专利名称：一种电源管理芯片测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于芯片测试的技术领域，尤其涉及一种电源管理芯片测试装置。
背景技术：
随着集成电路设计业的兴旺，使得社会对芯片测试的需求也越来越大，对 芯片测试既是集成电路产业链中的一环，也是集成电路产品验证出厂的关键。
目前，还没有开发出专门针对电源管理芯片进行测试的测试装置，所以现 在都采用通用测试装置对电源管理芯片进行测试，这样对于只生产电源管理芯 片的生产商来说，不仅操作复杂、不方便，而且成本较高。
实用^斤型内容
本实用新型的目的在于提供一种电源管理芯片测试装置，旨在解决现在没 有开发出专门针对电源管理芯片进行测试的测试装置的问题。
本实用新型是这样实现的， 一种电源管理芯片测试装置，所述装置包括 用于装载被测芯片的探针台； 对被测芯片的电气参数进行釆集的针卡；
与所述针卡连接，根据针卡采集的电气参数进行处理，输出测试结果信号 的测试单元；
分别与所述测试单元和探针台连接的主控模块，根据所述测试结果信号并 输出控制信号，控制所述4果针台的位移；
分别为所述测试单元和主控�？樘峁┑缭吹闹绷魑妊沟缭茨？椋� 与所述主控�？榱樱涫淙肟刂菩藕诺氖淙肽？椋灰约�
4与所述主控�？榱樱允静馐越峁南允灸？椋� 上述结构中，所述测试单元包括
根据所述针卡采集的电气参数，输出接触测试结果信号的接触测试模块； 根据所述针卡采集的电气参数，输出电压测试结果信号或电流测试结果信
号的电压/电流测试�？椋�
根据所述针卡采集的电气参数，输出频率测试结果信号的频率测试�？椋� 才艮据所述针卡采集的电气参数，输出基准电压测试结果信号的基准电压测
试�？椋�
冲艮据所述针卡采集的电气参数，输出开关功能测试结果信号的开关功能测 试�？椋灰约�
根据所述针卡采集的电气参数，输出脉宽调制频率测试结果信号的脉宽调 制频率测试才莫块；
上述结构中，所述装置还包括
分别与所述直流稳压电源�？�、针卡和测试单元连接的修调�？椋鲂� 调�？楦菟霾馐缘ピ傻牟馐越峁藕牛尚Ｕ霰徊庑酒牡缙� 参数的修调信号，并通过针卡输出给所述被测芯片；
上述结构中，所述主控�？榘�
分别与所述直流稳压电源�？�、测试单元、显示�？楹褪淙肽？榱拥奈� 处理器；以及
分别与所述微处理器和探针台连接的TTL通讯电路； 上述结构中，所述孩史处理器为MSP430单片机； 上述结构中，所述输入模块是4建盘输入才莫块或触摸屏输入�？椋� 上述结构中，所述显示�？槭荓CD显示模块。
在本实用新型中，电源管理芯片测试装置是专门针对电源管理芯片进行测 试的测试装置，这种测试装置对于只生产电源管理芯片的生产商来说，不仅操 作简单、方便，而且降低了成本。
图1是本实用新型实施例提供的电源管理芯片测试装置的结构图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图 及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体 实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
图1示出了本实用新型实施例提供的电源管理芯片测试装置的结构，为了便 于说明，仅示出了与本实用新型相关的部分。
电源管理芯片测试装置包括用于装载被测芯片的探针台100;对被测芯片 的电气参数进行采集的针卡200;与针卡200连接，根据针卡200采集的电气 参数进行处理，输出测试结果信号的测试单元300,作为本实用新型一实施例， 测试单元300包括根据针卡200釆集的电气参数，输出接触测试结果信号的 接触测试�？�301;根据针卡200采集的电气参数，输出电压测试结果信号或 电流测试结果信号的电压/电流测试�？�302;根据针卡200采集的电气参数， 输出频率测试结果信号的频率测试�？�303;根据针卡200采集的电气参数， 输出基准电压测试结果信号的基准电压测试�？�304;根据针卡200采集的电 气参数，输出开关功能测试结果信号的开关功能测试�？�305;以及根据针卡 200采集的电气参it,输出脉宽调制频率测试结果信号的脉宽调制频率测试冲莫 块306。
电源管理芯片测试装置还包括分别与测试单元300和探针台100连接的 主控�？�400，根据测试结果信号并输出控制信号，控制探针台100的位移； 分别为测试单元300和主控模块400提供电源的直流稳压电源�？�500;与主 控�？�400连接，为其输入控制信号的输入�？�600;与主控�？�400连接， 显示测试结果的显示�？�700。其中，主控�？�400包括分别与直流稳压电源�？�500、测试单元300、显 示�？�700和输入�？�600连接的微处理器401,以及分别与微处理器401和 探针台IOO连接的TTL通讯电路402。作为本实用新型一实施例，微处理器401 为MSP430单片机，输入�？�600是键盘输入�？榛虼ッ潦淙肽？椋允灸� 块700是LCD显示�？�。
