专利名称：一种智能卡的极限测试装置及测试方法
ー种智能卡的极限测试装置及测试方法技术领域：
本发明属于智能卡测试技术领域，尤其涉及ー种智能卡的极限测试装置及测试方法。背景技木
目前，在智能卡行业内，对智能卡进行各项极限测试通常都是采用专用的仪器设备，这些设备通常功能齐全，但价格非常昂贵，普及应用较难，而且使用也很复杂，操作不方便，尤其在进行ー些简单的极限电压和极限电流等单项功能测试中极其不方便。
发明内容
为了解决现有技术中存在的上述技术问题，本发明提供了一种可与万用表结合使用，完成智能卡的极限电流和极限电压测试，操作简单、容易、轻松，而且本极限测试装置结构简单、成本低，大大降低了智能卡的测试费用，易于推广普及应用的智能卡的极限测试装置及测试方法。本发明解决现有技术问题所采用的技术方案为
ー种智能卡的极限测试装置，包括有
ー用于连接终端的第一智能卡座；
ー用于放置待测智能卡的 第二智能卡座；
以及ー用于在本装置对待测智能卡进行极限电流测试和极限电压测试过程中调整自身电阻值，进而改变待测智能卡的电流或电压的可调电阻；
所述第一智能卡座和第二智能卡座之间的RST管脚、CLK管脚、GND管脚和IO管脚对应导通连接，所述可调电阻包括有第一接线端Jl、第二接线端J3和滑动接线端J2，所述第一接线端Jl与所述第一智能卡座的GND管脚导通连接，所述滑动接线端J2与所述第二智能卡座的VCC管脚导通连接，所述第一智能卡座还设有第三接线端J4，所述第三接线端J4与所述第一智能卡座的VCC管脚导通连接。进ー步地，所述可调电阻的阻值范围为IkQ IOkQ。ー种基于本发明所述智能卡的极限测试装置的极限电流测试方法，包括有以下步骤。a.将可调电阻的滑动连接端J2滑动到靠近第二连接端J3 —侧，并通过跳线将滑动连接端J2与第二连接端J3短接；
b.将万用表调整至电流档，并将其连接在第二连接端J3与第三连接端J4之间；
c.将待测智能卡插入第二智能卡座内，并用软连线将終端与第一智能卡座导通连接；
d.終端正�？螅鸩较虻谝涣佣薐l一侧调节可调电阻的滑动连接端J2，同时记录电流值，直到终端显示待测智能卡异常。ー种基于本发明所述智能卡的极限测试装置的极限电压测试方法，包括有以下步骤
a.将可调电阻的滑动连接端J2滑动到靠近第二连接端J3—侧，并通过跳线将第二连接端J3与第三连接端J4短接；
b.将万用表调整至电压档，并将其连接在第一连接端Jl与滑动连接端J2之间；C.将待测智能卡插入第二智能卡座内，并用软连线将終端与第一智能卡座导通连接；。d.終端正�？螅鸩较虻谝涣佣薐l 一侧调节可调电阻的滑动连接端J2，使待测智能卡的电压逐渐降低，直到终端显示待测智能卡异常。本发明的有益效果如下
本发明通过上述技术方案，用户只需通过本发明所述智能卡的极限测试装置与万用表结合使用，完成智能卡的极限电流和极限电压测试，操作简单、容易、轻松，而且本极限测试装置结构简单、成本低，大大降低了智能卡的测试费用，易于推广普及应用。
图1是本发明所述智能卡的极限测试装置实施例的结构示意 图2是ー种基于本发明所述智能卡的极限测试装置的极限电流测试方法的流程 图3是ー种基于本发明所述智能卡的极限测试装置的极限电压测试方法的流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一歩详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
如图1中所示
本发明实施例提供了ー种智能卡的极限测试装置，包括有ー用于连接终端的第一智能卡座1、ー用于放置待测智能卡的第二智能卡座2，以及ー用于在本装置对待测智能卡进行极限电流测试和极限电压测试过程中调整自身电阻值，进而改变待测智能卡的电流或电压的可调电阻3 ;其中，所述第一智能卡座I和第二智能卡座2之间的RST管脚、CLK管脚、GND管脚和IO管脚对应导通连接，所述可调电阻3的阻值范围为IkQ IOk Q，包括有第一接线端J1、第二接线端J3和滑动接线端J2，所述第一接线端Jl与第一智能卡座I的GND管脚导通连接，所述滑动接线端J2与第二智能卡座2的VCC管脚导通连接，所述第一智能卡座I还设有第三接线端J4，所述第三接线端J4与第一智能卡座I的VCC管脚导通连接。如图2中所示
本发明提供了ー种基于本发明所述智能卡的极限测试装置的极限电流测试方法，包括有以下步骤
步骤Al.将可调电阻3的滑动连接端J2滑动到靠近第二连接端J3—侧，并通过跳线将滑动连接端J2与第二连接端J3短接。步骤A2.将万用表调整至电流档，并将其连接在第二连接端J3与第三连接端J4之间。步骤A3.将待测智能卡插入第二智能卡座2内，并用软连线将終端与第一智能卡座I导通连接。步骤A4.終端正常开机后，逐步向第一连接端Jl 一侧调节可调电阻3的滑动连接端J2，同时记录电流值，直到终端显示待测智能卡异常。如图3中所示
