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专利名称：元件测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种元件测试系统及其装置，特别是一种集成电路元件的元件测试系统及其装置。
在现有技术中，元件的测试方法主要是将待测元件(Device UnderTest；DUT)置于一测试板(DUT board)上的一插槽(socket)之中，并由一自动测试设备(automated test equipment；ATE)来对上述待测元件进行测试。

图1为一现有技术的元件测试装置的示意图。在测试板120上具有一插槽110，用以容置一待测元件105。测试板120装设于一接口板(interface board)130上，其中上述的接口板130装设于一测试头(testhead)140之上。测试头140与一自动测试设备(未显示于图中)电性耦合。接口板130具有复数组信号线(signal traces)135，上述信号线135的两端分别与测试板120的接点(未显示于图中)及测试头140的测试电路(tester channel)145电性耦合。而元件测试的过程是从自动测试设备发出一测试信号，经过测试头140，信号线135，测试板120，传送至插槽110中的待测元件105。然后，再沿着上述途径从测试板120将一对应信号传回自动测试设备。
随着待测元件的不同，必须使用不同的测试板来进行测试。因为测试板个别不同的电气特性，如电阻，电感，电容值等的些微变动或差异，所以，每更改一次测试板，自动测试设备就必须对新测试板进行校正，以确认下一批的待测元件可以得到正确的测试结果。上述的校正至少包含校正自动测试设备与测试板之间关于发出信号与接收信号的时间差。然而，上述的校正过程往往必须耗费数十分钟至数小时之久。虽然此一校正过程是一不可忽略的步骤，但是，每次更换测试板之后皆需花费如此长的时间来进行校正，不啻是一种相当沉重的时间成本。
因此，为了提升元件测试的效率，如何提供一种可以让自动测试设备有效辨识测试板且可以有效缩短校正时间的元件测试系统已是一项重要的课题。
本实用新型的另一目的在于本实用新型可由一元件测试系统及其装置。上述的元件测试系统及其装置可以有效地避免发生在测试过程中因为使用了错误的、但针脚(pin)数目相同的待测元件来进行测试而产生无效的测试数据。
本实用新型的再一目的在于本实用新型可提供一元件测试系统及其装置，以取代现有技术中将各种元件测试的相关资料记录于书面资料上的做法。如此一来，可以有效地避免大宗书面资料的管理及存放的困扰，更可以节省纸张的使用，以达到环保的目的。
根据以上所述的目的，本实用新型提供了一种元件测试系统及其装置。根据本实用新型的元件测试系统及其装置可以由在测试板上增加一存储元件来改善元件测试的效率。换言之，在根据本实用新型的一范例中，由读取上述存储元件中的资料，可以略过元件测试之前的校正步骤。更好的是，根据本实用新型的设计，由读取存储元件中的资料可以有效地避免因为人为疏失所造成的无效测试。所以，根据本实用新型的设计可以有效地提升元件测试的效率。
图中符号说明105 待测元件110 插槽120 测试板130 接口板135 信号线140 测试头145 测试电路200 测试板220 存储元件230 可擦写存储元件240 插槽260 自动测试设备300 测试板320 存储元件
340 插槽350 接口板360 自动测试设备370 第一连接元件380 第二连接元件再者，在本说明书中，各元件的不同部分并没有依照尺寸绘图。某些尺度与其它相关尺度相比已经被夸张，以提供更清楚的描述和本实用新型的理解。
本实用新型的一较佳实施例为一种元件测试系统。在根据本实用新型的元件测试系统中至少包含一测试板(DUT board)，一存储元件连接于上述测试板，及一测试设备。上述的测试设备可以是一自动测试设备(ATE)。上述的存储元件可以是一只读存储器元件或是一可擦写的存储元件，例如，只读存储器(Read-Only Memory；ROM)，可抹除且可程序只读存储器(Erasable Programmable ROM；EPROM)，电子式可抹除且可程序化只读存储器(Electrically Erasable Programmable ROM；EEPROM)，或是其它的存储元件。
