专利名称：筒状壳体上的凹槽厚度检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于测量技术领域，尤其涉及一种筒状壳体上的凹槽厚度检测装置。
背景技术：
超级电容器又叫双电层电容器，是一种新型储能装置，其具有充电时间短、使用寿命长、温度特性好、节约能源和绿色环保等特点，目前，超级电容器的应用越来越广泛。超级电容器的外壳防爆槽是涉及超级电容器安全的重要特征，如何检测防爆槽厚度，是一项非常关键的技术。目前，业界一般是采用三次元测量仪来检测防爆槽的厚度，然而，三次元测量仪价格较高，从而导致成本较高。
实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题在于，提供一种成本较低、并且测量方便的筒状壳体上的凹槽厚度检测装置。
·[0004]为解决上述技术问题，本实用新型提供一种筒状壳体上的凹槽厚度检测装置，包括底板、用于测量凹槽厚度的千分表、用于定位待测壳体的定位柱、用于在X轴方向调节所述千分表位置的第一调节机构、用于在Y轴方向调节所述定位柱位置的第二调节机构、以及用于在Z轴方向调节所述千分表位置的第三调节机构；所述第一调节机构及第二调节机构位于所述底板上，所述千分表位于所述第三调节机构上，并且位于所述定位柱的一侧，所述第三调节机构位于所述第一调节机构上，所述定位柱位于所述第二调节机构上。进一步地，所述第一调节机构包括第一固定座、第一调节挡块及第一调节螺栓；所述第一固定座沿X轴方向可滑动地安装于所述底板上，所述第一调节挡块沿X轴方向位于所述第一固定座的一侧，所述第一调节螺栓沿X轴方向通过螺纹配合穿设于所述第一调节挡块上，并且其一端可抵顶于所述第一固定座。进一步地，所述第一固定座与所述底板之间通过凸块与滑槽结构相配合，所述滑槽沿X轴方向延伸。进一步地，所述第三调节机构包括立柱及支架；所述立柱垂直固定于所述第一固定座上，所述支架可沿Z轴方向上下移动地安装于所述立柱上。进一步地，所述第三调节机构还包括立柱夹钳，所述支架包括二夹板，所述二夹板夹置于所述立柱上，所述立柱夹钳通过螺纹配合穿设于所述二夹板上。进一步地，所述第二调节机构包括第二固定座、第二调节挡块及第二调节螺栓；所述第二固定座沿Y轴方向可滑动地安装于所述底板上，所述第二调节挡块沿Y轴方向位于所述第二固定座的一侧，所述第二调节螺栓沿Y轴方向通过螺纹配合穿设于所述第二调节挡块上，并且其一端可抵顶于所述第二固定座。进一步地，所述第二固定座与所述底板之间通过凸块与滑槽结构相配合，所述滑槽沿Y轴方向延伸。进一步地，所述第二固定座包括沿Y轴方向排列的二固定板，所述定位柱穿设于相邻的一块固定板上，并且其端部与另一固定板固定连接。进一步地，所述检测装置还包括第四调节装置，所述千分表安装于所述第四调节装置上，所述第四调节装置安装于所述第三调节装置上；所述第四调节装置包括二固定块、 二连接弹片、第四调节挡块及第四调节螺栓；所述二固定块沿X轴方向间隔排列，其中一个固定块固定于所述第三调节装置上，所述千分表位于另一个固定块上，所述二连接弹片连接于所述二固定块之间，所述第四调节挡块沿Z轴方向位于所述二固定块的一侧，所述第四调节螺栓沿Z轴方向通过螺纹配合穿设于所述第四调节挡块上，并且其端部可抵顶于所述安装有千分表的固定块上。进一步地，所述安装有千分表的固定块包括二夹头及固定块夹钳，所述二夹头夹置所述千分表，所述固定块夹钳通过螺纹配合穿设于所述二夹头上。与现有技术相比较，本实用新型的检测装置通过第一、第二、第三调节装置可调节在X轴、Y轴及Z轴三个方向上千分表与定位柱的相对位置，测量凹槽厚度之前先校准好千分表与定位柱的相对位置，确保千分表测头的中轴线与定位柱的中轴线在Z轴方向上位于同一平面内，并且使千分表测头与定位柱刚接触时的测量值为“0”，即将千分表调零，测量时将待测壳体套设于定位柱上，从而通过千分表测头与壳体上的凹槽接触而检测出凹槽厚度。本实用新型的检测装置结构简单，成本较低，并且测量操作简单方便。
