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专利名称：大平片光谱测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及用于物质成分分析的光谱仪器领域，具体讲就是涉及一种可以对大尺寸样品小通光孔进行垂直测试的大平片光谱测试仪。
背景技术：
大平片光谱测试仪的基本工作原理是溶液中的物质在光的照射激发下，产生了对光的吸收效应，物质对光的吸收是具有选择性的，各种不同的物质都具有其各自的吸收光谱，因此当某单色光通过溶液时，其能量就会被吸收而减弱，光能量减弱的程度和物质的浓 度有一定的比例关系，大平片光谱测试仪就是利用这一原理来对被分析样品和标样光强度的对比来分析物质成分的。大平片光谱测试仪在农产品、食品、卫生、医药、化工、人民生活等各个领域都有着广泛的应用，是现代工业、农业、科学研究不可缺少的分析仪器。大平片光谱测试仪基本结构由光源、单色器、样品室、光电检测装置和信号指示装置五部分组成。大平片光谱测试仪有一个超大样品室是放置被检测样品的地方，传统的测试仪器样品室体积较小，一旦待测试样品为板型样品时，样品只能竖立在测试平台上，不利于样品的定位，严重地的影响了测试精度和测试准确性，如果需要测试尺寸大于80mmX IOOmm的样品时，还需要将大块样品进行破坏，裁剪成小于80mmX IOOmm的尺寸才能测试，操作复杂，无法测试尺寸较大且不允许破坏的样品。同时目前传统的测试仪器在测试过程中，测试光斑较大，不适用于现有越来越多科学技术领域对测试光斑的要求。

实用新型内容本实用新型的目的提供一种大平片光谱测试仪，通过对传统测试仪器中光路传输方向的改变，同时设计了超大的样品室，以及可选择不同大小的四档测试光斑，缩小测试光斑，实现了大尺寸待测样品的小通光孔测试，使待测样品可以直接放在工作台上测试，保证了测试精度和测试准确性，操作简便，又可以不破坏测试样品，节约了成本。技术方案为了实现上述的技术目的，本实用新型设计一种大平片光谱测试仪，包括外壳、底板、光源灯室、单色器、出射光狭缝组件、入射光狭缝组件、样品室、检测装置、测试平台、按键、显示器、仪器面板和通讯接口，所述光源灯室装在底板内，底板上光源灯室下方装有单色器，出射光出狭缝组件和入射光狭缝组件分别安装在单色器底座上互成90°垂直的相邻二侧面上，样品室装在底板的右侧，检测装置和测试平台都设置在样品室内，外壳罩在底板上，外壳的正面上还设有仪器面板，仪器面板上设有显示器和按键，外壳后侧下部设有通讯接口，其特征在于所述出射光狭缝组件和入射光狭缝组件各有四组狭缝，光谱带宽依次分别为3nm、5nm、6. 6nm、IOnm0[0010]所述外壳由工程塑料制成。所述底板由2. Omm钣金材料制成。所述光源灯室中光源为钨灯。所述样品室由I. Omm钣金材料制成,尺寸规格为300mmX400mm。有益效果本实用新型大平片光谱测试仪进行了新的设计，单色光经透镜再经45°的反射镜将单色光垂直穿透过样品再射到光电接收器，从而实现了样品可以直接平放在放在工作台上进行测试，确保了小孔径样品的定位，同时采用可调狭缝，减小了测试光斑，实现对大尺寸样品小通光孔进行垂直测试，保证了测试精度和准确性。

