专利名称：颗粒物料相对圆整度测定装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于颗粒物料圆整度测定技术领域，具体涉及一种适合测量颗粒物料，尤其适合于测量直径> Imm的颗粒物料相对圆整度的测定装置。
背景技术：
肥料行业产品的内在质量历来受到重视，随着生产工艺技术的进步，市场竞争的激烈，外观质量越来越受到市场和用户的关注。在各类国家标准和行业标准中，对肥料颗粒外观的描述一直采用粒度指标(一般为l_4mm ^90% )，而粒度指标合格率达到100%的产品，仍然存在颗粒外观不圆整的问题。由此可见，粒度指标已无法满足客户和市场需求，就此提出颗粒物料相对圆整度的概念。相对圆整度指标是肥料颗粒产品外观圆整程度的量化指标，是对颗粒状肥料国家标准、国家行业标准质量指标的进一步补充和提升，相对圆整度能较好的表征颗粒肥料的外观质量特性。理论上最好的肥料颗粒，其最大直径与最小直径之比为1，即正圆球体。但现阶段由于缺乏量化的评价手段和方法，肥料生产企业对颗粒圆整度的评价仅仅停留在定性层面，只凭技术人员感观判断产品圆与不圆，而无法做到量化评价。目前，国外其它行业有采用光学成像系统进行颗粒物料圆整度的测定方法，主要适用于直径< Imm物料颗粒产品的测定，但是仪器价格昂贵，约需50万元；而且操作复杂， 故障率高，运行及维护费用高，难以推广使用，为此，需要开发一种简单实用，操作简便，成本低廉的颗粒物料相对圆整度测定装置。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种结构简单，操作简便，适合测量颗粒物料，尤其适合于测量直径> Imm的肥料颗粒相对圆整度的测定装置。本实用新型的目的是这样实现的包括滚动斜槽和计量平槽，所述的计量平槽上设置水平仪，所述的滚动斜槽的倾斜角度可调并与计量平槽紧密对接，计量平槽底部设置高度及水平调节装置。本实用新型具有以下有益效果本实用新型测定装置生产成本低，不足1000元人民币。克服了现有技术——光学颗粒圆整度测定设备价格高，且只适用于测定粒径< Imm 颗粒圆整度的不足，特别适合粒径> Imm颗粒物料相对圆整度的测定。操作简便，尤其适用于肥料颗粒相对圆整度的测定控制要求，且运行维护成本低廉。
以下结合附图与实施例对本实用新型作进一步的说明，但不以任何方式对本实用新型加以限制。
图1为本实用新型整体结构示意图；图2为本实用新型另一实施例结构示意图。[0011]图中1-滚动斜槽，2-计量平槽，3-长度计量标尺，4-水平仪，5-启动挡板，6-角度调整装置，7-转轴，8-高度及水平调整装置，9-待测颗粒。
具体实施方式
下面结合实施例对本实用新型作进一步的说明，但不以任何方式对本实用新型加以限制，基于本实用新型教导所作的任何变换，均落入本实用新型的保护范围。如图1-图2所示，本实用新型包括滚动斜槽1和计量平槽2，所述的计量平槽2上设置水平仪4，所述的滚动斜槽1的倾斜角度可调并与计量平槽2紧密对接，计量平槽2底部设置高度及水平调节装置8。所述的滚动斜槽1与计量平槽2通过转轴7实现可转动连接，所述的滚动斜槽1 下部设置角度调整装置6，滚动斜槽1倾斜角度为10-50°。所述的计量平槽2上纵向设置以滚动斜槽1与计量平槽2相接线为0点的长度标尺3。所述的滚动斜槽1上部设置启动挡板5 ；所述的启动挡板5垂直于滚动斜槽1设置，与滚动斜槽1侧壁滑动配合。所述的滚动斜槽1底面为平面，即所述的滚动斜槽1具有低摩擦阻力的光洁表面， 滚动斜槽1长宽比为0. 025 20，深度> 0. 2cm。滚动斜槽1可以采用玻璃、木头、塑料、金属、陶瓷、瓷砖、纸板、橡胶、皮革、混凝土等制作，尤以摩擦系数�。鶆颉⒐饣�、平整的玻璃、 木头、塑料、金属、陶瓷为最佳。所述的计量平槽2具有低摩擦阻力的光洁表面，计量平槽2长宽比为0. 05 30， 深度>0. 2cm。计量平槽2可以采用玻璃、木头、塑料、金属、陶瓷、瓷砖、纸板、橡胶、皮革、混凝土等制作，尤以摩擦系数�。鶆�、光滑、平整的玻璃、木头、塑料、金属、陶瓷为最佳。所述的滚动斜槽1的长度、宽度分别为lO-lOOcm、IO-IOOcm ；所述的计量平槽2的长度、宽度分别为20-200cm、10-100cm。图2示出了本实用新型另一实施例的结构，其滚动斜槽的底面上下方向呈下凹弧形。该设置使滚动斜槽1和计量平槽2连接处更平顺，防止颗粒肥料经过连接处出现跳动。下面以磷酸二铵肥料颗粒圆整度测定为例，说明本实用新型的工作过程。实际生产该肥料颗粒粒度控制范围为2. 00mm-4. 00mm,以GB/T6003. 1标准试验筛为基准，按 2. 00-2. 50mm,2. 50-3. 00mm、3. 00-3. 50mm,3. 50-4. OOmm 分 4 个粒级，故 i = 1 4。选择滚动斜槽1长度25cm，宽度50cm，槽深3cm，计量平槽2长度120cm，宽度50cm， 槽深5cm的相对圆整度测定装置，调整角度调整装置6使滚动斜槽倾角至35°，并放好启动挡板5，调节高度及水平调整装置8使计量平槽2至水平，备用。(1)接近于正圆球体的标准样品滚动距离的测定将孔径2. 00mm、2. 50mm、3. 00mm, 3. 50mm、4. OOmm 的(GB/T6003. 1) 一套(附筛盖和
