专利名称：一种光电准直装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测量装置技术领域，具体涉及一种光电准直装置。
技术背景目前， 一般在对称度测量装置中使用的光电准直装置包括在一条光轴上依 次设置的光源、聚光镜、分化板、分光镜、准直物镜，在分化板上刻有十字线， 光源一般采用激光二极管，准直物镜的焦平面位置上设置有CCD接收器。使用的原理是光源发出的光经聚光镜照射在分化板上，分化板上刻有十 字线，其位置处在准直物镜的物方焦面上。光线经分光镜透射，透射光经准直 物镜后形成平行光，射向外部反射镜，光被原路反射回来再次经分光镜后成像 在CCD靶面上，称作基准像；当反射镜有微小角度变化时，反射光也发生偏转，经分光镜反射后成像在CCD接收器靶面上，称作目标像。这样在CCD耙面上原有 的基准像消失，只有目标像，而两个像之间的位置偏差就代表了反射镜之间的 角度偏差。经信号和图像处理，可以得到被测物的角度变化。现有技术存在的问题是1、不能目视实时瞄准因为在测量过程中，目标 像代替了基准像，所以没有瞄准功能；2、测量准确度不高因测量中基准像的 形成是靠外部反射镜，所以每次定位基准不统一 (定位不准确)而造成测量准 确度不高。 发明内容本实用新型要提供一种光电准直装置，以克服现有技术存在的不能目视实时瞄准和测量准确度不高的问题。为了克服现有技术存在的问题，本实用新型所提供的技术方案是 一种光 电准直装置，包括光轴上依次设置的光源、聚光镜、分化板、分光镜、准直物 镜和外部反射镜，还包括CCD接收器，其特殊之处在于所述准直物镜和外部反 射镜之间设置有在同一光轴上的内置环形透反射镜，该内置环形透反射镜的中 心是一个反射面，外圈为透射面，反射面与准直物镜光轴垂直。与现有技术相比，本实用新型的优点是-1、 具有实时瞄准功能本实用新型中新增的环形透反射镜的中心反射面 将分化板的十字中心部分反射回准直物镜，并成像在CCD上，形成固定的基准像； 而经内置环形透反射镜外圈透射的光线经外部反射镜反射后返回，经准直物镜 后成像在CCD上，形成目标像。经信号和图像处理两个像实时地出现在计算机屏 幕上，便于测量者观察两个像的位置偏差和瞄准。2、 测量准确度高由于增加了内置环形透反射镜，使基准唯一化，因此 定位精度提高，测量准确度增高。
附图是本实用新型的结构示意图。 附图标记说明如下1-激光二极管，2-聚光镜，3-分化板，4-分光镜，5-准直物镜，6-环形透 反射镜，7-外部反射镜，8-CCD接收器。
具体实施方式
下面将结合附图对本实用新型做详细地说明。一种光电准直装置，包括光轴上依次设置的光源、聚光镜2、分化板3、分光镜4、准直物镜5、环形透反射镜6和外部反射镜7，其中环形透反射镜6的中心 是一个反射面，外圈透射面，反射面与准直物镜5的光轴垂直。所说的分化板3 上刻有十字线，光源一般采用激光二极管l，准直物镜5的焦平面位置上设置有 CCD接收器8。使用时激光二极管1发出的光经聚光镜2照射在分化板3上，穿过分化板3 光线经分光镜4透射；透射光经准直物镜5后形成平行光，射向环形透反射镜6， 射向环形透反射镜6中心的光被原路反射回来再次经分光镜4后成像在CCD靶面 上，称作基准像；另一路经环形透反射镜6外圈透射的光射向外部反射镜7 (被 测物)表面，经外部反射镜7反射后，经准直物镜5返回，经分光镜4反射后成像 在CCD接收器8的靶面上，称作目标像。这样在CCD靶面上有两个像，其中基准 像为分化板3十字的中心部分，目标像为分化板3十字像的外侧部分。基准像和 目标像经信号和图像处理，显示在计算机屏幕上，并可以进行实时瞄准，测得 两像的位置偏差即得到外部反射镜7 (被测物)的角度偏差。
权利要求1、一种光电准直装置，包括光轴上依次设置的光源、聚光镜(2)、分化板(3)、分光镜(4)、准直物镜(5)和外部反射镜(7)，还包括CCD接收器(8)，其特征在于所述准(5)直物镜和外部反射镜(7)之间设置有在同一光轴上的内置环形透反射镜(6)，该内置环形透反射镜(6)的中心是一个反射面，外圈为透射面，反射面与准直物镜(5)光轴垂直。
专利摘要本实用新型涉及测量装置技术领域，具体涉及一种光电准直装置。本实用新型为克服现有技术存在的不能目视实时瞄准和测量准确度不高的问题，现提供的技术方案是一种光电准直装置，包括光轴上依次设置的光源、聚光镜、分化板、分光镜、准直物镜和外部反射镜，还包括CCD接收器，其特殊之处在于所述准直物镜和外部反射镜之间设置有在同一光轴上的内置环形透反射镜，该内置环形透反射镜的中心是一个反射面，外圈为透射面，反射面与准直物镜光轴垂直。与现有技术相比，本实用新型的优点是1.具有实时瞄准功能；2.测量准确度高。
文档编号G01B11/27GK201322609SQ20082022849
公开日2009年10月7日 申请日期2008年12月29日 优先权日2008年12月29日
发明者询 于, 倪晋平, 纪小辉, 彤 陈 申请人:西安工业大学
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