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专利名称：高速通信总线芯片端口特性测试方法
技术领域：
本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种高速通信总线芯片端口特性测试方法。
背景技术：
测试总线芯片性能是否符合设计要求时，对总线芯片的每个通道都要进行测试。 对高速通信总线芯片而言，每个通道传输的都是差分信号，即高速通信总线芯片的每个通道都包含两个通道端口。对于同时具有接收和发射功能的高速通信总线芯片，每个通道的每个通道端口既可接收外部传输来的信号，又可向外部发射信号，测试具有接收和发射功能的高速通信总线芯片的性能，需要分别测试接收信号的性能和发射信号的性能。测试具有接收和发射功能的高速通信总线芯片的性能时，每个通道的每个通道端口均引出一根源线和一根捕获线与测试机连接，所述源线用于接收外部传输来的信号，所述捕获线用于向外部发射信号。图1所示为现有技术中测试高速通信总线芯片性能的示意图，图1中只显示出待测高速通信总线芯片100的一个通道，该通道的两个通道端口分别为第一通道端口 A+和第二通道端口 A-，从所述第一通道端口 A+引出第一源线110和第一捕获线120，从所述第二通道端口 A-引出第二源线130和第二捕获线140，所述第一源线110、 第一捕获线120、第二源线130和第二捕获线140分别与测试机200连接。测试所述待测高速通信总线芯片100接收信号的性能时，所述测试机200通过所述第一源线110和第二源线130向所述待测高速通信总线芯片100传输差分信号，启动所述待测高速通信总线芯片 100内部的逻辑功能，所述测试机200通过检测逻辑功能运行参数来判断所述待测高速通信总线芯片100的性能是否符合设计要求；测试所述待测高速通信总线芯片100发射信号的性能时，所述待测高速通信总线芯片100通过所述第一捕获线120和第二捕获线140向所述测试机200发射差分信号，所述测试机200通过检测所述待测高速通信总线芯片100 发射的差分信号来判断所述待测高速通信总线芯片100的性能是否符合设计要求。无论是所述测试机200向所述待测高速通信总线芯片100传输差分信号，还是所述待测高速通信总线芯片100向所述测试机200发射差分信号，所述待测高速通信总线芯片100都会产生反馈信号，该反馈信号传输至所述测试机200，对测试产生干扰，导致所述测试机200无法测试，甚至损坏所述测试机200。

发明内容
本发明的目的在于提供一种高速通信总线芯片端口特性测试方法，可避免反馈信号对测试的干扰，准确对高速通信总线芯片进行测试。为了达到上述的目的，本发明提供一种高速通信总线芯片端口特性测试方法，高速通信总线芯片每个通道端口引出的源线和捕获线均通过高速开关与测试机连接，该方法包括以下步骤控制与所述源线连接的高速开关导通，使所述源线与所述测试机连接；所述测试机通过所述源线向所述高速通信总线芯片传输差分信号，启动所述高速通信总线芯片运行；在所述高速通信总线芯片产生的反馈信号沿所述源线传输至所述测试机之前，控制与所述源线连接的高速开关断开，使所述源线与所述测试机断开连接；控制与所述捕获线连接的高速开关导通，使所述捕获线与所述测试机连接；所述高速通信总线芯片通过所述捕获线向所述测试机发射差分信号；在所述高速通信总线芯片产生的反馈信号沿所述捕获线传输至所述测试机之前，控制与所述捕获线连接的高速开关断开，使所述捕获线与所述测试机断开连接。上述高速通信总线芯片端口特性测试方法，其中，所述通道端口为模拟信号端口。上述高速通信总线芯片端口特性测试方法，其中，所述测试机通过所述源线向所述高速通信总线芯片传输差分信号为模拟差分信号，所述高速通信总线芯片通过所述捕获线向所述测试机发射差分信号为模拟差分信号。上述高速通信总线芯片端口特性测试方法，其中，所述高速开关的控制周期为纳秒级。上述高速通信总线芯片端口特性测试方法，其中，所述高速开关从导通状态切换到断开状态之间的时间间隔由试验调试获得。本发明的高速通信总线芯片端口特性测试方法通过高速开关控制源线及捕获线与测试机的通断，在需要传输差分信号时，导通源线或者捕获线与测试机之间的连接，在反馈信号传输之前，切断源线或者捕获线与测试机之间的连接，避免了反馈信号对测试的干扰，可准确对高速通信总线芯片进行测试。


本发明的高速通信总线芯片端口特性测试方法由以下的实施例及附图给出。图1是现有技术中测试高速通信总线芯片性能的示意图。图2是本发明中测试高速通信总线芯片性能的示意图。
