专利名称：阻抗测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种阻抗测试装置，尤其涉及一种可自动进行多点阻抗测试的阻抗测试装置
背景技术：
在电子元器件制造领域中，各电子元器件在装配使用之前，为使其具备导电、屏蔽等功 能， 一般都必须对所述电子元器件进行阻抗测试，以确认该电子元器件的阻抗值是否在客户 要求的规格内。通常，客户会在电子元器件的蓝图上标注出若干阻抗测量点的测试位置，并 标示某个测试点为公共点，要求检测其余阻抗测试点与公共点之间的阻抗值。
在整个测试过程中，检测人员需利用万用表或阻抗仪手动测试所述电子元件的公共点与 其余各阻抗测试点之间的阻抗值，每测试完一次所述电子元件的公共点与其余各阻抗测试点 之间的阻抗值，就需要从所述万用表或阻抗仪上读取并手动记录该测得的阻抗数据。接下来 ，重复上述操作，直至将所有数据测试完。最后，需要将记录的测试数据导入到计算机内进 行分析，以确定所述电子元件是否符合客户要求。整个测试过程繁琐、且测试误差比较大， 测试效率低。
发明内容
鉴于以上所述，有必要提供一种测试过程简单、误差�。铱捎行岣卟馐孕实淖杩� 测试装置。
一种阻抗测试装置，用于对待测试工件进行阻抗测试，所述阻抗测试包括一测试平台、 一驱动装置、若干测试探针、 一信息处理装置、 一显示器、 一万用表、 一继电器模组、若干 控制按键；所述测试平台包括一底座及一探针安装架，所述底座用于放置所述待测试工件， 所述探针安装架可调节地装设于该底座上方位置处；所述驱动装置装设于所述底座上，并与 所述探针安装架固接以驱动所述探针安装架相对放置于底座上的待测试工件移动；所述若干 测试探针装设于所述探针安装架上，并与所述继电器模组电性连接；所述信息处理装置装设 于所述底座内，其包括一中央处理器，该中央处理器与所述若干控制按键、驱动装置、显示 器、继电器模组及万用表电性连接，用于接收指令并驱动所述驱动装置、万用表及继电器模 组工作，并对测得的结果进行比较分析；所述控制按键用于向阻抗测试装置输入相关指令， 所述显示器用于显示相关输入指令及测试结果，所述继电器模组用于控制所述测试探针并驱动所述万用表进行阻抗测试。
相较于现有技术，本发明所述阻抗测试装置可一次性自动对待测试工件上的多个阻抗测 试点进行阻抗测试，同时对测试结果进行分析，并将每次测得的阻抗值进行存储，从而有效 提高了阻抗测试效率及测试质量。
图1为本发明阻抗测试装置的硬件架构示意图2为图l所示阻抗测试装置一较佳实施例的立体分解示意图3为本发明所示阻抗测试装置的立体组装示意图4为本发明阻抗测试装置工作时，待测试工件放置于其定位装置上的立体示意图； 图5为本发明阻抗测试装置工作时，探针与待测试工件接触时的立体示意图。
具体实施例方式
请参阅图l，所示为本发明阻抗测试装置100的硬件架构示意图。所述阻抗测试装置100 用于对一待测试工件200(见图4)进行阻抗测试，以检测其阻抗值是否在规定的范围内。所述 阻抗测试装置IOO包括一测试平台IO、 一驱动装置20、若干测试探针30、 一信息处理装置40 、 一显示器50、 一万用表60、 一继电器模组70、 一存储卡80及若干控制按键90。
请一并参阅图2及图3，所述测试平台10用于装夹、定位所述待测试工件200，该测试平 台10包括一底座11、 二卡持块13、 一工件安装治具15、 一监测装置17及一探针安装架19。所 述底座ll大致呈矩形箱体状，其包括一顶板113、 一操作面板115及一防护板117。所述顶板 113大致呈矩形平板状，其上大致中部位置处贯通开设有一大致矩形的安装孔1132及一连接 通孔1135。所述顶板113上靠近其一侧缘位置处沿垂直于顶板113方向相对固设有二圆柱形导 滑块1137。所述操作面板115大致呈矩形板状，其沿垂直于所述顶板113方向装设于所述底座 ll的一侧面上。所述操作面板115上贯通开设有一条形的存储卡安装孔1151及装设有所述若 干控制按键90与所述显示器50。所述防护板117大致呈"U"形板状，其固定装设于所述顶板 113上靠近其一侧的周缘位置处，并与所述顶板113共同围成一容置空间118。所述二导滑块 1137容置于所述容置空间118内。