本发明还提供了ー种基于本发明所述智能卡的极限测试装置的极限电压测试方法，包括有以下步骤 步骤B1.将可调电阻3的滑动连接端J2滑动到靠近第二连接端J3 —侧，并通过跳线将第二连接端J3与第三连接端J4短接。步骤B2.将万用表调整至电压档，并将其连接在第一连接端Jl与滑动连接端J2之间。步骤B3.将待测智能卡插入第二智能卡座2内，并用软连线将終端与第一智能卡座I导通连接。步骤B4.終端正�？螅鸩较虻谝涣佣薐l 一侧调节可调电阻3的滑动连接端J2，使待测智能卡的电压逐渐降低，直到终端显示待测智能卡异常。这样，用户只需通过本发明所述智能卡的极限测试装置与万用表结合使用，完成智能卡的极限电流和极限电压测试，即通过本智能卡的极限测试装置将待测智能卡与终端连接在起，通过万用表来测试待测智能卡VCC端上的电压，或终端输出的最大电流；测试过程通过调整可调电阻3，逐渐降低待测智能卡的电压，以测试待测智能卡在异常低电压下是否会出现异常及损坏；也通过调整可调电阻3，逐渐提高终端的电流输出，以测试待测智能卡能从終端可获取的最大极限电流，操作简单、容易、轻松，而且本极限测试装置结构简単、成本低，大大降低了智能卡的测试费用，易于推广普及应用。以上内容是结合具体的优选技术方案对本发明所作的进ー步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。
权利要求
1.ー种智能卡的极限测试装置，其特征在于，包括有 ー用于连接终端的第一智能卡座(I); ー用于放置待测智能卡的第二智能卡座(2)； 以及ー用于在本装置对待测智能卡进行极限电流测试和极限电压测试过程中调整自身电阻值，进而改变待测智能卡的电流或电压的可调电阻(3)； 所述第一智能卡座(I)和第二智能卡座(2)之间的RST管脚、CLK管脚、GND管脚和IO管脚对应导通连接，所述可调电阻(3)包括有第一接线端J1、第二接线端J3和滑动接线端J2，所述第一接线端Jl与所述第一智能卡座(I)的GND管脚导通连接，所述滑动接线端J2与所述第二智能卡座(2)的VCC管脚导通连接，所述第一智能卡座(I)还设有第三接线端J4，所述第三接线端J4与所述第一智能卡座(I)的VCC管脚导通连接。
2.根据权利要求1所述的智能卡的极限测试装置，其特征在于，所述可调电阻(3)的阻值范围为IkQ IOkQ。
3.ー种基于权利要求1或2所述智能卡的极限测试装置的极限电流测试方法，其特征在于，包括有以下步骤 a.将可调电阻(3)的滑动连接端J2滑动到靠近第二连接端J3—侧，并通过跳线将滑动连接端J2与第二连接端J3短接； b.将万用表调整至电流档，并将其连接在第二连接端J3与第三连接端J4之间； c.将待测智能卡插入第二智能卡座(2)内，并用软连线将終端与第一智能卡座(I)导通连接； d.終端正�？螅鸩较虻谝涣佣薐l一侧调节可调电阻(3)的滑动连接端J2，同时记录电流值，直到终端显示待测智能卡异常。
4.ー种基于权利要求1或2所述智能卡的极限测试装置的极限电压测试方法，其特征在于，包括有以下步骤 a.将可调电阻(3)的滑动连接端J2滑动到靠近第二连接端J3—侧，并通过跳线将第ニ连接端J3与第三连接端J4短接； b.将万用表调整至电压档，并将其连接在第一连接端Jl与滑动连接端J2之间； c.将待测智能卡插入第二智能卡座(2)内，并用软连线将終端与第一智能卡座(I)导通连接。
5.d.終端正�？螅鸩较虻谝涣佣薐l 一侧调节可调电阻(3)的滑动连接端J2，使待测智能卡的电压逐渐降低，直到终端显示待测智能卡异常。
全文摘要
本发明提供了一种智能卡的极限测试装置及测试方法，该装置包括第一智能卡座、第二智能卡座和可调电阻，所述第一智能卡座和第二智能卡座之间的RST管脚、CLK管脚、GND管脚和IO管脚对应导通连接，所述可调电阻包括第一接线端J1、第二接线端J3和滑动接线端J2，第一接线端J1与第一智能卡座的GND管脚导通连接，滑动接线端J2与第二智能卡座的VCC管脚导通连接，第一智能卡座还设有第三接线端J4，第三接线端J4与第一智能卡座的VCC管脚导通连接。用户只需通过本装置与万用表结合使用，完成智能卡的极限电流和极限电压测试，操作简单、容易、轻松，且本装置结构简单、成本低，降低了智能卡的测试费用，易于推广普及应用。
文档编号G01R31/30GK103064007SQ201210578300
公开日2013年4月24日 申请日期2012年12月27日 优先权日2012年12月27日
发明者曾华新, 黄小鹏, 施伟周 申请人:东信和平科技股份有限公司
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