专利名称：探针式测试治具的制作方法
技术领域：
本发明涉及测试工装治具领域，特别地，是一种用于测试主板的测试治具。
背景技术：
在社会高速发展的现代，越来越多的电子产品进入千家万户，这些设备一般都含有一块甚至多块或大或小的电路板，这些电路板上焊接了各种各样的接口，特别是微机使
用的主板接口更多，这些电子产品在出厂时都需要进行一系列的检测。一般检测都是通过在电路板的接口插接相应的插头，然后进行相关测试，但是这样的测试会将电路板接口的金属触片产生磨损，这种磨损会给挑剔的客户借口使用过而产生退货，更重要的是这种磨损的存在，会加速接口的氧化。
发明内容
为了解决上述问题，本发明的目的在于提供一种探针式测试治具，该探针式测试治具能通过电路板接口的焊点，与电路板电气连接进行测试。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是
该探针式测试治具包括测试台和测试器，所述测试台上设置有固定电路板的铜柱，所述测试台上方设置有与其平行的滑杆，所述滑杆两端通过连杆固定在所述测试台上，所述滑杆上套接有至少二根套环，所述套环能在所述滑杆上滑动，所述套环上设置有锁定螺杆，所述套环上固定一垂直于所述滑杆的伸缩杆，所述伸缩杆的另一端设置有测试探针，所述测试探针与所述测试器电气连接。作为优�。錾焖醺宋焖醺饲曳直鹜üㄆ苡胪黄昧�。作为优�。霾馐云骱退銎眉稍谕豢翘逯校霾馐云饔氩馐蕴秸胫涞牡枷叻直鹕柚迷诙杂Φ耐ㄆ苣�。作为优选，所述测试台上设置有旋转平台，所述铜柱设置在所述旋转平台上。作为优�。隽宋兴ɑ返纳焖踔�。作为优选，所述测试探针的顶部为导电胶或者导电硅胶。本发明的优点在于
1.通过测试探针接触电路板的接口，进行测试，防止了接口的磨损，使接口不产生老化
2.结构简单，成本低廉。
图I是本探针式测试治具一实施例立体结构示意图。图2是本探针式测试治具图I实施例测试主板的立体结构示意图。图3是本探针式测试治具图I实施例测试探针的结构示意图。
具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明进一步说明
参阅图I、图2，在本实施例中，该探针式测试治具包括测试台100和测试器，所述测试台100上设置有固定电路板500的铜柱120，所述测试台100上方设置有与其平行的滑杆600，所述滑杆600两端通过连杆200固定在所述测试台100上，所述滑杆600上套接有四
根套环320，所述套环320能在所述滑杆600上滑动，所述套环320上设置有锁定螺杆330，所述套环320上固定一垂直于所述滑杆600的伸缩杆300，所述伸缩杆300的另一端设置有测试探针310，所述测试探针310与所述测试器电气连接。上述的探针式测试治具，所述伸缩杆300为气动伸缩杆且分别通过一通气管410
与同一气泵连通。上述的探针式测试治具，所述测试器和所述气泵集成在同一壳体400中，所述测试器与测试探针310之间的导线分别设置在对应的通气管410内，简化整个装置的结构。上述的探针式测试治具，所述测试台100上设置有旋转平台110，所述铜柱120设置在所述旋转平台110上，旋转平台能够使测试探针310减少因为电路板500本身的元件阻挡而产生死角。上述的探针式测试治具，所述连杆200为含有锁定环210的伸缩柱，通过调整连杆200的高低，可以调整测试探针310的最佳接触角度。参阅图3，上述的探针式测试治具，所述测试探针310的顶部为导电胶或者导电硅胶，导电胶或者导电硅胶能够使测试探针310不划伤电路板500的焊点。上述的探针式测试治具的使用方式
将电路板500固定在所述旋转平台110的铜柱120上，然后调整旋转平台110和连杆200，使所述测试探针310避免所述电路板500上元器件的阻挡，将测试探针310调整至对应接口的焊点上，锁定所述锁定螺杆330固定所述伸缩杆300，驱动所述气泵，所述伸缩杆300将所述测试探针310送至对应接口的焊点上，所述测试器对所述电路板500进行测试。以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求
1.一种探针式测试治具，包括测试台(100)和测试器，其特征在于所述测试台(100)上设置有固定电路板(500)的铜柱(120)，所述测试台(100)上方设置有与其平行的滑杆(600),所述滑杆(600)两端通过连杆(200)固定在所述测试台(100)上，所述滑杆(600)上套接有至少ニ根套环(320 )，所述套环(320 )能在所述滑杆(600 )上滑动，所述套环(320 )上设置有锁定螺杆(330)，所述套环(320)上固定一垂直于所述滑杆(600)的伸缩杆(300)，所述伸缩杆(300)的另一端设置有测试探针(310)，所述测试探针(310)与所述测试器电气连接。
2.根据权利要求1所述的探针式测试治具，其特征在于所述伸缩杆(300)为气动伸縮杆且分别通过一通气管(410)与同一气泵连通。
3.根据权利要求I或权利要求2所述的探针式测试治具，其特征在于所述测试器和所述气泵集成在同一壳体(400)中，所述测试器与测试探针(310)之间的导线分别设置在对应的通气管(410)内。
4.根据权利要求I所述的探针式测试治具，其特征在于所述测试台(100)上设置有旋转平台(110 )，所述铜柱(120 )设置在所述旋转平台(110 )上。
5.根据权利要求I所述的探针式测试治具，其特征在于所述连杆(200)为含有锁定环(210)的伸缩柱。
6.根据权利要求I所述的探针式测试治具，其特征在于所述测试探针(310)的顶部为导电胶或者导电硅胶。
全文摘要
本发明提供一种探针式测试治具，包括测试台和测试器，所述测试台上设置有固定电路板的铜柱，所述测试台上方设置有与其平行的滑杆，所述滑杆两端通过连杆固定在所述测试台上，所述滑杆上套接有至少二根套环，所述套环能在所述滑杆上滑动，所述套环上设置有锁定螺杆，所述套环上固定一垂直于所述滑杆的伸缩杆，所述伸缩杆的另一端设置有测试探针，所述测试探针与所述测试器电气连接，本发明通过所述测试探针接触电路板的接口，进行测试，防止了接口的磨损，使接口不产生老化。
文档编号G01R31/28GK102854453SQ20121029296
公开日2013年1月2日 申请日期2012年8月17日 优先权日2012年8月17日
发明者金湖滨 申请人:苏州启智机电技术有限公司
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