图I是本实用新型筒状壳体上的凹槽厚度检测装置一较佳实施例的立体示意图。图2是图I所示实施例另一角度的立体示意图。图3是图I所示实施例的侧视示意图。图4是图I所示实施例用于检测超级电容器外壳上V形槽的立体示意图。图5是图4中千分表测头与待测V形槽接触部位的局部放大示意图。图6是图4中千分表测头与待测V形槽接触部位的另一角度的局部放大示意图。图7是图I所示实施例用于检测超级电容器外壳上的平位槽的立体示意图。图8是图7中千分表测头与待测平位槽接触部位的局部放大示意图。图9是图7中千分表测头与待测平位槽接触部位的另一角度的局部放大示意图。图10是图I所示实施例用于检测超级电容器外壳上的C形槽的立体示意图。图11是图10中千分表测头与待测平位槽接触部位的局部放大示意图。图12是图10中千分表测头与待测平位槽接触部位的另一角度的局部放大示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，
以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。请参阅图I至图3，是本实用新型的一较佳实施例，该筒状壳体上的凹槽厚度检测装置包括底板I、用于测量凹槽厚度的千分表2、用于定位待测筒状壳体100 (如图4至图12 所示)的定位柱3、第一调节机构、第二调节机构及第三调节机构。第一调节机构、第二调节机构及第三调节机构可用于分别调节在X轴、Y轴及Z轴方向千分表2与定位柱3的相对位置。其中，如图3所示，X轴与Y轴相互垂直，且位于同一水平面内，而Z轴位于与上述 XY轴所在的水平面相垂直的垂直平面内。具体地，第一调节机构安装于底板I上，用于在X轴方向调节千分表2的位置，其包括第一固定座41、第一调节挡块42及第一调节螺栓43。第一固定座41沿X轴方向可滑动地安装于底板I上；第一调节挡块42沿X轴方向位于第一固定座41的一侧；第一调节螺栓43沿X轴方向通过螺纹配合穿设于第一调节挡块42上，并且其一端可抵顶于第一固定座41。本实施例中，第一固定座41与底板I之间通过凸块411与滑槽11结构相配合， 滑槽11沿X轴方向延伸。具体地，凸块411位于第一固定座41的底面，而滑槽11位于底板I上。可以理解，凸块与凹槽的位置也可以互换，即将凸块设置于底板I上，而将凹槽设置于第一固定座41上。沿X轴方向调节千分表2位置时，通过旋转第一调节螺栓43，可使其抵顶第一固定 座41沿X轴方向移动。第二调节机构安装于底板I上，用于在Y轴方向调节定位柱3的位置，其包括第二固定座51、第二调节挡块52及第二调节螺栓53。第二固定座51沿Y轴方向可滑动地安装于底板I上，本实施例中，第二固定座51包括沿Y轴方向排列的二固定板511、512，定位柱 3穿设于相邻的一块固定板511上，并且其端部与另一固定板512通过若干螺钉513固定连接。第二调节挡52块沿Y轴方向位于第二固定座51的一侧；第二调节螺栓53沿Y轴方向通过螺纹配合穿设于第二调节挡块52上，并且其一端可抵顶于第二固定座51。本实施例中，第二固定座51与底板I之间亦通过凸块511与滑槽12结构相配合，滑槽12沿Y轴方向延伸。具体地，凸块511位于第二固定座51的底面，而滑槽12位于底板I上。可以理解，凸块与凹槽的位置也可以互换，即将凸块设置于底板I上，而将凹槽设置于第二固定座 51上。沿Y轴方向调节千分表2位置时，通过旋转第二调节螺栓53，可使其抵顶第二固定座51沿Y轴方向移动。第三调节机构位于第一调节机构上，用于在Z轴方向调节千分表2的位置，千分表 2位于第三调节机构上，并且位于定位柱3的一侧。第三调节机构包括立柱61及支架62。 立柱61垂直固定于第一固定座41上；支架62可沿Z轴方向上下移动地安装于立柱61上。 