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专利名称：检测装置的制作方法
技术领域：
本发明是关于一种检测装置，特别是一种采用探针对电路进行检测的检测装置。
背景技术：
平面显示器的制造过程中，必须先经过检测，确定其上的电路无断路或其它不正常的情形后，才能进行下一步的组装和销售。
一种现有技术的检测装置如图1所示，该检测装置1包括一探针平台11、两探针座12与17、一支架14、一固持臂15和一光学显微镜16。
该探针平台11包括一工作面111和两相对的侧面112。该工作面111是水平面，其用于放置待检测的工件，如平面显示器，该工作面111定义一垂直于该工作面111的Z轴、一与该Z轴垂直的X轴和一与该Z轴及X轴均垂直的Y轴。该两侧面112与该工作面111垂直，其分别设置一与Y轴平行的滑槽113。
该探针座12设置在该工作面111的边缘部位，其包括一用于触探电路的探针13。该探针座17同探针座12相同，其也设置在该工作面111的边缘部位，并包括一用于触探电路的探针18。该探针座12和17均可在工作面111上移动，以触探不同位置的电路。
该支架14包括两竖立杆141和连接该两竖立杆141的水平杆142，该两竖立杆141的下端与该滑槽113以可滑动的方式配合，从而使该支架14可以沿Y轴方向自由往返移动。该固持臂15用于固持该光学显微镜16，其设置在该水平杆142上，并可沿该水平杆142往返移动，以带动该光学显微镜16沿X轴方向自由往返移动。
实际操作中，该探针13和18可以单独作用或配合作用，对电路的通、断进行触探，该光学显微镜16则做为观察工具，供操作者观察探针13和18的触探位置是否正确。
但是，上述检测装置1存在如下缺点
首先，因为该探针平台11上仅能装设一个光学显微镜16，其无法同时观察各个探针13和18对电路的触探状况；其次，当该探针平台11尺寸较大时，操作者在观看光学显微镜16时，要同时操作探针平台11上的探针13和18，甚为不便；再者，因为光学显微镜的成本过高，造成整个检测装置1的造价也较高。

发明内容为克服现有技术的检测装置操作不便而且成本较高的问题，本发明提供一种操作方便而且成本低的检测装置。
本发明的检测装置包括一探针平台、一探针座、一探针、一电子摄影机和一监视器，该探针平台具有一用于放置待测物的工作面，该探针座设置在该工作面上，该探针安装在该探针座上，该电子摄影机安装在该探针座上，该监视器与该电子摄影机相连。
相较于现有技术，由于本发明的检测装置采用一电子摄影机对探针与探针触探到电路的影像进行摄影，所摄得的影像再显示在监视器上，操作者直接观察监视器上的影像即可，方便操作；而且，因为电子摄影机较光学显微镜便宜许多，可大幅降低本发明检测装置的造价。

图1是现有技术检测装置的立体示意图。
图2是本发明检测装置的立体示意图。
图3是本发明检测装置的探针座与电子摄影机的平面示意图。
具体实施方式如图2所示，是本发明检测装置的立体示意图。该检测装置2包括一探针平台21、两探针座22与32、两探针23与33、两电子摄影机27与28。
该探针平台21包括一工作面211和两相对的侧面212。该工作面211是水平面，其用于放置待检测的工件(图未示)，该工作面211定义一垂直于该工作面211的Z轴、一与该Z轴垂直的X轴和一与该Z轴及X轴均垂直的Y轴。该两侧面212与该工作面211垂直，其分别设置一与Y轴平行的滑槽213。
该探针座22设置在该工作面211的边缘部位，该探针23安装在该探针座22上并用于触探待检测工件的电路。该探针座32同探针座22相同，其也设置在该工作面211的边缘部位，并安装有用于触探电路的探针33。该探针座22和32均可在工作面211上移动，以触探不同位置的电路。该电子摄影机27安装在该探针座22上并用于取得探针23与探针23所触探到电路的影像。该电子摄影机28安装在该探针座32上并用于取得探针33与探针33所触探到电路的影像。
该检测装置2还包括一支架24和一通过固持臂25安装在该支架24上的电子摄影机26。该支架24包括两竖立杆241和连接该两竖立杆241的水平杆242，该两竖立杆241的下端与该滑槽213以可滑动的方式配合，从而使该支架24安装在该探针平台21上并可以沿Y轴方向自由往返移动。该固持臂25用于固持该电子摄影机26，其设置在该水平杆242上，并可沿该水平杆242往返移动，以带动该电子摄影机26沿X轴方向自由往返移动。
本实施方式中，该电子摄影机26、27和28均为电荷耦合器件(Charge Couple Device，CCD)。
