专利名称：测试装置及测试方法
技术领域：
本发明涉及测试装置及测试方法。
背景技术：
作为测试半导体芯片等的被测试设备的装置，已知有包括多个测试电路的测试装置(例如，参照专利文献1及2)。在这种情况下，优选多个测试电路同步动作。专利文献1 国际公开第2003/062843号手册专利文献2 特开2007-52028号公报
发明内容
本发明要解决的技术问题测试装置所包含的多个测试电路根据预先被赋予的程序、次序等动作。通过使所述程序等的执行同步开始、停止，测试装置使各个测试电路同步动作。但是，在进行多种测试时，仅使各测试电路的程序的执行开始定时同步有时候不是很充分。例如，需要一种下述的能够执行多种测试的测试装置，其在执行程序时，基于对规定的测试电路中检出的故障或者处理的再开始条件，能考虑想要执行下一步骤的情况等。解决本发明的技术问题的技术手段为了解决上述问题，根据本发明的第一实施方式，提供一种测试装置及该测试设备所涉及的测试方法，该测试装置对被测试设备进行测试，该测试装置包括测试�？椋溆氡徊馐陨璞钢浯托藕牛馐员徊馐陨璞福徊馐钥刂破鳎渚哂写砥骷按娲⑵鳎刂扑霾馐阅？椋煌纾浯筒馐阅？榧安馐钥刂破髦涞耐ㄐ虐�。测试控制器具有接收部，其通过网络从测试�？榻邮涨肭笙虿馐钥刂破髑肭笾卸系闹卸鲜莅淮娲⑵餍慈氩浚� 其将中断数据包中包含的中断信息写入存储器中；中断通知部，其将中断通知给处理器，使处理器参照写入存储器中的中断信息。。上述发明的概要所列举的并不都是本发明的必要特征。另外，这些特征的次级组合也可以构成发明。
图1与被测试设备10 —起示出了根据本发明的实施方式的测试装置100的构成例。图2示出了根据本发明实施方式的测试装置100的测试控制器130构成例。图3示出了根据本发明的实施方式的测试装置100的动作流程。图4示出了根据本发明的实施方式的测试装置100的存储器220中所存储的中断信息的一个例子。附图标记的说明10被测试设备、100测试装置、110控制部、120集线器、130测试控制器、140网络、150测试�？�、200处理器、210芯片组、220存储器、225存储区域、230网络接口、232接收部、234存储器写入部、236指定寄存器、238中断通知部
具体实施例方式下面，通过发明的实施方式对本发明进行说明，但是以下的实施方式并不限定本发明的保护范围。另外，实施方式中所说明的特征的组合的全部不一定都是解决本发明技术问题所必须的。图1连同被测试设备10 —起示出了根据本发明的实施方式的测试装置100的构成例。测试装置100测试至少一个被测试设备10，例如模拟电路、数字电路、模拟/数字混合电路、存储器、以及片上系统(SOC)等。测试装置100可以分别测试多个被测试设备10， 也可以并行地测试多个被测试设备10。测试装置100具有控制部110、集线器120、测试控制器130、网络140、以及测试�？�150。控制部110例如是控制整个系统的系统控制器，其控制整个测试装置100。例如控制部110根据由使用者等所提供的程序、指示等，控制测试控制器130及测试�？�150。更具体而言，控制部110可以从工作站之类的外部计算机及存储装置等获取测试中使用的程序，或者通过用户的输入获得程序，来控制测试控制器130的动作。控制部110可以将与测试相对应的控制命令和/或程序经集线器120发送给相对应的测试控制器130。集线器120是连接控制部110及至少一个测试控制器130并使其可相互通信的网络。集线器120可以通过通用的或者专用的高速串行总线等进行中继通信，作为通用的高速串行总线，例如，可以使用以太网(Ethernet)(登记商标)、USB、串行RapidIO (Serial RapidIO)等。测试控制器130执行测试控制程序以控制测试�？�150。测试控制器130可以根据由控制部Iio所提供的控制命令和/或程序等，控制测试模块150。更具体而言，测试控制器130可以与测试相对应地生成控制测试�？�150的动作的控制命令。为了达到对各个被测试设备10进行测试等的目的，可以在测试装置100内设置多个测试控制器130，各个测试控制器130可以单独地进行多个测试。测试控制器130可以进行一个或者多个被测试设备10的测试。测试控制器130 可以通过网络140与至少一个测试�？�150分别进行数据交换。测试控制器130可以将与测试对应的规定的测试程序、数据模式等预先存储在各个测试�？�150中。测试控制器130 可以是站点控制器(sitecontroller)，该站点控制器控制对多个测试�？�150a 150c的各端子进行分组而得的各个组的测试。网络140在测试�？�150与测试控制器130之间传送通信包。为了用适当数量的测试�？榻卸喔霾馐裕�140可以通信连接于与测试相对应的测试�？�150。网络140 可以通过多个总线开关来切换与测试相对应的测试�？�150的连接。测试�？�150通过与被测试设备10之间传送信号而测试被测试设备10。测试装置100可以根据要进行的多个测试项目搭载多个种类的测试�？�150。多个测试�？�150 的一部分可以是通过与被测试设备10之间收发数字信号来进行数字测试的数字�？椋蛘呖梢允峭ü氡徊馐陨璞�10之间收发模拟信号来进行模拟测试的模拟�？�。另外，各个测试�？�150可以在测试装置100上装卸。另外，测试�？�150可为以