附图I是实用新型的立体结构图。附图2是本实用新型的俯视方向示意图。附图3是本实用新型的外形示意图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例，对本实用新型做进一步说明。如附图1、2和3所示，一种大平片光谱测试仪，包括工程塑料制成的外壳1、2. Omm钣金材料制成底板2、光源灯室3、单色器4、出射光狭缝组件5、入射光狭缝组件6、样品室7、检测装置8、测试平台9、按键10、显示器11、仪器面板12和通讯接口 13，所述光源灯室3装在底板2内，底板2上光源灯室3下方装有单色器4，出射光出狭缝组件5和入射光狭缝组件6分别安装在单色器4底座上互成90°垂直的相邻二侧面上，样品室7装在底板2的右侧，检测装置80和测试平台90都设置在样品室7内，外壳I罩在底板2上，外壳I的正面上还设有仪器面板12，仪器面板12上设有显示器11和按键10，外壳I后侧下部设有通讯接口 13，其特征在于所述出射光狭缝组件5和入射光狭缝组件6各有四组狭缝，光谱带宽依次分别为3nm、5nm、6. 6nm、IOnm0所述光源灯室3中光源为钨灯。所述超大样品室由I. Omm钣金材料制成,尺寸规格为300mmX400mm。首先启动大平片光谱测试仪，预热20分钟后仪器自动自检完毕，接着开启控制系统，联机工作，仪器狭缝位置调至光谱带宽为3nm，成像光斑小于直径Imm位置，建立基线，根据需要输入波长范围，波长自动回到540nm;打开样品室盖，将样品的通光孔对准光斑，仪器扫描，通过显示器11即得测量结果。本实用新型大平片光谱测试仪进行了新的设计，单色光经透镜再经45°的反射镜将单色光垂直穿透过样品再射到光电接收器，从而实现了样品可以直接平放在放在工作台上进行测试，确保了小孔径样品的定位，同时采用可调狭缝，减小了测试光斑，实现对大尺寸样品小通光孔进行垂直测试，保证了测试精度和准确性。
权利要求1.一种大平片光谱测试仪，包括外壳(I)、底板(2)、光源灯室(3)、单色器(4)、出射光狭缝组件(5)、入射光狭缝组件(6)、样品室(7)、检测装置(8)、测试平台(9)、按键(10)、显示器(11)、仪器面板(12)和通讯接ロ(13)，所述光源灯室(3)装在底板(2)内，底板(2)上光源灯室(3)下方装有単色器(4)，出射光出狭缝组件(5)和入射光狭缝组件(6)分别安装在单色器(4)底座上互成90°垂直的相邻ニ侧面上，样品室(7)装在底板(2)的右侧，检测装置⑶和测试平台(9)都设置在样品室(7)内，外壳⑴罩在底板(2)上，外壳⑴的正面上还设有仪器面板(12)，仪器面板(12)上设有显示器(11)和按键(10)，外壳(I)后侧下部设有通讯接ロ(13)，其特征在干 所述出射光狭缝组件(5)和入射光狭缝组件(6)各有四组狭缝，光谱带宽依次分别为3nm、5nm、6. 6nm、IOnm0
2.如权利要求I所述的ー种大平片光谱测试仪，其特征在于所述外壳(I)由工程塑料制成。
3.如权利要求I所述的ー种大平片光谱测试仪，其特征在干所述底板(2)由2.Omm钣金材料制成。
4.如权利要求I所述的ー种大平片光谱测试仪，其特征在干所述光源灯室(3)中光源为鹤灯。
5.如权利要求I所述的ー种大平片光谱测试仪，其特征在于所述样品室由I.Omm钣金材料制成，尺寸规格为300mmX400mm。
专利摘要一种大平片光谱测试仪，包括外壳(1)、底板(2)、光源灯室(3)、单色器(4)、出射光狭缝组件(5)、入射光狭缝组件(6)、样品室(7)、检测装置(8)、测试平台(9)、按键(10)、显示器(11)、仪器面板(12)和通讯接口(13)，其特征在于所述出射光狭缝组件(5)和入射光狭缝组件(6)各有四组狭缝，光谱带宽依次分别为3nm、5nm、6.6nm、10nm。本实用新型通过对传统大平片光谱测试仪中光路传输方向的改变，缩小测试光斑，实现了大尺寸待测样品的小通光孔测试，使待测样品可以直接放在工作台上测试，保证了测试精度和测试准确性，操作简便，又可以不破坏测试样品，节约了成本。
文档编号G01N21/31GK202512054SQ20122011605
公开日2012年10月31日 申请日期2012年3月23日 优先权日2012年3月23日
发明者冯迈东 申请人:上海欣茂仪器有限公司