专利名称：一种测量led灯具整体性光衰特性的方法
技术领域：
本发明提出一种测量LED灯具整体性光衰特性的方法。
背景技术：
LED灯具具有低能耗长寿命的特点，但这需要基于适合其内部LED能稳定工作的特定区域内的温度环境，实际上LED的光衰因素取决于其结温。单颗LED光衰特性测量已经有很成熟的方法，而对于组成LED灯具后整体性光衰测量除了 DOE推荐LmSO方案外，还没有一种既简单实用又快速准确的方法。如果没有测试灯具内LED结温的有效方法，就只能直接测量LED灯具的光强随时间的自然衰减值来判断其寿命，虽然结果可信但费时费力，缺乏商业意义。 基于用LED器件作为光源所生产的灯具，不论其形式结构和工作环境如何，它的可靠性和寿命轨迹始终与LED的实际结温密切相关。LED厂家在研发过程中已采用最有效方法获取了 LED器件在可变温度下的Vf特性，并以此作为LED器件性能指标提供给灯具厂家用于寿命设计参考。因此，排除LED灯具本身失效因素，主要考虑对灯具原始光通量降至70%时的维持时间进行测试。影响LED器件结温的因素多而复杂，目前的科技手段测量灯具内LED结温有许多方法但结果不够准确。
发明内容
本发明提出一种测量LED灯具整体性光衰特性的方法，通过获取LED的Vf温度变化间接测量LED灯具的光衰特性，具有测试时间短，操作简单的特点。本发明的技术方案是一种测量LED灯具整体性光衰特性的方法，包括以下步骤(I)LED灯具在正�？糇刺伦钊惹蛑醒《ㄒ豢臠ED灯珠为被测器件；(2 )将LED灯具放入恒温箱中，断开驱动电源输出与LED列阵之间的回路连线串入恒温箱外的电流表，在被测器件两侧并入恒温箱外的电压表；(3)稳定恒温箱中的测试温度作为起始结温值Tl ；(4)开启LED灯具，记录此时工作电压Vl和串电流Il ；(5)记录处于稳定热平衡状态时的工作电压V2和串电流12 ；(6)用V2减去Vl获得正向电压差Z Vf ;(7)用」Vf除以温度系数K，获得结温差」t ；(8)以起始结温值Tl加上结温差」t，得出结温值T2 ；(9)查阅LED器件光衰曲线，在对应的T2下降曲线与垂直轴70%时的交叉点处获得横轴读数为LED的寿命时间，也是LED灯具光衰70%时的寿命时间。起始结温值Tl具体为 25。。。本发明的有益效果是从LED伏安-温度特性曲线推测LED灯具所固有的使用寿命在实际可靠性测量中有广泛的应用价值。由于LED受灯具结构、散热效果和驱动自热等因素的综合影响，其结温是在特定环境下的平衡结果，基于该特定环境下的间接性测量结温能较完整地反映LED在灯具中的实际温度环境。不同LED生产厂家因生产工艺差异、材料差异，在同一种灯具中使用不同厂家或不同型号的LED产品其Vf-Tj特性曲线也各不相同，显然处于同等环境下采用不同类型LED颗粒的灯具其光衰寿命也相差甚远。因此对于同型号不同批次的灯具产品光衰寿命检测是必须和经常的。
采用本方法用间接手段测量LED灯具的光衰特性，具有测试时间短，操作相对简单，对LED灯具研发和进行可靠性寿命测试具有较大意义。
图I为本发明的流程图；图2为本发明测试的总连接图；图3为本发明灯具LED矩阵中被测器件的测试连接图。
具体实施例方式以下结合附图和实施例对本发明进行进一步描述。如图I所示，一种测量LED灯具整体性光衰特性的方法，包括以下步骤(I)LED灯具在正�？糇刺伦钊惹蛑醒《ㄒ豢臠ED灯珠为被测器件；(2 )将LED灯具放入恒温箱中，断开驱动电源输出与LED列阵之间的回路连线串入恒温箱外的电流表，在被测器件两侧并入恒温箱外的电压表；(3)稳定恒温箱中的温度作为起始结温值Tl ；(4)开启LED灯具，记录此时工作电压Vl和串电流Il ;(5)记录处于稳定热平衡状态时的工作电压V2和串电流12 ；(6)用V2减去Vl获得正向电压差Z Vf ;(7)用」Vf除以温度系数K，获得结温差」t ；(8)以起始结温值Tl加上结温差」t，得出结温值T2 ；(9)查阅LED器件光衰曲线，在对应的T2下降曲线与垂直轴70%时的交叉点处获得横轴读数为LED的寿命时间，也是LED灯具光衰70%时的寿命时间。起始结温值Tl具体为 25。。。如图2和图3所示，具体测试步骤如下I.灯具中选择被测LED颗粒分析被测LED灯具在正�？糇刺碌淖钊惹颍⒂玫阄录平醒橹ぃ范ū徊馇虿⒀《ㄒ豢臠ED作为被测器件。2.按图2接入测量仪表在LED灯具中选择一个合适的接入点(便于焊接操作)，断开一根驱动电源与LED矩阵的供电连线，用较长的导线分别串入一个数字电流表，并在被测LED灯珠两侧用较长导线并入一个数子电压表(导线截面约2mm2)。3.测试前准备
