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专利名称：屏蔽盖检具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及エ件尺寸检验工具技术领域，特别是涉及ー种屏蔽盖检具。
背景技术：
目前，在对屏蔽盖或者具有两个孔以上的类似エ件是否合格进行检验时，采用的检验设备主要是三次元，此类设备在检验屏蔽盖或类似エ件时需要按以下步骤操作1、将エ件固定在三次元检验平台上，确保エ件在检验过程中不会移动和晃动。2、建立基准点、基准线、基准平面，用于确认エ件的摆放位置。3、操作三次元上探针移动手柄，并从待检验的孔内壁取3 4个点用于构成ー个圆，并以此确认该圆的坐标位 置。4、按上述第3点操作方法把其它所有圆孔全部检验完成。5、最后根据检验后产品的实际数据和图纸提供的理论数据比较。至此，可判断エ件上的孔位是否有偏差。上述三次元检验设备检验エ件的主要缺陷是检验时间长，检验投入成本高，检验环境要求高，不能实现エ件的大批量检验。造成上述问题的原因有以下几个方面I、三次元设备本身属高精密度检验设备，检验用探针很容易损坏，操作过程中要特别小心。2、三次元检验原理需要根据构成エ件的几何形状进行创建，并且要等检验原理创建完成后才可以检验エ件，此步骤所花费的时间很长。3、三次元设备造价很高(达到15 25万RMB/台)，并且设备内的零件精密度很高，必须要有良好的作业环境(防尘、防震、防潮、防高温、防低温)，这些都需要投入专用的资金用于维护设备的有效运行。4、设备保养维修困难。在大批量检验エ件的过程中，虽然三次元能够做到精确測量，但是由于其购置成本高、检验时间长、检验效率低、对操作人员专业素质要求高的问题会制约エ件的大批量生产，因此，人们迫切希望一种购置成本低、检验效率高、操作简单、环境适应能力强的屏蔽盖检具问世。
发明内容本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的三次元检验设备购置成本高、检验时间长、检验效率低、对操作人员专业素质要求高的缺陷，满足人们的愿望，提供一种屏蔽盖检具，这种屏蔽盖检具购置成本低、检验效率高、操作简单、环境适应能力強。本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是屏蔽盖检具，包含ー块底板，在底板上设置有A定位针、B定位针和多根圆柱形镶针，A定位针设置在底板上表面左前角或左后角位置，B定位针设置在底板上表面右后角或右前角位置，多根圆柱形镶针分别设置在底板上表面符合检具标准的相应位置。在上述技术方案中，所述A定位针和B定位针分别呈圆柱形。优选的，A定位针设置在底板上表面左前角位置，B定位针设置在底板上表面右后角位置。进ー步的，每两根圆柱形镶针之间相距一定距离。本实用新型的有益效果是该屏蔽盖检具在制作和使用过程中，具有以下优点
I、该屏蔽盖检具制作エ艺简单，使用的材料易得。主要使用45#钢和CR12钢材，采用磨床加工和线切割加工エ艺制作完成。2、由于第I点原因，该屏蔽盖检具的制作成本就会很低，约500RMB/件。3、该屏蔽盖检具对于存放和工作地点的环境要求不高，不需要采取特殊的防尘、防高温、防低温、防震动的措施，即可对エ件进行检验。因为使用的材料和设备结构都可以在比较恶劣的环境中使用而不会失效。4、该屏蔽盖检具操作方法简单，操作人员不需要经过专业的培训，即可使用该屏蔽盖检具对エ件进行检验。5、使用该屏蔽盖检具对エ件进行检验，检验结果很容易判断，不需要通过数据对比即可得出エ件是否合格的结论。