所述卡持块13横截面大致呈L形，其一侧缘位置处贯通开设有一条形滑槽132。所述二卡 持块13沿垂直于所述操作面板115方向相对间隔地固定装设于所述底座11的顶板113上，并位 于所述安装孔1132的两侧。所述二卡持块13与所述底座11的顶板113共同围成一大致"凸" 形的装设空间(图未标示)，以用于装设所述工件安装治具15。所述工件安装治具15横截面 大致呈"凸"形块状，其包括一主体部151、 二由所述主体部151两侧相对延伸的滑块153、一工件安装部155及一推杆158。所述二滑块153的末端部分别设有一安装孔1532，用于将所 述工件安装治具153可滑动地装设于所述卡持块13上，以防止其与卡持块13脱离。所述工件 安装部155大致呈矩形凹腔状，其凹设于所述主体部151上，用于装设待测试工件200。所述 推杆158大致呈圆柱形杆状，其固接于所述主体部151上。所述工件安装治具15通过其两侧的 滑块153对应可滑动地配合装设于所述固定装设于所述顶板13上的二卡持块之间。
所述监测装置17为一光纤传感器，其装设于所述安装孔1132上并电性连接于所述信息处 理装置40上，以用于在阻抗测试过程中检测所述待测试工件200是否准确定位或监测所述待 测试工件200上方是否被遮蔽、阻碍。所述探针安装架19大致呈"T"形板状，其包括一连接 端191及一探针安装端193。所述连接端191的两端对应于所述二导滑块1137各设有一导滑通 孔1912，以使得所述探针安装架19可滑动地装设于所述二导滑块1137上。所述连接端191的 大致中部位置处凸设有一固定块1915，以将所述探针安装架19固定装设于所述驱动装置20上 。所述探针安装端193贯通开设有用于装设所述若干探针30的若干探针安装通孔1932及一连 接通孔1935。
所述驱动装置20装设于所述测试平台10的底座11的顶板113的上方，并容置于所述容置 空间118内。所述驱动装置20与所述探针安装架19的连接端191固接，以驱动所述探针安装架 19沿所述导滑块1137上下滑移，从而带动所述探针30上下滑移。在本实施例中，所述驱动装 置20包括一安装板21、 一汽缸23、 一导接板25、 一电磁阀26、 一进气管27及一出气管28。所 述安装板21大致呈矩形平板状，其固定装设于所述防护板117上，并罩设于容置空间118及二 导滑块1137上方。所述安装板21上贯通开设有一通孔212。所述汽缸23大致呈圆柱体状，其 包括一缸体231、 一进气管安装端233、 一出气管安装端235及一可滑动地装设于缸体231内的 活塞237。所述导接板25大致呈矩形板状，其中部位置处贯通开设有一安装通孔251，该导接 板25固定装设于所述汽缸23的出气管安装端235上，并固定装设于所述二导滑块l 137上。所 述电磁阀26固定装设于所述测试平台10的底座11的防护板l 17上，用以实现对所述汽缸23的 控制。所述电磁阀26包括一与外界气源连接的气源输入端261、 一进气管连接端263及一出气 管连接端265。所述进气管27及出气管28的两端分别固定连接于所述电磁阀26的进气管连接 端263、出气管连接端265及汽缸23的进气管安装端233、出气管安装端235上。
所述若干测试探针30对应地装设于所述探针安装架19的若干探针安装通孔1932内，并从 该探针安装架19的另一侧伸出，其另一端通过导线33与所述继电器模组70电性连接。