将被测LED灯具放入恒温箱内，其测试线通过箱体的导孔连接到恒温箱外部的仪表，连接好灯具和仪表电源。4.测试过程(假设测试温度为25°C)A.开启恒温箱电源，调节箱内温度到25°C并保温一小时。开启仪表电源并稳定30分钟。B.开启LED灯具电源，立刻记录此刻的被测LED前向工作电压Vf标为VI，同时记录串电流If值为Ii ；C.保持恒温箱内温度25°C四小时不变，期间观察此时的LED前向工作电压Vf和串电流If是否趋于稳定。如果所观察的Vf值读数还在向低压区漂移，应继续观察直至趋于稳定，记录此刻的前向工作电压Vf值标为V2，串电流标为12。(串电流是恒流源驱动所致，要求其初始值Il和稳定后所测值12的变化应在5%内。)·
D.将当前测得的V2值减去初始电压值VI，获得环境温度25°C时的LED正向电压差值」Vf。E.用」Vf除以被测LED的温度系数K (mV/°C )，获得结温差」t。F.以起始结温值Tl (25°C)为起始结温，加上结温差」t，最终得出当前灯具中LED的结温值T2。G.查阅LED厂家提供的该LED器件光衰曲线，在对应的T2下降曲线与垂直轴70%时的交叉点处获得横轴读数为该LED的寿命时间，也是被测LED灯具光衰70%时的寿命时间。
权利要求
1.一种测量LED灯具整体性光衰特性的方法，其特征在于包括以下步骤 (1)LED灯具在正�？糇刺伦钊惹蛑醒《ㄒ豢臠ED灯珠为被测器件； (2)将LED灯具放入恒温箱中，断开驱动电源输出与LED列阵之间的回路连线串入恒温箱外的电流表，在被测器件两侧并入恒温箱外的电压表； (3)稳定恒温箱中的测试温度作为起始结温值Tl； (4)开启LED灯具，记录此时工作电压Vl和串电流Il; (5)记录处于稳定热平衡状态时的工作电压V2和串电流12； (6)用V2减去Vl获得正向电压差」Vf； (7)用ZVf除以温度系数K，获得结温差」t ； (8)以起始结温值Tl加上结温差」t，得出结温值T2； (9)查阅LED器件光衰曲线，在对应的T2下降曲线与垂直轴70%时的交叉点处获得横轴读数为LED的寿命时间，也是LED灯具光衰70%时的寿命时间。2.根据权利要求I所述的一种测量LED灯具整体性光衰特性的方法，其特征在于所述的起始结温值Tl具体为25。。。
全文摘要
本发明公开一种测量LED灯具整体性光衰特性的方法,包括以下步骤1)在LED灯具中选定一颗LED灯珠为被测器件；2)将LED灯具放入恒温箱中，断开驱动电源输出与LED列阵之间的回路串入电流表，被测器件两侧并入电压表；3)稳定恒温箱中的测试温度并作为起始结温T1；4)开启LED灯具，记录工作电压V1和串电流I1；5)记录处于稳定热平衡状态时的工作电压V2和串电流I2；6)正向电压差⊿Vf=V2-V1；7)结温差⊿t=⊿Vf/K；8)结温值T2=T1+⊿t；9)查阅LED器件光衰曲线，在对应的T2下降曲线与垂直轴70%时的交叉点处获得横轴读数为LED的寿命时间，也是LED灯具光衰70%时的寿命时间。
文档编号G01R31/44GK102901938SQ20121038253
公开日2013年1月30日 申请日期2012年10月10日 优先权日2012年10月10日
发明者陈炜, 杨家伟, 吴东, 康丽惠 申请人:上海普天邮通科技股份有限公司
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