底盘)粒度筛子按孔径大小依次叠好，装上底盘，称取样品1000克(精确到O.Olg)，置于 4. OOmm的筛子上，盖好筛盖，置于振荡器上，夹紧，振荡5min，夹在筛孔中的颗粒作不通过此筛计量，分别选取 2. 00mm-2. 50mm, 2. 50-3. 00mm, 3. 00-3. 50mm, 3. 50-4. 00mm 共 4 个粒径分布段中接近于正圆球体的标准颗粒各30粒，按每次放置测定5粒，将标准颗粒均勻布设于启动挡板5上，抽开启动挡板，颗粒同时自由下落滚动，测定各颗粒在计量平槽中的滚动距离，每个粒径分布段30个颗粒，需要测定6次；4个粒径分布段共120个颗粒，需要测定 24次。(2)待测样品的质量分率的测定将孔径2. 00mm、2. 50mm、3. 00mm,3. 50mm、4. OOmm 的(GB/T6003. 1) 一套(附筛盖
和底盘)粒度筛子按孔径大小依次叠好，装上底盘，称取待测样品100克(精确到0. Olg)， 置于4. OOmm的筛子上，盖好筛盖，置于振荡器上，夹紧，振荡5min，夹在筛孔中的颗粒作不通过此筛计量，分别称量各层筛子中样品的质量，得到2. 00-2. 50mm、2. 50-3. 00mm、 3. 00-3. 50mm,3. 50-4. OOmm共4个粒径分布段的质量(克)，然后计算出待测样品各粒径区间的质量分率。(3)待测样品的滚动距离的测定按步骤(1)所述的方法测定待测样品的滚动距离。(4)最后经计算得到待测样品颗粒的相对圆整度。
权利要求1.一种颗粒物料相对圆整度测定装置，其特征是包括滚动斜槽(1)和计量平槽0)， 所述的计量平槽( 上设置水平仪，所述的滚动斜槽(1)的倾斜角度可调并与计量平槽 (2)紧密对接，计量平槽( 底部设置高度及水平调节装置(8)。
2.根据权利要求1所述的颗粒物料相对圆整度测定装置，其特征是所述的滚动斜槽(1)与计量平槽( 通过转轴(7)实现转动连接，所述的滚动斜槽(1)下部设置角度调整装置(6)，滚动斜槽(1)倾斜角度为10-50°。
3.根据权利要求1所述的颗粒物料相对圆整度测定装置，其特征是所述的计量平槽(2)上纵向设置以滚动斜槽(1)与计量平槽( 相接线为0点的长度标尺。
4.根据权利要求1所述的颗粒物料相对圆整度测定装置，其特征是所述的滚动斜槽 (1)上部设置启动挡板(5)；所述的启动挡板( 垂直于滚动斜槽(1)设置，与滚动斜槽(1) 侧壁滑动配合。
5.根据权利要求1-4任意一项所述的颗粒物料相对圆整度测定装置，其特征是所述的滚动斜槽(1)是具有低摩擦阻力的平整、均勻、光洁的表面，滚动斜槽(1)长宽比为 0. 025 20，深度彡 0. 2cm。
6.根据权利要求1-4任意一项所述的颗粒物料相对圆整度测定装置，其特征是所述的计量平槽( 具有低摩擦阻力的平整、均勻、光洁的表面，计量平槽( 长宽比为0. 05 30，深度 > 0. 2cm。
7.根据权利要求1-4任意一项所述的颗粒物料相对圆整度测定装置，其特征是所述的滚动斜槽(1)底面为平面或者上下方向呈下凹弧形。
专利摘要本实用新型公开了一种颗粒物料的相对圆整度测定装置，所述的测定装置包括滚动斜槽(1)和计量平槽(2)，所述的计量平槽(2)上设置水平仪(4)，所述的滚动斜槽(1)的倾斜角度可调，并通过转轴(7)与计量平槽(2)实现紧密对接，计量平槽(2)底部设置高度及水平调节装置(8)。本实用新型测定装置生产成本低，不足1000元人民币。克服了现有技术——光学圆整度测定仪器价格高，且只适用于测定粒径≤1mm颗粒圆整度的不足，特别适合粒径≥1mm颗粒物料相对圆整度的测定。操作简便，尤其能够满足肥料颗粒相对圆整度测定控制要求，而且运行维护成本低廉。是一种实用的肥料颗粒相对圆整度测定仪器，具有良好的市场推广应用价值。
文档编号G01B5/20GK202177562SQ201120228950
公开日2012年3月28日 申请日期2011年6月30日 优先权日2011年6月30日
发明者刘程勇, 师永林, 方秀丽, 李文东, 李春凤, 王煜, 资学民, 赵建波 申请人:云南三环中化化肥有限公司
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