所述信息处理装置40为一集成电路板，其装设于所述底座ll内。所述信息处理装置40上 包括一中央处理器41、 一驱动装置连接端口42、 一显示器接口45、 一万用表连接端口46、 一继电器控制端口47、 一存储卡卡座48及一输入控制端口49。所述驱动装置连接端口42、显示 器接口45、万用表连接端口46、继电器控制端口47、存储卡卡座48及输入控制端口49均与所 述中央处理器41电性连接，并分别对应地与驱动装置20、显示器50、万用表60、继电器模组 70、存储卡80及输入控制按键200电性连接。使用时，可通过所述输入控制按键90输入相关 控制信息，例如开启/关闭所述阻抗测试装置100、对所述阻抗测试装置100进行参数设置 等。所述中央处理器41接收到通过所述输入控制按键90输入的相关控制指令后，可驱动所述 驱动装置20、万用表60及继电器模组70工作，并将测得的结果进行比较分析，显示于所述显 示器50上及将测试结果存储于存储卡80上。
所述万用表60装设于所述底座11内，其电性连接于所述信息处理装置40的万用表连接端 口46上，并与所述继电器模组70电性连接。
所述继电器模组70装设于所述测试平台10的底座11内，其电性连接于所述信息处理装置 40的继电器控制端口47上，并与所述万用表60及所述若干测试探针30电性连接。
所述存储卡80可拆卸地装设于所述操作面板115的存储卡安装孔1151内，并容置、电性 连接于所述信息处理装置40的存储卡卡座48内。
请参阅图3，组装所述阻抗测试装置100时，先将所述二卡持块13相对固定装设于所述底 座11的顶板113上，并位于所述安装通孔1132及连接通孔1135的两侧，以使得所述二卡持块 13与顶板113共同围成一横截面大致"凸"形的装设空间。接下来，将所述工件安装治具15 可滑动地装设于所述底座11的顶板113与该二卡持块13围成的"凸"形装设空间内；同时， 采用二螺钉或销钉分别穿过所述工件安装治具15两侧的滑块153上的安装孔1532，从而使得 所述工件安装治具15可沿所述卡持块13上的条形滑槽132限定的路径来回滑动。再接下来， 将所述监测装置17固定装设于所述顶板113的安装孔1132内并电性连接于所述信息处理装置 40上。将所述探针安装架19的连接端191两端的导滑通孔l912对准所述底座11的顶板l 13上的 二导滑块1137，以使得所述探针安装架19的探针安装端193朝向工件安装治具15方向可滑动 地装设于该二导滑块1137上。将所述若干测试探针30对应地装设于探针安装架19的探针安装 端193的若干探针安装通孔1932，并从该探针安装端193的另一侧伸出；该测试探针30的导线 33端穿过所述探针安装架19上的连接通孔1935及底座11的顶板113上的连接通孔1135进入到 底座11内。
再接下来，组装所述驱动装置20，将所述汽缸23的出气管235端的活塞237穿过所述导接 板25的安装通孔151，并固定装设于所述探针安装架19的连接端191上的固定块1915上；同时 ，将所述导接板25的两端对应固接于所述顶板113的二道滑块1137的末端上。再接下来，将所述汽缸23的进气管231端穿过所述安装板21的通孔212，并将该安装板21固定装设于所述底 座l 1的防护板l 17上方。将所述电磁阀26装设于所述防护板117的一侧板上，同时将进气管 27的两端分别装设于所述电磁阀26的进气管连接端263及汽缸23的进气管安装端233上；将所 述出气管28的两端分别装设于所述电磁阀26的出气管连接端265及汽缸23的出气管安装端235
