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专利名称：电源供应单元的制造系统和制造方法以及闪烁检测方法
技术领域：
本发明的实施例涉及电源供应装置的制造系统及其电源供应单元的制造方法以及闪烁检测装置。
背景技术：
发光元件是将电能转换为光能而发出光的光源。最近，考虑到快速的处理速度、低电耗以及长寿命等发光元件的优点，发光元件并不仅仅利用为显示元件，还应用于照明领域。发光元件通过电源供应单元(power supply unit)接收电源而运行。如果电源供应单元没有正常运行，则发光元件也无法正常运行，并产生从发光元件发出的光闪变的闪烁现象。即，发光元件产生的闪烁现象受到将电源提供给发光元件的电源供应单元的状态的影响。据此，在制造电源供应单元的过程中，将会进行判定电源供应单元的状态的测试。另外，现在，为了判定电源供应单元的状态，操作者利用肉眼确认与电源供应单元连接的发光元件所发出的光。即，当利用肉眼检测到发光元件的闪烁现象时，将电源供应单元的状态判断为不合格。但是，由于操作者个体差(例如，年龄、视力疲劳程度等)，在检测闪烁现象时存在差异。因此，要求准确地检测发光元件的闪烁现象，以正确地判定电源供应单元的品质状态的技术。

发明内容
本发明的实施例是为了解决上述的问题而提出的，本发明的目的在于提供一种通过测试判定电源供应单元的电气特性及状态，并封装(packing)被判定为正常的电源供应单元的电源供应单元的制造系统及电源供应单元的制造方法。而且，本发明的另一目的在于，提供一种针对一个以上的发光元件检测闪烁，由此判定一个以上的有关电源供应单元的状态的闪烁检测装置。而且，本发明的另一目的在于，存储及管理根据有关一个以上的电源供应单元的状态的判定结果数据，由此提供方便的数据利用的闪烁检测装置。而且，本发明的另一目的在于，提供采用通过闪烁检测装置判定为正常的电源供应单元的照明装置。为了达到上述目的，本发明一实施例提供的电源供应单元的制造方法包括如下步骤提供向一个以上的光源提供调光信号的一个以上的电源供应单元；对于提供的所述一个以上的电源供应单元的电气特性进行第一测试；检测从所述一个以上的光源发出的光， 从而针对所述一个以上的光源检测闪烁，并对于依据所述闪烁检测结果的所述一个以上的电源供应单元的状态进行第二测试；以及，对于所述第一测试及所述第二测试的结果被判定为正常的电源供应单元进行封装。本发明一实施例的电源供应单元的制造系统包括电源供应单元制造设备，用以提供向一个以上的光源提供调光信号的一个以上的电源供应单元；第一测试设备，用以对于提供的所述一个以上的电源供应单元的电气特性进行测试；第二测试设备，检测从所述一个以上的光源发出的光，从而检测所述个以上的光源的闪烁，并对于依据所述闪烁检测结果的所述一个以上的电源供应单元的状态进行测试；以及，封装设备，对于所述第一次测试及所述第二次测试的结果被判定为正常的电源供应单元进行封装。本发明的一实施例提供的闪烁检测装置包括光检测�？椋�检测从一个以上的光源发出的光；信号输入/输出�？椋�与向所述一个以上的光源提供调光信号的一个以上的电源供应单元连接，以输入和输出信号；信号处理�？椋�将检测出的所述光转换为电信号而进行信号处理；以及，控制�？椋�基于调光信号控制所述一个以上的电源供应单元，并利用经信号处理的所述电信号检测所述一个以上的光源的闪烁，根据所述闪烁的检测结果判定所述一个以上的电源供应单元的状态。本发明的一实施例提供的照明装置包括用于照明的光源以及向所述用于照明的光源提供电源的、被闪烁检测装置判定为正常的电源供应单元。本发明的一实施例提供的电源供应单元的制造方法包括如下步骤基于调光控制信号控制向一个以上的光源提供调光信号的一个以上的电源供应单元；检测从所述一个以上的光源发出的光；将检测出的所述光转换为电信号而进行处理；利用经信号处理的电信号检测所述一个以上的光源的闪烁；以及，根据所述闪烁检测结果判定所述一个以上的电源供应单元的状态。本发明的一实施例提供的控制�？榘�括输入单元，接收产生调光控制信号所需的信息，该调光控制信号用于控制一个以上的电源供应单元的动作；信号发送单元，将所述调光控制信号发送给所述一个以上的电源供应单元；信号接收单元，接收对应于从所述一个以上的光源检测出的光的频率信号；第一控制单元，根据所述输入信息产生所述调光控制信号；以及，第二控制单元，利用接收的所述频率信号检测所述一个以上的光源的闪烁， 并根据所述闪烁检测结果，测试所述一个以上的电源供应单元。


图1为本发明的一实施例提供的电源供应单元的制造系统的图；图2为根据示出本发明的一实施例的电源供应单元制造设备的构成的图；图3为示出根据本发明的一实施例提供的第一测试设备的构成的图；图4为示出根据本发明的一实施例的第二测试设备的构成的图；图5为示出根据本发明的另一实施例的第二测试设备的构成的图；图6为示出根据本发明的一实施例的闪烁检测装置的外观结构的图；图7为示出图6所示的壳体的结构的图；图8为示出根据本发明的一实施例提供的用于产生调光信号的信息输入画面的图；图9为用于说明根据本发明的一实施例的电源供应单元的制造方法的图；图10为用于说明根据本发明的一实施例的电源供应单元的提供方法的图；图11为用于说明根据本发明的一实施例的电源供应单元的第一测试方法的图；图12为用于说明根据本发明的一实施例的电源供应单元的第二测试方法的图；图13为用于说明根据本发明的另一实施例的电源供应单元的第二测试方法的流程图；图14至图16为示出采用以根据本发明的多种实施例制造的电源供应单元的照明装置的图。
具体实施例方式以下，參照附图来详细说明本发明的实施例。在对本发明说明吋，当判断为相关的公知功能或结构将不必要地混淆本发明的主旨吋，将会省略其具体说明。而且，在本说明书中使用的术语是为了适当地描述本发明的优选实施例而使用的术语，这些术语会根据用户、运用者的意图或本发明所属的领域的惯例而会不同。因此，对于这些术语的定义应基于本说明书所涵盖的全部内容。各个图中使用的相同的符号表示相同的組成部分。图1为示出本发明的一实施例的电源供应单元的制造系统的图。參照图1，电源供应单元的制造系统100包括电源供应单元制造设备110、第一测试设备120、老化测试设备 130、第二测试设备140、第三测试设备150以及封装设备160。电源供应单元制造设备110提供ー个以上的电源供应单元。ー个以上的电源供应単元向ー个以上的光源提供调光信号，以使ー个以上的光源能够执行发光动作。如果电源供应单元没有正常运行，则从电源供应单元接收调光信号的光源也无法正常运行。由此，当由电源供应单元制造设备110制造出电源供应单元吋，将会经过用于判定该电源供应单元是否正常运行的测试。第一测试设备120对于从所述制造设备110制造的ー个以上的电源供应单元的电
