专利名称：一种轴直径检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及工艺检测领域，更具体涉及一种轴直径检测装置，适用于工艺检测过程中对轴直径的测量。
背景技术：
目前主要的轴直径检测装置包括手动数显轴颈检测装置和自动接触检测装置。手动数显轴直径检测装置通过电感位移变送器对被测轴进行测量、该检测装置由数显显示测量结果，直观。但因由人工手提操作并且采用接触式测量，所以存在重复性和精度难以保证、测量效率不高等缺点。自动接触检测装置采用在线式测量方式、测量过程均由设备自动完成、测量效率高、测量重复性及测量精度也较高，但采用接触式测量长时间使用存在检测装置磨损、造成测量尺寸不是要求测量截面直径等问题，使用稳定性较差。
实用新型内容本实用新型的目的是针对现有技术存在的上述缺点，提供了一种轴直径检测装置，采用非接触式测量方式，测量过程无磨损且精度高。为了实现上述的目的，本实用新型采用以下技术方案一种轴直径检测装置，包括定位台、定位孔、第一检测�？�、第二检测�？楹涂刂颇？椋糜诙员徊庵峤卸ㄎ坏亩ㄎ豢咨柚迷诙ㄎ惶ㄉ希谝患觳饽？楹偷诙觳饽？樯柚迷诙ㄎ惶ㄉ喜⒎直鹕柚迷诙ㄎ豢琢讲啵刂颇？榉直鹩氲谝患觳饽？楹偷诙觳饽？榱印Ｈ缟纤龅牡谝患觳饽？榘ǖ谝环⑸淠？楹陀糜诮邮盏谝环⑸淠？榉⑸涞牡谝黄叫屑す馐牡谝唤邮漳？椋凰龅牡诙觳饽？榘ǖ诙⑸淠？楹陀糜诮邮盏诙⑸淠？榉⑸涞牡诙叫屑す馐牡诙邮漳？椋谝唤邮漳？楹偷诙邮漳？榉直鹩肟刂颇？榱�。如上所述的定位孔为圆形；所述的第一平行激光束与第二平行激光束分别平行位于定位孔两侧，第一平行激光束与第二平行激光束垂直距离小于定位孔的直径。与现有技术相比，本实用新型的有益效果为1、结构简单，操作方便；2、采用非接触式测量，测试过程无磨损，避免了接触式测量由于接触磨损引起的
测量误差；3、采用高精度的激光定位，测量精度高。
图1是一种轴直径检测装置示意图；其中1-第一发射�？�(GaN LED) ；2_第一接收�？�(S-7000) ；3_第二发射�？� (GaN LED) ；4-第二接收�？�(S-7000) ；5-第一平行激光束；6-第二平行激光束；7-定位台；8-定位孔；9-控制装置(8051)。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步的说明如图1所示，一种轴直径检测装置，包括定位台7、定位孔8、第一检测�？�、第二检测�？楹涂刂颇？�9，用于对被测轴进行定位的定位孔8设置在定位台7上，第一检测�？楹偷诙觳饽？樯柚迷诙ㄎ惶�7上并分别设置在定位孔8两侧，控制�？�9分别与第一检测�？楹偷诙觳饽？榱�。第一检测�？榘ǖ谝环⑸淠？�1和用于接收第一发射�？� 1发射的第一平行激光束5的第一接收�？�2 ；第二检测�？榘ǖ诙⑸淠？�3和用于接收第二发射�？�3发射的第二平行激光束6的第二接收模块4，第一接收�？�2和第二接收�？�4分别与控制�？�9连接。定位孔8为圆形；第一平行激光束5与第二平行激光束6 分别平行位于定位孔8两侧，第一平行激光束5与第二平行激光束6垂直距离小于定位孔 8的直径。本实用新型在测量被测轴直径之前，需要对第一平行激光束5和第二平行激光束 6进行定位。通过在定位孔8垂直穿入一直径小于被测轴的标准轴，标准轴的直径为E，通过调整第一发射�？�、第一接收�？�2、第二发射�？�3和第二接收模块4的相对位置，校正第一平行激光束5与第二平行激光束6的垂直距离为E，完成定位工序。完成定位工序后需要测得第一发射�？�1和第二发射�？