专利名称：光学量测设备的制作方法
技术领域：
本实用新型关于一种量测治具，且特别是关于一种确认吸收轴角度是否正确(检 测吸收轴角度)的光学量测设备。
背景技术：
在液晶显示荧幕(TFT-IXD panel)的结构中，关于偏光板多层片体的贴合制程或 是检视偏光片贴设在玻璃基板等贴合检测技术，通常都是藉由人工凭靠经验、感觉或目测 确认。然而在LCD复杂且多工的制程中，若其中一阶段制程疏失或错误将造成后续制程不 必要的加工、成本的增加及人力的浪费等无以弥补的损失。当偏光片贴附到玻璃基板或治具上时，以习知非科学的方法检测偏光片的光学或 物理特性，往往会因为制程人员的手法、经验不同而有所误差，以致于造成后续制程产品良 率降低或不良品增加等现象。因此，为了解决上述问题，并以科学化方法确认偏光片的光学或物理特性或达到 其它需求，创作人经多年设计及实务经验，再次改良如下。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种检测偏光片吸收轴角度的光学量测设备。本实用新型的另一目的在于提供一种量测光学膜片与治具间的密合度，藉以判断 吸收轴角度是否正确的光学量测设备。本实用新型的再一目的在于提供一种避免人为检测疏失造成吸收轴量测不正确 的光学量测设备。本实用新型提供一种光学量测设备，供与光学膜片配合使用，该光学量测设备包 含治具以及供测量该光学膜片与该底座间的密合程度的位置感测装置。该治具具有第一侧 壁、第二侧壁及连接该第一侧壁及该第二侧壁的底座，该第一侧壁、该第二侧壁及该底座共 同形成容置空间，该第一侧壁与该第二侧壁平行，且该第一侧壁高度大于该第二侧壁的高 度。该供测量该光学膜片与该底座间的密合程度的位置感测装置设置于该容置空间内。作为可选的技术方案，该第一侧壁还包含检视孔，该检视孔的高度大于该第二侧 壁的高度。作为可选的技术方案，该检视孔分别穿过该第一侧壁两侧面。作为可选的技术方案，该检视孔形状为圆形、矩形、三角形、椭圆形或不规则形状。作为可选的技术方案，该容置空间的宽度大于或等于该光学膜片的厚度。作为可选的技术方案，该位置感测装置包含一对深度计，分别设于该底座两侧。作为可选的技术方案，该位置感测装置包含一对压力感测器，分别设于该底座内， 并位于该底座的两侧。作为可选的技术方案，该位置感测装置包含一对光学感测器，每一该对光学感测 器具有光发射感测器及光接收感测器。
3[0016]作为可选的技术方案，该光发射感测器设于该第一侧壁并邻近该底座，该光接收 感测器则设于该第二侧壁并与该光发射感测器相对设置。本实用新型的光学量测设备具有位置感测装置，用以量测光学膜片的侧缘是否已 与底座密合。换言之，当光学膜片置于治具的底座并贴附于第一侧壁壁面时，藉由位置感测 装置测量光学膜片是否正确对齐底座。若光学膜片正确对齐治具底座，则进一步透过仪器 检测吸收轴角度是否正确。相较于传统技术，本实用新型的光学量测设备具有结构简单，便 于检测且测量更准确的优点。于本实用新型的优点与精神可以由以下的附图说明及具体实施方式
详述得到进 一步的了解。
图1为本实用新型光学量测设备的侧视图；图2A为本实用新型光学膜片置入光学量测设备的示意图；图2B为图2A的另一具体实施方式
的前视图；图3为本实用新型光学膜片置入光学量测设备的立体图；图4为本实用新型另一具体实施方式
图；以及图5为本实用新型又一具体实施方式
的示意图。
具体实施方式
本实用新型一种量测光学膜片的吸收轴角度的光学量测设备。在此所述的光学膜 片较佳指软性又轻薄的偏光片(Polarizer Sheet)。然而在其它不同的具体实施方式
中，光 学膜片亦可为扩散膜、棱镜片、反射板或其它光学膜片，甚至是质硬而量测其它不同光学特 性的膜片等。此外，在此所述的吸收轴(absorbingaxis)指与穿透轴垂直的轴，即将光线吸 收的方向的轴向。以下即配合所附图式进一步说明本实用新型的各具体实施方式
及相关步 马聚ο请同时参照图1、图2A及图2B，图1为本实用新型光学量测设备的侧视图，图2A 为本实用新型光学膜片置入光学量测设备的示意图，图2B为图2A的另一具体实施方式
