专利名称：光谱测量系统与光谱测量方法
技术领域：
本发明涉及光谱测量系统，特别是涉及一种全域式光谱测量系统。
背景技术：
由于工业上的进步，工业产品越来越多样化，使得测量产品的光谱不再只能限于单点测量。举例来说，由于发光二极管(LED)具有耐用、寿命长、轻巧、低耗电并且不含有害物质(例如汞)的特性，因此使用发光二极管的照明技术已经变成照明产业与半导体产业未来非常重要的发展方向。一般而言，发光二极管广泛地应用于白光照明装置、指示灯、车用信号灯、车用大灯、闪光灯、液晶显示器的背光�？�、投影机的光源、户外显示单元...等
坐寸ο由于发光二极管的光学检测技术大多采用单点测量，所以采用全域式光谱测量技术时，现有技术是使用液晶可调型滤波片(liquid-crystal tunable filter,LCTF)或脑断层影像光谱仪(computed tomographic imaging spectrometer,CTIS),但以上两者技术皆具有光谱分辨率不足的问题。因此亟需一种光谱测量系统与光谱测量方法，兼顾光谱分辨率与全域式取像的特点，来测量待测物的光谱。
发明内容
有鉴于此，本发明提供一种光谱测量系统，包括:一第一无聚焦�？椋靡越邮找淮馕锼⒊龅囊蝗肷涔猓沟萌肷涔馄叫杏谝幌低撤ㄏ撸灰坏谝还庹ぃ靡越煌ǔさ娜肷涔馊粕涑刹煌某錾浣嵌龋灰坏诙蘧劢鼓？椋拥谝还庹ぃ灰约耙坏诙蘧劢鼓？椋靡越邮沾拥诙庹に涑龅娜粕涔猓员闶涑鲇胂低撤ㄏ咂叫械囊坏ド�。本发明也提供一种光谱测量方法，适用于一光谱测量系统，光谱测量系统包括一第一无聚焦�？�、一第二无聚焦�？�、一第三无聚焦模块、一第一光栅与一第二光栅，光谱测量方法包括:通过第一无聚焦模块接收一待测物所发出的一入射光，使得入射光平行于一系统法线；通过第一光栅与第二无聚焦�？椋拥谝晃蘧劢鼓？樗涑龅娜肷涔庵猩秆〕鲆惶囟úǔぃ沟玫诙蘧劢鼓？橹皇涑鼍哂刑囟úǔさ囊蝗粕涔猓煌ü谝还庹�、第二光栅和第二无聚焦�？橄谝还庹に斐傻墓獬滩睿灰约巴ü谌蘧劢鼓？榻邮沾拥诙庹に涑龅娜粕涔猓员闶涑鲇胂低撤ㄏ咂叫械囊坏ド�。为了让本发明的上述和其它目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举一较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下:
图1是本发明的光谱测量系统的一实施例；图2是本发明的光栅Gl的一示意图；图3是本发明的入射角Θ 1、绕射角Θ d和角度Λ Θ之间的关系图；图4是本发明实施例的一影像图，用以说明利用光谱测量系统100取得待测物150的影像；以及图5是本发明的光谱测量方法的一流程图。主要组件符号说明100:光谱测量系统；Gl G2:光栅；LI L7:透镜；110、120、130:无聚焦模块；140:面形光侦测器；150:待测物；160:控制单元；Cl:入射光；C2:绕射光；C3:单色光；A1、A2:光圈；Pl P6:点；NL:系统法线；Θ 1:入射角；Θ d:绕射角；Δ Θ:角度；400:影像。
