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专利名称：电感耦合等离子体质谱接口装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种电感耦合等离子体质谱接口装置。
而电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)接口是ICP-MS技术的关键部件，是电感耦合等离子体与质谱仪间连结的纽带和桥梁，解决其间离子传输的问题。原进口ICP-MS系统装置的接口使用的采样锥和截取锥采用孔径均达1mm左右，采样锥锥孔被准直插放在等离子体炬焰中心通道的轴心上，距炬端仅几mm，由于锥孔内外的压力差，等离子体流过一连续区并在锥孔后的空间形成超音喷射，在采样锥后的一定距离处，插入截取锥，截取锥锥孔亦准直插放在等离子体炬焰中心通道的轴心上，且由于国外进口的接口装置价格都很高，一般都很难为每个专题研究配备各自的接口装置。

发明内容
本实用新型的目的是提供一种电感耦合等离子体质谱接口装置，其能够解决大气压、高温等离子体与真空、常温质谱仪这样两个差异很大的环境中的离子传输问题，离子的传输效率高，在离子传输过程中不会带来使真实信号失真的不良反应。
为实现上述目的，本实用新型采取以下设计方案这种电感耦合等离子体质谱接口装置，由采样锥和截取锥构成，采样锥与截取锥轴向同心，采样锥和截取锥锥孔端厚度为0.2mm～0.5mm，由耐蚀、耐高温的金属材料制成。
本实用新型的优点是采用自制接口装置，可以取代原进口接口装置，使用效果良好，由于采用了国产件，大幅度的降低了ICP-MS仪器的运转成本，为大型科学仪器的社会化服务创造了条件。
所述的采样锥和截取锥由耐蚀、耐高温的金属材料制成。如采用纯镍或不锈钢材料制成。
采样锥和截取锥之间的最佳位置设计为位于马赫终止带起始位置的2/3处，在此处可采集到原始状态的离子。
由于两锥的几何形状、相互位置会直接影响整个系统装置的灵敏度和长期稳定性(信号漂移)，而且也影响背景计数和各类离子的产率，同时影响谱干扰和非谱干扰的程度，故采样锥和截取锥孔径及相互间位置、制作材料采用上述设计，可保证达到较好的各项性能指标，又成本低廉。
图2所示的是应用实施例示意图，该接口装置为电感耦合等离子进样系统3与质谱系统4的传输接口，采样锥和截取锥接口轴心与进样系统3的等离子体矩管轴心准直，它们的光洁度、尺寸公差严格要求，两锥的距离、同心度、垂直度亦应严格保证。
权利要求1.一种电感耦合等离子体质谱接口装置，由采样锥和截取锥构成，采样锥与截取锥轴向同心，其特征在于所述的采样锥和截取锥锥孔端厚度为0.2mm～0.5mm.，由耐蚀、耐高温的金属材料制成。
2.根据权利要求1所述的电感耦合等离子体质谱接口装置，其特征在于所述的采样锥和截取锥锥孔端厚度为0.2mm。
3.根据权利要求1所述的电感耦合等离子体质谱接口装置，其特征在于所述的采样锥和截取锥锥孔端厚度为0.5mm.。
4.根据权利要求1所述的电感耦合等离子体质谱接口装置，其特征在于所述的采样锥和截取锥由纯镍材料制成。
5.根据权利要求1所述的电感耦合等离子体质谱接口装置，其特征在于所述的采样锥和截取锥由不锈钢材料制成。
6.根据权利要求1所述的电感耦合等离子体质谱接口装置，其特征在于所述的采样锥和截取锥之间的位置为位于马赫终止带起始位置的2/3。
专利摘要本实用新型提供了一种电感耦合等离子体质谱接口装置,由采样锥和截取锥构成,采样锥与截取锥轴向同心,采样锥和截取锥锥孔端厚度为0.2mm～0.5mm,由耐蚀、耐高温的金属材料制成。其为自制接口装置,可以取代原进口接口装置,使用效果良好,由于采用了国产件,大幅度的降低了ICP－MS仪器的运转成本,为大型科学仪器的社会化服务创造了条件,其能够解决大气压、高温等离子体与真空、常温质谱仪这样两个差异很大的环境中的离子传输问题,离子的传输效率高,在离子传输过程中不会带来使真实信号失真的不良反应。
文档编号G01N23/22GK2510862SQ0127970
公开日2002年9月11日 申请日期2001年12月27日 优先权日2001年12月27日
发明者刘湘生 申请人:北京有色金属研究总院