的 前视图。在如图1、图2A及图2B所示，本实用新型的光学量测设备，供与光学膜片200配合 使用。光学量测设备包含治具100及位置感测装置300。治具100具有第一侧壁110、第二 侧壁120及连接第一侧壁110及第二侧壁120的底座130。第一侧壁110、第二侧壁120及 底座130共同形成容置空间150，供放置光学膜片200。在如图1及图2A所示的具体实施 方式中，第一侧壁110与第二侧壁120彼此平行，且第一侧壁110的高度大于第二侧壁120 的高度。底座130与第一侧壁110与第二侧壁130垂直，且容置空间150的宽度略大于或 等于光学膜片200的厚度，供容置光学膜片200。位置感测装置300设于治具100的容置空 间150内，供测量光学膜片200是否靠齐底座130。需强调的是，由于光学膜片200本身属于软材质，为了防止光学膜片200置于治具 100时产生翘曲或不平行等现象，以致量测吸收轴角度产生误差，因此设置位置感测装置 300等元件量测光学膜片200底缘与底座130间的密合度。换言之，藉由位置感测装置300 的量测，用以确认光学膜片200是否摆放无误，以便进行后续量测之作业。[0028]如图2B中，第一侧壁110还具有检视孔160，检视孔160的高度较佳的大于第二 侧壁120的高度。在如图2B所示的具体实施方式
中，检视孔160分别穿过第一侧壁110的 两侧面，且形状较佳为圆形。然而在其它不同的具体实施方式
中，检视孔160形状亦可为矩 形、三角形、椭圆形、不规则形状或其它非圆形的形状。此外，在如图2A、图2B及图3所示的具体实施方式
中，位置感测装置300较佳包含一对深度计，分别设于底座130两侧上。换言 之，每一深度计较佳的设于容置空间150的空间中并黏贴于底座130上。然而在其它不同 的具体实施方式
中，深度计组亦可分别设于第一侧壁110或第二侧壁120其中的一壁面上， 并邻近容置空间150的底座130设置。在如图3中，当光学膜片200置入容置空间150时，先将光学膜片200贴附于第一 侧壁Iio的内壁面上，并使光学膜片200的底边平行放置于深度计组上。藉由两侧深度计 的刻度/感应显示光学膜片200是否平行放置于治具100真平度的底座130上。若经深度 计组检测光学膜片200两侧平行，即可经由光学仪器(图未绘示)透过检视孔160进行光 学膜片200的吸收轴角度是否正确的检测。反之，当深度计组显示光学膜片200两侧不平 行时，可能重新加工光学膜片200或调整贴附于第一侧壁110的角度等等，以便后续制程的 进行。如图4所示，位置感测装置300亦可包含一对压力感测器。每一压力感测器分别 埋设于治具100的底座130内。换言之，每一压力感测器的顶端较佳的与底座130平行或 略高设置，藉由量侧光学膜片200两侧的重量/压力是否相同或在一定范围内，确认光学膜 片200是否平行对齐底座130。若经压力感测器组检测光学膜片200两侧平行，即可经由光 学仪器(图未绘示)透过检视孔160进行光学膜片200的吸收轴角度是否正确的检测。反 之，当压力感测器组显示光学膜片200两侧不平行时，可能重新加工光学膜片200或调整贴 附于第一侧壁110之角度等等，再进行检测吸收轴角度。如图5所示，位置感测装置300亦包含一对光学感测器或其它适合的感知器(例 如不可见光感应器)。每一对光学感测器具有光发射感测器310及光接收感测器320。光发 射感测器310设于第一侧壁110并邻近底座130，光接收感测器320则设于第二侧壁120并 与光发射感测器310相对设置。在如图5所示的具体实施方式
中，每一光发射感测器310与 每一光接收感测器320较佳的分别埋设于第一侧壁110及第二侧壁120的壁面，亦即每一 光发射感测器310及每一光接受感测器320的一侧面分别与第一侧壁110及第二侧壁120 的壁面平行设置。然而在其它不同的具体实施方式
中，每一光发射感测器310及每一光接 收感测器320亦以可远离底座130而分别埋设于第一侧壁110及第二侧壁120上。此外， 在不同的具体实施方式
