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专利名称：Lcd偏光片不良品检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及LCD偏光片不良检查技术领域。
背景技术：
IXD偏光片不良在行业中的不良率一直在2% -3%左右，而这些不良品Bonding FPC和IC甚至组装上背光后才能检测出，这样就浪费了很多FPC、IC、背光，增加了成本。 更为甚者，有些不良品BondingFPC和IC甚至组装上背光后需要人员去经过1_2次检测 才能发现，浪费了大量的人力。所以如果在LCD使用前就挑出偏光片不良，那么可以降低 2% -3%的材料损耗。

实用新型内容针对上述问题，本实用新型旨在提供一种用于检测LCD偏光片不良品的检测装置。为实现该技术目的，本实用新型的方案是一种LCD偏光片不良品检测装置，包括 底座和支架，所述支架上装置有卤素灯以及将该卤素灯安装于支架上的灯架。作为进一步改进，所述灯架上还设置有控制卤素灯启闭的开关件。本方案利用偏光片的偏振原理卤素灯特有的光谱，可以不点亮LCD就发现一些 LCD和偏光片的瑕疵。

图1为本实用新型的实施例之一的结构示意图。
具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本实用新型做进一步详细说明。如图1所示，本实用新型的具体实施例之一的LCD偏光片不良品检测装置，它包括 底座1和支架2，所述支架2上装置有卤素灯4以及将该卤素灯安装于支架上的灯架3。灯 架上还设置有控制卤素灯启闭的开关件5。以上所述，仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，凡是依据本 实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何细微修改、等同替换和改进，均应包含在本 实用新型技术方案的保护范围之内。
权利要求1.一种IXD偏光片不良品检测装置，包括底座和支架，其特征在于所述支架上装置有 卤素灯以及将该卤素灯安装于支架上的灯架。
2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于所述灯架上还设置有控制卤素灯启 闭的开关件。
专利摘要本实用新型公开了一种LCD偏光片不良品检测装置，包括底座和支架，所述支架上装置有卤素灯以及将该卤素灯安装于支架上的灯架。本方案利用偏光片的偏振原理和卤素灯特有的光谱，可以不点亮LCD就发现一些LCD和偏光片的瑕疵。
文档编号G01M11/02GK201788080SQ20102052710
公开日2011年4月6日 申请日期2010年9月10日 优先权日2010年9月10日
发明者李小林 申请人:深圳市天正达电子有限公司