专利名称：Cd芯片功能参数自动测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及集成电路测试技术领域，尤其涉及CD芯片功能参数自动测试装置。
背景技术：
目前的⑶芯片具有直接解析存储在⑶光盘、USB盘、SD卡上的文件系统，自动识别和解码⑶/MP3文件并且播放。但是CD芯片功能参数测试方法还是手工分步测试，如先测试CD播放功能，再测试内核电源的工作电流，其中测试内核电源的工作电流需要依靠外部搭线方式，需要较多人员花费较长时间去全面测试CD芯片的性能以及参数指标，导致效率低，耗时长。
实用新型内容针对现有技术中存在的上述问题，本实用新型提供了 CD芯片功能参数自动测试
直ο本实用新型提供了⑶芯片功能参数自动测试装置，包括CPU处理�？�、初始化⑶ 芯片�？�、音频参数诊断�？�、多路选择开关�？�、时钟信号输出�？�、USB接口数据处理模块、⑶伺服驱动模块、SD卡接口数据处理�？橐约癐XD显示�？椋籆PU处理�？榉直鹩氤跏蓟疌D芯片�？�、音频参数诊断�？�、多路选择开关模块以及LCD显示模块连接；多路选择开关模块分别与USB接口数据处理�？椤D伺服驱动�？橐约癝D卡接口数据处理�？榱樱灰羝挡问锒夏？榱哟釩D芯片的音频输出�？椋欢嗦费≡窨啬？�214连接待测⑶芯片的USB解码�？�、⑶伺服解码�？橐约� SD卡解码模块；初始化⑶芯片�？榱哟猗切酒纳链娲娲⒛？椋皇敝有藕攀涑瞿？榱哟猗切酒氖敝幽？椤Ｔ谝桓鍪纠校切酒δ懿问远馐宰爸没拱ǖ缭词涑瞿？椋缭词涑瞿？楦釩D芯片的电源模块供电。在一个示例中，⑶芯片功能参数自动测试装置还包括工作电流测量�？椋ぷ鞯缌鞑饬磕？榱覥PU处理�？椋ぷ鞯缌鞑饬磕？橥ü绞接氪釩D芯片的电源�？榱�。在一个示例中，CD芯片功能参数自动测试装置还包括按键�？椋醇？榱� CPU处理模块。本实用新型实现了 CD芯片功能参数自动化测试，节省了芯片测试过程所需时间， 提高了工作效率。
[0015]
以下结合附图来对本实用新型作进一步详细说明，其中图1是本实用新型的流程图；图2是本实用新型的CD芯片功能参数自动测试装置结构图。
具体实施方式
本实用新型的⑶芯片功能参数自动测试装置包括CPU处理�？�211，初始化⑶ 芯片�？�212，音频参数诊断�？�213，多路选择开关模块214，时钟信号输出�？�215，USB 接口数据处理�？�216，⑶伺服驱动�？�217，SD卡接口数据处理模块218，电源输出模块 219，IXD显示�？�21a，按键�？�21b，工作电流测量�？�21c。音频参数诊断�？�213诊断结果输入到CPU处理�？�211，按键�？�21b输入按键信息到CPU处理�？�211，工作电流测量模块输出测量值到CPU处理�？�211，CPU处理�？�211输出启动信号给初始化CD芯片�？�212，输出控制信号给多路选择开关�？�214，输出测试过程以及结果给IXD显示�？椋怀跏蓟切酒？�212输出程序给闪存存储�？�222 ；音频输出�？�2M输出信号给音频参数诊断�？�213，输出诊断结果到CPU处理模块 211 ；CPU处理�？�211输出控制信号到多路选择开关模块214，完成通道自动切换；时钟信号输出�？�215输出时钟信号到时钟�？�228 ；U盘23输入信号到USB接口数据处理模块216，输出信号到多路选择开关�？� 214 ；⑶机芯M输入信号到⑶伺服驱动�？�217，输出控制信号给⑶机芯24，⑶伺服驱动�？�217输出信号到多路选择开关�？�214 ；SD卡25输入信号到SD卡接口数据处理�？�218，输出信号到多路选择开关�？� 214 ；电源输出�？�219输出电源信号给电源模块223 ；CPU处理�？�211输出信号到IXD显示�？�21a ；按键�？�21b输出按键信号到CPU处理�？�211 ；工作电流测量�？�21c输出测量值到CPU处理�？�211。