�3发送的第一平行激光束5与第二平行激光束6的激光束宽度，控制�？�9通过对第一接收�？�2和第二接收�？�4接收到的第一平行激光束5和第二平行激光束6的宽度信息进行处理，得到第一平行激光束5与第二平行激光束6宽度分别为A和B。在对被测轴进行检测时，将被测轴垂直穿入定位孔8。此时被测轴会挡住第一平行激光束5与第二平行激光束6的部分光线，第一接收模块2和第二接收�？�4将接收到的被遮挡的第一平行激光束5与第二平行激光束6的宽度信息输入到控制�？�9，控制�？�9 对第一接收模块2和第二接收�？�4发送的宽度信息进行处理，得到被遮挡后的第一平行激光束5与第二平行激光束6的激光束宽度分别为C和D，被测轴的直径为A+B+E-C-D。本实用新型中第一发射�？�1和第二发射�？�3可以是GaN LED,第一接收�？� 2，第二接收�？�4可以是S-7000系列高速、高精度CCD测量器，控制�？�9可以是8051单片机。本实用新型结构简单，操作方便；测量方式采用采用非接触式测量，测试过程无磨损，避免了接触式测量由于接触磨损引起的测量误差；采用高精度的激光定位，测量精度
尚ο本文中所描述的具体实施例仅仅是对本实用新型精神作举例说明。本实用新型所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本实用新型的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。
权利要求1.一种轴直径检测装置，其特征在于该轴直径检测装置包括定位台(7)、定位孔(8)、 第一检测�？�、第二检测�？楹涂刂颇？�(9)，用于对被测轴进行定位的定位孔(8)设置在定位台(7)上，第一检测�？楹偷诙觳饽？樯柚迷诙ㄎ惶�(7)上并分别设置在定位孔(8) 两侧，控制�？�(9 )分别与第一检测�？楹偷诙觳饽？榱印�
2.根据权利要求1所述的一种轴直径检测装置，其特征在于所述的第一检测�？榘ǖ谝环⑸淠？�(1)和用于接收第一发射�？�(1)发射的第一平行激光束(5)的第一接收�？�(2);所述的第二检测�？榘ǖ诙⑸淠？�(3)和用于接收第二发射�？�(3)发射的第二平行激光束(6)的第二接收�？�(4)，第一接收�？�(2)和第二接收�？�(4)分别与控制�？�(9)连接。
3.根据权利要求2所述的一种轴直径检测装置，其特征在于所述的定位孔(8)为圆形；所述的第一平行激光束(5)与第二平行激光束(6)分别平行位于定位孔(8)两侧，第一平行激光束(5)与第二平行激光束(6)垂直距离小于定位孔(8)的直径。
专利摘要本实用新型公开了一种轴直径检测装置，该轴直径检测装置包括定位台、定位孔、第一检测�？�、第二检测�？楹涂刂颇？椋糜诙员徊庵峤卸ㄎ坏亩ㄎ豢咨柚迷诙ㄎ惶ㄉ希谝患觳饽？榘ǖ谝环⑸淠？楹陀糜诮邮盏谝环⑸淠？榉⑸涞牡谝黄叫屑す馐牡谝唤邮漳？�。第二检测�？榘ǖ诙⑸淠？楹陀糜诮邮盏诙⑸淠？榉⑸涞牡诙叫屑す馐牡诙邮漳？�。控制�？榉直鹩氲谝唤邮漳？楹偷诙邮漳？榱印５谝黄叫屑す馐氲诙叫屑す馐叫形挥诙ㄎ豢琢讲啵谝黄叫屑す馐氲诙叫屑す馐涞拇怪本嗬胄∮诙ㄎ豢椎闹本�。本实用新型结构简单，测量精度高，测量过程无磨损。
文档编号G01B11/08GK202092609SQ20112018705
公开日2011年12月28日 申请日期2011年6月3日 优先权日2011年6月3日
发明者刘许安, 卢明珠, 石广 申请人:黄石邦柯科技股份有限公司
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