最后，将所述信息处理装置40、万用表60及继电器模组70装设于所述底座11内，该信息 处理装置40的驱动装置连接端口42、显示器接口45、万用表连接端口46、继电器控制端口 47、存储卡卡座48及输入控制端口49分别对应地与所述驱动装置20、显示器50、万用表60、 继电器模组70、存储卡80及输入控制按键90电性连接。将所述测试探针30的导线33端电性连 接于所述继电器模组70上，即完成所述阻抗测试装置100的组装。
请一并参阅图4及图5，利用所述阻抗测试装置100对待测试工件200进行阻抗测试时，先 开启所述阻抗测试装置IOO，并将所述存储卡80插设于所述操作面板115的存储卡安装孔 1151中。接下来，将所述待测试工件200放置于所述工件安装治具15的工件安装部155上，推 动所述推杆158使所述工件安装治具15沿所述二卡持块13的条形滑槽132朝向探针安装架19方 向滑移直至其刚好位于所述探针安装架19的正下方。所述监测装置17检测所述待测试工件 200是否准确定位或监测所述待测试工件200上方是否被遮蔽、阻碍。再接下来，驱动所述驱 动装置20，使其带动探针安装架19向下移动，所述装设于探针安装架19上的若干测试探针30 分别对应地抵持于所述待测试工件200的各阻抗测试点上。所述待测试工件200的各阻抗测试 点通过各测试探针30与万用表60、继电器模组70及信息处理装置40共同形成若干测试回路。 所述信息处理装置40对所述万用表60进行清零处理后，对待测试工件200的各阻抗测试点进 行阻抗测试，并对每次测得的阻抗值进行分析，将分析结果显示于所述显示器50上。在测试 过程中，所述继电器模组70自动依次切换、通断所述待测试工件200的各阻抗测试点与万用 表60形成的测试回路，从而实现对各阻抗测试点地阻抗测试。每次测得的各阻抗值被自动存 储于所述存储卡80中。测试完成后，关闭所述阻抗测试装置IOO，即完成所述待测试工件200 的阻抗测试工作，可将所述存储于存储卡80中的测试数据导入到计算机中进行相关编辑分析
可以理解，所述监测装置也可以为一光感应开关，当所述待测试工件200定位好后，自 动驱动所述驱动装置20带动所述探针安装架19向下移动，以使装设于其上的测试探针30对应 地抵持于待测试工件200的各阻抗测试点上，以进行阻抗测试。
可以理解，所述驱动装置20也不限于本实施例中的汽缸驱动方式，其也可以采用步进电机驱动或其他方式进行驱动。
另外，本领域技术人员还可在本发明权利要求公开的范围和精神内做其他形式和细节上 的各种修改、添加和替换。当然，这些依据本发明精神所做的各种修改、添加和替换等变化 ，都应包含在本发明所要求保护的范围之内。
权利要求
1.一种阻抗测试装置，用于对待测试工件进行阻抗测试，其特征在于所述阻抗测试包括一测试平台、一驱动装置、若干测试探针、一信息处理装置、一显示器、一万用表、一继电器模组、若干控制按键；所述测试平台包括一底座及一探针安装架，所述底座用于放置所述待测试工件，所述探针安装架可调节地装设于该底座上方位置处；所述驱动装置装设于所述底座上，并与所述探针安装架固接以驱动所述探针安装架相对放置于底座上的待测试工件移动；所述若干测试探针装设于所述探针安装架上，并与所述继电器模组电性连接；所述信息处理装置装设于所述底座内，其包括一中央处理器，该中央处理器与所述若干控制按键、驱动装置、显示器、继电器模组及万用表电性连接，用于接收指令并驱动所述驱动装置、万用表及继电器模组工作，并对测得的结果进行比较分析；所述控制按键用于向阻抗测试装置输入相关指令，所述显示器用于显示相关输入指令及测试结果，所述继电器模组用于控制所述测试探针并驱动所述万用表进行阻抗测试。