按照图1所示组建测试装置，测试装置上电后首先完成初始化，同时给待测⑶芯片22提供电源和主频时钟信号，IXD显示�？�21a输出显示初始化过程；CPU处理模块211 输出控制信号给初始化待测CD芯片22，初始化待测CD芯片22输出测试程序给待测CD芯片闪存存储�？�222，完成待测CD芯片22初始化。举例按键�？�21b输出按键信号给CPU 处理�？�211，启动CD芯片功能参数自动测试，CPU处理�？�211按照预定顺序开始功能参数自动测试，输出控制信号给多路选择开关�？�214选择导通USB接口数据处理�？�216， 将处理后USB数据输入到待测⑶芯片USB解码�？�225，解码后音频数据输入到待测⑶芯片内核处理模块221，通过音频输出�？�2M输出音频信号到音频参数诊断模块213，诊断结果输出给CPU处理�？�211，输出信号给IXD显示�？�21a，输出显示待测⑶芯片22USB 接口测试结果。同理，CPU处理�？�211输出控制信号给多路选择开关�？�214选择导通⑶伺服驱动�？�217，⑶机芯25输出数据给待测⑶芯片⑶伺服解码�？�226，解码后音频数据输入到待测CD芯片内核处理�？�221，通过音频输出�？�2M输出音频信号到音频参数诊断�？�213，诊断结果输出到CPU处理模块211，输出信号给IXD显示�？�21a，输出显示待测CD芯片22CD伺服接口测试结果。同理，CPU处理�？�211输出控制信号给多路选择开关模块214选择导通SD卡接口数据处理�？�218，将处理后SD卡里数据输入到待测⑶芯片SD卡解码模块227，解码后音频数据输入到待测CD芯片内核处理模块221，通过音频输出模块2M输出音频信号到音频参数诊断�？�213，诊断结果输出到CPU处理�？�211，输出信号给IXD显示�？�21a，输出显示待测⑶芯片22SD卡接口测试结果。同理，线路板布线时将工作电流测量�？橥ü绞接氪釩D芯片22电源模块相连接；工作电流测量�？�02)主要由电流转换电压(I-V转换)电路(如MAX471)、ADC 芯片(如MAX1361)电路与其他外围电路组成。采用本实用新型测试装置的整个测试过程，如图2所示，具体描述如下将待测⑶芯片22放入⑶芯片功能参数自动测试装置锁紧座上，外部设备如U盘 23、⑶机芯24、SD卡25与该测试装置相连。自动测试⑶芯片功能参数的装置通过电源输出�？�219给待测⑶芯片的电源�？�223供电，通过时钟信号输出�？�215给待测CD芯片的时钟�？�2 提供主频时钟信号， 线路板布线时将工作电流测量�？�21c通过串联方式与待测CD芯片22电源模块相连接， IXD显示�？�21a显示初始化过程，CPU处理模块211控制初始化⑶芯片�？�212工作，将测试程序加载到待测CD芯片22的闪存存储模块222，完成待测CD芯片22初始化；通过按键�？�21b发送命令启动CD芯片功能参数自动测试，工作电流测量模块输出测量值到CPU 处理�？�211，分析判断待测芯片的工作电流是否超出设置范围，若超出范围则关断电源输出�？�219，IXD显示�？�21a提示错误信息，没有超出范围，CPU处理�？�211按照预定顺序开始进行下列功能参数自动测试中的一种(1) CPU处理�？�211输出控制信号自动控制多路选择开关�？�214选择导通USB接口数据处理�？�216，将处理后USB数据输入到待测⑶芯片USB解码�？�225，解码后音频数据输入到⑶芯片内核处理�？�221，通过音频输出�？�2M输出音频信号到音频参数诊断�？�213，输出的诊断结果输出给CPU处理�？� 211，输出信号给IXD显示�？�21a，输出显示待测⑶芯片22USB接口测试结果；( CPU处理�？�211输出控制信号自动控制多路选择开关�？�214选择导通CD伺服驱动�？�217，将 ⑶机芯25输出数据输入到待测⑶芯片⑶伺服解码�？�226，解码后音频数据输入到待测 CD芯片内核处理�？