专利名称：一种用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于电磁兼容(EMC)测试技术领域，尤其涉及一种用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置。
背景技术：
电磁兼容性EMC (Electro Magnetic Compatibility)，是指设备或系统在其电磁环境中符合要求运行并且不对其环境中的任何设备产生无法忍受的电磁干扰的能力。EMC 包括EMI (interference)和EMS (susceptibility)，也就是电磁干扰和电磁抗干扰。因此， EMC包括两个方面的要求一方面是指设备在正常运行过程中对所在环境产生的电磁干扰不能超过一定的限值；另一方面是指器具对所在环境中存在的电磁干扰具有一定程度的抗扰度，即电磁敏感性。现有技术中公开了 EMC测试装置包括一个80cm的绝缘桌以及一个可以垂直转动的支架台，不同的测试换不同的支撑物。但是换支撑物过程会产生下述问题1)支架台位置的变动会造成位置偏差导致测量结果有偏差；2)即使支架台位置固定，移动过程耗时大，大大降低工作效率；幻多次测试多次移动会导致支架台容易损坏，影响使用寿命。
实用新型内容为解决现有技术中，EMC暗室测试时，不同测试换用不同的支撑物容易导致的问题1)每次支架台位置可能变动，一旦变动就会造成位置偏差导致测量结果有偏差；2)即使每次支架台位置固定，移动支架台的过程耗时大，大大降低了工作效率；3)多次测试多次移动会导致支架台容易损坏，影响使用寿命。本实用新型提供了一种电磁兼容暗室测试系统的测试装置，解决了以上问题，降低了工作成本，且提高了测试灵敏度。为了达到上述目的，本实用新型的技术方案是这样实现的一种用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置，包括暗室和操作间，所述操作间内设有电动机械部，所述电动机械部是用以控制暗室内部转盘和支架台运作的仪器的统称， 包括转盘控制器及支架控制器；所述暗室内设有支架台、转盘，所述支架台位于转盘上，所述转盘与所述操作间内的电动机械部电连接，所述支架台包括支架面板、支架、支架座、转轴，所述转轴上有齿轮；所述支架座与转盘电连接。支架台部分如
图1所示，支架面板，用于摆放无线通信终端产品如手机；转轴上有齿轮，用于带动支架面板转动；支架，支架纵向部分内有皮带，通过操作间内的电动机械部分控制，用于带动转轴使支架面板转动；支架座， 用于支持整个支架台，内有电源线及其它连接线，可跟系统连接起来。转盘下方有光纤跟系统连接，可通过软件控制其转动。本实用新型所述支架纵向部分指的是，支架水平部分以上，用以托举转轴和支架面板的竖直部分。本实用新型所述的用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置保证测试环境不变，提高了测试灵敏度。以下结合附图对本实用新型所述的电磁兼容暗室测试系统的测试装置的结构作进一步的详细说明图1所示为本实用新型的支架台及转盘部分；图2所示为本实用新型的绝缘桌部分；图3所示为本实用新型的立体结构示意图；图4所示为本实用新型测试电子设备或通讯终端时的示意图；图5所示为本实用新型测试一般电子产品时的示意图；图1至图2中1、支架面板，2、转轴，3、支架，4、支架座，5、转盘，6、桌面，7、电子设
备或通讯终端(指手机等轻巧而使用多样的电子产品)，8、一般电子产品(指台式电脑等相对大型的电子产品)。
具体实施方式
如图3、图4所示，本实用新型所述的技术方案为一种用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置，包括暗室和操作间，所述操作间内设有电动机械部，所述电动机械部是用以控制暗室内部转盘和支架台运作的仪器的统称，包括转盘控制器及支架控制器；所述暗室内设有支架台、转盘，所述支架台位于转盘上，所述转盘与所述操作间内的电动机械部电连接，所述支架台包括支架面板、支架、支架座、转轴，所述转轴上有齿轮；所述支架座与转盘电连接。支架台部分如图1所示，支架面板，用于摆放无线通信终端产品，如手机；转轴上有齿轮，用于带动支架面板转动；支架，支架纵向部分内有皮带，用于带动转轴使支架面板转动；支架座，用于支持整个支架台，内有电源线及其它连接线，可跟电动机械部的系统连接起来；转盘下方有光纤跟电动机械部的系统连接，可通过系统软件控制其转动。本实用新型所述的电动机械部位于暗室外的操作间内，是用以控制暗室内部转台和支架台运作的仪器的统称，包括转盘控制器及支架控制器。本实用新型所述的系统是指电磁兼容测试系统。根据本实用新型所述的用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置，所述支架面板水平放置时距离转盘80-200cm，此数值范围为根据GB 9254，GB/T17626. 3要求。根据本实用新型所述的用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置，优选地，所述支架面板水平放置时，支架面板和转盘距离为80cm或150cm或170cm。根据GB92M和 GB17626. 3要求，测试高度为80cm，同理根据其他相关测试高度也会选用150cm和170cm，故测试高度选取80cm、150cm、170cm中的一种，具体应根据实验室测试项目的要求选取适当的规格。测试电子设备或通讯终端等结构小巧的电子产品时，使用该电磁兼容暗室测试系统做测试时候可以实现三维的测试。根据本实用新型所述的用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置，所述测试装置还包括位于暗室内的绝缘桌，所述绝缘桌位于转盘上，所述绝缘桌包括绝缘桌面、底部支架。根据本实用新型所述的用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置，所述绝缘桌面有缺口，所述缺口的下部空间无底部支架，缺口周围桌面区域的下部空间设有底部支架，所述底部支架用于支撑绝缘桌面。