图2A为一根据本实施例的元件测试系统的示意图。参照图2A，待测板200至少包含一存储元件220，与一插槽240。在存储元件220中可储存与测试板200的电气特性相关的资料或是与测试过程相关的资料。待测板200与一自动测试设备自动测试设备260电性耦合。自动测试设备260可由读取在存储元件220中的资料来得到与测试过程或是元件测试前的校正步骤有关的讯息。在更换测试板200之后，自动测试设备260可先自存储元件220读取资料，再传送测试信号至插槽240以进行待测元件(DUT)的元件测试，以节省校准所需的时间，进而提升元件测试的效率。
在根据本实施例的一范例中，自动测试设备260中可预先储存复数组分别对应至不同测试板的测试程序，而上述的存储元件220中可以储存测试板200的辨识资料。在更换测试板之后，自动测试设备260可先自存储元件220中读取测试板200的辨识资料，再选取相对应的测试程序。如此一来，即可在进行元件测试之前，略过现有技术中的长时间校正步骤，以达到提升元件测试的效能的目的。
在另一范例中，存储元件220可以储存测试板200的校正资料。在更换测试板的时候，自动测试设备260可以自存储元件220中读取测试板200的校正资料。甚至于，在存储元件220中亦可以储存该测试板200所使用的测试程序，如此一来，自动测试设备260可以直接自存储元件220加载测试板200的测试程序以进行元件测试，进而提升元件测试的效率，此一设计更可以节省自动测试设备260中的存储空间。
在另一范例中，存储元件220中可以储存测试板200所适用的待测元件资料。在更换测试板之后，自动测试设备260可以自存储元件220读取该测试板200所适用的待测元件的资料。此一设计可以有效地防止在进行元件测试的过程中，因为待测元件的尺寸相同，例如具有相同的针脚数目，而选取错误的待测元件来进行元件测试。在现有技术中，由于测试板的资料与待测元件的资料分别纪录于工作手册中，所以，极可能因为操作人员的误判而使用其它相同尺寸(例如针脚数目相同者)的待测元件来进行元件测试。如果操作人员使用了错误的待测元件来进行元件测试，不仅会得到错误的测试结果，更会造成人力、物力、及时间上的浪费。由本实用新型的设计，在更换测试板之后，自动测试设备可以读取存储元件中的资料，并告知操作人员该测试板所适用的待测元件种类。因此，本实用新型的设计可以有效地避免因为操作人员的人为疏失所造成的无效的元件测试。
在另一范例中，存储元件220更可以储存测试板200的基本组态(basic configuration)资料，例如测试板200上电容器的电容量，电阻的电阻值，或是其它的组态资料。所以，在更换测试板之后，自动测试设备260可以由读取存储元件220中的资料，而更了解测试板200的组态，进而有助于辨识测试板200的适用范围。
在另一范例中，存储元件可以是一可擦写的存储元件。图2B为另一根据本实施例的元件测试系统的示意图。参照图2B，测试板200至少包含一可擦写存储元件230，与一插槽240。测试板200与自动测试设备260电性耦合。在更换测试板200之后，自动测试设备260可以自可擦写存储元件230读取测试板200的资料或是与元件测试过程相关的资料，进而提升元件测试的效率。
更好的是，自动测试设备260可以将与测试板相关的资料或是其它与测试过程相关的资料写入可擦写存储元件230中。在现有技术中，通常将测试板的资料或是其它与测试过程相关的资料记录于诸如操作手册或工作日志的类的书面资料中。此一做法不仅会衍生出大量书面资料的管理与存放的问题，更因为需要耗费大量的纸张而显得相当的不环保。然而，根据本实施例的设计则可以将上述的资料记录于可擦写存储元件230中。如此一来，不仅可避免上述书面资料的管理与存放等问题，更可节省纸张的使用而达到环保的目的。
