专利名称：一种x射线检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及ー种穿透性检测设备，特别是ー种X射线检测装置。
背景技术：
X射线(X-ray)，又被称为艾克斯射线、伦琴射线或X光，是ー种波长范围在O. 01纳米到10纳米之间(对应频率范围30 PHz到30H1Z)的电磁辐射形式。X射线最初用于医学成像诊断和X射线结晶学。X射线也是游离辐射等这ー类对人体有�：Φ纳湎摺射线的特征是波长非常短，频率很高。因此X射线必定是由于原子在能量相差悬殊的两个能级之间的跃迁而产生的。所以X射线光谱是原子中内层电子跃迁时发出来的，而光学光谱则是外层的电子跃迁时发射出来的。同时X射线在电场或磁场中不偏转，这说明X射线是不带电的粒子流。由于X射线本身为ー种电磁波，具有让胶片显影的能力，从其被发现应用之初便被应用于医学诊断和治疗或者エ业上的非破坏性材料的检查。 由于X射线是ー种对人体有害的射线，在应用检测时，操作人员需要注意自身的防护，严防辐射泄漏。利用X射线衍射对待检样品进行穿透性检测时，很多时候需要对样品的照射状态进行微调，便于对样品的特定照射面进行连续的多角度观测。如果中断检测再进行调节，不仅检测效率低而且容易造成辐射泄漏，对操作人员的身体健康造成影响。
发明内容为解决上述问题，本实用新型公开了ー种X射线检测装置，通过设置在送样架上的样品微调装置对待检样品的检测状态进行调整，降低检测难度，提高了检测的准确性和检测精度。本实用新型公开的ー种X射线检测装置，包括铅房、连接到铅房正面的送样装置、设置在铅房ー侧的观察装置以及设置在铅房另ー侧的C形臂接入装置，所述的送样装置包括与铅房正面盖板内侧的框形的送样架、样品微调装置以及样品盘，所述的样品微调装置和样品盘均设置在送样架的框形结构内，所述的样品盘设置在样品微调装置上，所述的送样架与对应设置在铅房内的滑轨连接，所述的观察装置包括观察门以及设置在观察门上的观察孔，所述的C形臂接入装置包括连接在铅房外侧的连接架。本实用新型公开的ー种X射线检测装置，在铅房上设置观察窗，并通过设置在送样架上的样品微调装置对待检样品的检测状态进行调整，对检测前和检测中样品的受照射状态进行调节，以适应检测的需要，实现了检测的连续操作，提高了检测的效率，降低检测难度，提高了检测的准确性和检测精度，同时通过样品微调装置的间隔操作还能够降低检测中辐射的泄露，保障了检测人员的安全。本实用新型公开的ー种X射线检测装置的一种改进，所述的样品微调装置包括纵向移动支承和横向移动支承，所述的纵向移动支承和横向移动支承均设置在送样架的框形结构的底部框架上，纵向移动支承或者横向移动支承与底部框架活动连接。本改进通过在设置包括纵向移动支承和横向移动支承的样品微调装置，实现了对样品的位置的微控操作，便于对待检测样品进行全面观察，提高检测的效率和检测的精准度。本实用新型公开的ー种X射线检测装置的又一种改进，所述的观察装置还包括设置在观察门与铅房之间的移动支承，所述的移动支承固定在铅房外壁上并且与观察门之间采用相匹配的滑轨活动连接。本改进通过设置的移动支承，使得观察门能够根据实际检测操作或者其它维护作业的需要等进行打开和闭合，为检测装置的使用和维护提供了方便，降低了维护和使用难度。本实用新型公开的ー种X射线检测装置，为产品在检测中位置和状态的调节提供了方便，便于对样品进行连续的变角度观察，提高了检测的效率和检测精准度，降低了维护和使用难度。
图I、本实用新型的结构示意图；附图标记列表I、铅房，2、送样架，3、样品盘，4、滑轨，5、连接架，6、纵向移动支承，7、横向移动支承，8、移动支承。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施方式
，进ー步阐明本实用新型，应理解下述具体实施方式
仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围。需要说明的是，下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向，词语“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。