�221，通过音频输出�？�2M输出音频信号到音频参数诊断�？�213， 输出的诊断结果输入到CPU处理�？�211，输出信号给IXD显示�？�21a，输出显示待测⑶ 芯片22CD伺服接口测试结果；(3)CPU处理模块211输出控制信号自动控制多路选择开关�？�214选择导通SD卡接口数据处理�？�218，处理后SD卡里数据输入到待测⑶芯片SD 卡解码�？�227，解码后音频数据输入到待测⑶芯片内核处理�？�221，通过音频输出�？� 224输出音频信号到音频参数诊断�？�213，输出的诊断结果输入到CPU处理�？�211，输出信号给IXD显示�？�21a，输出显示待测⑶芯片22SD卡接口测试结果；若三项功能测试全部通过，通过IXD显示�？�21a显示待测⑶芯片22测试通过，否则显示测试失败。以上所述仅为本实用新型的优选实施方式，但本实用新型保护范围并不局限于
5此。任何本领域的技术人员在本实用新型公开的技术范围内，均可对其进行适当的改变或变化，而这种改变或变化都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.⑶芯片功能参数自动测试装置，其特征在于，包括CPU处理�？�(211)、初始化⑶ 芯片�？�012)、音频参数诊断�？�013)、多路选择开关模块014)、时钟信号输出�？� 015)、USB接口数据处理�？�016)、⑶伺服驱动�？�017)、SD卡接口数据处理�？� (218)以及LCD显示模块Qla)；CPU处理模块011)分别与初始化CD芯片�？�012)、音频参数诊断�？�013)、多路选择开关�？�014)以及IXD显示�？�(21a)连接；多路选择开关�？�(214)分别与USB接口数据处理�？�016)、⑶伺服驱动�？�017)以及SD卡接口数据处理�？�018)连接； 音频参数诊断�？�(213)连接待测CD芯片的音频输出�？椋� 多路选择开关�？�(214)连接待测CD芯片的USB解码�？�(22 、CD伺服解码模块 (226)以及SD卡解码�？�027)；初始化⑶芯片模块(212)连接待测⑶芯片的闪存存储�？�022)； 时钟信号输出�？�(215)连接待测CD芯片的时钟�？�(228)。
2.如权利要求1所述的CD芯片功能参数自动测试装置，其特征在于，CD芯片功能参数自动测试装置还包括电源输出�？�019)，电源输出模块(219)给待测CD芯片的电源�？� (223)供电。
3.如权利要求1所述的CD芯片功能参数自动测试装置，其特征在于，CD芯片功能参数自动测试装置还包括工作电流测量�？镺lc)，工作电流测量�？�(21c)连接CPU处理�？� 011)，工作电流测量�？镼lc)通过串联方式与待测CD芯片02)的电源�？榱�。
4.如权利要求1所述的CD芯片功能参数自动测试装置，其特征在于，CD芯片功能参数自动测试装置还包括按键�？镺lb)，按键�？�(21b)连接CPU处理�？�011)。
专利摘要本实用新型公开了CD芯片功能参数自动测试装置包括CPU处理模块(211)、初始化CD芯片�？�(212)、音频参数诊断�？�(213)、多路选择开关�？�(214)、时钟信号输出�？�(215)、USB接口数据处理�？�(216)、CD伺服驱动�？�(217)、SD卡接口数据处理�？�(218)以及LCD显示�？�(21a)。本实用新型实现了CD芯片功能参数自动化测试，节省了芯片测试过程所需时间，提高了工作效率。
文档编号G01R31/28GK202182934SQ20112029174
公开日2012年4月4日 申请日期2011年8月11日 优先权日2011年8月11日
发明者潘子升, 章圣表, 魏建中 申请人:杭州士兰微电子股份有限公司
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