4与测试装置100同步的时钟进行动作的模块。可选地，测试模块150是以被测试设备10的时钟或者在测试�？�150内部另外设置的其他时钟进行动作的�？�。测试�？�150经过连接部与被测试设备10之间收发测试信号。连接部例如包含母板、功能板、及插口。图2示出了根据本发明实施方式的测试装置100的测试控制器130构成例。测试控制器130具有处理器200、芯片组210、存储器220、及网络接口 230。处理器200可以是具有运算装置和/或控制装置的CPU，可以执行数据的传送及加工、程序的控制等。处理器200可以通过芯片组210及集线器120从控制部110接收或者向其发送控制命令、程序、和/或测试结果之类的数据。另外，处理器200也可以经集线器 120从其它的测试控制器130内部的处理器接收或者向其发送控制命令、程序、和/或测试结果之类的数据。芯片组210可以是与处理器200的外部总线、存储器220、及网络接口 230等连接， 以管理它们之间的数据传送的一系列的电路组。存储器220存储测试�？�150的中断信息。 存储器220具有存储中断信息的多个存储区域225。网络接口 230具有网络连接功能，其可以是将测试控制器130和一个以上的测试�？�150经网络140连接的接口。网络接口 230具有接收部232、存储器写入部234、中断通知部238。接收部232经网络140接收从测试�？�150向测试控制器130请求中断的中断数据包。接收部232可以将所接收到的中断数据包发送给存储器写入部234。另外，接收部 232可以将接收到中断数据包的信息发送给中断通知部238。存储器写入部234将中断数据包中所包含的中断信息写入存储器220中。当接收部232接收了多个中断数据包时，存储器写入部234可以将多个中断数据包中包含的多个中断信息依次写入存储器220中。存储器写入部234可以包含指定寄存器236，该指定寄存器236在存储器220包含的多个存储区域225中指定应写入中断信息的目标存储区域。中断通知部238将中断通知给处理器200，使处理器200参照写入存储器220中的中断信息。处理器200在中断通知部238通知其中断的情况下，参照存储器220获取一个或多个中断信息。图3示出了根据本发明的实施方式的测试装置100的动作流程图。测试装置100 执行测试中使用的参数等的初始设定(S310)。例如，测试装置100根据测试程序，利用网络140将连接于被测试设备10的一个以上的测试�？�150与适当的测试控制器130连接。 另外，为了并行执行多个测试，测试装置100可以根据测试程序，利用网络140将分别连接于多个被测试设备10的一个以上的测试�？�150与一个以上的适当的测试控制器130分别连接。测试装置100根据每个测试项目或者测试程序的一个以上的每个命令反复执行从步骤S320至S370的循环处理以进行测试。一个以上的测试控制器130利用经网络140 所连接的测试模块150分别进行与测试程序相对应的测试(S330)。例如，测试模块150依次执行在提供给其的测试程序中所包含的各个命令，并执行与各个命令相对应的动作。测试程序可以包含表示预先所提供的多个数据模式是以怎样的顺序进行输出的时序。测试�？�150可以包括根据该时序按顺序输出各个数据模式的序列发生器。
