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专利名称：高副式芯棒测量器的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种高副式芯棒测量器。
背景技术：
双燕尾类尺寸检测专用测量仪，见图1-3，包括移动芯棒2'、测量芯棒1'、底板 4'和面板3'，所述面板3'和底板4'均是长方体结构，所述面板3'固定在所述底板4' 上，所述面板3'上开有长条状的滑移槽5'，所述滑移槽5'的两端是圆弧结构；所述底板 4'在滑移槽5'的一端下方的位置开有一与光孔6'，所述光孔6'与底板4'上面积大的一面垂直，所述测量芯棒1'穿过滑移槽5'过渡配合安装在光孔6'内；所述移动芯棒2' 可移动的安装在滑移槽5'内。该种双燕尾类尺寸检测专用测量仪在检测双燕尾类形状零件的尺寸过程中应用较广，检测精度也较高，但由于移动芯棒2'与底板4'接触面呈面接触，使两者之间的摩擦力较大，在用量具移动芯棒2'时，所用的测量力较大，而导致检测过程中检测精度有所降低。
发明内容为解决用双燕尾类尺寸检测专用测量仪在测量过程中的精度降低的问题，本实用新型提供了一种测量精度高的高副式芯棒测量器。本实用新型的技术方案高副式芯棒测量器，包括移动芯棒、测量芯棒、底板和面板，所述面板和底板均是长方体结构，所述面板固定在所述底板上，所述面板上开有长条状的滑移槽，所述滑移槽的两端是圆弧结构；所述底板在滑移槽的一端下方的位置开有一与光孔，所述光孔与底板上面积大的一面垂直，所述测量芯棒穿过滑移槽过渡配合安装在光孔内；所述移动芯棒可移动的安装在滑移槽内，其特征在于所述移动芯棒与底板接触端是球形状。进一步，所述光孔是铰孔。进一步，所述面板和底板通过圆柱销固定连接。本实用新型的面板和底板的各面有一定的平面度和粗糙度要求，并且各对应面有一定的平行度要求。底板上的光孔与底板上面积大的一面有一定的垂直度要求，并且为铰孔，有一定的粗糙度和圆度误差；与相应规格要求的测量芯棒为其过渡配合，这样，测量芯棒的测量圆面与底板能达到相应规格的垂直要求。移动芯棒与底面的上表面也有一定的垂直度要求，移动芯棒与底板接触端是球形状，使得其底板接触面的接触形式是点接触的高副接触，从而能降低在检测过程中的滑移移动芯棒时的测量力，能进一步提高检测精度。在测量过程中，只要把双燕尾之类形状的零件平放在本实用新型所述的高副式芯棒测量器的面板上，先把其中一面接触到测量芯棒处，再把移动芯棒通过面板中的滑移槽移至到燕尾的另一面接触，用量具测量出燕尾的实际尺寸，同时也可以检测出燕尾各形面与基准面的垂直度误差值(用塞尺检测两接触面的间隙即可)。使用本实用新型测量时，双芯棒的端面与芯棒测量圆面之间的垂直度与双燕尾之类形状的零件尺寸测量没有联系，在检测双燕尾之类形状零件时，只要测量移动芯棒的测量圆面外端到测量芯棒的测量圆面外端的距离即可；同时，由于双芯棒都插入在面板之中， 其自由度受到了控制，改变了浮动检测问题；移动芯棒与底板的点接触，降低在检测过程中的滑移移动芯棒时的测量力，能进一步提高检测精度。本实用新型的有意效果测量尺寸精度高，且结构简单合理，使用方便。
图1是双燕尾类尺寸检测专用测量仪的俯视图。图2是双燕尾类尺寸检测专用测量仪沿图1中A-A向的剖视图。图3是双燕尾类尺寸检测专用测量仪沿图1中B-B向的剖视图。图4是本实用新型的俯视图。图5是本实用新型沿图4中C-C向的剖视图。图6是本实用新型沿图4中D-D向的剖视图。图7是本实用新型测量过程示意图。
具体实施方式