具体实施例方式图1是本发明的光谱测量系统的一实施例。如图1所示，光谱测量系统100包括无聚焦�？�(afocal system) 110、120与130、光栅Gl与G2和面形光侦测器140。举例来说，无聚焦�？�110用以接收一待测物150所发出的一入射光Cl，使得入射光Cl平行于系统法线(normal line)NL。光栅Gl用以将入射光Cl不同波长的光绕射成不同的角度，并且经由透镜L3及光圈A2筛选出一特定波长，以便只输出具有特定波长的绕射光C2。光栅G1、G2及透镜L3、L4和L5用以消除来自点P1、P2及P3不同位置的绕射光C2间的光程差，举例来说，光栅G2转动的方向与角度与光栅Gl改变的方向与角度相同，以便补偿光栅Gl所造成的光程差。无聚焦�？�120用以接收从光栅G2所输出的绕射光C2，以便输出与系统法线NL平行的一单色光C3。无聚焦�？�130 (包含光圈A2和透镜L3、L4和L5)设置在光栅Gl与G2之间，用以改变来自点P1、P2及P3不同位置的光迹路径并用光圈A2提高光谱分辨率。控制单元160设置在面形光侦测器140，用以控制光栅G1，使得入射光Cl与光栅Gl的入射角对应于特定波长。控制单元160也控制光栅G2，使得光栅G2转动的角度与光栅Gl改变的角度相同，以便经由透镜L3、L4和L5补偿来自点P1、P2及P3的绕射光C2间的光程差。在某些实施例中，控制单元也可设置在光侦测器140之外，但不限于此。在本发明实施例中，光栅Gl与G2互为平行，即使光栅Gl和G2转动之后，光栅Gl与G2仍为平行。面形光侦测器140用以接收单色光C3，以便纪录单色光C3的强度。在本发明实施例中，面形光侦测器140可以是电荷稱合组件(Charge-coupled Device,CCD),利用快照的方式,把待测物150的不同波长影像分别取像并纪录，以供使用者分析。详细而言，无聚焦�？�110包括一透镜LI与L2和光圈Al。透镜LI用以接收入射光Cl，而透镜L2用以将入射光Cl平行射出。光圈Al设置在透镜LI与LI之间，用以提高光谱分辨率，以避免串音噪声(cross talk)。无聚焦�？�130设置在光栅Gl与G2之间，用以改变来自点P1、P2及P3不同位置的光迹路径并用光圈A2提高光谱分辨率。无聚焦�？�130包括透镜L3、L4和L5与光圈A2。透镜L3用以接收绕射光C2。透镜L4用以改变绕射光C2的光迹。光圈A2设置在透镜L3与L4之间，用以提高光谱分辨率。透镜L5用以将绕射光C2平行输出。无聚焦�？�120包括透镜L6与L7。透镜L6用以接收绕射光C2，而透镜L7用以改变绕射光C2的光迹。在某些实施例中，无聚焦�？�120也具有光圈A3 (未绘出)，设置在透镜L6与L7之间，用以提高光谱分辨率。图2是本发明的光栅Gl的一示意图。如图2所示，光栅Gl用以将入射光Cl筛选出特定波长的光，其中Θ i为入射角，Θ d为绕射角，Λ Θ为绕射光C2与系统法线NL的夹角。0i与0d间的关系可以由公式I与公式2所表示:
权利要求
1.一种光谱测量系统，包括: 第一无聚焦�？椋靡越邮找淮馕锼⒊龅囊蝗肷涔猓沟蒙鲜鋈肷涔馄叫杏谝幌低撤ㄏ撸� 第一光栅，用以将不同波长的上述入射光绕射成不同的出射角度； 第二无聚焦�？椋由鲜龅谝还庹に涑龅纳鲜鋈肷涔庵猩秆〕鲆惶囟úǔぃ沟蒙鲜龅诙蘧劢鼓？橹皇涑鼍哂猩鲜鎏囟úǔさ囊蝗粕涔庵恋诙庹ぃ� 第二光栅及无聚焦�？椋靡韵鲜鋈粕涔獾墓獬滩睿灰约暗谌蘧劢鼓？椋靡越邮沾由鲜龅诙庹に涑龅纳鲜鋈粕涔猓员闶涑鲇肷鲜鱿低撤ㄏ咂叫械囊坏ド�。
2.如权利要求1所述的光谱测量系统，包括控制单元，用以调整上述第一光栅，使得从上述第一无聚焦�？樗涑龅纳鲜鋈肷涔庥肷鲜龅谝还庹さ娜肷浣嵌杂τ谏鲜鎏囟úǔ�。