该数据模式可以是指定要提供给被测试设备10的各个针的逻辑值每个都为1比特的单比特模式，也可以是将要提供给被测试设备10的各个针的逻辑值每个都指定为规定的多个比特的多比特模式。另外，该数据模式也可以是单位包模式，其为了实现规定的测试功能，在多个循环(cycles)范围内指定将要提供给被测试设备10的各个针的逻辑值。另外，测试�？�150通过将从被测试设备10所接收的信号与预期值进行比较，可以判定被测试设备10的好坏。测试�？�150也可以用与要提供给被测试设备10的模式同样的处理来生成该预期值。在测试进行中，测试�？�150可以在故障发生的情况下、在测试开始的情况下、和 /或在测试结束的情况下，向测试控制器130发送请求中断的中断数据包。另外，测试�？� 150为了使处理行进到下一模式等，可以在规定的条件成立的情况下发送中断数据包。测试控制器130检测有无发自测试模块150的中断数据包，如果没有发自测试�？榈闹卸鲜莅馐钥刂破�130继续进行从步骤S320至S370的循环处理(S340)。测试控制器130内部的接收部232在接收到来自测试�？�150的中断数据包的情况下，将所接收的中断数据包发送给存储器写入部234。另外，接收部232将所接收的中断数据包或已接收到中断数据包的信息发送给中断通知部238。存储器写入部234将中断信息写入目标存储区域，该目标存储区域为存储器220 包含的多个存储区域225中、指定寄存器236指定的应写入中断信息的区域(S350)。另外， 中断通知部238对应接收部232已接收到中断数据包，将中断通知给处理器200，使处理器 200参照写入到存储器220中的中断信息(S360)。这里中断通知部238可以在确认存储器写入部234的写入结束之后，将中断通知给处理器200，使处理器200参照中断信息。例如，存储器写入部234根据中断通知部238发给处理器200的中断通知，更新指定寄存器236，将目标存储区域切换为多个存储区域225中的其它存储区域225 ；处理器 200在被中断通知部238通知中断的情况下，从切换前的目标存储区域获取中断信息。可选地，存储器写入部234可以在从接收部232接收到中断通知的同时切换目标存储区域，也可以响应处理器200的指示切换目标存储区域。另外，存储器写入部234可以使依次接收到的多个中断数据包中包含的多个中断信息依次写入目标存储区域并缓存于其中。另外，在接收部232接收多个中断数据包时，在中断通知部238将对应于第1中断数据包的中断通知给处理器200之前，接收部232接收到第2中断数据包的情况下，中断通知部238可以将对应于第1中断数据包及第2中断数据包的中断一起通知给处理器。图4示出了根据本发明实施方式的测试装置100的存储器220中所存储的中断信息的一个例子。存储器写入部234在存储器220包含的存储区域225例如setO及setl中写入中断信息。在本实施例中，存储区域225将产生中断数据包的测试�？�150的号码、中断的种类、以及中断的原因作为中断信息而存储。例如，在测试�？�150c、150a、150b依次发送数据包而接收部232接收到这些数据包的情况下，存储器写入部234将所接收到的数据包依次写入并缓存于目标存储区域setO 中。另外，存储器写入部234可以根据中断通知部238给处理器200的中断通知，更新指定寄存器236，以将目标存储区域setO切换为其它的存储区域setl。可选地，存储器写入部 234也可以与接收来自接收部232的中断通知同时切换目标存储区域，也可以响应于处理器200的指示而切换目标存储区域。存储器写入部234可以具有指示写入目标的入口的指针。存储器写入部234在将中断信息缓存在目标存储区域setO的情况下可以使指针的数值加1。另外，存储器写入部 234可以响应于目标存储区域setO切换到其他的存储区域setl，而清除指针的数值。另外， 存储器写入部234可以响应于处理器对中断信息的参照，而清除指定寄存器236和/或指针的数值。存储器写入部234可以根据(要被写入的中断信息)与预先设定的中断信息是否一致，更新指定寄存器236、以切换目标存储区域。由此，存储器写入部234可以将中断信息适当分组，处理器200可以根据测试程序参照适当的中断信息。处理器200在执行优先级高的处理时，即使接受到中断的通知也可以照样继续执行优先级高的处理，也可以在处理结束或者完成适当的处理量之后，参照被缓存的中断信息。利用上述本实施方式的测试装置100，通过1个以上的测试�？�150对一个以上的被测试设备所进行的多个测试，可以在把握由各测试�？�150所发送的中断请求的同时分别执行。测试装置100在执行测试程序时，由于可以把握来自测试�？�150的中断请求，所以可以根据中断请求适当地选择执行暂时中断、停止测试、其它的测试项目、或者变更测试