图I是本实用新型的俯视图；图2是本实用新型的立体结构示意图；图3是本实用新型在检验待检验エ件时的使用状态图。图I至图3中的附图标记说明1——底板；2——A定位针；3——B定位针；4——圆柱形键针；5 待检验エ件；6 A基准孔；7 B基准孔；8 待检验孔。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本实用新型作进ー步详细的说明，并不是把本实用新型的实施范围局限于此。如图I和图2所示，本实施例所述的ー种屏蔽盖检具，包含一块底板1，在底板I上设置有A定位针2、B定位针3和多根圆柱形镶针4，A定位针2设置在底板I上表面左前角位置，B定位针3设置在底板I上表面右后角位置，多根圆柱形镶针4分别设置在底板I上表面符合检具标准的相应位置上，所述A定位针2和B定位针3分别呈圆柱形，每两根圆柱形镶针4之间相距一定距离。本文中的方位“左” “右”以图I为參考方向，其中以图I的下方为“前”，上方为“后”。作为另ー个优选方式，A定位针2设置在底板I上表面左后角位置，B定位针3设置在底板I上表面右前角位置。如图3所示，在待检验エ件5上设置有A基准孔6、B基准孔7和多个待检验孔8，A基准孔6设置在待检验エ件5左前角位置，B基准孔7设置在待检验エ件5右后角位置，根据待检验エ件5的设计要求，多个待检验孔8分别设置在待检验エ件5的相应位置上。当使用本实施例检验待检验エ件5时，把该屏蔽盖检具平放在桌面上，即把底板I平放在桌面上，A定位针2、B定位针3和多根圆柱形镶针4朝上，再把待检验エ件5放在该屏蔽盖检具上，在放待检验エ件5的过程中，要使A定位针2对准A基准孔6、B定位针3对准B基准孔7、多根圆柱形镶针4与多个待检验孔8对应分别一一对准，由于该屏蔽盖检具是针对待检验エ件5的结构设计的，即A定位针2在底板I上所处的位置与A基准孔6在待检验エ件5上所处的位置对应，B定位针3在底板I上所处的位置与B基准孔7在待检验エ件5上所处的位置对应，多根圆柱形镶针4分别在底板I上所处的位置与多个待检验孔8分别在待检验エ件5上所处的位置都分别一一对应，所以，当待检验エ件5可套入该屏蔽盖检具，就可判断此待检验エ件5所有待检验孔8的尺寸合格，则该待检验エ件5检验合格。如果该待检验エ件5上有ー个以上的待检验孔8其位置有偏差时，该待检验エ件5就不能放入该屏蔽盖检具，此时，可判断该待检验エ件5的待检验孔8孔位尺寸不合格，则该待检验エ件5检验不合格。该屏蔽盖检具可用于快速检验屏蔽盖类(或者是具有两个孔以上的类似エ件)所有孔与孔之间的相对位置，以及所有孔的定型尺寸。并且能够有效的保证检验合格后的エ件能够与电路板(或者本身需要装配的エ件)很好的装配。以上所述仅是本实用新型的一个较佳的实施例，故凡依本实用新型专利申请范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均包含在本实用新型专利申请的保护范围内。
权利要求1.屏蔽盖检具，包含一块底板(I)，其特征在于在底板(I)上设置有A定位针(2)、B定位针(3)和多根圆柱形镶针(4)，A定位针(2)设置在底板(I)上表面左前角或左后角位置，B定位针(3)设置在底板(I)上表面右后角或右前角位置，多根圆柱形镶针(4)分别设置在底板(I)上表面符合检具标准的相应位置。
2.根据权利要求I所述的屏蔽盖检具，其特征在于所述A定位针(2)和B定位针(3)分别呈圆柱形。
3.根据权利要求I或2所述的屏蔽盖检具，其特征在于A定位针(2)设置在底板(I)上表面左前角位置，B定位针(3)设置在底板(I)上表面右后角位置。
4.根据权利要求I所述的屏蔽盖检具，其特征在于每两根圆柱形镶针(4)之间相距一定距离。
专利摘要屏蔽盖检具，属于工件尺寸检验工具领域。现有技术的三次元检验设备购置成本高、检验时间长、检验效率低、对操作人员专业素质要求高。本实用新型包含一块底板，在底板上设置有A定位针、B定位针和多根圆柱形镶针，A定位针设置在底板上表面左前角或左后角位置，B定位针设置在底板上表面右后角或右前角位置，多根圆柱形镶针分别设置在底板上表面符合检具标准的相应位置上，A定位针和B定位针分别呈圆柱形，每两根圆柱形镶针之间相距一定距离。本实用新型作为屏蔽盖检具，可用于快速检验屏蔽盖或者具有两个孔以上的类似工件所有孔与孔之间的相对位置以及所有孔的定型尺寸是否合格，并且能够有效的保证检验合格后的工件能够与电路板很好的装配。
文档编号G01B5/14GK202452932SQ201120562049
公开日2012年9月26日 申请日期2011年12月29日 优先权日2011年12月29日
发明者杨廷建 申请人:东莞市建升压铸科技有限公司