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专利名称：Lcd面板透过率的测试系统及方法
技术领域：
本发明具体涉及一种IXD面板透过率的测试系统，以及该IXD面板透过率的测试方法。
背景技术：
目前，LCD面板的测试方法有两种一种方法是通过带有探测头的检测装置进行检测，利用带有多个探测头的检测装置，由探测头耦合到LCD面板，当探测头探测到来自 LCD面板的反馈信号不符合预定标准是，然后再由光学系统例如电子显微镜进行辨别；另一种是通过采集的图像编码进行分析。然而这两种方法设计复杂，设备存在价格昂贵，维护保养复杂，同时不利于生产车间流水线使用等缺点。而且某些应用如主动式3D眼睛的镜片 LCD测试用不了如此高的响应速度和精度，故采用该种设备进行研发验证，特别是生产测试会造成资源的严重浪费。

发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种LCD面板的测试系统，在对3D眼镜等测试精度要求不高的电子部品中，避免传统技术中存在的价格昂贵，生产成本较高的缺陷；同时，提供一种该LCD面板的测试方法，可以满足研发验证和生产测试需求，且成本低廉、使用、维护方便。为解决上述技术问题，本发明所提供的技术方案是一种LCD面板透过率测试系统，包括数字信号发生系统，处理接受系统，电源，显示装置，面板驱动电路及背光驱动电路；所述背光驱动电路驱动信号发生系统产生光信号，所述信号处理接受系统对光信号转化、处理输入给显示装置，所述显示装置响应所述数字信号发生系统产生的测试用信号，所述的电源为整个测试系统提供驱动电压；所述信号发生系统包括发光二级管、滤光片；所述的信号处理系统包括用于光-电转换的光电二极管，以及对所述电信号进行处理的放大器、数模转换器和数据处理器。更进一步的设计是，本发明公开的LCD面板透过率测试系统的发光二级管由发光二级管驱动电路来驱动发光。更进一步的设计是，本发明公开的LCD面板透过率测试系统中的发光二极管背光驱动电路由数据处理器控制。更进一步的设计是，本发明公开的IXD面板透过率测试系统中的IXD面板有IXD 驱动电路驱动工作。更进一步的设计是，本发明公开的IXD面板透过率测试系统中IXD面板驱动电路由数据处理器控制。同时本发明还提供了一种IXD面板透过率的测试方法，包括以下步骤包括以下步骤第一步接通电源开起驱动电路；第二步测试信号的产生；其特征在于所述的步骤B是包括以下步骤完成的测试用光线由发光二级管发出，经过滤光片将点光源光线调成平行光，平行光线经LCD投射到高速光电二极管上，由光电二极管将光信号转变成电信号。第三步数字信号的接受与处理，其特征在于所述的步骤C是包括以下步骤完成的 电信号经过宽带放大电路放大送至模数转换器转换成数字信号，处理器对数字信号进行处理，计算出透过率、对比度和响应时间等参数。第四步数字信号通过液晶显示装置显示。由于采用了上述本发明技术方案，LCD面板的测试系统及LCD面板的测试方法， 即能满足功能强大，能满足研发验证和生产测试需求，且成本低廉、使用、维护方便。


附图1所示是本发明的LCD面板透过率测试系统的电路图。附图2所示是本发明的LCD面板透过率测试系统的电路图。附图3所示是本发明的LCD面板透过率测试方法信号发生系统部分的流程图。附图4所示是本发明的LCD面板透过率测试方法信号处理系统部分的流程图。其中，发光二级管为110，滤光片为109，高速光电二极管为101，宽带放大电路为 102，模数转换器为103，处理器为104，显示装置为105，发光二级管驱动电路为107，IXD驱动电路为106，电源为111，IXD面板为108，信号发生系统201，信号处理系统301。