参数等。测试装置100可以使利用一个以上的测试�？�150的一个测试程序由一个测试控制器130开始执行，且根据来自各个测试�？�150的中断请求来控制测试的进行。另外，测试装置100可以使利用一个以上的测试模块150的一个测试程序由一个以上的测试控制器 130分别开始执行，且基于来自各个测试控制器130分别连接的测试�？�150的中断请求来控制测试的进行。也就是说，这相当于可以使以测试单元而形成的一个以上的测试�？�150的组合中的各个测试�？楸舜舜锏酵降耐敝葱胁馐猿绦�。另外，测试装置100可以基于来自各个测试�？�150的各个中断请求执行多种测试，如暂时停止、中断测试、执行其它的测试项目、或者变更测试参数等。以上，利用实施方式对本发明进行了说明，但是本发明的技术范围并不限于上述实施方式中所记载的范围。本领域技术人员可以明白的是，在上述实施方式中，可以进行多种变更或者改良。从记载的权利要求的范围可知，进行这样的变更或改进而得到的实施方式也被包含于本发明的技术范围内。在权利要求书、说明书、及附图中所示的装置、系统、程序、及方法中的动作、次序、 步骤、以及阶段等的各种处理的实际顺序，如果没有特别明示“在……之前”、“先于……，， 等，或者除非在后面的处理中使用前面的处理的输出，则应该认为可以以任意的顺序来实现。关于权利要求书、说明书、及附图中的动作流程，为了方便虽然使用了“首先”、“其次” 等进行说明，但是并不意味着必须以这样的顺序来实施。
权利要求
1.一种测试装置，其对被测试设备进行测试，其特征在于，包括 测试�？椋溆胨霰徊馐陨璞钢浯托藕牛馐运霰徊馐陨璞福� 测试控制器，其包括处理器及存储器，控制所述测试�？椋煌纾湓谒霾馐阅？榧八霾馐钥刂破髦浯屯ㄐ虐� 所述测试控制器具有接收部，其通过所述网络从所述测试�？榻邮障蛩霾馐钥刂破髑肭笾卸系闹卸鲜莅淮娲⑵餍慈氩浚浣鲋卸鲜莅邪闹卸闲畔⑿慈胨龃娲⑵髦校� 中断通知部，其将中断通知给所述处理器、使所述处理器参照写入所述存储器中的所述中断信息。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，响应于所述接收部接收到多个所述中断数据包，所述存储器写入部将所述多个中断数据包中包含的多个所述中断信息依次写入所述存储器中。
3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述处理器在接到所述中断通知部的中断通知时，参照所述存储器来获取所述多个中断信息。
4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述存储器具有存储所述中断信息的多个存储区域；所述存储器写入部包含指定寄存器，该指定寄存器指定所述多个存储区域中所述存储器写入部应写入所述中断信息的目标存储区域；所述存储器写入部根据所述中断通知部通知给所述处理器的中断通知，更新所述指定寄存器，将所述目标存储区域切换为所述多个存储区域中的其它存储区域；所述处理器在接到所述中断通知部的中断通知时，从切换前的所述目标存储区域获取所述中断信息。
5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述存储器写入部将依次接收的多个所述中断数据包中包含的多个所述中断信息依次写入并缓存于所述目标存储区域。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的测试装置，其特征在于，在所述中断通知部将对应于第1所述中断数据包的中断通知给所述处理器之前、所述接收部接收到第2所述中断数据包时，所述中断通知部将对应于所述第1中断数据包及所述第2中断数据包的中断一起通知给所述处理器。
7.—种测试方法，其对被测试设备进行测试，其特征在于，包括 测试步骤，其在所述被测试设备之间传送信号，测试所述被测试设备； 测试控制步骤，其具有处理器及存储器，控制所述测试步骤； 网络步骤，其传送所述测试步骤及所述测试控制步骤之间的通信包； 所述测试步骤具有接收步骤，其通过所述网络步骤从所述测试步骤接收向所述测试控制步骤请求中断的中断数据包；存储器写入步骤，其将所述中断数据包中包含的中断信息写入所述存储器中； 中断通知步骤，其将中断通知给所述处理器，使所述处理器参照写入所述存储器中的所述中断信息。
全文摘要
本发明提供一种测试装置，该测试装置具有测试�？椋溆氡徊馐陨璞钢浯托藕牛馐员徊馐陨璞福徊馐钥刂破鳎渚哂写砥骷按娲⑵鳎刂撇馐阅？椋煌纾湓诓馐阅？榧安馐钥刂破髦浯屯ㄐ虐�。测试控制器具有接收部，其通过网络接收从测试模块向测试控制器请求中断的中断数据包；存储器写入部，其将中断数据包中包含的中断信息写入存储器；中断通知部，其将中断通知给处理器，使处理器参照写入存储器中的中断信息。
文档编号G01R31/28GK102193056SQ20111002591
公开日2011年9月21日 申请日期2011年1月24日 优先权日2010年1月25日
发明者平出守, 森田直志 申请人:爱德万测试株式会社
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