本实施例中，支架62包括二夹板621，二夹板621夹置于立柱61上；第三调节机构还包括立柱夹钳63，立柱夹钳63通过螺纹配合穿设于二夹板621上，通过调节立柱夹钳63，可调节二夹板621夹持立柱61的松紧程度。沿Z轴方向调节千分表2的位置时，先松开立柱夹钳63，使支架62沿立柱61上下移动到合适的装置，之后再拧紧立柱夹钳63。图4至图12示出了用上述检测装置用于检测超级电容器外壳上凹槽102的情况， 其中，图4至图6中所示的超级电容器外壳上设置的是V形槽，图7至图9中所示的超级电容器外壳上设置的是平位槽，图10至图12中所示的超级电容器外壳上设置的是C形槽。在测量凹槽102厚度之前先校准好千分表2与定位柱3的相对位置，确保千分表 2测头21的中轴线与定位柱3的中轴线在Z轴方向上位于同一平面内，并且使千分表2测头21与定位柱3刚接触时的测量值为“0”，即将千分表2调零。测量时，通过第三调节装置使千分表2沿Z轴方向向远离定位柱3的方向移动,之后,将待测筒状壳体100套设于定位柱3上，再通过第三调节装置使千分表2沿Z轴方向向靠近定位柱3的方向移动，直到千分表2测头21与壳体100上的凹槽102接触，从而检测出凹槽102厚度。具体地，可轻微地来回旋转定位柱3上的待测壳体100，同时观测千分表2上的读数，其中最小的读数即为所测凹槽102的厚度。为提高千分表2的测量精度，本实用新型的检测装置还包括第四调节装置，千分表2安装于第四调节装置上，第四调节装置安装于第三调节装置上，用于微调千分表2相对于定位柱3的垂直度。具体地，第四调节装置包括二固定块71、72、二连接弹片73、第四调节挡块74及第四调节螺栓75。二固定块71、72沿X轴方向间隔排列，其中一个固定块71固定于第三调节装置的夹板621上，千分表2位于另一个固定块72上。二连接弹片73为具有弹性的弹片，其连接于二固定块71、72之间。第四调节挡块74沿Z轴方向位于二固定块 71、72的一侧，第四调节螺栓75沿Z轴方向通过螺纹配合穿设于第四调节挡块74上，并且其端部可抵顶于安装有千分表2的固定块72上。本实施例中，第四调节挡块74与第三调节装置的其中一个夹板621 —体成型。安装有千分表2的固定块72包括二夹头721及固定块夹钳722。二夹头721夹置千分表2，固定块夹钳722通过螺纹配合穿设于二夹头721 上，通过调节固定块夹钳722，可调节二夹头721夹持千分表2的松紧程度。上述第四调节装置微调千分表2的位置时，旋转第四调节螺栓75，使第四调节螺栓75沿Z轴方向向下移动，进而向下抵顶固定块72，使连接弹片73弹性变形，从而调整千分表2在Z轴方向上的角度；反向旋转第四调节螺栓75时，第四调节螺栓75沿Z轴方向向上移动，连接弹片73在弹性回复力的作用下会回弹，从而可带动固定块72及千分表2反向回移。综上所述，本实用新型的检测装置通过第一、第二、第三调节装置可在X轴、Y轴及 Z轴三个方向上调节千分表2与定位柱3的相对位置，其结构简单，成本较低，并且测量操作简单方便。此外，通过第四调节装置可对千分表2的位置进行微调，可进一步提高检测的精度。可以理解，本实用新型的检测装置不仅可用于检测超级电容器外壳凹槽厚度，还可以用于检测其他类似筒状壳体上的凹槽厚度。以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种筒状壳体上的凹槽厚度检测装置，其特征在于，包括底板、用于测量凹槽厚度的千分表、用于定位待测壳体的定位柱、用于在X轴方向调节所述千分表位置的第一调节机构、用于在Y轴方向调节所述定位柱位置的第二调节机构、以及用于在Z轴方向调节所述千分表位置的第三调节机构；所述第一调节机构及第二调节机构位于所述底板上，所述千分表位于所述第三调节机构上，并且位于所述定位柱的一侧，所述第三调节机构位于所述第一调节机构上，所述定位柱位于所述第二调节机构上。
