专利名称：一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及仪器仪表领域，具体涉及一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置。
背景技术：
万用答题卡是近几年最新研制的可重复使用的答题卡，在国内开始推广使用。该卡的使用大大降低了答题卡的使用成本，对环�：徒谀芗跖庞蟹浅Ｖ匾囊庖澹虼擞芯薮蟮氖谐∏绷�。万用答题卡在使用过程中最让用户担心的是读卡的准确度。答题卡的读卡原理就是跟卡表面光的反射率有关，在整张答题卡反射率一致的情况下，涂过卡的地方反射率和透射率较低，所以确�？ǖ谋砻娣瓷渎室恢率峭蛴每ㄉ讨兄匾霉ひ�。
发明内容
为克服现有技术中的不足，本发明的目的在于提供一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置，用于万用答题卡的生产。为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本发明通过以下技术方案实现
一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置，包括一单片机，所述单片机一端连接A/D 转换电路，所述A/D转换电路连接数据选择译码电路，所述数据选择译码电路连接56点阵列光反射传感器，所述单片机另一端连接按键、显示电路。进一步的，所述56点阵列光反射传感器由56个反射光测量传感器组成，每行7 个，共8列，涵盖整个答题卡表面。进一步的，所述反射光测量传感器的电压变换电路包括光敏管，所述光敏管的发射极与集电极之间依次连接有第一发光二极管、第二发光二极管、电阻和可调电阻。进一步的，所述数据选择译码电路采用了 7片4051集成电路来选择56路信号，所述7片4051集成电路分别设有7个模拟输出，分别输给所述A/D转换电路的7个通道。进一步的，所述A/D转换电路为模数转换集成电路MAXl 18，所述模数转换集成电路MAX118中设有8个模拟通道输入，其中7个模拟通道接收来自所述数据选择译码电路的所述7个模拟输出信号，所述A/D转换电路还包括第一输入按键和第二输入按键。进一步的，按键、显示电路包括数码管显示电路，所述数码管显示电路包括连体的 4位LED数码管，所述连体的4位LED数码管上设有4个位信号输入和8个段码信号输入， 所述数码管显示电路的接法为动态扫描显示。本发明的原理是
⑴卡表面反射光测量56点阵列传感器及其电压变换电路。反射光测量传感器由两个发射光电二极管和一个接收光电二极管组成，发射二极管将光打到答题卡表面，由接收二极管接收卡的反射光，并转换成电压。56点阵列传感器由56个反射光测量传感器组成，每行7个，共8列，涵盖整个答题卡表面。传感器电压变换电路将接收二极管接收的答题卡表面反射光，转换成电压，送给数据选择译码电路。(2)信号处理电路。信号处理电路由单片机控制，有以下几个部分
数据选择译码电路单片机通过地址译码，控制数据选择电路，有选择的将输入的56 路传感器电压，分别依次输给模数转换电路。模数转换电路将反射光电压转换成数字量，由单片机采样进行反射数据计算。键盘显示电路接收按键功能，显示反射数据及测量结果，该电路与由单片机控制的数据选择译码电路、模数转换电路为一体，整体设计。本发明的有益效果是
该发明用于万用答题卡的生产过程中控制卡生产的质量，检测卡表面对读卡光的反射数据，对卡表面56点同时测量，确保答题卡表面光反射率一致。
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中
图1是本发明的框架结构示意图2是本发明的单点反射光测量传感器原理图3是本发明的单点反射光传感器电压变换电路原理图4是本发明数据选择译码电路原理图5是本发明的模数转换电路原理图6是本发明的数码管显示电路原理图。图中标号说明1、单片机，2、A/D转换电路，3、数据选择译码电路，4、56点阵列光反射传感器，5、按键、显示电路，Ni、光敏管，Li、第一发光二极管，L2、第二发光二极管， R1、电阻，P1、可调电阻，Ul-U7、4051集成电路，AD1-AD7、模拟输出，U9、模数转换集成电路 MAX118，1N1-1N7、模拟通道，K1、第一输入按键，K2、第二输入按键，U10、连体的4位LED数码管，L1-L4、位信号输入，A-H、段码信号输入。
