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专利名称：能够防止硅块在少子寿命检测时出现崩边和误差的底座的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及能够防止硅块在少子寿命检测时出现崩边和误差的底座，属于光伏领域，主要用于少子寿命测试仪器的配套使用。
背景技术：
目前少子寿命测试仪硅块摆放台在与硅块的相互接触过程中，很容易造成硅块崩边等损伤。崩边部分由于无法达到生产的质量要求而被切掉，无法进入下一道工序，从而导致硅料有效利用率的降低，造成了很大的浪费。同时，在检测时机器的寻边定位，以硅块上表面四边上的单点为边界。如果硅块在放置时，边缘没有与检测台平行，则定位后的硅块形状为梯形，硅块有部分区域无法进行测试，影响测试结果。由于硅块较重，检测人员在少子检测时放置硅块的几种方法一，先把硅·块尾部放置在检测台上，头部在检测台的上方在手扶的作用下缓慢放置，到接近检测台面时快速抽出；二，先把硅块尾部放置在检测台单侧，头部在在手扶的作用下缓慢放下时在检测台的外面，然后用力移动硅块使之完整放置到检测台中部；三，力量较大的人员平行抱起硅块轻轻放置到检测台然后调整。放置结果有两种一，检测人员通过参考台面边、角的位置调整硅块后硅块长边与检测台边缘平行；二，检测人员直接放置并未调整或调整未到位而使硅块边缘与检测台边缘不平行(此种结果容易引起划线误差)。在硅块放置时，如果为方法一在台面较硬或台面上存在硅渣时极易引起崩边，且在此方法中由于时单头放置尾部承受冲击较重，极易引起底部傍边掉渣而影响下块测试；方法二较好但要进行仔细调整，容易出现调整不到位而引起划线误差；方法三则需要检测人员有一锭的力量，同时在工作任务紧张时由于体力消耗过大也会出现方法一中出现的问题。放置结果为一时较好，如果为结果二时检测后会出现测试误差，从而引起划线误差。在调整位置时消耗时间较多，从而降低效率。

实用新型内容本实用新型的目的在于克服上述现有技术的缺点和不足，提供能够防止硅块在少子寿命检测时出现崩边和误差的底座，该底座减少硅块与摆放台接触面积，减少碎硅料在检测台停留的几率；在硅块两端预留出空位，方便硅块般放时手有合理的放置位置；在摆放台上铺设一层材料，保护在金属检测台的外表面，避免硅块少子寿命测试时与金属检测台直接接触，减少人为崩边等表面损伤；增加一个快速调整放置形状的装置。本实用新型的目的通过下述技术方案实现能够防止硅块在少子寿命检测时出现崩边和误差的底座，包括检测台，所述检测台上表面内凹形成凹槽，且凹槽的两端与检测台的侧壁连通，检测台上设置有保护层；所述检测台远离凹槽的侧壁上设置有调整装置。进一步地，所述调整装置的剖面呈L型，且该调整装置一端与检测台的侧壁连接，另一端的端面上设置有减震垫，调整装置与检测台之间设置有防护层，防护层贴合在调整装置的侧壁上，且防护层的顶端与减震垫的底端接触。调整装置的结构可以为多种形式，侧面需要保持与检测台在同一水平面内。进一步地，所述凹槽将检测台的端面分为两个对称的接触面，保护层贴合在该接触面上。凹槽的设置减少检测台与硅块的接触面积。进一步地，所述检测台的底面与调整装置的底面在同一水平面内。调整装置作为靠背，进行快速调整硅块放置形状。进一步地，所述检测台和调整装置均采用不锈钢材料制成；所述保护层和防护层均采用高分子量聚乙烯制成；所述减震垫采用橡胶制成。检测台面增加保护材料，减少测试时与金属检测台直接接触，减少人为崩边等表面损伤。综上所述，本实用新型的有益效果是(I)、减少少子检测平台的硅块崩边； (2)、减少硅块放置结果的不合理，从而减少划线误差；(3)、提闻娃块放直后的调整速度,提闻检测效率。

图I是本实用新型的结构示意图；图2是本实用新型的俯视图。附图中标记及相应的零部件名称1 一保护层；2—凹槽；3—检测台；4一调整装置；5—防护层；6—减震垫。