在本实施例中，上述的存储元件可以储存一组或是多组与测试板相关的资料。上述的存储元件亦可以储存一组或是多组与测试过程相关的资料。在更换测试板之后，自动测试设备可以由读取存储元件中的资料来得到与测试板相关的资料或是与测试过程相关的资料，进而可以缩短，甚至可以略过，在现有技术中需要花费长时间的校正步骤。更好的是，根据本实施例的设计，亦可以大幅降低在元件测试过程中出错的机率。所以，根据本实施例的设计可以提升元件测试的效率。
根据本实用新型的另一较佳实施例为一种元件测试装置。图3是一种根据本实施例的元件测试装置的示意图。如图3所述，上述的元件测试装置至少包含一测试板300，一存储元件320连接于测试板300，及一自动测试设备360与测试板300电性耦合。在测试板300上更包含一插槽340，用以容置一待测元件。测试板300装设于一接口板350上，其中接口板350设置于自动测试设备360上。
根据本实施例的元件测试装置更包含复数组第一连接元件370连接测试板300与自动测试设备360。上述的第一连接元件370用以自自动测试设备360传送测试信号至测试板300及插槽340中的待测元件，以进行校正或进行元件测试。上述的元件测试装置可以更包含至少一组第二连接元件380连接存储元件320与自动测试设备360。由第二连接元件380，自动测试设备360可以自存储元件320读取资料，或是储存资料至存储元件320。
存储元件320可以是一只读存储器，或是一可擦写的存储器。例如，只读存储器(ROM)，可抹除且可编程只读存储器(EPROM)，电子式可抹除且可编程只读存储器(EEPROM)，或是其它的存储器元件。在存储元件320中，可以储存测试板300的资料，或是与测试过程有关的资料，例如，测试板300的基本组态，测试板300所适用的待测元件种类，待测板300所使用的测试程序，或是其它的资料。
根据本实施例，在换上根据本实施例的测试板300之后，自动测试设备360可以经由第二连接元件380来读取存储元件320中的资料，进而得知测试板300的信息，或是与测试过程相关的信息。由上述的信息，根据本实施例的元件测试装置可以大幅地缩短在元件测试前的校正步骤所需的时间，甚至于可以略过校正步骤而直接开始进行元件测试。
在根据本实施例的一范例中，自动测试设备360亦可以写入资料至存储元件320之中。例如，自动测试设备360可以将测试板300在元件测试过程中的状况写入存储元件320中，以取代现有技术中的工作纪录。此外，操作人员可能会对测试板300上诸如电容或电阻的类的组态进行调整。自动测试设备360亦可以将调整后的组态纪录于存储元件320之中。在下次使用此一测试板300的时候，自动测试设备360由读取存储元件320中的资料即可知道测试板300的最新组态资料。在其它的范例中，自动测试设备360亦可视实际需要，写入其它相关信息至存储元件320之中。
相较于现有技术的元件测试装置，每次更换测试板，必须先执行一校正步骤后，才能进行待测元件测试。而上述的校正步骤往往需要花费相当长的时间才能完成。根据本实施例的设计，可以将与校正有关的资料储存于存储元件中，如此一来，自动测试设备可由读取存储元件的资料来达到上述校正步骤的结果。换言之，根据本实施例的设计，在更换测试板之后可以略过长时间的校正步骤，进而可以提升元件测试的效率。
举例来说，在根据本实施例的一范例中，在存储元件中可以储存测试板的识别资料，而在自动测试设备的数据库中可以储存附数组分别对应至不同测试板的测试程序及校正资料。在更换测试板之后，自动测试设备只需自存储元件读取资料，并自自动测试设备的数据库中选取相对应的测试程序与校正资料。至此，根据本实施例的元件测试装置已达到与现有技术的校正步骤相同的结果，且可开始进行元件测试。
在另一范例中，在根据本实施例的测试板上的存储元件中所储存的资料可以包含此一测试板所适用的待测元件种类。如此一来，自动测试设备在读取存储元件的资料之后，可以告知操作人员此一测试板适用于何种待测元件的元件测试。所以，根据本实施例的设计，可以有效地防止操作人员因为待测元件的规格相同而选用了错误的待测元件来进行元件测试，从而可以避免人力与物力浪费在无效的元件测试之上。