如图I所示，本实用新型公开的ー种X射线检测装置，包括铅房I、连接到铅房I正面的送样装置、设置在铅房I 一侧的观察装置以及设置在铅房I另ー侧的C形臂接入装置，所述的送样装置包括与铅房I正面盖板内侧的框形的送样架2、样品微调装置以及样品盘3，所述的样品微调装置和样品盘3均设置在送样架2的框形结构内，所述的样品盘3设置在样品微调装置上，所述的送样架2与对应设置在铅房内的滑轨4连接，所述的观察装置包括观察门以及设置在观察门上的观察孔，所述的C形臂接入装置包括连接在铅房I外侧的连接架5。本实用新型公开的ー种X射线检测装置，在铅房上设置观察窗，并通过设置在送样架上的样品微调装置对待检样品的检测状态进行调整，对检测前和检测中样品的受照射状态进行调节，以适应检测的需要，实现了检测的连续操作，提高了检测的效率，降低检测难度，提高了检测的准确性和检测精度，同时通过样品微调装置的间隔操作还能够降低检测中辐射的泄露，保障了检测人员的安全。作为ー种优�。龅难肺⒌髯爸冒ㄗ菹蛞贫С�6和横向移动支承7，所述的纵向移动支承6和横向移动支承7均设置在送样架2的框形结构的底部框架上，纵向移动支承6或者横向移动支承7与底部框架活动连接。本实用新型公开的ー种X射线检测装置，通过在设置包括纵向移动支承和横向移动支承的样品微调装置，实现了对样品的位置的微控操作，便于对待检测样品进行全面观察，提高检测的效率和检测的精准度。作为ー种优�。龅墓鄄熳爸没拱ㄉ柚迷诠鄄烀庞肭Ψ縄之间的移动支承8，所述的移动支承8固定在铅房I外壁上并且与观察门之间采用相匹配的滑轨活动连接。本实用新型公开的ー种X射线检测装置，通过设置的移动支承，使得观察门能够根据实际检测操作或者其它维护作业的需要等进行打开和闭合，为检测装置的使用和维护提供了方便，降低了维护和使用难度。本实用新型公开的ー种X射线检测装置的C形臂通过连接架5固定连接到铅房I上。进行产品检测时，将样品放置到样品盘3上，关闭送样架2使铅房I闭合封闭。打开观察门调节横向移动支承7和纵向移动支承6使得待检样品在铅房内I处于理想的照射状态。检测时，还可以通过观察孔观察样品在铅房中I的状态，并通过调节纵向移动支承6和横向移动支承7对样品进行微调，进而进行连续的观察，提高了检测效率。本实用新型公开的ー种X射线检测装置，为产品在检测中位置和状态的调节提供了方便，便于对样品进行连续的变角度观察，提高了检测的效率和检测精准度，降低了维护和使用难度。本实用新型方案所公开的技术手段不仅限于上述技术手段所公开的技术手段，还包括由以上技术特征任意组合所组成的技术方案。以上所述是本实用新型的具体实施方 式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本实用新型的保护范围。
权利要求1.ー种X射线检测装置，其特征在于所述的X射线检测装置包括铅房、连接到铅房正面的送样装置、设置在铅房ー侧的观察装置以及设置在铅房另ー侧的C形臂接入装置，所述的送样装置包括与铅房正面盖板内侧的框形的送样架、样品微调装置以及样品盘，所述的样品微调装置和样品盘均设置在送样架的框形结构内，所述的样品盘设置在样品微调装置上，所述的送样架与对应设置在铅房内的滑轨连接，所述的观察装置包括观察门以及设置在观察门上的观察孔，所述的C形臂接入装置包括连接在铅房外侧的连接架。
2.根据权利要求I所述的ー种X射线检测装置，其特征在于所述的样品微调装置包括纵向移动支承和横向移动支承，所述的纵向移动支承和横向移动支承均设置在送样架的框形结构的底部框架上，纵向移动支承或者横向移动支承与底部框架活动连接。
3.根据权利要求I所述的ー种X射线检测装置，其特征在于所述的观察装置还包括设置在观察门与铅房之间的移动支承，所述的移动支承固定在铅房外壁上并且与观察门之间采用相匹配的滑轨活动连接。
专利摘要本实用新型公开了一种X射线检测装置，包括铅房、连接到铅房正面的送样装置、设置在铅房一侧的观察装置以及设置在铅房另一侧的C形臂接入装置，送样装置包括与铅房正面盖板内侧的框形的送样架、样品微调装置以及样品盘，样品微调装置和样品盘均设置在送样架的框形结构内，样品盘设置在样品微调装置上，送样架与对应设置在铅房内的滑轨连接，观察装置包括观察门以及设置在观察门上的观察孔，C形臂接入装置包括连接在铅房外侧的连接架。本实用新型解决的技术问题在于通过设置在送样架上的样品微调装置对待检样品的检测状态进行调整，降低检测难度，提高了检测的准确性和检测精度。
文档编号G01N23/20GK202649141SQ20122028320
公开日2013年1月2日 申请日期2012年6月15日 优先权日2012年6月15日
发明者唐纳德 申请人:伟杰科技(苏州)有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
