专利名称：电子设备断电持续时间的检测方法
技术领域：
本发明涉及一种电子设备断电持续时间的检测方法，属于电子设备断电持续时间检测技术领域。
背景技术：
目前，对于多种类的电子设备，如电子天平，电子秤，数字传感器等以及自动控制设备，广泛应用在各个行业。而这 些电子设备由设备载体和印刷电路板以及线缆等附件组成。在一些电子设备的使用中，在接通电源时，需要知道设备断电持续时间，以用来做设备上电时的初始状态诊断和热变形误差补偿，或用来做上电后一段时间内的电子设备的预热补偿。尤其是在较频繁的断电上电情况下，记录电子设备的断电持续时间更为重要。传统的记录断电持续时间的方法是使用RTC(实时时钟)来记录断电时间段。目前，RTC有两种，一种是一次性的电池供电的RTC，另一种是可多次使用的可充放电的RTC (又称超级电容)。目前使用RTC(实时时钟)来记录断电时间段有以下缺点I)、由于RTC需要外部电路配合，增加了电路复杂程度和费用；2)、RTC在记录断电时间时，需要不断的将时间点数据写入非易失性存储器中，对非易失性存储器的空间大小和读写寿命有很大影响，一旦非易失性存储器坏掉，RTC将失去计时功能；3)、RTC在充电过程中，由于功耗大，会影响电子设备本身性能；4)、由于RTC放电时间有限制，在完全没电时，不再具备计时功能；5)、RTC在工作电压过低时，计时将不准确，可靠性不高。
发明内容
本发明的目的提供一种不受放电时间限制，计时准确，不会影响电子设备本身性能的电子设备断电持续时间的检测方法。本发明为达到上述目的的技术方案是一种电子设备断电持续时间的检测方法，其特征在于(I)、建立温度传感器读数线性综合值与时间关系的曲线模型，将其写入微处理器内固化，所述的温度传感器读数线性综合值与时间关系的曲线模型为ST = Yj U1 -[a0i + au(l - I /e(i/Ci))]
i = \其中，ST为温度传感器读数的线性综合值；η为温度传感器数量，η彡2，kj为温度值综合系数，kj控制在< O -1，> O I ;a0i为温度传感器采集的温度初始值；an为温度传感器输出比例系数，an控制在< O -200，> O 200 ;
Ci为时间常数，C在I 10000 ；t为上电时间或断电持续时间(S)，其中上电时间用tp表示，断电持续时间用to表不;(2)、电子设备安装有用于检测电子设备温度的至少一个温度传感器和用于检测印刷电路板温度的至少一个温度传感器；(3)、在电子设备上电后，各温度传感器将采集的各温度初始值％经模数转换�？榇廖⒋砥鳎⒋砥鞫远寥〉母魑露瘸跏贾礱M进行滤除干扰信号处理，同时微处理器记录本次上电时间tp，微处理器通过存入的曲线模型计算出电子设备的本次温度传感器读数线性综合值ST，将温度传感器读数线性综合值ST存储在微处理器内，作为计算此后断电持续时间to的依据；(4)、当电子设备断电后再次上电时，各将温度传感器重新采集的各温度初始值aQi经模数转换�？榇廖⒋砥鳎⒋砥鞫远寥〉母魑露瘸跏贾担ゲ⒔新顺扇判藕糯恚⒋砥鞫寥∏耙淮未嫒氲奈露却衅鞫潦咝宰酆现礢T，并通过温度传感器读数线性综合值与时间关系的曲线模型，计算得到本次断电持续时间to并保存，同时记录本次的上电时间tp，计算出电子设备本次的温度传感器读数线性综合值ST并存储在微处理器内，再作为计算此后断电持续时间to的依据，当断电持续时间to大于临界值时，断电持续时间to为临界值。本发明将建立的温度传感器读数线性综合值与时间关系的曲线模型固化在微处理器内，在电子设备通电后通过各温度传感器检测电子设置各测点的温度初始值，得到本次温度传感器读数线性综合值作为计算此后断电持续时间to的依据，在电子设备断电后再次上电时，通过各温度传感器对电子设备上重新检测而得到温度初始值，并读取上次存储的温度传感器读数线性综合值而计算得到本次电子设备的断电持续时间to，由于温度传感器直接连接于印刷电路板上，不需要外部电路配合，简单易行，且在电子设备通电后，只要印刷电路板正常工作，各温度传感器就可以正常工作，稳定性好，而在电子设备断电时不需要工作温度传感器也停止工作，故温度传感器使用寿命很长，没有RTC那样的放电时间限制。本发明通过微处理器在每次上电时读取各温度传感器的温度初始值，就能根据上一次的温度传感器读数线性综合值计算出本次电子设备的持续断电时间，不需要连续将数据写入非易失性存储器中，节约存储器资源，工作可靠性高。本发明没有RTC那样的充电放电过程，功耗较低，不会对印刷电路板以及电子设备整体性能产生影响。本发明通过建立的温度传感器读数线性综合值与时间关系的曲线模型，其上电时间tp与断电持续时间to采用同一个曲线模型，本次的持续断电时间采用上一次的温度传感器读数线性综合值，计算量�。砑迪帜讯炔淮螅加孟低匙试葱。浦踩菀�。
