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专利名称：玻璃基板残材检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及玻璃基板切割领域，尤其涉及一种采用非接触式的玻璃基板残材检测装置。
背景技术：
目前LCD制造行业广泛采用的玻璃基板残材检测方式主要使用传统的气缸控制对位柱，通过对位测长进行机械接触式残材检测。其方法为玻璃基板被切成整条后被搬送到检测台上，汽缸控制X向两侧对位柱和Y向上流对位柱对玻璃基板进行对位，对位完成后，汽缸控制Y向下流对位柱下降，随后检测台向下流缓慢移动，在玻璃基板下流边缘接触到Y向下流对位柱后，Y向上流对位柱受力后向上流移动，以监测检测台行程从而达到残材检测的目的。由于在残材检测过程中进行的是接触式操作，如残材未能被去除，玻璃基板边缘与对位柱接触后会因受力而发生挤压造成如下不良现象(1)玻璃基板边缘发生磕伤，导致产品不够规格，并且产生的碎屑会掉落在检测台上，需要花时间进行清理；( 整条玻璃基板被挤碎，导致整条玻璃基板不够规格，并且被挤碎后检测台上以及设备内部洒落大量玻璃碎片，也需要大量的时间来进行清理；(3)如果检测台上的玻璃碎片清理不及时会造成玻璃基板表面出现划痕，导致产品不够规格；(4)如玻璃基板进行残材检测发生报警，则需要人工将残材取出，设备开始后需要对玻璃基板再进行一次测长动作，浪费了大量不必要的时间。

实用新型内容针对上述问题，本实用新型的目的在于提供一种采用非接触式的玻璃基板残材检测装置。为达到上述目的，本实用新型所述一种玻璃基板残材检测装置，包括检测台及与检测台配套设有的对位柱，所述对位柱包括X方向上两组对位柱和Y方向上至少一组对位柱；所述检测台上设有检测装置，且所述检测装置置于X方向上两组对位柱之间。优选地，所述检测装置包括滑轨、滑块及反射式传感器，其中，所述滑块套于滑轨上，所述反射式传感器置于所述滑块上表面。优选地，所述检测装置包括滑轨、滑块及反射式传感器，其中，所述滑轨上设有供滑块滑动的滑槽，所述反射式传感器置于所述滑块上表面。优选地，所述滑块上设有限位件。本实用新型的有益效果为1、本实用新型采用非接触式残材检测，有效地避免了玻璃基板边缘与对位柱发生磕伤导致产品出现不良现象，同时节省了清扫检测台上碎屑的时间；有效地避免了整条玻璃基板被挤碎导致整条玻璃基板出现不良现象，同时节省了清扫检测台及设备内部玻璃碎片的时间；[0012]2、由于不存在挤压问题，检测台上少有残留玻璃碎片，有效地避免了玻璃基板表面产生划痕的现象；3、本实用新型在残材检测时设备发生开门报警，将门打开后人工将残材取出，关上门后设备恢复正常运转，节省了取出残材后设备再进行一次检测的时间。

图1是本实用新型所述玻璃基板残材检测装置的示意图；图2是检测装置的示意图；图3是检测台的示意图；图4是本实用新型所述玻璃基板残材检测装置的电路连接图。
具体实施方式
下面结合说明书附图对本实用新型做进一步的描述。如图1-3所示，本实用新型实施例所述一种玻璃基板残材检测装置，包括检测台1 及与检测台1配套设有的对位柱2，所述对位柱2包括X方向上两组对位柱和Y方向上至少一组对位柱；所述检测台1上设有检测装置，且所述检测装置置于X方向上两组对位柱2之间，待测玻璃基板8放置在检测台1上。所述检测装置包括滑轨3、滑块4及反射式传感器 5，其中，所述滑块套于滑轨上表面，所述反射式传感器置于所述滑块上。根据玻璃基板的厚度、尺寸的不同，滑块可通过限位件固定在滑轨上的任何位置上，便于进行检测工作。