气特性进行第一测试。老化测试设备130在恶劣的环境下对于ー个以上的电源供应单元进行测试。老化测试设备130产生包含预先设定或预先输入的老化条件及老化时间的老化信号，并基于该老化信号，在老化时间内以老化条件执行电源供应单元的老化测试。第二测试设备140检测从ー个以上的光源发出的光，从而检测ー个以上的光源的闪烁，并对于依据闪烁检测结果的ー个以上的电源供应的状态进行第二测试。图1中将老化设备130与第二测试设备140分別示出为单独的部分，但是老化测试设备130可以包含在第二测试设备140之中。S卩，第二测试设备140可以构成为在执行老化测试之后进行第二测试(即，測量闪烁)的形态。第三测试设备150在对由第一测试设备及第ニ测试设备判定为正常的电源供应单元进行封装之前对于电源供应单元的消耗电力、输出电流、输出电压、正常运行与否及耐电压中的至少ー个进行第三测试。在接受第一测试、老化测试及第ニ测试的期间，因各种测试环境，电源供应单元可能会承受负荷。由于这种负荷会影响电源供应单元的电气特性，因此可在完成第一测试、老化测试及第ニ测试之后再次对电源供应单元的电气特性进行第三测试。第三测试设备150并不是必需的部分，可根据需要选择性地包含第三测试设备150。封装设备160对于由第一测试设备120、第二测试设备140以及第三测试设备150 判定为正常的电源供应单元实施封装。具体来说，封装设备160利用防静电塑料包装电源供应单元，并以预订的单位将包装好的电源供应单元收纳于包含硅胶的封装盒。作为一例， 封装设备160可以在每个封装盒中收纳4个电源供应单元，且能够以2个单元收纳2层。封装设备160在封装过程中，可以确认用于消除封装盒内部的湿气的硅胶的包含与否、封装盒内部的电源供应单元的数量、防静电塑料的包装与否、珠光体芯(pearlite core)有无异常等。图2为示出根据本发明的一实施例的电源供应单元制造设备的构成的图。图2中具体示出了图1所示的电源供应单元制造设备110的构成。參照图2，电源供应单元制造设备100包括焊膏涂布装置112、芯片元件贴装装置 113以及回流焊装置114。焊膏涂布装置112在构成电源供应单元的一組成部分的电路基板111上涂布焊膏。焊膏涂布装置112可以在电路基板111上放置焊接掩膜(未图示)的状态下，以印刷焊膏的方式涂布焊膏。芯片元件贴装装置113利用焊膏在电路基板111上贴装ー个以上的芯片元件。此吋，芯片元件可以是使得电路基板111作用为电源供应单元而必须的RC电路元件、ニ极管元件等无源元件。回流焊装置114在预先设定的温度下对于焊膏进行回流焊，从而将芯片元件贴在电路基板111之上。通常，在电路基板111的一面贴装芯片元件而制造电源供应单元，但是根据需要也可以在电路基板111的一面或者另一面贴装芯片元件而制造电源供应单元。此时，电源供应单元制造设备100还可以各配备ー个焊膏涂布装置、芯片元件贴装装置及回流焊装置，以在电路基板111的另一面贴装芯片元件。图3为示出根据本发明的一实施例的第一测试设备的构成的图。图3具体示出了图1所示的第一测试设备120的构成。參照图3，第一测试设备120包括部件翘起检测装置121、微波焊接装置122、焊接修整装置123、元件测试装置124、电路基板测试装置125以及电源供应单元测试装置126。部件翘起检测装置121对于构成ー个以上的电源供应单元的部件检测翘起。具体来说，部件翘起装置121向ー个以上的电源供应装置照射光(例如，激光、X光等)，并接收反射光，由此检查部件的翘起，特別是焊膏的翘起。微波焊接装置122根据部件发生翘起与否来重新焊接焊膏。具体来说，部件翘起检测装置121的检测结果，发生部件的翘起吋，可对于相关电源供应单元重新焊接焊膏。焊接修整装置123对于被粘到重新焊接的焊膏上的部件进行修整(re-touch)，从而消除部件的翘起。元件测试装置IM对于被贴装到电路基板111上的ー个以上的芯片元件进行电气特性进行测试。电路基板测试装置125对于电路基板111的电气特性进行测试。电源供应单元测试装置1 对于ー个以上的电源供应单元的消耗电力、输出电流、输出电压、正常运行与否以及耐电压中的至少ー个进行测试。图4为示出根据本发明的一实施例的第二测试设备的构成的图。图4所示的第二测试设备是闪烁检测装置，对于从电源供应单元接收调光信号而被驱动的光源检测闪烁， 据此判断电源供应单元的状态。在本说明书中，第二测试设备和闪烁检测设备混用，这两个技术术语实质上是指相同的装置。參照图4，闪烁检测设备140包括信号输入/输出模块141、光源142a、光检测�？�142b、信号处理模块143、控制�？�144、AC电源部145以及DC电源部142c。输入/输出�？�141可以与用于检测闪烁的电源供应单元146电连接，接收从外部装置或闪烁检测装置140的内部組成要素所传递的信号或者输出电源供应单元146的信号。为了实现这种功能，信号输入/输出�？�141可包括用于与电源供应单元146电连接的接触端子及信号输入/输出端子。而且，信号输入/输出�？�141可包括在提供电源供应单元146的安装空间的托盘(未图示)之中。具体来说，托盘在安装空间内/外侧布置接触端子及信号输入/输出端子，当电源供应单元146被安装到安装空间时，使得电源供应单元146能够与所述接触端子连接。据此，将从信号输入/输出端子输入的信号传递给电源供应单元146或者将来自电源供应单元146的信号输出到外部。托盘可具有能够同时安装多个电源供应单元146的结构，也可以具有能够安装一个电源供应单元146的结构。当托盘具有能够安装一个电源供应单元146的结构吋，闪烁检测装置140上可设置多个托盘。电源供应单元146在被安装到托盘的状态下可通过信号输入/输出�？榻邮瞻�含调光控制信号的各种信号，并可以输出调光信号。电源供应单元146通过信号输入/输出�？�141接收从AC电源部分145供应的 AC驱动电源而运行。电源供应单元146向光源14 提供能够使该光源14 执行发光动作的动作信号 (即，调光信号)。当由控制�？�144提供的调光控制信号通过信号输入/输出�？�141提供到电源供应单元146吋，电源供应单元146执行基于此调光控制信号向光源14 提供调光信号的动作。光源142a、光检测�？�142b以及DC电源部分142c可被设置在壳体142的内部。当从电源供应�？�146接收调光信号吋，光源14 根据调光信号做出发光动作。 光源14 是能够执行发光动作的光源，可以是发光元件、荧光灯、灯等。光检测�？�142b从DC电源部160接收DC驱动电源而运行。光检测�？�142b设置在光源14 的上側，感测从光源14 发出的光并检测光強。信号处理�？�140将由光检测�？�142b检测的光转换为电信号而进行信号处理。 即，信号处理�？�140可以将检测出的光处理为能够在控制�？�144处理的信号。控制�？�144产生调光控制信号，并基于此调光控制信号控制电源供应单元141。而且，控制�？�144利用由信号处理�？�140进行信号处理的电信号检测光源 142a的闪烁。控制�？�144根据针对光源14 的闪烁检测结果测试电源供应单元146。在光源14 产生的闪烁现象是受到电源供应状态的影响而产生的，控制�？�144 检测光源14 的闪烁而判定电源供应模块146的状态。为了准确地检测电源供应�？�146 的状态，可利用正常动作的标准光源作为光源14加。控制模块144根据闪烁检测结果判定电源供应单元146的状态是正常还是故障， 并可以存储及管理关于此的结果数据。操作者可基于这种结果数据确认电源供应单元146 的状态，并在产品出厂之前选别正常产品和故障产品。图5为示出根据本发明的另ー实施例的第二测试设备(即，闪烁检测装置)的构成的图。