根据本实用新型所述的用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置，所述绝缘桌面为矩形I，矩形I的长为1.2-1. 8m，矩形I的宽为0.8-1. 2m。进一步优选地，矩形I的长为 1. 5m，矩形I的宽为1. 0m。综合考虑实验室的转盘大�。约罢宀季郑底烂娴拇笮∮Ω菔导是榭隼慈范ǎ鲜鼋鑫挥叛》桨�。根据本实用新型所述的用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置，所述绝缘桌面缺口为矩形II，矩形II的长为绝缘桌面长度与支架座副轴跨度之差的二分之一，该矩形宽为支架座主轴的直径，确保使用绝缘桌时，绝缘桌面的中心位置与支架座主轴重合。根据本实用新型所述的用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置，优选地所述绝缘桌面水平放置时距离转盘80cm。本实用新型所述的绝缘桌部分如图2所示，只有三面的底部支架，可以使绝缘桌在不移动支架台的前提下放进转盘；绝缘桌面上的缺口处可以使绝缘桌在不移动支架台的前提下放进转盘。根据本实用新型所述的用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置，所述绝缘桌由操作间内的电动机械部分控制转盘带动转动。根据本实用新型所述的用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置，所述绝缘桌水平转动角度0-360度。为使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚，以下参照附图并举实施例，对本实用新型做进一步详细描述。实施例1测试电子设备或通讯终端(指手机等轻巧而使用多样的电子产品)先把绝缘桌移开，把通讯终端放在支架面板上，如图4，用软件控制转轴带动支架面板转动及控制转盘带动支架座转动，从而实现三维全方位的测试。实施例2测试一般电子产品(指台式电脑等相对大型的电子产品)把绝缘桌(如图2)镶嵌进入支架台，把一般电子产品放在绝缘桌面上，如图5，用软件控制转盘带动绝缘桌转动，从而实现水平的全方位测试。以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式
，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应所述以权力要求的保护范围为准。
权利要求1.一种用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置，包括暗室和操作间，所述操作间内设有电动机械部，所述电动机械部包括转盘控制器及支架台控制器；所述暗室内设有支架台、转盘，所述支架台位于转盘上，所述转盘与所述操作间内的电动机械部电连接，其特征在于，所述支架台包括支架面板、支架、支架座、转轴，所述转轴上有齿轮；所述支架座与转盘电连接。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述支架面板水平放置时距离转盘 80-200cm。
3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述支架面板水平放置时和转盘的距离为80cm或150cm或170cm。
4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括位于暗室内的绝缘桌，所述绝缘桌位于转盘上，所述绝缘桌包括绝缘桌面、底部支架。
5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述绝缘桌面有缺口，所述缺口的下部空间无底部支架，缺口周围桌面区域的下部空间设有底部支架，所述底部支架用于支撑绝缘桌面。
6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述绝缘桌面为矩形I，矩形I的长为 1. 2-1. 8m，矩形 I 的宽为 0. 8-1. 2m。
7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述绝缘桌面缺口形状为矩形II，矩形II的长为绝缘桌面长度与支架座副轴跨度之差的二分之一，该矩形宽为支架座主轴的直径，确保使用绝缘桌时，绝缘桌面的中心位置与支架座主轴重合。
8.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述绝缘桌面水平放置时距离转盘 80cmo
9.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述绝缘桌由操作间内的电动机械部分控制转盘带动转动。
10.根据权利要求9所述的测试装置，其特征在于，所述绝缘桌水平转动角度0-360度。
专利摘要本实用新型公开了一种用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置，包括暗室和操作间，所述操作间内设有电动机械部，所述电动机械部包括转盘控制器及支架台控制器；所述暗室内设有支架台、转盘，所述支架台位于转盘上，所述操作间内的电动机械部与暗室内的转盘电相连，所述支架台包括支架面板、支架、支架座、转轴，所述转轴上有齿轮；所述支架座与转盘电连接。本实用新型所述的用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置保证测试环境不变，提高了测试灵敏度。
文档编号G01R31/00GK202217021SQ20112032537
公开日2012年5月9日 申请日期2011年9月1日 优先权日2011年9月1日
发明者史继金, 宋以鹰, 戚露兴, 林汉洲, 薛怡 申请人:比亚迪股份有限公司
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