具体实施例方式以下所描述的最佳实施例仅是本发明进行阐述本发明实施方案，但不局限于所公开的任何具体实施形式。如图示1和图示2所示，一种IXD面板的透光率测试系统，包括信号发生系统201， 电源111，信号处理系统301，显示装置105及IXD驱动电路106和发光二级管驱动电路107 ； 所述驱动电路驱动信号发生系统产生光信号，所述信号处理系统对光信号转化、处理输入给显示装置105，所述显示装置105响应所述数字信号发生系统产生的测试用信号，所述的电源111为整个测试系统提供驱动电压；其中所述信号发生系统包括发光二级管110、滤光片109 ；所述的信号处理系统包括光电二极管101、放大器102、数模转换器103和数据处理器104。本发明采用高速硅PIN光电二极管进行光信号采集，经过宽带运算放大器放大，由高速ADC将信号转化为数字量，最终在MCU中计算出透过率，对比度和响应时间。整个系统的电源有系统供电111提供。本发明提供的LCD面板透过率的测试系统是一种通用的测试系统，具有测试成本低，测试效率高等特点。本发明实施例中LCD面板透过率的测试方案，优选的技术方案是如图示3所示， 在步骤A中，测试用光线由发光二级管110发出，经过滤光片109将点光源光线调成平行光。测试过程中，发光二极管110由发光二级管驱动电路107驱动发光，LCD108由LCD驱动电路106驱动工作。发光二级管驱动电路107是由处理器104控制的。如图示4所示，在步骤B中，由信号产生系统发出的平行光线经LCD投射到高速光电二极管101上，由光电二极管101将光信号转变成电信号，电信号经过宽带放大电路102 放大送至模数转换器103转换成数字信号，处理器104对数字信号进行处理，计算出透过率、对比度和响应时间等参数，通过显示器105显示出来。发光二级管驱动电路和IXD驱动电路是由处理器104控制的。以上所描述得最佳实施例仅是对本发明进行阐述和说明，但并不限于所公开的任何具体形式，进行许多修改和变化时可能的，而所有的修改和变化都应属于本发明所附权利要求保护的范围。
权利要求
1.一种LCD面板透过率的测试系统，包括数字信号发生系统，处理接受系统，电源，显示装置，LCD面板驱动电路及背光驱动电路；所述背光驱动电路驱动信号发生系统产生光信号，所述信号处理接受系统对光信号转化、处理输入给显示装置，所述显示装置响应所述数字信号发生系统产生的测试用信号，所述的电源为整个测试系统提供驱动电压；其特征在于所述信号发生系统包括发光二级管、滤光片；所述的信号处理系统包括用于光-电转换的光电二极管，以及对所述电信号进行处理的放大器、数模转换器和数据处理器。
2.根据权利要求1所述的LCD面板透过率的测试系统，其特征在于所述测试系统设置有发光二级管为测试系统提供所用光线。
3.根据权利要求2所述的LCD面板透过率的测试系统，其特征在于所述发光二级管由发光二级管驱动电路来驱动发光。
4.根据权利要求3所述的LCD面板透过率的测试系统，其特征在于所述背光驱动电路由数据处理器控制。
5.根据权利要求1所述的LCD面板透过率的测试系统，其特征在于所述的LCD面板有LCD驱动电路驱动工作。
6.根据权利要求1所述的LCD面板透过率的测试系统，其特征在于所述面板驱动电路由数据处理器控制。
7.一种IXD面板透过率的测试方法，包括以下步骤A、接通电源开起驱动电路；B、测试信号的产生；其特征在于所述的步骤B是包括以下步骤完成的测试用光线由发光二级管发出，经过滤光片将点光源光线调成平行光，平行光线经LCD投射到高速光电二极管上，由光电二极管将光信号转变成电信号；C、数字信号的接受与处理，其特征在于所述的步骤C是包括以下步骤完成的电信号经过宽带放大电路放大送至模数转换器转换成数字信号，处理器对数字信号进行处理， 计算出透过率、对比度和响应时间等参数；D、数字信号通过液晶显示装置显示。
全文摘要
本发明公开了一种LCD面板透过率测试系统，包括数字信号发生系统，处理接受系统，电源，显示装置，面板驱动电路及背光驱动电路；所述背光驱动电路驱动信号发生系统产生光信号，所述信号处理接受系统对光信号转化、处理输入给显示装置，所述显示装置响应所述数字信号发生系统产生的测试用信号，所述的电源为整个测试系统提供驱动电压；所述信号发生系统包括发光二级管、滤光片；所述的信号处理系统包括光电二极管、放大器、数模转换器和数据处理器。本发明公开的技术方案成本低廉、使用、维护方便，满足研发验证和生产产线的测试需求。
文档编号G01M11/02GK102540521SQ20121005888
公开日2012年7月4日 申请日期2012年3月8日 优先权日2012年3月8日
发明者韩盈盈 申请人:歌尔声学股份有限公司