另外，检测装置还可有另一种设计方式。所述检测装置包括滑轨、滑块及反射式传感器，其中，所述滑轨上设有供滑块滑动的滑槽，所述反射式传感器置于所述滑块上表面。 根据玻璃基板的厚度、尺寸的不同，滑块可通过限位件固定在滑轨上的任何位置上，便于进行检测工作。作为本实用新型进一步的实施例，所述对位柱包括X方向上的两组对位柱(即X 向左右两侧的定位柱)和Y方向上的一组对位柱(即Y向上流的定位柱)。对于该实施例来说，因为本实用新型采用非接触式，即待测玻璃基板不与Y向下流的定位柱发生接触，故可在原有技术上省去Y向下流的定位柱，简化装置。另外，所述对位柱还可以按照原有技术特征，包括X方向上的两组对位柱(即X向左右两侧的定位柱)和Y方向上的两组对位柱(即Y向上下两端的定位柱)。对于此设计的保留，是为了避免检测系统出现故障后，可以再次利用原有技术对玻璃基板进行检测。如图4所示为电路连接图，所述反射式传感器5可为光敏型传感器，检测待测玻璃基板是否残材信息并发出信号给控制端，其中，控制端可为继电器6外加门禁系统7对检测工作进行控制。对此，本实用新型实施例的使用方法为(1)将切割后的待测玻璃基板8搬送到检测台上，先将X向左右两侧的定位柱对玻璃基板进行对位；(2)再将Y向上流的定位柱对待测玻璃基板进行对位；(3)如果残材未去除，对位后的待测玻璃基板的残材部分将处在反射式传感器的垂直上方，反射式传感器随后对残材进行判断并发出信号给继电器，通过继电器弹片的打开和闭合来控制门禁系统发生报警，报警后设备立即停止并发出蜂鸣声，由人工将设备门打开将残材取出，关门后设备恢复自动工作状态。如果残材已经被去除，对位后的待测玻璃基板的残材部分不会处在反射式传感器的垂直上方，反射式传感器不会发出信号到继电器，设备正常运行不会发生报警。 以上，仅为本实用新型的较佳实施例，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求所界定的保护范围为准。
权利要求1.一种玻璃基板残材检测装置，包括检测台及与检测台配套设有的对位柱，其特征在于，所述对位柱包括X方向上两组对位柱和Y方向上至少一组对位柱；所述检测台上设有检测装置，且所述检测装置置于X方向上两组对位柱之间。
2.根据权利要求1所述的玻璃基板残材检测装置，其特征在于，所述检测装置包括滑轨、滑块及反射式传感器，其中，所述滑块套于滑轨上，所述反射式传感器置于所述滑块上表面。
3.根据权利要求1所述的玻璃基板残材检测装置，其特征在于，所述检测装置包括滑轨、滑块及反射式传感器，其中，所述滑轨上设有供滑块滑动的滑槽，所述反射式传感器置于所述滑块上表面。
4.根据权利要求2或3所述的玻璃基板残材检测装置，其特征在于，所述滑块上设有限位件。
专利摘要本实用新型公开一种玻璃基板残材检测装置，有效降低不良率以及节省报警的解决时间，包括检测台及与检测台配套设有的对位柱，所述对位柱包括X方向上两组对位柱和Y方向上至少一组对位柱；所述检测台上设有检测装置，且所述检测装置置于X方向上两组对位柱之间。本实用新型采用非接触式残材检测，有效地避免了玻璃基板边缘与对位柱发生磕伤导致产品出现不良现象，同时节省了清扫检测台上碎屑的时间；有效地避免了整条玻璃基板被挤碎导致整条玻璃基板出现不良现象，同时节省了清扫检测台及设备内部玻璃碎片的时间。
文档编号G01V8/10GK202305836SQ201120426859
公开日2012年7月4日 申请日期2011年11月1日 优先权日2011年11月1日
发明者张彭, 张海博, 王大山, 王鹏伟, 顾晓光 申请人:北京京东方光电科技有限公司