作为本实用新型 一 实施例，电源管理芯片测试装置还包括分别与直流稳压 电源才莫块500、针卡200和测试单元300连接的1^调才莫块800,修调冲莫块800 根据测试单元300生成的测试结果信号，生成校正^皮测芯片的电气参数的^"调 信号，并通过针卡200输出给被测芯片。
该电源管理芯片测试装置的工作过程为针卡200通过接触被测芯片的管 脚，对被测芯片的电气参数进行采集，测试单元300根据针卡200采集的电气 参数进行处理，输出测试结果信号，主控�？�400根据测试单元300输出的测 试结果信号进行运算，输出控制信号，控制显示�？�700显示测试结果，修调 �？�800根据测试单元300生成的测试结果信号，生成才交正被测芯片的电气参 数的修调信号，并通过针卡200输出给被测芯片。
通过输入模块600为主控�？�400输入控制信号，可以选择测试模式，主 控�？�400控制探针台IOO的移动，使得电源管理芯片测试装置可连续对不同 的#皮测芯片进4亍测试。
在本实用新型实施例中，电源管理芯片测试装置是专门针对电源管理芯片 进行测试的测试装置，这种测试装置对于只生产电源管理芯片的生产商来iJL, 不仅操作简单、方便，而且降低了成本。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型， 凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应 包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1、一种电源管理芯片测试装置，其特征在于，所述装置包括用于装载被测芯片的探针台；对被测芯片的电气参数进行采集的针卡；与所述针卡连接，根据针卡采集的电气参数进行处理，输出测试结果信号的测试单元；分别与所述测试单元和探针台连接的主控�？椋菟霾馐越峁藕挪⑹涑隹刂菩藕牛刂扑鎏秸胩ǖ奈灰疲环直鹞霾馐缘ピ椭骺啬？樘峁┑缭吹闹绷魑妊沟缭茨？椋挥胨鲋骺啬？榱樱涫淙肟刂菩藕诺氖淙肽？椋灰约坝胨鲋骺啬？榱樱允静馐越峁南允灸？�。
2、 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试单元包括 根据所述针卡采集的电气参数，输出接触测试结果信号的接触测试�？椋� 根据所述针卡采集的电气参数，输出电压测试结果信号或电流测试结果信号的电压/电流测试;漠块；根据所述针卡采集的电气参数，输出频率测试结果信号的频率测试�？椋� 根据所述针卡采集的电气参数，输出基准电压测试结果信号的基准电压测试�？椋桓菟稣肟ㄡ娂牡缙问涑隹毓δ懿馐越峁藕诺目毓δ懿� 试�？椋灰约案菟稣肟ú杉牡缙问涑雎隹淼髦破德什馐越峁藕诺穆隹淼� 制频率测试�？�。
3、 如权利要求1或2所述的测试装置，其特征在于，所述装置还包括 分别与所述直流稳压电源�？�、针卡和测试单元连接的修调�？椋鲂薜髂？楦菟霾馐缘ピ傻牟馐越峁藕牛蒦f交正所述被测芯片的电气 参数的修调信号，并通过针卡输出给所述被测芯片。
4、 如权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述主控�？榘� 分别与所述直流稳压电源�？�、测试单元、显示�？楹褪淙肽？榱拥奈⒋砥鳎灰约胺直鹩胨鑫⒋砥骱吞秸胩拥腡TL通讯电路。
5、 如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述微处理器为MSP430 单片机。
6、 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述输入�？槭羌淌淙� �？榛虼ッ潦淙腈�。
7、 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述显示�？槭荓CD显 示模块。
专利摘要本实用新型适用于芯片测试的技术领域，提供了一种电源管理芯片测试装置，装置包括用于装载被测芯片的探针台；对被测芯片的电气参数进行采集的针卡；与针卡连接，根据针卡采集的电气参数进行处理，输出测试结果信号的测试单元；分别与测试单元和探针台连接的主控�？椋莶馐越峁藕挪⑹涑隹刂菩藕牛刂铺秸胩ǖ奈灰疲环直鹞馐缘ピ椭骺啬？樘峁┑缭吹闹绷魑妊沟缭茨？椤Ｔ诒臼涤眯滦椭校缭垂芾硇酒馐宰爸檬亲耪攵缘缭垂芾硇酒胁馐缘牟馐宰爸茫庵植馐宰爸枚杂谥簧缭垂芾硇酒纳汤此担唤霾僮骷虻�、方便，而且降低了成本。
文档编号G01R31/28GK201417297SQ200920131139
公开日2010年3月3日 申请日期2009年4月29日 优先权日2009年4月29日
发明者孔晓琳, 锋 翟 申请人:深圳安博电子有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