此外，在上述存储元件中所储存的资料可以包含此一测试板所适用的测试程序。在更换测试板之后，自动测试设备可以自存储元件中读取并加载上述测试板所适用的测试程序。如此一来，根据此一设计，不仅可以略过在元件测试之前的校正步骤，更可以避免自动测试设备的数据库中因为储存太多的测试程序而占用大量的自动测试设备存储器空间。更好的是，现有技术的自动测试设备通常只储存一组测试程序。然而，根据上述的设计，在自动测试设备读取存储元件中的资料后，可以自动针对每一不同的测试板来调整其适用的测试程序。
另一方面，在现有技术中，操作人员往往必须将许多相关的资料记录于诸如操作手册或工作日志的类的书面纪录之上。上述的相关资料包含测试板的相关资料，测试元件的相关资料，参数调整资料，或是其它与测试过程相关的资料。上述的做法经年累月下来，操作人员所纪录的书面资料将会形成相当庞大的一堆文件资料。此一做法不仅相当的不环保，庞大的文件资料在管理与存放上亦是一项相当沉重的负担。
然而，由本实施例的设计，上述的存储元件可以是一可擦写的存储元件。所以，在执行元件测试的过程中，不仅可以从存储元件中读取与元件测试过程相关的资料，更好的是，可以将与元件测试相关的资料储存至存储元件中。而且，存储元件中的资料亦可以随着实际需要而进行修正。因此，根据本实施例的设计，不仅可以省下庞大的纸张使用量，而达到环保的目的，更可以避免因为庞大的文件资料所造成在管理与存放方面的负担。更好的是，由于每一测试板及其适用的待测元件的相关资料皆可储存于测试板的存储元件中，所以，本实施例的设计更可以防止在现有存储中因为操作人员读取文件资料时的错误，而发生错误的元件测试的情形。
综合以上所述，本实用新型揭露一种元件测试系统及其装置。根据本实用新型的设计至少包含一自动测试设备，一接口板设置于自动测试设备上，一测试板装设于接口板上且与自动测试设备电性耦合，及一存储元件连接至上述的测试板。上述的存储元件可以是一只读存储元件，或是一可擦写存储元件。自动测试设备可由读取存储元件中的资料来得到与测试板相关的信息或是与测试过程相关的信息，进而可以略过元件测试前的校正步骤，并可避免在元件测试过程中可能发生的错误。因此，根据本实用新型的设计可以提升元件测试过程的效率。更好的是，自动测试设备亦可写入与测试板或是与测试过程相关的信息至上述存储元件之中。如此一来，不仅可以避免在现有存储中因为将上述信息书写于书面纪录上而造成大量文件的管理与存放等问题，更可以减少纸张的使用量以达到环保的目的。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并非用以限定本实用新型的保护范围；凡其它未脱离本实用新型所揭示的精神下所完成的等效改变或修饰，均应包含在权利要求书的范围内。
权利要求1.一种元件测试装置，其特征在于，该元件测试装置包含一自动测试设备(ATE)；一接口板设置于该自动测试设备上；一测试板设置于该接口板上，其中该测试板与该测试设备电性耦合；一存储元件位于该测试板上，其中该存储元件与该测试设备电性耦合；及一插槽位于该测试板上，其中该插槽用以容置一待测元件。
2.如权利要求1所述的元件测试装置，其特征在于，该存储元件为一只读元件。
3.如权利要求1所述的元件测试装置，其特征在于，该存储元件为一可擦写存储元件。
4.如权利要求1所述的元件测试装置，其特征在于，更包含至少一第一连接元件，用以连接该自动测试设备与该测试板。
5.如权利要求1所述的元件测试装置，其特征在于，更包含至少一第二连接元件，用以连接该自动测试设备与该存储元件。
专利摘要本实用新型涉及一种元件测试装置，根据本实用新型，由在测试板方面的特殊设计，可以在更换测试板之后，略过在进行元件测试前需要长时间的校正步骤，因此，根据本实用新型的设计可以有效地提升待测元件的元件测试效率，更好的是，根据本实用新型的设计可以省下用来记录的纸张，以达到环保的目的。
文档编号G01R31/28GK2593207SQ0229447
公开日2003年12月17日 申请日期2002年12月30日 优先权日2002年12月30日
发明者余玉龙, 倪云鹏 申请人:威盛电子股份有限公司