图5所示的闪烁检测装置200用于具体说明图4所示的闪烁检测装置140的构成及动作。參照图5，闪烁检测装置200包括第一至第八电源供应单元211、212、213、214、 215、216、217、218、第一至第八光源 221、222、223、224、225、226、227、228、第一至第八光检测模块231、232、233、234、235、236、237、238、信号处理模块M0、控制�？�250以及AC电源部 260。AC电源部260提供用于驱动第一电源供应单元211至第八电源供应单元218的驱动电源。虽然图中没有表示，但是第一电源供应单元211至第八电源供应单元218可通过分别连接的信号输入/输出�？榻邮绽醋訟C电源部沈0的驱动电源。第一电源供应单元211至第八电源供应单元218 —对一地连接到第一光源221至第八光源228，由此单独地给第一光源221至第八光源2 提供调光信号。调光信号可以是能够调整第一光源221至第八光源228的辉度(或者亮度)的动作信号。调光信号可以是是DC电压信号、脉冲宽度调制(PWM)信号以及三端双向可控硅开关元件(Triac)信号中的 ー个。第一光源221至第八光源2 根据分别与之连接的第一电源供应单元211至第八电源供应单元218提供的调光信号执行发光动作。第一光检测�？�231至第八光检测�？�238与第一源221至第八光源2 —対一地设置，用以检测从第一光源221至第八光源2 发出的光。即，第一光检测�？�231至第八光检测�？�238感测由第一光源221至第八光源2 发出的光而检测光強，可采用光敏
ニ极管实现。虽然图5中没有表示，但第一光检测�？�231至第八光检测�？�238上分別连接有DC电源部分，由此提供DC驱动电源。信号处理�？�240接收由第一光检测�？�23 至第八光检测�？�2238检测出的光，并将其转换为电信号而进行信号处理。信号处理�？�240可包括信号转换单元Ml、低通滤波器对2、模数转换器M2以及高速傅里叶变换单元对4。信号转换单元241将分别由第一光检测�？椁� 至第八光检测�？�238检测出的光转换为电信号。此时，电信号可以是对应于光强的频率波形信号。低通滤波器242可对于电信号中包含的高频信号进行滤波，并使低频信号通过。 这是为了消除电信号中包含的噪声。模数转换器243可将低频信号转换为高频信号。 高速傅里叶变换单元244可对于在模数转换器343变换的数字信号进行傅里叶变换，由此产生包含AC分量及DC分量的频率信号。控制模块250可包括输入单元251、信号传送单元252、信号接收单元253、存储介质254、显示单元255、第一控制单元256及第ニ控制单元257。输入单元251接收产生老化信号所需的信息、产生调光控制信号所需的信息、数据读取命令。信号传送单元252向第一电源供应单元211至第八电源供应单元218传送预定的信号。
信号接收单元253从信号处理模块240接收频率信号。存储介质2M存储信息输入画面、信息输出画面以及各种数据。显示单元255显示信息输入画面、信息输出画面以及各种数据。在显示单元255显示用于产生老化信号的信息输入画面的状态下，通过输入単元 251输入老化条件及老化时间吋，第一控制单元256可产生包括老化条件及老化时间的老化信号。第一控制单元256可基于所产生的老化信号控制第一电源控制単元211至第八电源控制单元218的老化动作。具体来说，第一控制单元256控制信号传送单元253，以向第一电源供应单元211至第八电源供应单元218传送老化信号。第一电源供应单元211至第八电源供应单元218接收老化信号，并可在老化时间内以老化条件执行老化动作。例如，老化条件为“40°C温度”老化时间为“10分钟”吋，第一电源供应单元211至第八电源供应单元218可維持10分钟的40°C温度环境而执行老化动作。为此，第一源供应单元211至第八电源供应单元218上可配备散热结构及温度传感器。 而且，作为老化条件，除了温度之外，还可以采用高电压或震动等。另外，在显示单元255中显示用于产生调光控制信号的信息输入画面的状态下， 通过输入単元251输入信息吋，第一控制单元256产生包含所输入的信号的调光控制信号。调光控制信号针对第一电源供应单元211至第八电源供应单元218中的每ー个单独地产生，可包含针对第一电源供应单元211至第八电源供应单元218的信道信息。而且， 调光控制信号可以包括将要被供应到第一电源供应单元211至第八电源供应单元218的调光信号范围、在调光信号范围之内将要被调整的调光信号间隔以及对应于调光信号间隔的调光信号将要供应的时间周期。第一控制单元256基于产生的调光控制信号控制第电源供应单元211至第八电源供应单元218。第一电源供应单元211至第八电源供应单元218接收调光控制信号，可在调光信号范围之内根据时间周期调整调光信号间隔，井向第一光源221至第八光源2 提供调光信号。例如，当针对第一电源供应单元211的第一信道信息的调光信号范围是0. 1 10V，调光信号间隔是0. 5V，时间间隔是15秒吋，第一电源供应单元211在0. 1 IOV的调光信号范围之内以15秒为周期毎次调整调光信号上升0. 5V，井向第一光源221提供DC电压。据此，第一光源211可以执行根据DC电压信号以15秒为周期改变辉度的调光动作。另外，第二控制单元257可检测第一光源221至第八光源2 的闪烁，井根据闪烁检测结果判定第一光源221至第八光源228的状态。在通过信号接收单元253接收到频率信号吋，第二控制单元257分离包含于频率信号的AC分量和DC分量，并计算AC分量和DC分量的比率，由此检测第一光源221至第八光源228的闪烁。频率信号中可能会包含针对第一光源221至第八光源228的识别信息。因此，第 ニ控制单元257确认包含于频率信号的识别信息而将频率信息分类为第一光源22至第八光源2 単位，并可将被分类的频率信号分离为AC分量和DC分量。而且，第二控制单元257计算被分离的AC分量及DC分量，以检测第一光源221至第八光源228的闪烁。AC分量和DC分量的比率可通过以下数学式1或数学式2计算。艮ロ， 可通过数学式1或数学式2计算针对各个光源的闪烁。数学式1Flicker Ratio^/o)=^^3- X 100
