专利名称：一种基于x射线元素荧光的岩石样品岩性定名的分析方法
技术领域：
本发明涉及油田现场对岩石样品进行岩性定名方法，特别涉及一种基于X射线元素荧光的岩石样品岩性定名的分析方法。
背景技术：
油田现场对岩石样品进行岩性定名需要进行岩石样品元素含量的检测与记录，并通过相应的解释分析方法对岩性定名进行判断。目前，各油田录井公司采用的元素分析方法包括曲线交汇法，图版分析法等。这些方法，使用元素种类少，维度利用率低，不适合高维的元素分析；而且模板建立人员需要一定的理论基础及实践经验，模板难以准确建立。因此，目前的分析方法对复杂地层的高维元素分析并不适用。
发明内容
鉴于以上现有技术存在的问题，本发明提供一种基于X射线元素荧光的岩石样品岩性定名的分析方法。本方法利用X射线荧光光谱仪和基于统计规律对未知岩石样品岩性进行分析定名。在同一地区，同种岩性的岩石各兀素含量具有正态分布的规律。本方法首先确定各种岩性在分析时使用的元素种类，然后将在此地区测得的已知岩性岩石样品的元素含量数据存入模板数据库。软件根据使用的元素种类及模板数据库自动识别元素正态分布的期望值与标准差。软件分析时，根据岩石样品元素含量及模板期望值与标准差，计算出该岩石样品这种岩性的概率值。最终，取概率值最高的岩性名为此岩石样品的岩性名。本发明米取的技术方案是.一种基于X射线兀素突光的岩石样品岩性定名的分析方法，其特征在于，利用X射线荧光光谱仪对未知岩石样品岩性进行分析定名，其分析步骤如下
一、建立模板数据库首先人工选定各岩性使用的分析元素种类，对同一地区已知岩性的岩石样品进行数据采集并汇总存入模板数据库；
二、建立模板根据选定的分析元素的含量通过模板数据库获得已知岩性样品各岩性各元素含量分布的期望值与标准差，并保存到模板文件；
三、检测并读取未知岩性样品元素含量数据；
四、根据已知岩石样品各岩性各兀素含量分布的期望值与标准差以及未知岩性样品兀素数据，使用正态分布模型计算未知岩性样品各岩性各元素的概率值；
五、对未知岩性样品各岩性各兀素概率值取几何平均值；
六、比较未知岩性样品各岩性各元素概率值的几何平均值，其中最高值的岩性即为未知岩性的岩性名。本发明所产生的有益效果是本方法在对油田现场录井复杂地层的高维元素分析中，通过对已知岩性的统计、分类、分析后的模板建立，提高了岩性定名的准确性，实施本方法不需要对模板建立人员的苛刻要求，便于在油田现场录井作业中推广和应用。
图I是本发明的软件流程图。
具体实施例方式以下结合实施例和附图对本发明作进一步说明
实施例
一、建立模板数据库首先汇总同一地区的安山岩、煌斑岩、玄武质泥岩的各兀素含量并存入模板数据库；安山岩、煌斑岩、玄武质泥岩的各兀素含量数据见表I、表2和表3 (由于篇幅所限，本表仅列出8种元素及5条数据)。表I安山岩数据
权利要求
1.一种基于X射线元素荧光的岩石样品岩性定名的分析方法，其特征在于，利用X射线荧光光谱仪对未知岩石样品岩性进行分析定名，其分析步骤如下 一、建立模板数据库首先人工选定各岩性使用的分析元素种类，对同一地区已知岩性的岩石样品进行数据采集并汇总存入模板数据库； 二、建立模板根据选定的分析元素的含量通过模板数据库获得已知岩性样品各岩性各元素含量分布的期望值与标准差，并保存到模板文件； 三、检测并读取未知岩性样品元素含量数据； 四、根据已知岩石样品各岩性各兀素含量分布的期望值与标准差以及未知岩性样品兀素数据，使用正态分布模型计算未知岩性样品各岩性各元素的概率值； 五、对未知岩性样品各岩性各兀素概率值取几何平均值； 六、比较未知岩性样品各岩性各元素概率值的几何平均值，其中最高值的岩性即为未知岩性的岩性名。
全文摘要
本发明涉及一种基于X射线元素荧光的岩石样品岩性定名的分析方法。本方法利用X射线荧光光谱仪对未知岩石样品岩性进行分析定名。首先确定各种岩性在分析时使用的元素种类，然后将此地区测得的已知岩性样品的元素含量数据存入模板数据库。软件根据使用的元素种类及模板数据库自动识别元素正态分布的期望值与标准差。根据样品元素含量及期望值与标准差，计算出该样品这种岩性的概率值。最终取概率值最高的岩性名为此岩石样品的岩性名。本方法在对油田现场录井复杂地层的高维元素分析中，通过对已知岩性的统计、分类、分析后的模板建立，提高了岩性定名的准确性，实施本方法不需要对模板建立人员的苛刻要求，便于在油田现场录井作业中推广和应用。
文档编号G01N23/223GK102944570SQ20121050382
公开日2013年2月27日 申请日期2012年12月2日 优先权日2012年12月2日
发明者董灵彦, 王超, 阎治全, 杨涛, 李栋巍, 刘青, 元欐, 何小播, 李同攀 申请人:天津陆海石油设备系统工程有限责任公司
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