专利名称：一种获取晶体衍射斑点的装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及X射线分析仪器领域，具体说是一种利用X射线成像板在X射线晶体分析仪上实现实时获取晶体衍射斑点的装置。
背景技术：
X射线单晶体衍射是一粒单晶体，如一粒砂糖或一粒盐。在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的。将X射线(如Cu的Kd辐射)射到一粒单晶体上会发生衍射，由对衍射线的分析可以解析出原子在晶体中的排列规律，也即解出晶体的结构。物质的性能是与晶体的结构密切相关的，由于它们的晶体结构不同就有着截然不同的性质。1912年，德国物理学家M. von劳厄首先发现了晶体对X射线的衍射现象，他用连续谱X射线照射单晶体， 在晶体后放置感光片，发现感光片上出现许多分散的斑点，后人称为劳厄斑。以往X射线晶体分析仪中获取晶体衍射斑点(劳厄衍射斑点)的方法是采用X射线胶片感光法获取的。用一束连续的X射线(铜靶或钨靶)经过一个光阑对X射线进行准直束光，照射在所要分析的单晶体晶面上，产生该晶体晶面特有的衍射线，利用胶片感光， 获得该晶体该晶面的衍射斑点，可对该晶体的内部微观结构、生长情况、晶面指数等进行分析。缺点是每次拍片大约需要3 4个小时，拍片之后还需冲洗，冲洗必须在专用的暗室中进行，用显影液、定影液等化学试剂才能完成。可见，用胶片法获取劳厄衍射斑点存在着很多缺点。浪费时间、人、财、物力、能源，而且工序繁琐，效率很低。为了寻找某个晶体的晶面取向衍射图形，往往需要多次重复的工作。洗片后，观察该晶面衍射图形，通过测量和计算， 调整晶面位置，再一次拍片，再洗片，再拍片……直至找到想要找的晶面取向才算结束。整个过程漫长而繁琐，同时在持续的拍片过程中，仪器的寿命也会受到影响。
发明内容针对上述胶片获取晶体衍射斑点方法存在的问题，本实用新型提供了一种利用电子法取代胶片法，用X射线成像板代替衍射胶片，能够实时、快速、方便地获取晶体X射线衍射斑点的装置。解决上述技术问题所采取的具体技术措施一种获取晶体衍射斑点的装置，其特征在于在台面1上固定X射线源管套装置 2，相机架15左端部的燕尾凹形轨道槽与燕尾凸形高度调整轨道4配合连接，燕尾凸形高度调整轨道4固定在X射线源管套装置2上，相机架15上设有相机架轨道14，光阑支架6、样品架9和成像板固定架12分别固定在相机架轨道14上，准直光阑5插入光阑支架6的孔内，相机架15的底部装有可调整高度的升降螺母16和螺栓17，调整好高度的相机架15通过设置在相机架15的燕尾凹形轨道槽上的高度锁紧顶丝3固定到X射线源管套装置2上， X射线成像板11与成像板固定架12连接，X射线成像板11通过数据线与计算机连接。本实用新型的有益效果本实用新型利用电子法取代胶片法，用X射线成像板代替衍射胶片，利用X射线成像板具有高灵敏度成像的特点，能够迅速获取X射线晶体衍射信
3息。将获得X射线衍射信息，通过数据线传输给计算机进行处理，在计算机显示器上，实时显示获取晶体的衍射斑点，从而确定该晶体的晶向和内部结构等相关信息。本实用新型的特点是获得衍射图形快捷、方便、实时，图片清楚可保存，节省时间、人、财、物力和能源，工序简单，效率高。
图1是本实用新型的结构示意图；图2是图1的俯视图；图3是使用本实用新型获得的X光垂直金刚石(100)面的晶体衍射斑点示意图；图4是使用本实用新型获得的X光垂直金刚石(110)面的晶体衍射斑点示意图；图5是使用本实用新型获得的X光垂直金刚石(111)面的晶体衍射斑点示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型做进一步说明。一种获取晶体衍射斑点的装置，是一种利用X射线成像板在X射线晶体分析仪上实现实时获取劳厄衍射斑点的装置。主要用于晶体材料内部微观结构的研究，适用于大专院校、科研院所等相关单位的材料定向和材料分析。