J.ノ ν‘数学式2Flicker Ratio(dB)= 10 log(—^)在数学式1和数学式2中，ACrms为AC分量的峰值，DC为DC分量。通过数学式1 和数学式2计算出的闪烁比率可以以％或dB単位表示。当利用数学式1和数学式2检测的闪烁小于预先设定的临界值吋，第二控制单元 257可以将第一电压供应单元211至第八电压供应单元218判定为正常。而且，当检测出的闪烁在预先设定的临界值以上吋，第二控制单元257可以将第一控制单元211至第八控制单元218判定为不合格。第二控制单元257可将ー个电源供应单元、ー个光源及一个光检测模块作为ー个检测组而检测闪烁，并从闪烁检测结果判定相关电源供应单元的状态。例如，图2中，“第一电源供应�？�211-第一光源221-第一光检测模块可以构成为用于检测闪烁的ー个检测組。另外，当判定出第一电源供应单元211至第八电源供应单元218的状态时，第二控制単元257可以将传送至第一电源供应单元211至第八电源供应单元218的调光控制信号、对应于由第一光检测�？�231至第八光检测�？�238检测出的光对应的频率信号、针对第一光源221至第八光源2 的闪烁的检测结果以及针对第一电源供应模块221至第八电源供应�？�228的判定结果进行匹配，由此产生结果数据。第二控制单元257可以以数据产生时间、电压供应单元的规格、光源的规格为基准分类各个结果数据，并将被分类的结果数据存储在存储介质254。而且，当从输入単元251输入结果数据读取命令吋，第二控制单元257可从存储介质2M读出对应于读取命令的结果数据并通过显示単元255显示。控制模块250可以配置在类似于计算机的数据处理装置内的一个组成部件中，也可以实现为单独的装置。根据图5所示的闪烁检测装置200，可向第一光源221至第八光源2 提供调光信号而自动地检测闪烁，并能够以预先设定的临界值为基准检测闪烁。据此，根据闪烁的检测結果，可以准确地判定第一电源供应单元211至第八电源供应单元218的状态。而且，将针对第一电源供应单元211至第八电源供应单元218的判定结果数据管理为能够存储和读取的形态，从而可以使结果数据的利用变得更加简单。图6为显示根据本发明ー实施例的闪烁检测装置的外观结构的图。图7为表示图 6所示的壳体的结构的图。图6所示的闪烁检测装置300包括第一至第八电源供应单元311、312、313、314、 315、316、317、318、第一至第八壳体 321、322、323、324、325、326、327、328、信号处理单元330、控制�？椋�340、显示装置350以及AC电源单元360。第一壳体321至第八壳体3 搭载用于检测闪烁的ー个以上的光源，并包括检测从搭载的ー个以上的发光元件发出的光的光检测�？�。第一壳体321至第八壳体3 可具备相同的结构，以下以第一壳体321为代表说明壳体结构。图7示出图6所示的壳体结构。參照图7，第一壳体321包括搭载盒321a及壳体皿 321b ο搭载盒321a包括用于搭载光源10的空间，并可以包括将从外部提供的调光信号传递给光源10的信号线(未图示)。光源10可以以个别単位元件搭载到搭载盒321a，可以以封装形态和�？樾翁�中的任意一个形态搭载到搭载盒321a。分别搭载到包含于第一壳体321至第八壳体3 的搭载盒的发光元件的型号或种类可以都相同，也可以不相同。 信号线可以被布置为当光源10被搭载到搭载盒32Ia吋，在搭载盒32Ia内与包含于光源的电极形成物理接触。另外，壳体盖321b可以被安装于搭载盒321a的上側，并可以从上侧分离。虽然图 7中没有显示，但光检测�？榭梢耘渲梦�在壳体盖321b的内部能够调节高度的状态。S卩，光检测�？榭梢耘渲迷诳翘甯�321b的ー侧壁，并通过调整高度调整与搭载到搭载盒321a的光源10之间的分开距离。光检测�？�10的光检测性能可根据与光源10的分开距离产生差异。例如，当分开距离小吋，与分开距离大的情况相比，光检测�？槟芄患觳庀喽愿�高的辉度。由此，为了防止因为距离而误测量辉度，可根据搭载到搭载盒321a的光源10的形态、大小等调整光检测�？榈母叨龋�以调整分开距离。光检测�？榭梢园�括用于接收从光源10发出的光的光敏ニ极管(photo diode)。 该光敏ニ极管能够以大约30V的电压运行。第一壳体321具有在壳体盖321b被搭载到搭载盒321a时其内部空间变成暗室状态而屏蔽光的结构。即，防止搭载到搭载盒321a的光源10所发出的光泄露到第一壳体321 的外部的同吋，防止光进入第一壳体321的内部，以使光检测�？榻龆怨庠�10的光进行检測。第一电源供应单元311至第八电源供应单元318可分别设置在第一壳体321至第八壳体328的前侧，并连接到搭载于第一壳体321至第八壳体328的光源而能够提供调光信号。信号处理�？�330位于中央并连接到搭载于第一壳体321至第八壳体3 的光检测�？槎�接收各个光检测�？榧觳獬龅墓�。而且，信号处理�？�330将光转换为电信号之后，进行信号处理而产生包含AC分量及DC分量的频率信号，并可将该频率信号传送给控制�？�;340。控制�？�340位于信号处理�？�330的上側，以产生调光控制信号，并检测搭载于第一壳体321至第八壳体328的光源的闪烁，且能够根据闪烁检测结果判定第一电源供应単元311至第八电源供应单元318的状态。而且，控制�？�340将判定第一电源供应单元311至第八电源供应单元318的状态的结构数据存储到存储介质(未图示)并进行管理，以及可以根据读取命令而读取并显示在显示装置350。图6中分别示出并说明了 8个第一电源供应单元311至第八电源供应单元318以及第ー壳体321至第八壳体328，但是电源供应单元及壳体的数量并不局限于此，可以根据实施例进行变更。图8为示出根据本发明一实施例的用于产生调光控制信号的信息输入画面的图。 图8中示出的信息输入画面500(以下，称为“输入画面”)可由图4及图5所示的控制�？� 144,250或者图6所示的控制模块340提供。输入画面500可包括第一至第四子画面510、520、530、M0、存储按键550、执行按键560以及信息相关按键570。第一至第四子画面510、520、530、540可以是输入用于产生调光控制信号的信息的输入画面及显示针对光源的闪烁检测状态的画面。作为一例，第一至第四子画面510、 520,530,540是分别对应于第一电源供应单元311至第四电源供应单元314以及搭载到第 ー壳体321至第四壳体324的每个光源的画面。信息相关按键570可包括自动按键571、输入按键572、捜索按键573以及操作说明按键574。自动按键571及输入按键572可以是使用于输入如下的信息的按键，其中，该信息用于产生控制第一电源控制単元311至第四电源控制単元314的调光控制信号。当操作者选择自动按键571吋，输入画面500将任意地输入用于产生调光控制信号的信息。而且，当操作者选择输入按键572时，输入画面500显示单独的信息输入窗。例如，可以以弹出形式显示包含能够输入老化条件、老化时间、调光信号范围、调光信号间隔以及时间周期等的多个输入空间的信息输入窗。另外，在选择自动按键571或输入按键572而输入了用于产生调光控制信号的信息的状态下，当操作者选择存储按键550时，控制模块144、250或者控制�？�340可以将所输入的信息存储在存储介质中。而且，在选择自动按键571或者输入按键572而输入了用于产生调光控制信号的信息的状态下，当操作者选择执行按键560时，控制�？�150、250或者控制�？�340可产生调光控制信号，并传送给第一电源控制単元311至第四电源控制単元314。而且，第一电源供应单元311至第四电源供应单元314基于调光控制信号向搭载到第一壳体321至第四壳体M的光源提供调光信号时，控制�？�144、250或控制�？�340 可接收与从各个光源发出的光对应的频率信号而检测闪烁。可以将如此的检测闪烁的过程显示在第一至子画面510第四子画面M0。据此，操作者可通过确认第一子画面510至第四子画面540而确认闪烁检测状态。另外，捜索按键573可以是用于搜索闪烁检测结果数据及依据闪烁检测结果的第一电源供应状态321至第四电源供应状态324的状态判定结果数据的按键，操作说明按键 574可以是用于确认各种设定及输入画面500的利用/应用方法的按键。