3.如权利要求2所述的光谱测量系统，其中上述控制单元控制上述第二光栅，使得上述第二光栅转动的方向与角 度与上述第一光栅改变的方向与角度相同，以便补偿上述第一光栅所造成的光程差。
4.如权利要求3所述的光谱测量系统，包括面形光侦测器，用以接收上述单色光，以便纪录上述单色光的强度。
5.如权利要求4所述的光谱测量系统，其中上述第一无聚焦模块包括: 第一透镜，用以接收上述入射光； 第二透镜，用以将上述入射光平行输出至上述第一光栅；以及 第一光圈，设置在上述第一透镜与上述第二透镜之间，用以提高光谱分辨率。
6.如权利要求5所述的光谱测量系统，还包括第三无聚焦�？椋柚迷谏鲜龅谝还庹び肷鲜龅诙庹ぶ洌渲猩鲜龅谌蘧劢鼓？榘�: 第三透镜，用以接收从上述第一光栅所输出的上述绕射光； 第四透镜，用以改变从上述第三透镜所输出的上述绕射光的光迹； 第二光圈，设置在上述第三透镜与上述第四透镜之间，用以提高光谱分辨率，其中上述第三透镜与上述第二光圈从上述第一光栅所输出的光筛选出一特定波长，以便只输出具有上述特定波长的上述绕射光；以及 第五透镜，用以将上述绕射光平行输出至上述第二光栅。
7.如权利要求6所述的光谱测量系统，其中上述第三无聚焦模块包括: 第六透镜，用以接收从上述第二光栅所输出的上述绕射光；以及 第七透镜，用以改变从上述第六透镜所输出的上述绕射光的光迹，以便输出与上述系统法线平行的上述单色光至上述面形光侦测器。
8.一种光谱测量方法，适用于一光谱测量系统，上述光谱测量系统包括第一无聚焦�？�、第二无聚焦模块、第三无聚焦�？�、第一光栅与第二光栅，上述光谱测量方法包括: 通过上述第一无聚焦模块接收一待测物所发出的一入射光，使得上述入射光平行于一系统法线； 通过上述第一光栅与上述第二无聚焦�？椋由鲜龅谝晃蘧劢鼓？樗涑龅纳鲜鋈肷涔庵猩秆〕鲆惶囟úǔぃ沟蒙鲜龅诙蘧劢鼓？橹皇涑鼍哂猩鲜鎏囟úǔさ囊蝗粕涔猓煌ü鲜龅诙庹ず蜕鲜龅诙蘧劢鼓？橄鲜龅谝还庹に斐傻墓獬滩睿灰约巴ü鲜龅谌蘧劢鼓？榻邮沾由鲜龅诙庹に涑龅纳鲜鋈粕涔猓员闶涑鲇肷鲜鱿低撤ㄏ咂叫械囊坏ド�。
9.如权利要求8所述的光谱测量方法，还包括: 调整上述第一光栅，使得上述入射光与上述第一光栅的入射角对应于上述特定波长；以及 调整上述第二光栅，使得上述第二光栅转动的角度和方向与上述第一光栅转动的角度和方向相同，以便补偿上述第一光栅所造成的光程差。
10.如权利要求9所述的光谱测量方法，还包括通过一面形光侦测器接收上述单色光，以便分析上述待测物的影像。`
全文摘要
本发明公开一种光谱测量系统与光谱测量方法，该光谱测量系统包括一第一无聚焦�？椋靡越邮找淮馕锼⒊龅囊蝗肷涔猓沟萌肷涔馄叫杏谝幌低撤ㄏ撸灰坏谝还庹ぃ靡越煌ǔさ娜肷涔馊粕涑刹煌某錾浣嵌龋灰坏诙蘧劢鼓？椋拥谝还庹に涑龅娜肷涔庵猩秆〕鲆惶囟úǔぃ沟玫谝还庹ぶ皇涑鼍哂刑囟úǔさ囊蝗粕涔猓灰坏诙庹ぃ靡韵粕涔獾墓獬滩睿灰约耙坏谌蘧劢鼓？椋靡越邮沾拥诙庹に涑龅娜粕涔猓员闶涑鲇胂低撤ㄏ咂叫械囊坏ド�。
文档编号G01J3/28GK103115677SQ201110428438
公开日2013年5月22日 申请日期2011年12月20日 优先权日2011年11月16日
发明者杨富程, 庄凯评 申请人:财团法人工业技术研究院
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