专利名称：真空镀膜件非导电性测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种零件非导电性测试装置，特别涉及一种真空镀膜件非导电性测试装置。
背景技术：
真空镀膜的技术被广泛的运用在现代手机注塑物的制造中，真空镀膜的技术会使注塑物表面产生一些导电性，导电性会影响到手机通讯的性能，造成手机信号不良。因此我们需要测量手机注塑物中的非导电程度，我们平常会人手直接应用兆欧表在1000V电压下进行夹持测试，测试效率低，而且在这样高电压下检测，如果操作人员进行误操作有可能造成人身伤害。 发明内容鉴于以上存在的问题，提供一种真空镀膜件非导电性测试装置，具体技术方案是，真空镀膜件非导电性测试装置，包括兆欧表、插件座和导线，其特征在于插件座上有一个短凹槽和一个长凹槽，在每个凹槽内底端面有两个触点，分别为Al触点、A2触点和BI触点、B2触点，在插件座上有导线孔；其连接为，一根导线经由导线孔使Al触点、BI触点和兆欧表的一个接线端相连，另一根导线经由导线孔使A2触点、B2触点和兆欧表的另一个接线端相连。有益效果是减小了高电压测试下误操作带来的�：Γ褂梅奖悖蟠筇岣吡瞬馐孕�。
图I是本实用新型结构示意图。
具体实施方式
兆欧表I选用胜利仪器厂型号为VC60B+。如图I所示，插件座2上有一个短凹槽4、一个长凹槽5，在短凹槽4内底端面有两个触点分别为Al触点、A2触点，在长凹槽5内底端面也有两个触点分别为BI触点、B2触点，在插件座2侧面有导线孔6 ;其连接为，一根导线3经由导线孔使Al触点、BI触点和兆欧表I的一个接线端相连，另一根导线3经由导线孔使A2触点、B2触点和兆欧表I的另一个接线端相连。测试时，手机壳注塑件的长边放置在长凹槽5中，短边放置在短凹槽4中，用手按住手机壳注塑件短边使其与短凹槽4内底端面Al触点、A2触点相接触即可测量，用手按住手机壳注塑件长边使其与长凹槽5内底端面BI触点、B2触点相接触即可测量，如此动作手机壳注塑件的四边全部测量后，测量完成。
权利要求1.一种真空镀膜件非导电性测试装置，包括兆欧表(I)、插件座(2)和导线(3)，其特征在于插件座(2)上有一个短凹槽(4)和一个长凹槽(5)，在短凹槽(4)内底端面有两个触点分别为Al触点、A2触点，在长凹槽(5)内底端面也有两个触点分别为BI触点、B2触点，在插件座(2)上有导线孔(6)，其连接为，一根导线(3)经由导线孔使Al触点、BI触点和兆欧表(I)的一个接线端相连，另一根导线(3)经由导线孔使A2触点、B2触点和兆欧表(I)的另一个接线端相连。
专利摘要本实用新型涉及一种真空镀膜件非导电性测试装置，其特征在于插件座上有一个短凹槽和一个长凹槽，在每个凹槽内底端面有两个触点，分别为A1触点、A2触点和B1触点、B2触点，在插件座上有导线孔；其连接为，一根导线经由导线孔使A1触点、B1触点和兆欧表的一个接线端相连，另一根导线经由导线孔使A2触点、B2触点和兆欧表的另一个接线端相连。
文档编号G01R31/00GK202735423SQ20122026679
公开日2013年2月13日 申请日期2012年6月7日 优先权日2012年6月7日
发明者陈伟荣, 张晓亚 申请人:亚光耐普罗精密注塑(天津)有限公司
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