下面结合附图对本发明的实施例作进一步的详细描述。图I是本发明电子设备断电持续时间的检测方法的流程图。
0027]图2是本发明温度传感器线性综合值与时间关系的曲线图。图3为本发明电子设备断电持续时间的检测方法用于电子称重设备的结构示意图。
图4为本发明电子设备断电持续时间的检测方法用于数控机床的结构示意图。
具体实施例方式见图I所示，本发明的电子设备断电持续时间的检测方法，(I)、建立温度传感器读数线性综合值与时间关系的曲线模型，将其写入微处理器内固化，该温度传感器读数线性综合值与时间关系的曲线模型为
权利要求
1.一种电子设备断电持续时间的检测方法，其特征在于 (1)、建立温度传感器读数线性综合值与时间关系的曲线模型，将其写入微处理器内固化，所述的温度传感器读数线性综合值与时间关系的曲线模型为ST = fjk1.[a0l+all{\-\le(-tlc^)} i= \ 其中，ST为温度传感器读数的线性综合值； n为温度传感器数量，n彡2， kj为温度值综合系数，h控制在< O -1，> O I ; a0i为温度传感器采集的温度初始值； an为温度传感器输出比例系数，an控制在< O -200，> 0 200 ; Ci为时间常数，C在I 10000 ； t为上电时间或断电持续时间(S)，其中上电时间用tp表示，断电持续时间用to表示； (2)、电子设备安装有用于检测电子设备温度的至少一个温度传感器和用于检测印刷电路板温度的至少一个温度传感器； (3)、在电子设备上电后，各温度传感器将采集的各温度初始值aM经模数转换�？榇廖⒋砥鳎⒋砥鞫远寥〉母魑露瘸跏贾担ソ新顺扇判藕糯恚蔽⒋砥骷锹急敬紊系缡奔鋞p，微处理器通过存入的曲线模型计算出电子设备的本次温度传感器读数线性综合值ST，将温度传感器读数线性综合值ST存储在微处理器内，作为计算此后断电持续时间to的依据； (4)、当电子设备断电后再次上电时，各将温度传感器重新采集的各温度初始值aM经模数转换�？榇廖⒋砥鳎⒋砥鞫远寥〉母魑露瘸跏贾担ゲ⒔新顺扇判藕糯恚⒋砥鞫寥∏耙淮未嫒氲奈露却衅鞫潦咝宰酆现礢T，并通过温度传感器读数线性综合值与时间关系的曲线模型，计算得到本次断电持续时间to并保存，同时记录本次的上电时间tp，计算出电子设备本次的温度传感器读数线性综合值ST并存储在微处理器内，再作为计算此后断电持续时间to的依据，当断电持续时间to大于临界值时，断电持续时间to为临界值。
2.根据权利要求I所述的电子设备断电持续时间的检测方法，其特征在于所述温度传感器安装在电子设备的运动部位和发热部位。
3.根据权利要求I所述的电子设备断电持续时间的检测方法，其特征在于所述断电持续时间to的临界值在I. 5h-9h。
全文摘要
本发明涉及一种电子设备断电持续时间的检测方法，建立温度传感器读数线性综合值与时间关系的曲线模型，上电后通过安装在电子设备上的各温度传感器采集各温度初始值并经模数转换�？榇廖⒋砥鳎荼敬紊系缡奔洳⑼ü嫒氲那吣Ｐ图扑愠龅缱由璞副敬挝露却衅鞫潦咝宰酆现挡⒋娲ⅲ魑扑愦撕蠖系绯中奔涞囊谰荩坏钡缱由璞付系缭俅紊系绾螅鹘露却衅髦匦虏杉魑露瘸跏贾担⒋砥鞫寥∏耙淮未嫒氲奈露却衅鞫潦咝宰酆现导扑愕玫奖敬味系绯中奔洳⒈４妫⒏荼敬紊系缡奔浼扑愠霰敬蔚奈露却衅鞫潦咝宰酆现翟僮魑扑愦撕蠖系绯中奔涞囊谰�。本发明不受放电时间限制，计时准确，不会影响电子设备本身性能。
文档编号G01R31/00GK102628907SQ20121012827
公开日2012年8月8日 申请日期2012年4月27日 优先权日2012年4月27日
发明者谢国俊 申请人:梅特勒-托利多(常州)测量技术有限公司, 梅特勒-托利多(常州)称重设备系统有限公司, 梅特勒-托利多(常州)精密仪器有限公司
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