具体实施例方式以下将结合图2对本发明的高速通信总线芯片端口特性测试方法作进一步的详细描述。本发明的高速通信总线芯片端口特性测试方法，高速通信总线芯片每个通道端口引出的源线和捕获线均通过高速开关与测试机连接，该方法包括以下步骤控制与所述源线连接的高速开关导通，使所述源线与所述测试机连接；所述测试机通过所述源线向所述高速通信总线芯片传输差分信号，启动所述高速通信总线芯片运行；在所述高速通信总线芯片产生的反馈信号沿所述源线传输至所述测试机之前，控制与所述源线连接的高速开关断开，使所述源线与所述测试机断开连接；控制与所述捕获线连接的高速开关导通，使所述捕获线与所述测试机连接；所述高速通信总线芯片通过所述捕获线向所述测试机发射差分信号；在所述高速通信总线芯片产生的反馈信号沿所述捕获线传输至所述测试机之前，控制与所述捕获线连接的高速开关断开，使所述捕获线与所述测试机断开连接。本发明的高速通信总线芯片端口特性测试方法通过高速开关控制源线及捕获线与测试机的通断，在需要传输差分信号时，导通源线或者捕获线与测试机之间的连接，在反馈信号传输之前，切断源线或者捕获线与测试机之间的连接，避免了反馈信号对测试的干
4扰，可准确对高速通信总线芯片进行测试。现以一具体实施例详细说明本发明的高速通信总线芯片端口特性测试方法本实施例中，待测高速通信总线芯片的每个通道与外部之间传输的差分信号是模拟信号，而待测高速通信总线芯片的内部主要对数字信号进行处理，因此，待测高速通信总线芯片接收到外部传输来的模拟差分信号后，先将模拟差分信号转换成数字信号，再进行处理，当待测高速通信总线芯片需要向外发射信号时，待测高速通信总线芯片先将数字信号转换成模拟信号，再向外部发射；本实施例中，只对待测高速通信总线芯片的一个通道进行说明，待测高速通信总线芯片的其他通道采用完全相同的方法。参见图2，待测高速通信总线芯片300的一个通道包括第一模拟信号通道端口 B+ 和第二模拟信号通道端口 B-，从所述第一模拟信号通道端口 B+弓I出第一模拟信号源线310 和第一模拟信号捕获线320，从所述第二模拟信号通道端口 B-引出第二模拟信号源线330 和第二模拟信号捕获线340，所述第一模拟信号源线310和第二模拟信号源线330用于接收外部传输来的模拟差分信号，所述第一模拟信号捕获线320和第二模拟信号捕获线340用于向外部发射模拟差分信号；所述第一模拟信号源线310和第二模拟信号源线330均与第一高速开关410连接，所述第一高速开关410与测试机500连接，即所述第一模拟信号源线310和第二模拟信号源线330通过所述第一高速开关410与所述测试机500连接；所述第一模拟信号捕获线 320和第二模拟信号捕获线340均与第二高速开关420连接，所述第二高速开关420与所述测试机500连接，即所述第一模拟信号捕获线320和第二模拟信号捕获线340通过所述第二高速开关420与所述测试机500连接；本实施例中，采用所述第一高速开关410控制所述第一模拟信号源线310和第二模拟信号源线330与所述测试机500的通断，采用所述第二高速开关420控制所述第一模拟信号捕获线320和第二模拟信号捕获线340与所述测试机500的通断，但是，采用高速开关控制源线和捕获线与测试机通断的方法不限于此，例如，使用四个高速开关，所述第一模拟信号源线310、第二模拟信号源线330、第一模拟信号捕获线320和第二模拟信号捕获线 340分别连接一个高速开关，即所述第一模拟信号源线310、第二模拟信号源线330、第一模拟信号捕获线320和第二模拟信号捕获线340分别通过一个高速开关与所述测试机500连接，满足每根源线与测试机之间的连接可由高速开关控制通断，每根捕获线与测试机之间的连接可由高速开关控制通断的方法都可采用；所述第一高速开关410的控制端411以及第二高速开关420的控制端421与控制装置(图2中未示)连接，由所述控制装置控制所述第一高速开关410和第二高速开关420 的通断；测试时，所述测试机500作为外部设备，既可向所述待测高速通信总线芯片300发送模拟差分信号，也可接收所述待测高速通信总线芯片300发射的模拟差分信号；测试所述待测高速通信总线芯片300接收信号的性能时，所述控制装置控制所述第一高速开关410导通，使所述第一模拟信号源线310和第二模拟信号源线330均与所述测试机500连接(即导通)，所述测试机500通过所述第一模拟信号源线310和第二模拟信号源线330向所述待测高速通信总线芯片300发送模拟差分信号，从而启动所述待测高速通信总线芯片300运行，所述待测高速通信总线芯片300运行起来后会产生反馈信号，该反馈信号会沿所述所述第一模拟信号源线310和第二模拟信号源线330传输至所述测试机 