具体实施方式
下面结合实施例及附图，对本实用新型作进一步的详细说明，但本实用新型的实施方式不仅限于此。实施例如图I、图2所示，能够防止硅块在少子寿命检测时出现崩边和误差的底座，包括检测台3，所述检测台3上表面内凹形成凹槽2，且凹槽2的两端与检测台3的侧壁连通，检测台3上设置有保护层I ;所述检测台3远离凹槽2的侧壁上设置有调整装置4。台面长度减少，可以使检测人员在放置硅块时手可以一直扶着硅块，进行轻放，达到放置使用的方法的目的。所述调整装置4的剖面呈L型，且该调整装置4 一端与检测台3的侧壁连接，另一端的端面上设置有减震垫6，调整装置4与检测台3之间设置有防护层5，防护层5贴合在调整装置4的侧壁上，且防护层5的顶端与减震垫6的底端接触。调整装置4作为靠背，检测人员可以轻推硅块与靠背贴紧，从而快速准确的提高人员的调整速度。所述凹槽2将检测台3的端面分为两个对称的接触面，保护层I贴合在该接触面上。检测台面较宽，面积较大，上面容易残存掉落的硅渣，引起硅块崩边，故设置凹槽2可以减少台面的宽度，减少面积可以降低残渣存留的几率，减少面积可以防止硅块边缘与检测台3面的接触。凹槽2同时作为预留搬放时手抓的位置，方便搬运。所述检测台3的底面与调整装置4的底面在同一水平面内。保证安装时的同一高度，稳定性更高。所述检测台3和调整装置4均采用不锈钢材料制成；所述保护层I和防护层5均采用高分子量聚乙烯制成；所述减震垫6采用橡胶制成。在检测台3上铺设一层材料，保护在金属检测台3的外表面，避免硅块少子寿命测试时与金属检测台3直接接触，减少人为崩边等表面损伤，高分子量聚乙烯耐冲击、耐磨损、自润滑性、耐化学腐蚀等性能好，而且，超高分子量聚乙烯耐低温性能优异，在_40°C时仍具有较高的冲击强度，甚至可在-269°C下使用。橡胶具有弹性，能够减少硅块的损坏。 采取上述方式，就能较好地实现本实用新型。
权利要求1.能够防止硅块在少子寿命检测时出现崩边和误差的底座，其特征在于包括检测台(3)，所述检测台(3)上表面内凹形成凹槽(2)，且凹槽(2)的两端与检测台(3)的侧壁连通，检测台(3)上设置有保护层(I);所述检测台(3)远离凹槽(2)的侧壁上设置有调整装置(4)。
2.根据权利要求I所述的能够防止硅块在少子寿命检测时出现崩边和误差的底座，其特征在于所述调整装置(4)的剖面呈L型，且该调整装置(4) 一端与检测台(3)的侧壁连接，另一端的端面上设置有减震垫(6)，调整装置(4)与检测台(3)之间设置有防护层(5)，防护层(5)贴合在调整装置(4)的侧壁上，且防护层(5)的顶端与减震垫(6)的底端接触。
3.根据权利要求2所述的能够防止硅块在少子寿命检测时出现崩边和误差的底座，其特征在于所述凹槽(2)将检测台(3)的端面分为两个对称的接触面，保护层(I)贴合在该接触面上。
4.根据权利要求3所述的能够防止硅块在少子寿命检测时出现崩边和误差的底座，其特征在于所述检测台(3)的底面与调整装置(4)的底面在同一水平面内。
5.根据权利要求4所述的能够防止硅块在少子寿命检测时出现崩边和误差的底座，其特征在于所述检测台(3)和调整装置(4)均采用不锈钢材料制成；所述保护层(I)和防护层(5)均采用高分子量聚乙烯制成；所述减震垫(6)采用橡胶制成。
专利摘要本实用新型公开了一种能够防止硅块在少子寿命检测时出现崩边和误差的底座，包括检测台，所述检测台上表面内凹形成凹槽，且凹槽的两端与检测台的侧壁连通，检测台上设置有保护层；所述检测台远离凹槽的侧壁上设置有调整装置。该底座减少少子检测平台的硅块崩边；减少硅块放置结果的不合理，从而减少划线误差；提高硅块放置后的调整速度，提高检测效率。
文档编号G01R31/26GK202710714SQ20122042369
公开日2013年1月30日 申请日期2012年8月24日 优先权日2012年8月24日
发明者陶亚明, 刘卓冰, 兰洵, 林洪峰, 张凤鸣 申请人:天威新能源控股有限公司