参照图4-6，高副式芯棒测量器，包括移动芯棒2、测量芯棒1、底板4和面板3，所述面板3和底板4均是长方体结构，所述面板3固定在所述底板4上，所述面板3上开有长条状的滑移槽5，所述滑移槽5的两端是圆弧结构；所述底板4在滑移槽5的一端下方的位置开有一与光孔6，所述光孔与底板4上面积大的一面垂直，所述测量芯棒1穿过滑移槽5 过渡配合安装在光孔6内；所述移动芯棒2可移动的安装在滑移槽5内，所述移动芯棒2与底板4接触端是球形状。所述光孔6是铰孔。所述面板3和底板4通过圆柱销7固定连接。本实用新型的面板3和底板4的各面有一定的平面度和粗糙度要求，并且各对应面有一定的平行度要求。底板4上的光孔6与底板4上面积大的一面有一定的垂直度要求， 并且为铰孔，有一定的粗糙度和圆度误差；与相应规格要求的测量芯棒1为其过渡配合，这样，测量芯棒1的测量圆面与底板能达到相应规格的垂直要求。移动芯棒2与底面4的上表面也有一定的垂直度要求，移动芯棒2与底板4接触端是球形状，使得其与底板4接触面的接触形式是点接触的高副接触，从而能降低在检测过程中的滑移移动芯棒2时的测量力，能进一步提高检测精度。在测量过程中，见图7，只要把双燕尾之类形状的零件8平放在本实用新型所述的高副式芯棒测量器的面板3上，先把其中一面接触到测量芯棒1处，再把移动芯棒2通过面板3中的滑移槽5移至到燕尾的另一面接触，用量具测量出燕尾的实际尺寸，同时也可以检测出燕尾各形面与基准面的垂直度误差值(用塞尺检测两接触面的间隙即可)。使用本实用新型测量时，双芯棒的端面与芯棒测量圆面之间的垂直度与双燕尾之类形状的零件尺寸测量没有联系，在检测双燕尾之类形状零件时，只要测量移动芯棒2的测量圆面外端到测量芯棒1的测量圆面外端的距离即可；同时，由于双芯棒都插入在面板之中，其自由度受到了控制，改变了浮动检测问题；移动芯棒2与底板4的点接触，降低在检测过程中的滑移移动芯棒2时的测量力，能进一步提高检测精度。 本说明书实施例所述的内容仅仅是对实用新型构思的实现形式的列举，本实用新型的保护范围的不应当被视为仅限于实施例所陈述的具体形式，本实用新型的保护范围也及于本领域技术人员根据本实用新型构思所能够想到的等同技术手段。
权利要求1.高副式芯棒测量器，包括移动芯棒、测量芯棒、底板和面板，所述面板和底板均是长方体结构，所述面板固定在所述底板上，所述面板上开有长条状的滑移槽，所述滑移槽的两端是圆弧结构；所述底板在滑移槽的一端下方的位置开有一与光孔，所述光孔与底板上面积大的一面垂直，所述测量芯棒穿过滑移槽过渡配合安装在光孔内；所述移动芯棒可移动的安装在滑移槽内，其特征在于所述移动芯棒与底板接触端是球形状。
2.根据权利要求1所述的高副式芯棒测量器，其特征在于所述光孔是铰孔。
3.根据权利要求1或2所述的高副式芯棒测量器，其特征在于所述面板和底板通过圆柱销固定连接。
专利摘要高副式芯棒测量器，包括移动芯棒、测量芯棒、底板和面板，所述面板和底板均是长方体结构，所述面板固定在所述底板上，所述面板上开有长条状的滑移槽，所述滑移槽的两端是圆弧结构；所述底板在滑移槽的一端下方的位置开有一与光孔，所述光孔与底板上面积大的一面垂直，所述测量芯棒穿过滑移槽过渡配合安装在光孔内；所述移动芯棒可移动的安装在滑移槽内，所述移动芯棒与底板接触端是球形状。本实用新型的有意效果测量尺寸精度高，且结构简单合理，使用方便。
文档编号G01B5/02GK202066457SQ20112010342
公开日2011年12月7日 申请日期2011年4月11日 优先权日2011年4月11日
发明者冯刚 申请人:浙江工业职业技术学院