本装置的具体结构如图1和图2所示，在台面1上固定X射线源管套装置2，相机架15左端有燕尾凹形轨道槽插入燕尾凸形高度调整轨道4内与之配合连接，燕尾凸形高度调整轨道4固定在X射线源管套装置2上，相机架15上设有相机架轨道14，光阑支架6、样品架9和成像板固定架12分别固定在相机架轨道14上，光阑支架6是通过光阑紧固螺钉 7固定在相机架轨道14上的，准直光阑5插入光阑支架6的孔内，调整好位置，使得光阑孔轴线与X射线主光路同轴。相机架15的底部装有可调整高度的升降螺母16和螺栓17，调整升降螺母16和螺栓17，使得相机架轨道14上的准直光阑5、样品架9、晶体样品8的样品面中心及成像板11的中心与X射线源管套装置2中的X射线主光路高度相同且同轴，用高度锁紧顶丝3锁定相机架15，高度锁紧顶丝3设置在相机架15的燕尾凹形轨道槽上，调整合适高度后的相机架15由高度锁紧顶丝3固定。样品架9是通过样品架紧固螺钉10固定在相机架轨道14上的，样品8安装在样品架9上。X射线成像板11与成像板固定架12连接，通过成像板紧固螺钉13固定在相机架轨道14上，X射线成像板11通过数据线与计算机连接。X射线成像板是一个矩型矩阵面探测器，调整样品架9，改变晶体被垂直照射的晶面，X射线成像板11将采集的X射线晶体衍射信号，通过数据线实时输入给计算机，经过计算机图像信息数据采集处理后，在显示器上实时获得该晶体该晶面的衍射图形，完成获取晶体衍射斑点的工作。X射线晶体分析仪的射线源通常使用功率在30kV、30mA，即IkW左右，采用铜靶点焦点辐射，使得晶体产生衍射。图3、图4、图5分别是使用本实用新型检测金刚石晶体样品获得的衍射斑点的示意图。其中图3为X光束垂直金刚石(100)面获得的晶体衍射斑点示意图；图4为X光束垂直金刚石(110)面获得的晶体衍射斑点示意图；图5为X光束垂直金刚石(111)面获得的晶体衍射斑点示意图。使用本实用新型获得的衍射图形与采用X射线胶片感光法获取的衍射图形完全一致，但相比X射线胶片感光法方便得多、快捷得多。本装置采用X射线成像
4板获得X射线晶体衍射信息，并迅速将获取的X射线衍射信息通过数据线传输给计算机，经过计算机图像信息数据采集处理后，在计算机显示器上显示该晶体的衍射斑点，从而确定该晶体的晶向和内部微观结构等相关信息。
权利要求1. 一种获取晶体衍射斑点的装置，其特征在于在台面(1)上固定X射线源管套装置 (2)，相机架(15)左端部的燕尾凹形轨道槽与燕尾凸形高度调整轨道(4)配合连接，燕尾凸形高度调整轨道(4)固定在X射线源管套装置(2)上，相机架(15)上设有相机架轨道(14)， 光阑支架(6)、样品架(9)和成像板固定架(12)分别固定在相机架轨道(14)上，准直光阑 (5)插入光阑支架(6)的孔内，相机架(15)的底部设有可调整高度的升降螺母(16)和螺栓 (17)，调整好高度的相机架(15)通过设置在相机架(15)的燕尾凹形轨道槽上的高度锁紧顶丝(3)固定到X射线源管套装置(2)上，X射线成像板(11)与成像板固定架(12)连接，X 射线成像板(11)通过数据线与计算机连接。
专利摘要一种获取晶体衍射斑点的装置，在台面上固定X射线源管套装置，高度调整轨道与相机架凸槽连接并固定到X射线源管套装置上，相机架上设有相机架轨道，光阑支架、样品架和成像板固定架分别固定在相机架轨道上，准直光阑插入光阑支架的孔内，相机架的底部设有可调整高度的升降螺栓，调整好高度的相机架通过设置在其上的高度锁紧顶丝固定到X射线源管套装置上，X射线成像板与成像板固定架连接，X射线成像板通过数据线与计算机连接。本实用新型用X射线成像板代替衍射胶片，能够迅速获取X射线晶体衍射信息，在计算机上实时显示获取晶体的衍射斑点。本实用新型获得衍射图形快捷、方便、实时，图片清楚可保存，节省人财物力、时间和能源，工序简单，效率高。
文档编号G01N23/205GK202256202SQ20112039666
公开日2012年5月30日 申请日期2011年10月18日 优先权日2011年10月18日
发明者李国兴, 管春璞, 隋凤丽 申请人:丹东奥龙射线仪器有限公司
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