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专利名称：一种脉冲失效侦测电路的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及ー种侦测脉冲失效的电路。
背景技术：
随着单片机在开关电源上的广泛应用，采用单片 机产生开关脉冲信号的技术正在普及。尽管近些年来单片机的可靠性有了长足的发展，但是仍然有一定的几率会产生误动作，造成严重事故。尤其是开关脉冲信号由于误动作变成直流高电平后，会打开开关元器件并在开关元器件上产生超过负荷能力的大电流，导致开关元器件损坏。
发明内容为了保证脉冲信号不会由于单片机误动作变成直流高电平，本实用新型提供ー种侦测脉冲失效电路，该电路主要通过电阻、电容组成的计时电路侦测是否出现误动作造成的直流高电平。本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是PM0S管Tl和NMOS管T2的栅极相连，并连接电阻R0，电阻RO的另一端连接脉冲信号输入端。PMOS管Tl的源极接电源VCC,漏极连接电阻Rl，NMOS管T2的源极接地，漏极连接电阻R2。电阻Rl和R2的另一端相连，并连接电容C和运算放大器OP-AMP的负输入端，电容C的另一端接地。电阻R3的一端连接电源VCC，另一端连接运算放大器OP-AMP的正输入端和电阻R4，电阻R4的另一端接地。运算放大器OP-AMP由VCC供电，输出端是侦测信号输出端。本实用新型的有益效果是，电路结构简単，能够快速侦测误动作造成的直流高电平。
以下结合附图
和实施例对本实用新型进ー步说明。图I是本实用新型的电路原理图。图中，Tl.PMOS 管，T2. NMOS 管，R0.电阻，Rl.电阻，R2.电阻，R3.电阻，R4.电阻，C.电容，0P-AMP.运算放大器，VCC.电源。
具体实施方式
在图I中，PMOS管Tl和NMOS管T2的栅极相连，并连接电阻R0，电阻RO的另一端接脉冲信号输入端。PMOS管Tl的源极连接电源VCC，漏极连接电阻Rl，NMOS管T2的源极接地，漏极连接电阻R2。电阻Rl和R2的另一端相连，并连接电容C和运算放大器OP-AMP的负输入端，电容C的另一端接地。电阻R3的一端连接电源VCC，另一端连接运算放大器OP-AMP的正输入端和电阻R4，电阻R4的另一端接地。运算放大器OP-AMP由VCC供电，输出端是侦测信号输出端。如图I所示，电阻R3和R4组成ー个分压电路，为运算放大器OP-AMP的正输入端提供一个參考电压。当脉冲信号输入端为低电平吋，PMOS管Tl导通，NMOS管T2断开，电源VCC通过电阻Rl对电容C充电。电容C上的电压，即运算放大器OP-AMP的负输入端电压，超过參考电压时，运算放大器OP-AMP输出低电平。当脉冲信号输入端为高电平时，PMOS管Tl断开，NMOS管T2导通。电容C通过电阻R2放电。当电容C上的电压低于參考电压时，运算放大器OP-AMP输出高电平。由于电阻Rl的阻值远远小于电阻R2的阻值，通过电阻Rl给电容C充电的时间常数远远小于电容C通过电阻R2放电的时间常数。因此，脉冲信号输入端输入的是脉冲信号或低电平信号时，运算放大器OP-AMP始终输出低电平。一旦出现误动作造成脉冲信号输入端出现ー个持续时间较长的直流高电平信号，运算放大器OP-AMP输出高电平。
权利要求1.一种脉冲失效侦测电路，其特征是=PMOS管Tl和NMOS管T2的栅极相连，并连接电阻R0，电阻RO的另一端接脉冲信号输入端。
2.根据权利要求I所述的脉冲失效侦测电路，其特征是PM0S管Tl的源极接电源VCC，漏极连接电阻Rl，NMOS管T2的源极接地，漏极连接电阻R2。
3.根据权利要求I所述的脉冲失效侦测电路，其特征是电阻Rl和R2的另一端相连，并连接电容C和运算放大器OP-AMP的负输入端，电容C的另一端接地。
4.根据权利要求I所述的脉冲失效侦测电路，其特征是电阻R3的一端连接电源VCC，另一端连接运算放大器OP-AMP的正输入端和电阻R4，电阻R4的另一端接地。
专利摘要一种脉冲失效侦测电路。当输入低电平时，它使PMOS管T1导通。电源VCC通过一个小阻值电阻R1快速将电容C充满。此时运算放大器OP-AMP的负输入端电压大于正输入端电压，运算放大器OP-AMP输出低电平。当输入高电平是，它使NMOS管T2导通。电容C通过一个大阻值电阻R2缓慢放电。当电容C上电量释放足够时，运算放大器OP-AMP的负输入端电压小于正输入端电压，运算放大器OP-AMP输出高电平。因此，如果脉冲信号输入端出现持续时间很长的高电平信号，运算放大器OP-AMP输出高电平，否则输出低电平。
文档编号G01R29/02GK202548218SQ20122014445
公开日2012年11月21日 申请日期2012年4月9日 优先权日2012年4月9日
发明者赵恩海 申请人:赵恩海