虽然图8中仅示出第一子画面510至第四子画面M0，但是并不局限于此，显示于 ー个画面上的子画面的数量可根据配备于闪烁检测装置的电源供应单元及壳体的数量而变化。图9为用于说明根据本发明的一实施例的电源供应单元的制造方法的图。图9所示的制造方法可以由图1所示的电源供应单元的制造系统100所执行。參照图9，所述制造系统100提供ー个以上的电源供应单元，该ー个以上的电源供应单元向ー个以上的光源提供调光信号(610步骤)。所述制造系统100对于所提供的ー个以上的电源供应单元的电气特性进行第一测试(620步骤)。所述制造系统100基于包含老化条件及老化时间的老化信号在老化时间内以老化条件对于ー个以上的电源供应单元进行老化测试(630步骤)。另外，所述制造系统100检测由ー个以上的光源发出的光，从而检测ー个以上的光源的闪烁，并对于依据闪烁检测结果的ー个以上的电源供应单元的状态进行第二测试 (640步骤)。所述制造系统100在进行第二测试之后，对于电源供应单元的消耗电力、输出电流、输出电压、正常动作与否及耐电压中的至少ー个进行第三测试(650步骤)。所述制造系统100对于经第一测试、第二测试及第三测试被判定为正常的电源供应单元进行封装(660步骤)。图10为用于说明根据本发明一实施例的电源供应单元的提供方法的图。图10用于具体化图9所示的610步骤，可由图2所示的电源供应单元制造设备110执行。參照图10，所述制造设备110在电路基板111上涂布焊膏(611步骤)。所述制造设备110利用焊膏在电路基板111上贴装ー个以上的芯片元件(612步
佛ノ ο所述制造设备110在预先设定的温度下对于焊膏实施回流焊(613步骤)。611步骤至613步骤是在电路基板110的一面(例如，上表面)焊接芯片元件而制造电源供应单元的过程。如果除了在电路基板110的一面之外的另一面(例如，下表面) 也焊接芯片元件时，对于电路基板Iio的另一面也可以执行611步骤至613步骤。图11为用于说明根据本发明的一实施例的电源供应单元的第一测试方法的图。 图11用于具体化图9所示的620步骤，可以由图3所示的第一测试设备120执行。參照图11，所述第一测试设备120对于构成ー个以上的电源供应单元的部件进行翘起检测(621步骤)。当所述第一测试设备120的检测結果，存在发生部件翘起的电源供应单元时(622 步骤)，对于相关电源供应单元中涂布的焊膏重新进行焊接(623步骤)。之后，所述第一测试设备120修整(re-touch)附着到重新焊接的焊膏上的部件，以消除部件的翘起(6M步
佛ノ ο另外，当621步骤的检测结果，不存在部件翘起的电源供应单元(622步骤)或通过623步骤及6M步骤消除了部件的翘起时，所述第一测试设备120测试被贴装到电路基板111上的ー个以上的芯片元件的电气特性(625步骤)。即，测试芯片元件是否正常运行。所述第一测试设备120测试电路基板111的电气特性(6 步骤)。S卩，测试电路基板111是否正常运行。所述第一测试设备120测试ー个以上的电源供应单元的消耗电力、输出电流、输出电压、正常动作与否以及耐电压中的至少ー个(627步骤)。所述第一测试设备120对于芯片元件和电路基板111分别测试电气特性，由此可以单独地测试芯片元件或者电路基板111。而且，通过对于电源供应单元测试电气特性，可以对芯片元件和电路基板111之间的相互的电气特性进行测试。图12为用于说明根据本发明一实施例的电源供应单元的第二测试方法的图。图 12所示的第二测试方法用于具体化图9所示的640步骤。而且，第二测试方法作为包含闪烁检测的电源供应单元的制造方法，可以成为检测从电源供应单元接收调光信号而被驱动的光源的闪烁，从而判断电源供应单元的状态的测试。本说明书中，混用第二测试方法和电源供应单元的制造方法，两者指相同的方法。而且，图12所示的电源供应单元的制造方法可由图4所示的闪烁检测装置120执行。參照图12，闪烁检测装置140基于调光控制信号控制电源供应单元146(641步骤)。调光控制信号中可包括针对电源供应单元146的信道信息、将要供应到光源14 的调光信号范围、在调光信号的范围内将要被调整的调光信号间隔以及对应于调光信号间隔的调光信号将要供应的时间周期。闪烁检测装置140向光源14 提供调光信号(642步骤)。具体地，构成闪烁检测装置140的电源供应单元146将调光信号提供给光源142a。此时，调光信号可以是DC电压信号、脉冲宽度调制信号以及三端双向可控硅开关元件(Triac)信号中的其中ー个信号。闪烁检测装置140从光源14 检测光，并将检测出的光转换为电信号(643步骤)。之后，闪烁检测装置140对于电信号进行信号处理(644步骤)。闪烁检测装置140利用经信号处理的电信号检测光源的闪烁阳45步骤)。而且， 根据闪烁检测结果判定电源供应单元146的状态(646步骤)。图12中说明了利用产品化的电源供应单元146实施闪烁检测，并根据检测结果判断电源供应单元146的状态之后，提供被判定为正常的电源供应单元的制造方法。但是，电源供应单元的制造方法并不局限于此，还可以进ー步包括电源供应单元146的电路设计步骤及电源供应单元146的装配步骤，并在闪烁检测步骤之后还可以包括针对被判定为正常的电源供应单元的封装エ艺。图13为用于说明根据本发明的另ー实施例的第二测试方法，即包括闪烁测试的电源供应单元的制造方法的流程图。图13所示的电源供应单元的制造方法可以由图5及图6所示的闪烁检测装置200、300执行。闪烁检测装置200、300产生老化信号(710步骤)。闪烁检测装置200、300在接收到老化条件及老化时间等信息吋，可产生包括老化条件及老化时间的老化信号。闪烁检测装置200、300基于老化信号控制ー个以上的电源供应单元(715步骤)。 即，ー个以上的电源供应单元基于老化信号，在老化时间内以老化条件执行老化动作。此吋，ー个以上的电源供应单元接收相同的老化信号，因此老化动作以相同的条件执行相同的时间。闪烁检测装置200、300产生调光控制信号(720步骤)。闪烁检测装置200、300基于调光控制信号控制ー个以上的电源供应单元(725步骤)。闪烁检测装置200、300向ー个以上的光源提供调光信号(730步骤)。ー个以上的光源可以根据调光信号执行发光动作。闪烁检测装置200、300检测从ー个以上的光源发出的光(735步骤)。