500，对测试产生干扰，本发明在该反馈信号传输至所述测试机500之前，切断所述第一模拟信号源线310和第二模拟信号源线330与所述测试机500之间的连接(即所述控制装置控制所述第一高速开关410断开)，使得该反馈信号无法传输至所述测试机500，因此，本发明避免了所述待测高速通信总线芯片300产生的反馈信号对测试的干扰，使测试得以正常进行；所述第一高速开关410从导通状态切换到断开状态之间的时间间隔可由试验调试获得；测试所述待测高速通信总线芯片300发射信号的性能时，所述待测高速通信总线芯片300处于运行状态，所述控制装置控制所述第二高速开关420导通，使所述第一模拟信号捕获线320和第二模拟信号捕获线340均与所述测试机500连接(即导通)，所述待测高速通信总线芯片300通过所述第一模拟信号捕获线320和第二模拟信号捕获线340向所述测试机500发射模拟差分信号，由于所述待测高速通信总线芯片300功能上的特点，所述待测高速通信总线芯片300向所述测试机500发射模拟差分信号后会产生反馈信号，该反馈信号也会沿所述第一模拟信号捕获线320和第二模拟信号捕获线340传输至所述测试机 500，对测试产生干扰，本发明在该反馈信号传输至所述测试机500之前，切断所述第一模拟信号捕获线320和第二模拟信号捕获线340与所述测试机500之间的连接(即所述控制装置控制所述第二高速开关420断开)，使得该反馈信号无法传输至所述测试机500，因此， 本发明避免了所述待测高速通信总线芯片300产生的反馈信号对测试的干扰，使测试得以正常进行；所述第二高速开关420从导通状态切换到断开状态之间的时间间隔可由试验调试获得。本实施例中，所述第一高速开关410和所述第二高速开关420的控制周期可达到纳秒级。
权利要求
1.一种高速通信总线芯片端口特性测试方法，高速通信总线芯片每个通道端口引出的源线和捕获线均通过高速开关与测试机连接，其特征在于，该方法包括以下步骤控制与所述源线连接的高速开关导通，使所述源线与所述测试机连接；所述测试机通过所述源线向所述高速通信总线芯片传输差分信号，启动所述高速通信总线芯片运行；在所述高速通信总线芯片产生的反馈信号沿所述源线传输至所述测试机之前，控制与所述源线连接的高速开关断开，使所述源线与所述测试机断开连接；控制与所述捕获线连接的高速开关导通，使所述捕获线与所述测试机连接；所述高速通信总线芯片通过所述捕获线向所述测试机发射差分信号；在所述高速通信总线芯片产生的反馈信号沿所述捕获线传输至所述测试机之前，控制与所述捕获线连接的高速开关断开，使所述捕获线与所述测试机断开连接。
2.如权利要求1所述的高速通信总线芯片端口特性测试方法，其特征在于，所述通道端口为模拟信号端口。
3.如权利要求2所述的高速通信总线芯片端口特性测试方法，其特征在于，所述测试机通过所述源线向所述高速通信总线芯片传输差分信号为模拟差分信号，所述高速通信总线芯片通过所述捕获线向所述测试机发射差分信号为模拟差分信号。
4.如权利要求1所述的高速通信总线芯片端口特性测试方法，其特征在于，所述高速开关的控制周期为纳秒级。
5.如权利要求1所述的高速通信总线芯片端口特性测试方法，其特征在于，所述高速开关从导通状态切换到断开状态之间的时间间隔由试验调试获得。
全文摘要
本发明的高速通信总线芯片端口特性测试方法包括以下步骤控制与所述源线连接的高速开关导通，使所述源线与所述测试机连接；所述测试机向所述高速通信总线芯片传输差分信号，启动所述高速通信总线芯片运行；在所述高速通信总线芯片产生的反馈信号沿所述源线传输至所述测试机之前，控制与所述源线连接的高速开关断开，使所述源线与所述测试机断开连接；控制与所述捕获线连接的高速开关导通，使所述捕获线与所述测试机连接；所述高速通信总线芯片向所述测试机发射差分信号；在所述高速通信总线芯片产生的反馈信号沿所述捕获线传输至所述测试机之前，控制与所述捕获线连接的高速开关断开，使所述捕获线与所述测试机断开连接。
文档编号G01R31/28GK102288896SQ20111012710
公开日2011年12月21日 申请日期2011年5月17日 优先权日2011年5月17日
发明者徐惠, 江鑫祯, 沈懿桦, 顾良波 申请人:上海华岭集成电路技术股份有限公司