专利名称：激光测距仪的发射光学系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种激光测距仪的发射光学系统。
背景技术：
激光测距装置的基本机构已为公知。例如中国专利文献公告号 CN2265525Y公开了一种脉沖半导体激光测距装置，包括信号发射系统、 信号接收系统、微处理器和显示器，其信号发射系统由脉沖半导体激光器、 切边透镜组成，信号接收系统由与切边透镜切边紧贴的聚焦透镜、限制光 闺、干涉滤光片、雪崩光电二极管组成。中国专利文献公告号CN1034142C 公开了一种测距设备,具有一个由半导体激光器产生的可见光测量光束；一 个准直器物镜，用于在准直器物镜的光轴的方向把测量光束进行准直；一 个调制测量光束的电路装置； 一个接收物镜，用于接收和把一个远距离被 测物体反射回来的测量光束成像到一个接收装置上； 一个可接入的光偏转 装置，用于产生一个介于半导体激光器和接收装置之间的内部参考距离； 和一个电子分析装置，用于测出和显示所测量的被测物体的距离。其中，
接收装置有一段光导纤维与光电转换器连接，其中为测量远距离物体把光 导纤维入射面安置在接收物镜的成像平面内，并且可控制入射面由此位置
垂直于光轴移动。
现有的激光测距仪的测距模式，包括无反射棱镜测距模式和有反射棱镜 测距模式。在无反射棱镜测距模式下进行测距时，激光测距仪是靠接收被 测物体表面的漫反射光线来进行测距的，测量范围一般为0. 5-400m,因此 要求测量光束具有较大的功率，且要求发射光束的发散角较�。约跣∮� 于被测物体表面的不平整带来的误差。在有反射棱镜测距模式下进行测距 时，由于反射棱镜有着非�：玫姆瓷湫剩饬糠段б话阄�1. 5-5000m,因 此要求发射光束的功率不能太大，同时为便于在远距离测量时照准目标， 这要求发射光束的发散角不能过小。显然，上述两种测距模式对激光测距 仪的要求是截然相反的，因此不利于同时在同一激光测距仪中实现。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种同 一激光测距仪中实现无 反射棱镜测距模式和有反射棱镜测距模式的激光测距仪的发射光学系统。
为解决上述技术问题，本实用新型的激光测距仪的发射光学系统，包
括光阑，其特点是该光阑与一光阑移位装置相连，光阑移位装置用于 控制光阑移入或移出发射光学系统的发射光路。
所述光阑移位装置为转换电机，转换电机的转轴与光阑的一端固定连接。
所述光阑为矩形孔光阑。
本实用新型具有积极的效果(1 )本实用新型的激光测距仪中，光阑 与光阑移位装置相连，以控制光阑移入或移出发射光学系统的发射光路。 在无反射棱镜测距模式下进行测距时，将光阑移出发射光路，从而激光测 距仪中的光电转换器可接收得较强的被测物体表面的漫反射光线，进而满 足无反射棱镜测距模式的测距需要。在有反射棱镜测距模式下进行测距时， 将光阑移入发射光路，由于反射棱镜有着非�：玫姆瓷湫剩饫荒苡行� 地减弱从激光测距仪射出的发射光束的功率，并满足发射光束的发散角的 需要，故而满足了有反射棱镜测距模的测距工作。因此，本实用新型的一 个激光测距仪中便能分别在无反射棱镜测距模式和有反射棱镜测距模式下 进行测距工作，方便了使用。(2)本实用新型的激光测距仪中，光阑移位 装置为转换电机，结构简单，成本低廉；光阑为矩形孔光阑，适于有效减 弱发射光束的功率，以满足有反射棱镜测距模式下的测距需要。
图l为实施例l的激光测距仪的结构示意图，其中，光阑被移入发射光 学系统的发射光路；
图2为光闺被移出发射光学系统的发射光路时的激光测距仪的结构示 意图3为图1中的接收光学组件及第二折射板的放大结构示意图； 图4为图2中的A向^L图。
具体实施方式
(实施例1 )
见图1-4,本实施例的激光测距仪，包括发射光学系统、接收光学系
统和测距控制及计算电3各系统。
发射光学系统包括光阑2 、激光器和设于激光器光线输出端的准直器l 。 见图4,光阑2为矩形孔光阑。光阑2的一端与转换电才几3的转轴固定相 连，转换电机3用于控制光阑2移入或移出发射光学系统的发射光3各21 。
4,内光路切换装置4的一侧设有用于接收所述折射光线的内光路光纤5。
所述内光路切换装置4包括内光路电机4-l及与内光路电机4-l的转轴 固定相连的折射棱镜4-2;所述内光路光纤5的光线入射端面与折射棱镜4-2 相对，并在折射棱镜4-2进入所述发射光路时，内光路光纤5适于接收来自 所述折射棱镜4-2的折射光线。