闪烁检测装置200、300将检测出的光转换为电信号(740步骤)。闪烁检测装置 200、300对于电信号进行信号处理而产生频率信号(745步骤)。此时，频率信号可以包括 AC分量及DC分量。闪烁检测装置200、300从频率信号分离AC分量及DC分量(750步骤)。闪烁检测装置200、300计算AC分量和DC分量的比率(755步骤)，当AC分量和 DC分量的比率小于预先设定的临界值时(760步骤)，将电源供应单元判定为正常(765步骤)。相反，当AC分量和DC分量的比率在预先设定的临界值以上，而不是小于临界值时，闪烁检测装置200、300将电源供应单元判定为不合格(770步骤)。闪烁检测装置200、300产生对于在765步骤或770步骤中判定的电源供应单元的状态的结果数据(775步骤)。图14至图16为示出采用以根据本发明的多种实施例提供的制造方法制造的电源供应装置的照明装置的图。图14全图16所示的照明装置800、900、1000采用以图1所示的制造系统100、图 4所示的闪烁检测装置140、图9所示的电源供应单元的制造方法、图12及图13所示的第 ニ测试方法中的ー个方法制造的电源供应单元813、912、1130。该电源供应单元813、912、 1130是经过针对电气特性的第一测试过程及包含闪烁测试的第二测试过程而被判定为正常的电源供应单元。參照图14，照明装置800为L管照明，包括照明単元810、调光器820以及电源部 830。照明単元810包括主体811、用于照明的光源812以及电源供应单元813。主体811包括用于设置发光元件、荧光灯或者灯等用于照明的光源812的空间和用于设置电源供应单元813的空间。參照图14可知，用于照明的光源812及电源供应单元 813被设置在属于主体811的各个空间之内。而且，用于照明的光源812与电源供应单元 813连接而从电源供应单元813接收电源，并由调光器820调整亮度。由于电源供应单元813是根据闪烁检测结果被判定为正常的产品，因此用于照明的光源812可以正常地接收电源而执行发光动作。而且，由于电源供应单元813应对来自调光器820的电源调节时也正常运行，因此可以准确地调整用于照明的光源812的亮度。參照图15，照明装置900是平板照明装置，包括照明単元910、调光器920以及电源部分930。照明単元910包括主体911、用于照明的光源(未图示)以及电源供应单元912。主体911包括用于设置发光元件、荧光灯或者灯等用于照明的光源的空间和用于设置电源供应单元912的空间。用于照明的光源与电源供应单元912连接而从电源供应单元912接收电源，并可以由调光器920调节亮度。由于电源供应单元912是根据闪烁检测结果被判定为正常的产品，因此用于照明的光源可以正常地接收电源而执行发光动作。而且，由于电源供应单元912应对来自调光器920的电源调节时也正常运行，因此可以准确地调整用于照明的光源的亮度。參照图16可知，照明装置1000是从上向下照射的下照(down light)照明装置， 包括照明単元1100、调光器1200以及电源部分1300。
照明単元1100包括主体1110、用于照明的光源1120以及电源供应单元1130。主体1110包括用于设置发光元件、荧光灯或者灯等用于照明的光源的空间和用于设置电源供应单元1130的空间。用于照明的光源1120与电源供应单元1130连接而从电源供应单元1130接收电源，并可以由调光器1200调节亮度。由于电源供应单元1130是根据闪烁检测结果被判定为正常的产品，因此用于照明的光源可以正常地接收电源而执行发光动作。图14至图16所示的照明装置800、900、1000不仅可以应用为产业用照明装置和
家庭用照明装置，还可以利用为用于电气装置的照明装置。而且，图14及图16中，图示并说明了在诸如L管照明800、平板照明900及下照照明装置1000中适用电源供应单元813、912、1130的实施例，但电源供应单元813、912、1130 还可以应用于诸如天花板灯、聚光灯等多种照明装置。而且，电源供应单元813、912、1130并不是仅仅适用于照明装置800、900、1000，还
可以适用于诸如显示装置的显示单元。虽然在上面的说明中以有限的实施例和附图对于本发明进行了说明，但是本发明并不局限于上述的实施例，本发明所属领域中具有一般知识的技术人员可以基于上述记载进行各种修改及变更。因此，本发明的范围并不局限于已进行说明的实施例，应由权利要求范围和权利要求范围的等同物所決定。
权利要求
1.一种电源供应单元的制造方法，包括如下步骤提供向一个以上的光源提供调光信号的一个以上的电源供应单元； 对于提供的所述一个以上的电源供应单元的电气特性进行第一测试； 检测从所述一个以上的光源发出的光，从而检测所述一个以上的光源的闪烁，并对于依据所述闪烁检测结果的所述一个以上的电源供应单元的状态进行第二测试；以及对于所述第一次测试及所述第二次测试的结果被判定为正常的电源供应单元进行封装。
2.根据权利要求1所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，提供所述一个以上的电源供应单元的步骤包括如下步骤在电路基板上涂布焊膏；利用所述焊膏在所述电路基板上贴装一个以上的芯片元件；以及在预先设定的温度下对于所述焊膏进行回流焊。
3.根据权利要求2所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，所述第一测试步骤包括如下步骤对于构成所述一个以上的电源供应单元的部件检查翘起； 根据所述部件的翘起与否重新焊接所述焊膏；对于附着到重新焊接的所述焊膏上的所述部件进行修整，以消除所述部件的翘起； 对于被贴装到所述电路基板上的一个以上的芯片元件测试电气特性；以及对于所述电路基板测试电气特性。
4.根据权利要求3所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，所述第一测试步骤还包括步骤对于所述一个以上的电源供应单元的消耗电力、输出电流、输出电压、正常动作与否及耐电压中的至少一个进行测试。
5.根据权利要求1所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，所述第二测试步骤中包括如下步骤控制所述一个以上的电源供应单元，以基于调光控制信号向所述一个以上的光源提供调光信号；检测从所述一个以上的光源发出的光；将检测出的所述光转换为电信号并进行信号处理；利用经过信号处理的所述电信号检测所述一个以上的光源的闪烁；以及根据闪烁检测结果，判定所述一个以上的电源供应单元的状态。
6.根据权利要求1所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，在进行所述第二测试步骤之前还包括步骤基于包含老化条件及老化时间的老化信号，在所述老化时间内以所述老化条件对于所述一个以上的电源供应单元进行老化测试。
7.根据权利要求5所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，所述调光控制信号包括针对所述一个以上的电源供应单元的信道信息、将要提供给所述一个以上的光源的调光信号范围、在所述调光信号范围之内将要被调整的调光信号间隔以及将要提供对应于所述调光信号间隔的调光信号的时间周期。
8.根据权利要求7所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，控制所述一个以上的电源供应单元的步骤中，基于所述调光控制信号在所述调光信号范围之内按照所述时间周期调整所述调光信号间隔而向所述一个以上的光源提供调光信号。
9.根据权利要求5所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，所述调光信号包括直流电压信号、脉冲宽度调制信号以及三端双向可控硅开关元件信号中的一个信号。