具体实施例方式下面将参考附图并结合实施例，来详细说明本发明。参见图1所示，一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置，包括一单片机1，所述单片机1 一端连接A/D转换电路2，所述A/D转换电路2连接数据选择译码电路3，所述数据选择译码电路3连接56点阵列光反射传感器4，所述单片机1另一端连接按键、显示电路 5。进一步的，所述56点阵列光反射传感器4由56个反射光测量传感器组成，每行7 个，共8列，涵盖整个答题卡表面。参见图3所示，进一步的，所述反射光测量传感器的电压变换电路包括光敏管m， 所述光敏管W的发射极与集电极之间依次连接有第一发光二极管Li、第二发光二极管L2、电阻Rl和可调电阻PI。参见图4所示，进一步的，所述数据选择译码电路3采用了 7片4051集成电路 U1-U7来选择56路信号，所述7片4051集成电路U1-U7分别设有7个模拟输出AD1-AD7， 分别输给所述A/D转换电路2的7个通道。参见图5所示，进一步的，所述A/D转换电路2为模数转换集成电路MAX118 U9， 所述模数转换集成电路MAXl 18 U9中设有8个模拟通道输入，其中7个模拟通道1N1-1N7 接收来自所述数据选择译码电路3的所述7个模拟输出信号AD1-AD7，所述A/D转换电路2 还包括第一输入按键Kl和第二输入按键K2。参见图6所示，进一步的，按键、显示电路5包括数码管显示电路，所述数码管显示电路包括连体的4位LED数码管U10，所述连体的4位LED数码管UlO上设有4个位信号输入L1-L4和8个段码信号输入A-H，所述数码管显示电路的接法为动态扫描显示。该发明的卡表面光反射多点同时测量、判断方法
该装置设计了 4位LED数码管显示，前两位显示光反射传感器的点数，后两位显示该点所测量的光反射数据。该装置设计了 2个功能按键，工作时将56点阵反射光传感器，放在答题卡表面，接通电源后，按下功能键1，开始测试。测试时先计算56点反射数据平均值，再计算每点反射数据与平均值的差，当所有差值小于某个设定范围时，该卡合格，若有差值大于该范围，该卡不合格。通过4位LED数码管显示结果，结果显示为前3位LED暗，若卡合格，最后一位显示1，不合格显示0。连续按下功能键2可以显示每一点的光反射数据。需要强调的是，上述设施例虽然对本发明作了比较详细的说明，但是这些说明只是对本发明说明性的，而不是对发明的限制，任何不超出本发明实质精神内的发明创造，均落在本发明权利保护范围之内。
权利要求
1.一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置，其特征在于包括一单片机(1)，所述单片机(1) 一端连接A/D转换电路(2 )，所述A/D转换电路(2 )连接数据选择译码电路(3 )，所述数据选择译码电路(3)连接56点阵列光反射传感器(4)，所述单片机(1)另一端连接按键、显示电路(5)。
2.根据权利要求1所述的答题卡表面光反射多点阵列检测装置，其特征在于所述56 点阵列光反射传感器(4)由56个反射光测量传感器组成，每行7个，共8列，涵盖整个答题卡表面。
3.根据权利要求1、2所述的答题卡表面光反射多点阵列检测装置，其特征在于所述反射光测量传感器的电压变换电路包括光敏管(Ni )，所述光敏管(Ni)的发射极与集电极之间依次连接有第一发光二极管(Li)、第二发光二极管(L2)、电阻(Rl)和可调电阻(P1)。
4.根据权利要求1所述的答题卡表面光反射多点阵列检测装置，其特征在于所述数据选择译码电路(3)采用了 7片4051集成电路(U1-U7)来选择56路信号，所述7片4051 集成电路(U1-U7)分别设有7个模拟输出(AD1-AD7)，分别输给所述A/D转换电路(2)的7 个通道。
5.根据权利要求1、4所述的答题卡表面光反射多点阵列检测装置，其特征在于所述 A/D转换电路(2)为模数转换集成电路MAXl 18 (U9)，所述模数转换集成电路MAXl 18 (U9) 中设有8个模拟通道输入，其中7个模拟通道(mi-lN7)接收来自所述数据选择译码电路 (3)的所述7个模拟输出信号(AD1-AD7)，所述A/D转换电路(2)还包括第一输入按键(Kl) 和第二输入按键(K2)。
6.根据权利要求1所述的答题卡表面光反射多点阵列检测装置，其特征在于按键、显示电路(5)包括数码管显示电路，所述数码管显示电路包括连体的4位LED数码管(U10)， 所述连体的4位LED数码管(UlO)上设有4个位信号输入(L1-L4)和8个人段码信号输入 (A-H)，所述数码管显示电路的接法为动态扫描显示。
全文摘要
本发明公开了一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置，包括一单片机，所述单片机一端连接A/D转换电路，所述A/D转换电路连接数据选择译码电路，所述数据选择译码电路连接56点阵列光反射传感器，所述单片机另一端连接按键、显示电路。该发明用于万用答题卡的生产过程中控制卡生产的质量，检测卡表面对读卡光的反射数据，对卡表面56点同时测量，确保答题卡表面光反射率一致。
文档编号G01R15/22GK102539872SQ20121003120
公开日2012年7月4日 申请日期2012年2月13日 优先权日2012年2月13日
发明者朱爱敏, 樊斌 申请人:苏州科技学院
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