一起参照图3，是本发明检测装置2的探针座22与电子摄影机27的平面示意图。该探针座22包括一吸盘226、一X轴方向调节旋钮221、一Y轴方向调节旋钮222、一Z轴方向调节旋钮223和一角度调节旋钮224。该吸盘226通过真空吸附作用，可任意吸附在该工作面211上，该X轴方向调节旋钮221用于调节探针23在X轴方向的位移，该Y轴方向调节旋钮222用于调节探针23在Y轴方向的位移，该Z轴方向调节旋钮223用于调节探针23在Z轴方向的位移，该角度调节旋钮224与一弹簧225配合作用，以调节探针23相对于该探针平台21的工作面211的角度。该电子摄影机27通过导光光纤272连接一光源(图未示)，该导光光纤272用于传送光源所发出的光线到该电子摄影机27的内部镜头，一信号线271将该电子摄影机27的信号传输至一信号处理装置(图未示)，该信号处理装置将处理后的信号输出到一监视器(图未示)，该监视器用于显示该电子摄影机27所取得的影像。
该探针座32的结构同探针座22相同，电子摄影机26和28的结构与电子摄影机27相同，此处不再详述。当然，该电子摄影机26和28的影像可以显示在上述的同一个监视器上。
实际操作中，利用探针座22的吸盘226将探针座22固定在大致位置，随后，通过电子摄影机26观察探针座22上探针23与电路的对位状况，再通过调节旋钮221、222或223将探针23微调至准确位置，即可进行电路的检测，该探针座22上的电子摄影机27实时将影像传输至监视器上，以便操作者观察。该探针座32的操作方式同探针座22的操作，该两探针23和33可以单独作用或配合作用，对电路的通、断进行触探。
相较于现有技术，因为本发明的检测装置2采用电子摄影机27、28对探针与探针触探到电路的影像进行摄影，所摄得的影像再显示在监视器上，操作者直接观察监视器上的影像即可，方便操作；而且，因为电子摄影机27、28较光学显微镜便宜许多，可大幅降低本发明检测装置2的造价。另外，因为电子摄影机重量较轻，故探针平台21上的支架24的设计可简单化；又因为本发明的检测装置2采用多个电子摄影机，其取得的影像可以同时显示在一个监视器上，便于操作者同时观察多个目标。
上述探针座22的吸盘226也可采用磁铁片，利用该磁铁片与探针平台21的磁性吸引力，可将探针座22任意吸附在该工作面211上。
权利要求
1.一种检测装置，其包括一探针平台、一探针座和一探针，该探针平台具有一用于放置待测物的工作面，该探针座设置在该工作面上，该探针安装在该探针座上，其特征在于该检测装置进一步包括一第一电子摄影机和一监视器，该第一电子摄影机安装在该探针座上，该监视器与该第一电子摄影机相连。
2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于进一步包括一支架和一安装在该支架上的第二电子摄影机，该支架安装在该探针平台上并可沿一平行于该工作面的第一方向往返移动。
3.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于该第二电子摄影机可沿一平行于该工作面而且垂直于该第一方向的第二方向往返移动。
4.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于该探针座包括一吸盘，该吸盘吸附在该工作面上。
5.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于该探针座包括一磁铁片，该磁铁片吸附在该工作面上。
6.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于该探针座包括一第一方向调节旋钮，该第一方向平行于该工作面。
7.如权利要求6所述的检测装置，其特征在于该探针座包括一第二方向调节旋钮，该第二方向平行于该工作面而且垂直于该第一方向。
8.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于该探针座包括一第三方向调节旋钮，该第三方向垂直于该工作面。
9.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于该探针座包括一角度调节旋钮。
全文摘要
本发明公开一种检测装置，其包括一探针平台、一探针座、一探针、一电子摄影机和一监视器，该探针平台具有一用于放置待测物的工作面，该探针座设置在该工作面上，该探针安装在该探针座上，该电子摄影机安装在该探针座上，该监视器与该电子摄影机相连。
文档编号G01R1/073GK1696710SQ20041002726
公开日2005年11月16日 申请日期2004年5月15日 优先权日2004年5月15日
发明者黄茂源 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 群创光电股份有限公司