2.如权利要求l所述的阻抗测试装置，其特征在于所述信息处理装 置还包括一驱动装置连接端口、 一显示器接口、 一万用表连接端口、 一继电器控制端口及一 输入控制端口，该驱动装置连接端口、显示器接口、万用表连接端口、继电器控制端口及输 入控制端口均与所述中央处理器电性连接，并分别对应地与驱动装置、显示器、万用表、继 电器模组及输入控制按键电性连接。
3.如权利要求2所述的阻抗测试装置，其特征在于所述底座呈箱体 状，其包括一顶板、 一操作面板及一防护板，所述顶板上靠近其一侧缘位置处相对设有二导 滑块，以使所述探针安装架可滑动地装设于所述导滑块上；所述若干控制按键及显示器装设 于所述操作面板上，所述防护板固定装设于顶板上靠近其一侧的周缘位置处，并与顶板共同 围成一容置空间，所述驱动装置及导滑块容置于该容置空间内。
4.如权利要求3所述的阻抗测试装置，其特征在于所述测试平台还 包括二卡持块及一工件安装治具，所述二卡持块横截面呈L形，其相对间隔地固定装设于顶 板上，并与顶板共同围成一装设空间；所述工件安装治具可滑动地装设于所述二卡持块围成的装设空间内。
5 如权利要求4所述的阻抗测试装置，其特征在于所述卡持块上靠近其一侧缘位置处设有一条形滑槽，所述工件安装治具包括一主体部、二由所述主体部两侧 相对延伸的滑块，所述二滑块上分别设有一安装孔，用以将工件安装治具可滑动地装设于所 述卡持块上，并于该滑块的条形滑槽内滑动以防止其与卡持块脱离。
6 如权利要求5所述的阻抗测试装置，其特征在于所述工件安装治具还包括一工件安装部及一推杆，所述工件安装部呈矩形凹腔状，其凹设于所述主体部上，用于装设待测试工件；所述推杆固接于所述主体部上。
7 如权利要求3所述的阻抗测试装置，其特征在于所述探针安装架 包括一连接端及一探针安装端，该连接端的两端对应于所述二导滑块各设有一导滑通孔，以 使探针安装架可滑动地装设于该二导滑块上；所述连接端中部位置处凸设有一固定块，以将 所述探针安装架固定装设于所述驱动装置上。
8 如权利要求7所述的阻抗测试装置，其特征在于所述探针安装端 贯通开设有若干探针安装通孔，所述若干探针对应地装设于所述探针安装架的若干探针安装通孑L内。
9 如权利要求4所述的阻抗测试装置，其特征在于所述顶板上中部 位置处贯通开设有一安装孔，该安装孔位于所述二卡持块之间；所述测试平台还包括一监测 装置，其固定装设于所述安装孔中，并电性连接于所述信息处理装置上，以用于检测待测试 工件是否准确定位。
10 如权利要求l所述的阻抗测试装置，其特征在于所述阻抗测试 装置还包括一存储卡，所述信息处理装置还包括一存储卡卡座，该存储卡卡座与中央处理器 电性连接；所述操作面板上对应于所述存储卡卡座位置处设有一条形的存储卡安装孔，以使 得所述存储卡通过该存储卡安装孔与所述存储卡卡座电性连接。
全文摘要
一种阻抗测试装置，其包括一测试平台、一驱动装置、若干测试探针、一信息处理装置、一显示器、一万用表、一继电器模组、若干控制按键。所述测试平台包括一用于放置待测试工件的底座及一可调节地装设于该底座上方的探针安装架。所述驱动装置装设于底座上，并与探针安装架固接以驱动探针安装架相对底座移动。所述若干测试探针装设于探针安装架上，并与继电器模组电性连接。所述信息处理装置装设于底座内，用于接收指令并驱动驱动装置、万用表及继电器模组工作，并对测得的结果进行比较分析。所述阻抗测试装置可一次性自动对待测试工件上的多个阻抗测试点进行阻抗测试，有效提高了阻抗测试效率及测试质量。
文档编号G01R27/02GK101587149SQ20081030173
公开日2009年11月25日 申请日期2008年5月23日 优先权日2008年5月23日
发明者姜志强, 孙长发, 智 成, 林 李, 雷 李, 王春影, 董林森, 谭传康, 平 陈 申请人:深圳富泰宏精密工业有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