中，每一光发射感测器310或每一光接收感测器320亦可交换地分 别埋设于第二侧壁120或第一侧壁110。当光发射感测器310发射光线(红光、蓝光或其它可见光线)后，光线穿透光学 膜片200并使光接收感测器320接收并产生讯号，如此使连接此讯号的显示灯具(图未绘 示)显示(一般而言为亮或显示正常)，以便进行吸收轴角度的量测。反之，当光发射感测 器310发射光线，光学膜片200阻挡光线而无法使光接收感测器320接收并产生讯号时，显 示灯具即未显示(一般而言为暗或警示)，以便重新调整光学膜片200与底座130间的密合 度。当光学膜片200已正确且水平地置于底座130时，则进一步透过光学仪器经由检视孔 160检测光学膜片200的吸收轴角度是否正确。[0033]在此需说明的是，本实用新型的治具100尺寸可根据欲量测的光学膜片200大小 而改变；此外，治具100的材质包含但不限于铝材或钢材或其合金。本实用新型的光学量测设备具有位置感测装置，用以量测光学膜片的侧缘是否已 与底座密合。换言之，当光学膜片置于治具的底座并贴附于第一侧壁壁面时，藉由位置感测 装置测量光学膜片是否正确对齐底座。若光学膜片正确对齐治具底座，则进一步透过仪器 检测吸收轴角度是否正确。相较于传统技术，本实用新型的光学量测设备具有结构简单，便 于检测且测量更准确的优点。根据以上具体实施方式
的详述，希望能更加清楚描述本实用新型的特征与精神， 而并非以上述所揭露的具体实施方式
来对本实用新型加以限制。
权利要求1.一种光学量测设备，供与光学膜片配合使用，其特征在于包含治具，具有第一侧壁、第二侧壁及连接该第一侧壁及该第二侧壁的底座，该第一侧壁、 该第二侧壁及该底座共同形成容置空间，该第一侧壁与该第二侧壁平行，且该第一侧壁高 度大于该第二侧壁的高度；以及供测量该光学膜片与该底座间的密合程度的位置感测装置，设置于该容置空间内。
2.根据权利要求1所述的光学量测设备，其特征在于包含该第一侧壁还包含检视孔， 该检视孔的高度大于该第二侧壁的高度。
3.根据权利要求2所述的光学量测设备，其特征在于包含该检视孔分别穿过该第一 侧壁两侧面。
4.根据权利要求2所述的光学量测设备，其特征在于包含该检视孔形状为圆形、矩 形、三角形、椭圆形或不规则形状。
5.根据权利要求1所述的光学量测设备，其特征在于包含该容置空间的宽度大于或 等于该光学膜片的厚度。
6.根据权利要求1所述的光学量测设备，其特征在于包含该位置感测装置包含一对 深度计，分别设于该底座两侧。
7.根据权利要求1所述的光学量测设备，其特征在于包含该位置感测装置包含一对 压力感测器，分别设于该底座内，并位于该底座的两侧。
8.根据权利要求1所述的光学量测设备，其特征在于包含该位置感测装置包含一对 光学感测器，每一该对光学感测器具有光发射感测器及光接收感测器。
9.根据权利要求8所述的光学量测设备，其特征在于包含该光发射感测器设于该第 一侧壁并邻近该底座，该光接收感测器则设于该第二侧壁并与该光发射感测器相对设置。
专利摘要本实用新型揭露一种光学量测设备，供与光学膜片配合使用，该光学量测设备包含治具及位置感测装置。该治具具有第一侧壁、第二侧壁及连接第一侧壁及第二侧壁的底座，第一侧壁、第二侧壁及底座共同形成容置空间供放置光学膜片，该第一侧壁与该第二侧壁彼此平行，且该第一侧壁高度大于该第二侧壁的高度。该位置感测装置设于该容置空间内，供测量光学膜片侧缘与底座间的密合程度。当光学膜片贴附于第一侧壁上，藉由第一侧壁上的检视孔量测光学膜片的吸收轴角度。相较于传统技术，本实用新型的光学量测设备具有结构简单，便于检测且测量更准确的优点。
文档编号G01B11/00GK201852559SQ20102054347
公开日2011年6月1日 申请日期2010年9月16日 优先权日2010年9月16日
发明者王家威 申请人:明基材料有限公司, 明基材料股份有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
