仪相接，在传感器上分别设有定位测头。
经测量系统分析，该检具R&R、稳定性、线性、偏倚全部符合测量系统接受准则要求，即能够满足我们测量需要。使用该检具测量稳定可靠，误差小，测量效率高，经济实用，且操作方便。在生产现场得到推广使用。
图1是保持架窗孔直径、基准高度检具的结构示意图；图2是保持架窗孔直径、基准高度检具的结构俯视图；图3是本实用新型电感式测微仪主视图。
具体实施方式
该检具由一个测量平台5，两只传感器3、6，两只电感式测微仪1、8组成。两只传感器分别固定在平台上的两只支架上，比较测量时，测量信号通过传感器传送到测微仪。由于保持架窗孔直径是两个平行平面之间的距离，因此必须将距离信号一次传送到测微仪。如图所示，制作一个特殊的定位测头与传感器连成一体，即定位测头7。测量时，定位测头与窗孔下工作面接触并带动传感器运动，传感器测头与窗孔上工作面接触，产生测量信号传送到测微仪，与定制的窗孔校对件比较测量即可得到D值。通过调节定位测头下部的微调螺钉和传感器测头可将两平面距离自如地调节到合适的位置。测量窗孔基准时，通过调节测头4，也可调到所需的位置，与定制的窗孔校对件比较测量即可得到H值。测头接触窗孔上下平面后，在平台上移动工件，还可测量窗孔上下平面的平行度。
权利要求1.一种保持架窗孔直径、基准高度检具，其特征在于它具有测量平台(5)，在测量平台上设有两只传感器(3)、(6)，两只传感器经传感器接线(2)与两只电感式测微仪(1)、(8)相接，在传感器上分别设有定位测头(4)、(7)。
2.根据权利要求1所述的一种保持架窗孔直径、基准高度检具，其特征在于所说的测量平台与两只传感器之间设有支架。
专利摘要本实用新型公开了一种保持架窗孔直径、基准高度检具。它具有测量平台，在测量平台上设有两只传感器，两只传感器经传感器接线与两只电感式测微仪相接，在传感器上分别设有定位测头。经测量系统分析，该检具R&R、稳定性、线性、偏倚全部符合测量系统接受准则要求，即能够满足我们的测量需要。使用该检具测量稳定可靠，误差�。饬啃矢撸檬涤茫也僮鞣奖�。在生产现场得到推广使用。
文档编号G01B5/08GK2563549SQ0226571
公开日2003年7月30日 申请日期2002年7月22日 优先权日2002年7月22日
发明者高建明, 陶岳明, 杨春燕 申请人:浙江万向机械有限公司
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