10.根据权利要求5所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，所述信号处理步骤包括如下步骤将检测出的所述光转换为所述电信号；通过包含于所述电信号的低频信号；将所述低频信号转换为数字信号；以及对于数字信号进行高速傅里叶变换而产生包含交流分量和直流分量的频率信号。
11.根据权利要求10所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，检测所述一个以上的光源的闪烁的步骤包括如下步骤分离包含于所述频率信号中的交流分量及直流分量；计算所述交流分量和直流分量的比率，从而检测所述一个以上的光源的所述闪烁。
12.根据权利要求11所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，根据闪烁检测结果判定所述一个以上的电源供应单元的状态的步骤包括当所述闪烁检测结果为所述交流分量和所述直流分量的比率小于预先设定的临界值时，将所述一个以上的电源供应单元判定为正常；以及当所述闪烁检测结果为所述交流分量和所述直流分量的比率在预先设定的临界值以上时，将所述一个以上的电源供应单元判定为不合格。
13.根据权利要求12所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，还包括步骤对传送到所述一个以上的电源供应单元的所述调光控制信号、所述频率信号、所述闪烁检测结果以及针对所述一个以上的电源供应单元的判定结果进行匹配，从而产生一个以上的结果数据；以及将所述一个以上的结果数据存储在所述存储介质。
14.根据权利要求1所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，在对于经过所述第一测试和第二测试的结果被判定为正常的所述电源供应单元进行封装的步骤之前，还包括步骤对于所述电源供应单元的消耗电力、输出电流、输出电压、正常动作与否以及耐电压中的至少一个进行第三测试。
15.根据权利要求1所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，对于经过所述第一测试和第二测试的结果被判定为正常的电源供应单元进行封装的步骤包括如下步骤利用防静电塑料包装所述电源供应单元；以及以预先设定的单位将包装好的所述电源供应单元放入包含硅胶的包装盒。
16.一种采用根据权利要求1至15中的任一项所述的电源供应单元的制造方法制造出的所述一个以上的电源供应单元的照明装置。
17.一种电源供应单元的制造系统，包括电源供应单元制造设备，用以提供向一个以上的光源提供调光信号的一个以上的电源供应单元；第一测试设备，用以对于提供的所述一个以上的电源供应单元的电气特性进行测试；第二测试设备，检测从所述一个以上的光源发出的光，从而检测所述一个以上的光源的闪烁，并对于依据所述闪烁检测结果的所述一个以上的电源供应单元的状态进行测试； 以及封装设备，对于被所述第一测试设备及所述第二测试设备判定为正常的电源供应单元进行封装。
18.根据权利要求17所述的电源供应单元的制造系统，其特征在于，所述电源供应单元制造设备包括焊膏涂布装置，在电路基板上涂布焊膏；芯片元件贴装装置，利用所述焊膏在所述电路基板上贴装一个以上的芯片元件；以及回流焊装置，在预先设定的温度下对于所述焊膏进行回流焊。
19.根据权利要求18所述的电源供应单元的制造系统，其特征在于，所述第一测试设备包括部件翘起检测装置，对于构成所述一个以上的电源供应单元的部件检查翘起； 微波焊接装置，根据所述部件的翘起与否重新焊接所述焊膏； 焊接修整装置，对于附着到重新焊接的所述焊膏上的所述部件进行修整，以消除所述部件的翘起；元件测试装置，对于被贴装到所述电路基板上的一个以上的芯片元件测试电气特性；以及电路基板测试装置，对于所述电路基板测试电气特性；以及电源供应单元测试装置，对于所述一个以上的电源供应单元的消耗电力、输出电流、输出电压、正常动作与否以及耐电压中的至少一个进行测试。
20.根据权利要求17所述的电源供应单元的制造系统，其特征在于，所述第二测试设备包括光检测�？椋�检测从所述一个以上的光源发出的光； 一个以上的电源供应单元，向所述一个以上的光源提供调光信号； 信号处理�？椋�将检测出的所述光转换为电信号并进行信号处理；以及控制�？椋�基于调光控制信号控制所述一个以上的电源供应单元，并利用经信号处理的所述电信号检测所述一个以上的光源的闪烁，根据闪烁检测结果判定所述一个以上的电源供应单元的状态。
21.根据权利要求17所述的电源供应单元的制造系统，其特征在于，还包括老化测试设备，针对通过所述第一测试被判定为正常的电源供应单元，基于包含老化条件及老化时间的老化信号，在所述老化时间内以所述老化条件对于所述一个以上的电源供应单元进行老化测试。
22.根据权利要求17所述的电源供应单元的制造系统，其特征在于，还包括第三测试设备，用于在对经过所述第一测试和所述第二测试被判定为正常的所述电源供应单元进行封装之前，对于所述电源供应单元的消耗电力、输出电流、输出电压、正常动作与否及耐电压中的至少一个进行测试。
23.一种电源供应单元的闪烁检测装置，包括 光检测模块，检测从一个以上的光源发出的光；信号输入/输出模块，与向所述一个以上的光源提供调光信号的一个以上的电源供应单元连接，以输入和输出信号；信号处理�？椋�将检测出的所述光转换为电信号而进行信号处理；以及控制�？椋�基于调光控制信号控制所述一个以上的电源供应单元，并利用经信号处理的所述电信号检测所述一个以上的光源的闪烁，根据所述闪烁的检测结果判定所述一个以上的电源供应单元的状态。
24.根据权利要求23所述的电源供应单元的闪烁检测装置，其特征在于，所述调光控制信号包括针对所述一个以上的电源供应单元的信道信息、将要提供给所述一个以上的光源的调光信号范围、在所述调光信号范围之内将要被调整的调光信号间隔以及将要提供对应于所述调光信号间隔的调光信号的时间周期。
25.根据权利要求M所述的电源供应单元的闪烁检测装置，其特征在于，所述一个以上的电源供应单元接收所述调光控制信号，并在所述调光信号范围之内按照所述时间周期调整所述调光信号间隔而向所述一个以上的光源提供调光信号。
26.根据权利要求23所述的电源供应单元的闪烁检测装置，其特征在于，所述调光信号包括直流电压信号、脉冲宽度调制信号以及三端双向可控硅开关元件信号中的一个信号。
27.根据权利要求23所述的电源供应单元的闪烁检测装置，其特征在于，所述信号处理�？榘�括信号转换单元，将检测出的所述光转换为所述电信号； 低通滤波器，通过包含于所述电信号的低频信号； 模数转换器，将所述低频信号转换为数字信号；以及高速傅里叶变换单元，对于数字信号进行高速傅里叶变换而产生包含交流分量和直流分量的频率信号。
28.根据权利要求27所述的电源供应单元的闪烁检测装置，其特征在于，所述控制模块包括输入单元，接收关于产生所述调光控制信号所需的信息的输入； 信号接收单元，从所述信号处理�？榻邮账�述频率信号； 信号传送单元，将所述调光控制信号传送给所述一个以上的电源供应单元； 第一控制单元，根据输入的所述信息产生调光控制信号；以及第二控制单元，分离包含于所述频率信号中的所述交流分量和直流分量，计算所述交流分量和直流分量的比率而检测所述一个以上的光源的所述闪烁。
