专利名称：抗uv层厚度快速检测装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种检测装置，特别是一种检测透明板材表面的抗UV层的厚度的抗 UV层厚度快速检测装置。
背景技术：
PC或PMMA等板材，用于制作采光罩、温室大棚等室外建筑材料时，对其耐候性有 要求，因此，需要在PC或PMMA等表面复合一层抗UV层，以提高其抗紫外光的能力，提高其 耐候性，延长产品的室外使用寿命，而其共挤复合的抗UV层的厚度以及分布的均勻程度等 是这种复合板材的重要的性能指标。但是，抗UV层厚度的检测却是个难题，因为，基材PC 或PMMA是透明，抗UV层也是透明的，通常UV层厚度在0. 005mm-0. Olmm,常规技术手段根 本无法检测。国外有报道，对这种基材也是透明的板材的抗UV层的检测，他们采用的是，先 制作一样切片，即从板材端面上切下薄薄的一片，将其浸入特制的溶液中半小时以上，使得 抗UV层材料通过溶剂发生化学反应而变色，然后取出样切片，在显微镜下观测抗UV层的厚 度。采用这种检测方法，检测时间长，对样切片的要求也较高，因此不能及时发现产品质量 问题，也不适合在日常的产品品质检测控制中运用。
发明内容
本发明要解决的技术问题是解决现有的检测方法对透明基材表面的抗UV层厚 度进行检测时，检测时间长，不能及时发现产品质量问题的技术问题，本发明提供一种抗UV 层厚度快速检测装置，它能快速检测透明基材表面的抗UV层的厚度，及时掌控产品质量情 况。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是一种抗UV层厚度快速检测装置，包 括显微镜、紫外光源和样切片，显微镜包括目镜和物镜，待测的样切片位于显微镜的物镜下 方，紫外光源对样切片照射。运用PC或PMMA等透明基材与抗UV层对紫外光的反射情况不 同的原理，在紫外光源的照射下，通过显微镜可以清楚地观测样切片的抗UV层的厚度，从 而可以快速测量PC或PMMA等透明基材表面的抗UV层的厚度。为使结构简单，所述的紫外光源包括紫外灯管，样切片放置在紫外灯管上。所述的紫外光源位于样切片侧上方，紫外光从侧上方照射到样切片上，UV层因吸 收了紫外光后，呈现出与基层材料不同的颜色。为避免直视紫外光对检测者视力的损害，所述的紫外光源为LED紫外光灯灯源， LED紫外光灯灯源具有发紫外光的LED灯珠。为使抗UV层厚度快速检测装置小巧、便捷，所述的显微镜上装有支架，支架上固 定有电池盒，LED灯珠固定在电池盒端部，电池盒上还装有控制开关，电池盒内放有电池， LED灯珠、电池和控制开关串联连接。为进一步避免目视紫外光对视力造成损害，便于对检测的数据进行分析，所述的 显微镜的目镜上方设有CCD视频采集设备和与计算机相连接的视频采集控制卡。
本发明的有益效果是本发明的抗UV层厚度快速检测装置，能方便快捷地测量PC 或PMMA等透明板材表面复合的抗UV层的厚度，及时掌控产品质量情况。
下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。图1是本发明的抗UV层厚度快速检测装置的第一个实施例的结构示意图。图2是本发明的抗UV层厚度快速检测装置的第二个实施例的结构示意图。图3是在显微镜的目镜下显示的抗UV层测量结果示意图。图中1.显微镜，1-1.物镜，1-2.目镜，2.紫外灯管，2’. LED灯珠，3.样切片，4.样 片夹，5.支架，6.电池盒，7.控制开关8.电池，9. C⑶视频采集设备，10.视频采集控制卡， 11、抗UV层，12、基本层
具体实施例方式如图1所示的本发明的抗UV层厚度快速检测装置的第一个实施例，它包括显微镜 1和紫外光源，显微镜1包括目镜1-2和带有标尺的物镜1-1，待测的样切片3位于显微镜 1的物镜1-1的下方，紫外光源包括紫外灯管2，样切片3放置在紫外灯管2上，紫外灯管自 样切片3的下方对样切片3照射。检测人员的眼睛贴近显微镜1的目镜1-1，以观测样切片 3的抗UV层的厚度。样片3包括上层的抗UV层11和下层的基本层12。如图2所示的本发明的抗UV层厚度快速检测装置的第二个实施例，它包括显微镜 1和紫外光源，显微镜1包括目镜1-2和物镜1-1，样切片3固定在样片夹4中，样片夹4位 于显微镜的物镜1-1下方。显微镜1上装有支架5，支架5上固定有电池盒6，紫外光源包 括发紫外光的LED灯珠2’，LED灯珠2’固定在电池盒6端部、且位于样切片3的侧上方， LED灯珠2’自样切片3的侧上方对样切片3照射，电池盒6上还装有控制开关7，电池盒6 内放有电池8，LED灯珠2’、电池8和控制开关7串联连接。显微镜1的目镜1-2上方设有CXD视频采集设备9和与计算机相连接的视频采集 控制卡10。
权利要求
一种抗UV层厚度快速检测装置，其特征在于包括显微镜(1)和紫外光源，显微镜(1)包括目镜(1 2)和物镜(1 1)，待测的样切片(3)位于显微镜(1)的物镜(1 1)的下方，紫外光源对样切片(3)照射。
2.根据权利要求1所述的抗UV层厚度快速检测装置，其特征在于所述的紫外光源包 括紫外灯管(2)，样切片(3)放置在紫外灯管(2)上。
3.根据权利要求1所述的抗UV层厚度快速检测装置，其特征在于所述的紫外光源位 于样切片(3)的侧上方。
4.根据权利要求3所述的抗UV层厚度快速检测装置，其特征在于所述的紫外光源包 括发紫外光的LED灯珠(2’)。
5.根据权利要求4所述的抗UV层厚度快速检测装置，其特征在于所述的显微镜(1) 上装有支架(5)，支架(5)上固定有电池盒(6)，LED灯珠(2’ )固定在电池盒(6)端部，电 池盒(6)上还装有控制开关(7)，电池盒(6)内放有电池(8)，LED灯珠(2’)、电池⑶和 控制开关(7)串联连接。
6.根据权利要求1所述的抗UV层厚度快速检测装置，其特征在于所述的显微镜(1) 的目镜(1-2)上方设有CCD视频采集设备(9)和与计算机相连接的视频采集控制卡(10)。
全文摘要
本发明涉及一种检测装置，特别是一种检测透明板材表面的抗UV层的厚度的抗UV层厚度快速检测装置，它包括显微镜、紫外光源和样切片，样切片位于显微镜的物镜下方，紫外光源对样切片照射。运用PC或PMMA等透明基材与抗UV层对紫外光的波长吸收后发出不同颜色光的原理，在紫外光源的照射下，通过显微镜可以清楚地观测样切片的抗UV层的厚度，从而可以快速测量PC或PMMA等透明基材表面的抗UV层的厚度。解决了现有的检测方法对透明基材表面的抗UV层厚度进行检测时，检测时间长，不能及时发现产品质量问题的技术问题。它能方便快捷地测量PC或PMMA等透明板材表面复合的抗UV层的厚度，及时掌控产品质量情况。
文档编号G01B9/04GK101957181SQ20101027490
公开日2011年1月26日 申请日期2010年9月8日 优先权日2010年9月8日
发明者戚文涛, 陆琪, 陈旌 申请人:常州丰盛光电科技股份有限公司
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