2.如权利要求I所述的筒状壳体上的凹槽厚度检测装置，其特征在于，所述第一调节机构包括第一固定座、第一调节挡块及第一调节螺栓；所述第一固定座沿X轴方向可滑动地安装于所述底板上，所述第一调节挡块沿X轴方向位于所述第一固定座的一侧，所述第一调节螺栓沿X轴方向通过螺纹配合穿设于所述第一调节挡块上，并且其一端可抵顶于所述第一固定座。
3.如权利要求2所述的筒状壳体上的凹槽厚度检测装置，其特征在于，所述第一固定 座与所述底板之间通过凸块与滑槽结构相配合，所述滑槽沿X轴方向延伸。
4.如权利要求2所述的筒状壳体上的凹槽厚度检测装置，其特征在于，所述第三调节机构包括立柱及支架；所述立柱垂直固定于所述第一固定座上，所述支架可沿Z轴方向上下移动地安装于所述立柱上。
5.如权利要求4所述的筒状壳体上的凹槽厚度检测装置，其特征在于，所述第三调节机构还包括立柱夹钳，所述支架包括二夹板，所述二夹板夹置于所述立柱上，所述立柱夹钳通过螺纹配合穿设于所述二夹板上。
6.如权利要求I所述的筒状壳体上的凹槽厚度检测装置，其特征在于，所述第二调节机构包括第二固定座、第二调节挡块及第二调节螺栓；所述第二固定座沿Y轴方向可滑动地安装于所述底板上，所述第二调节挡块沿Y轴方向位于所述第二固定座的一侧，所述第二调节螺栓沿Y轴方向通过螺纹配合穿设于所述第二调节挡块上，并且其一端可抵顶于所述第二固定座。
7.如权利要求6所述的筒状壳体上的凹槽厚度检测装置，其特征在于，所述第二固定座与所述底板之间通过凸块与滑槽结构相配合，所述滑槽沿Y轴方向延伸。
8.如权利要求6所述的筒状壳体上的凹槽厚度检测装置，其特征在于，所述第二固定座包括沿Y轴方向排列的二固定板，所述定位柱穿设于相邻的一块固定板上，并且其端部与另一固定板固定连接。
9.如权利要求I所述的筒状壳体上的凹槽厚度检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括第四调节装置，所述千分表安装于所述第四调节装置上，所述第四调节装置安装于所述第三调节装置上；所述第四调节装置包括二固定块、二连接弹片、第四调节挡块及第四调节螺栓；所述二固定块沿X轴方向间隔排列，其中一个固定块固定于所述第三调节装置上，所述千分表位于另一个固定块上，所述二连接弹片连接于所述二固定块之间，所述第四调节挡块沿Z轴方向位于所述二固定块的一侧，所述第四调节螺栓沿Z轴方向通过螺纹配合穿设于所述第四调节挡块上，并且其端部可抵顶于所述安装有千分表的固定块上。
10.如权利要求9所述的筒状壳体上的凹槽厚度检测装置，其特征在于，所述安装有千分表的固定块包括二夹头及固定块夹钳，所述二夹头夹置所述千分表，所述固定块夹钳通过螺纹配合穿设于所述二夹头上。
专利摘要本实用新型涉及一种筒状壳体上的凹槽厚度检测装置，包括底板、用于测量凹槽厚度的千分表、用于定位待测壳体的定位柱、用于在X轴方向调节千分表位置的第一调节机构、用于在Y轴方向调节定位柱位置的第二调节机构、以及用于在Z轴方向调节千分表位置的第三调节机构；第一调节机构及第二调节机构位于底板上，千分表位于第三调节机构上，并且位于定位柱的一侧，第三调节机构位于第一调节机构上，定位柱位于第二调节机构上。上述检测装置通过第一、第二、第三调节装置可调节千分表与定位柱的相对位置，测量时将待测壳体套设于定位柱上，通过千分表测头与壳体凹槽接触而检测出凹槽厚度，其结构简单，成本较低，并且测量操作简单方便。
文档编号G01B5/06GK202485599SQ20112056953
公开日2012年10月10日 申请日期2011年12月30日 优先权日2011年12月30日
发明者孙正华 申请人:深圳市博汇林科技有限公司
专业数控铣床产品供应商
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