29.根据权利要求观所述的电源供应单元的闪烁检测装置，其特征在于，当所述闪烁检测结果为所述交流分量和所述直流分量的比率小于预先设定的临界值时，所述第二控制单元将所述一个以上的电源供应单元判定为正常；以及当所述闪烁检测结果为所述交流分量和所述直流分量的比率在预先设定的临界值以上时，所述第二控制单元将所述一个以上的电源供应单元判定为不合格。
30.根据权利要求四所述的电源供应单元的闪烁检测装置，其特征在于，所述第二控制单元对传送到所述一个以上的电源供应单元的所述调光控制信号、所述频率信号、所述闪烁检测结果以及针对所述一个以上的电源供应单元的判定结果进行匹配，从而产生一个以上的结果数据，并将一个以上的所述结果数据存储在所述存储介质。
31.根据权利要求30所述的电源供应单元的闪烁检测装置，其特征在于，当通过所述输入单元输入有关于所述一个以上的结果数据的读取命令时，所述第二控制单元将对应于所述读取命令的结果数据从所述存储介质读取出来并显示到画面上。
32.根据权利要求23所述的电源供应单元的闪烁检测装置，其特征在于，所述控制�？榻�包含老化条件及老化时间的老化信号传递给所述一个以上的电源供应单元，以控制所述一个以上的电源供应单元在所述老化时间内以老化条件进行老化测试。
33.根据权利要求23所述的电源供应单元的闪烁检测装置，其特征在于，还包括具备所述一个以上的光源及所述光检测�？榈目翘�。
34.根据权利要求33所述的电源供应单元的闪烁检测装置，其特征在于，所述壳体包括搭载盒，搭载所述一个以上的光源；以及壳体盖，设置在所述搭载盒的上侧，并具备所述光检测�？�。
35.一种采用根据权利要求23至34中的任一项权利要求所记载的所述电源供应单元的闪烁检测装置检测闪烁而被判定为正常的所述一个以上的电源供应单元的照明装置。
36.一种电源供应单元的制造方法，包括如下步骤基于调光控制信号控制向一个以上的光源提供调光信号的一个以上的电源供应单元；检测从所述一个以上的光源发出的光； 将检测出的所述光转换为电信号而进行处理； 利用经信号处理的电信号检测所述一个以上的光源的闪烁；以及根据所述闪烁检测结果判定所述一个以上的电源供应单元的状态。
37.根据权利要求36所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，所述调光信号包括针对所述一个以上的电源供应单元的信道信息、将要提供给所述一个以上的光源的调光信号范围、在所述调光信号范围之内将要被调整的调光信号间隔以及将要提供对应于所述调光信号间隔的调光信号的时间周期。
38.根据权利要求37所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，控制所述一个以上的电源供应单元的步骤中，基于所述调光控制信号在所述调光信号范围之内按照所述时间周期调整所述调光信号间隔而向所述一个以上的光源提供调光信号。
39.根据权利要求36所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，所述调光信号包括直流电压信号、脉冲宽度调制信号以及三端双向可控硅开关元件信号中的一个信号。
40.根据权利要求36所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，所述信号处理步骤，包括如下步骤将检测出的所述光转换为所述电信号； 通过包含于所述电信号的低频信号； 将所述低频信号转换为数字信号；以及对于数字信号进行高速傅里叶变换而产生包含交流分量和直流分量的频率信号。
41.根据权利要求40所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，检测所述一个以上的光源的闪烁的步骤包括如下步骤分离包含于所述频率信号中的交流分量及直流分量；计算所述交流分量和直流分量的比率，从而检测所述一个以上的光源的所述闪烁。
42.根据权利要求41所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，根据闪烁检测结果判定所述一个以上的电源供应单元的状态的步骤包括如下步骤当所述闪烁检测结果为所述交流分量和所述直流分量的比率小于预先设定的临界值时，将所述一个以上的电源供应单元判定为正常；以及当所述闪烁检测结果为所述交流分量和所述直流分量的比率在预先设定的临界值以上时，将所述一个以上的电源供应单元判定为不合格。
43.根据权利要求41所述的电源供应单元的制造方法，其特征在于，还包括步骤 对传送到所述一个以上的电源供应单元的所述调光控制信号、所述频率信号、所述闪烁检测结果以及针对所述一个以上的电源供应单元的判定结果进行匹配，从而产生一个以上的结果数据；以及将一个以上的所述结果数据存储在所述存储介质。
44.根据权利要求36所述的电源供应单元制造方法，其特征在于，还包括步骤基于包含老化条件及老化时间的老化信号在所述老化时间内以老化条件对所述一个以上的电源供应单元进行老化测试。
45.一种采用根据权利要求36至44中的任一项所述的电源供应单元制造方法制造出的所述一个以上的电源供应单元的照明装置。
46.一种控制�？椋�包括输入单元，接收产生调光控制信号所需的信息，该调光控制信号用于控制一个以上的电源供应单元的动作；信号发送单元，将所述调光控制信号发送给所述一个以上的电源供应单元； 信号接收单元，接收与从所述一个以上的光源检测出的光对应的频率信号； 第一控制单元，根据所述输入信息产生所述调光控制信号；以及第二控制单元，利用接收的所述频率信号检测所述一个以上的光源的闪烁，并根据所述闪烁检测结果，测试所述一个以上的电源供应单元。
47.根据权利要求46所述的控制�？椋�其特征在于，所述第二控制单元分离包含于所述频率信号中的交流分量和直流分量，并计算所述交流分量和直流分量的比率，检测所述一个以上的光源的所述闪烁。
48.根据权利要求47所述的控制�？椋�其特征在于，当所述闪烁检测结果为所述交流分量和所述直流分量的比率小于预先设定的临界值时，所述第二控制单元将所述一个以上的电源供应单元判定为正常；当所述闪烁检测结果为所述交流分量和所述直流分量的比率在预先设定的临界值以上时，所述第二控制单元将所述一个以上的电源供应单元判定为不合格。
全文摘要
本发明涉及一种电源供应单元的制造系统和制造方法以及闪烁检测方法。根据本发明的实施例的电源供应单元的制造方法包括如下步骤提供向一个以上的光源提供调光信号的一个以上的电源供应单元；对于提供的所述一个以上的电源供应单元的电气特性进行第一测试；检测从所述一个以上的光源发出的光，从而检测所述一个以上的光源的闪烁，并对于依据所述闪烁检测结果的所述一个以上的电源供应单元的状态进行第二测试；以及，对于所述第一次测试及所述第二次测试的结果被判定为正常的电源供应单元进行封装。
文档编号G01R31/40GK102565721SQ20111043903
公开日2012年7月11日 申请日期2011年12月12日 优先权日2010年12月10日
发明者康规喆, 李喆浩, 秋钟杨, 裴振祐, 金镇圣 申请人:三星Led株式会社