接收光学系统包括物镜组6、设于物镜组6后端的接收光学组件7、设 于接收光学组件7—侧的用于接收反射光线的接收光纤8、分叉光纤器9以及 与分叉光纤器9的末端相连的光电转换器10;所述内光路光纤5和接收光纤8 与分叉光纤器9的分叉端相连。光电转换器10包括光电转换器、距离计算 电路和显示电路等。光电转换器10的光电信号输出端与测距控制及计算电 路系统的光电信号输入端相连。测距控制及计算电路系统的光阑控制输出 端及内光路测量控制输出端分别与转换电机3的电源控制输入端和内光路
电才几4-l的电源控制iir入端相连。
所述物镜组6和接收光学组件7同设于中心轴线11上，接收光学组件7后 端的中心轴线1 l上依次设有调焦镜l 3、转像棱镜組l4和目镜分划板组件15。
见图3,所述接收光学组件7包括前后设置在中心轴线11上的反光斜面 7-3和半反半透光板7-2;接收光纤8的光线入射端面与反光斜面7-3相对， 以接收来自反光斜面7-3的光线；所述半反半透光板7-2的前端面上设有高 反膜。
所述第二折射板17和反光斜面7-3设于透光板7-1两侧。透光板7-1 主要起支撑第二折射板17和反光斜面7-3的作用。
在发射光路21上所述光阑2的前端设有第 一折射板l 6,遮光套l2上设有 通孔12-1;在中心轴线11上所述反光斜面7-3与物镜组6之间设有第二折射 板17;第一折射板16与第二折射板17相对设置，且遮光套12上的通孔12-1 设于第一折射板16与第二折射板17之间；使用时，发射光路21上的光线经
第一折射板16反射后穿过遮光套12上的通孔12"1，经第二折射板17反射后 从透镜6射出。
还具有黑色橡胶制成的遮光套12。所述遮光套12的后端套于第二折射 板17上，遮光套12的前端套于物镜组6的后端上。
在相位法测距中， 一个重要的技术指标就是周期误差，而周期误差差生 的原因就是由于同频干扰。在图1和3中，发射光束通过第二折射板17后 穿过物镜组6出射，必然在物镜组6的后端面上发生微弱的反射，这些反 射光经通过漫射后有一部分进入到光电转换器中形成干扰，这些干扰在有 反射棱镜测距模式下测量时，由于回光信号较强，形成不了较大的误差。 但在无有反射棱镜测距模式下测量时，由于回光信号非常的微弱，会导致 较大的误差，实验表明其对周期误差的影响在5咖左右。而在本实施例中， 物镜组6反射的光线大部分被遮光套12其吸收，而无法进入到光电转换器 中，从而大大减小了周期误差。
如图2,在无反射棱镜测距模式下进行测距时，光阑2移出发射光路， 从而激光测距仪中的光电转换器10可接收得较强的被测物体19表面的漫反 射光线，进而满足无反射棱镜测距模式的测距需要。此时激光测距仪射出 的发射光束的功率为5mW，发散角约为O. 4mrad。
如图l,在有反射棱镜测距模式下进行测距时，光阑2移入发射光路， 由于反射棱镜20有着非�：玫姆瓷湫剩饫�2能有效地减弱从激光测距仪 射出的发射光束的功率，并满足发射光束的发散角的需要，此时激光测距 仪射出的发射光束的功率为O. 5mW，发散角约为2. 4mrad。由于光线在通过光 阑2的狭缝时产生了衍射，扩大了发散角，这样在远距离测量时就便于照准 棱镜，从而解决了棱镜测量和无棱镜测量相互兼容的问题。
权利要求1、一种激光测距仪的发射光学系统，包括光阑(2)，其特征在于:该光阑(2)与一光阑移位装置相连，光阑移位装置用于控制光阑(2)移入或移出发射光学系统的发射光路(21)。
2、 根据权利要求l所述的激光测距仪的发射光学系统，其特征在于 所述光阑移位装置为转换电机(3),转换电机(3)的转轴与光阑(2)的 一端固定连接。
3、 根据权利要求2所述的激光测距仪的发射光学系统，其特征在于 所述光阑(2)为矩形孔光阑。
专利摘要为解决在同一激光测距仪中实现无反射棱镜测距模式和有反射棱镜测距模式，本实用新型涉及一种激光测距仪的发射光学系统。其包括发射光学系统；发射光学系统包括光阑，该光阑与光阑移位装置相连，以控制光阑移入或移出发射光学系统的发射光路。在无反射棱镜测距模式下，将光阑移出发射光路，从而激光测距仪中的光电转换器可接收得较强的被测物体表面的漫反射光线，进而满足无反射棱镜测距模式的测距需要。在有反射棱镜测距模式下，将光阑移入发射光路，由于反射棱镜有着非�：玫姆瓷湫剩饫荒苡行У丶跞醮蛹す獠饩嘁巧涑龅姆⑸涔馐墓β剩⒙惴⑸涔馐姆⑸⒔堑男枰识懔擞蟹瓷淅饩挡饩嗄５牟饩喙ぷ鳌�
文档编号G01S7/484GK201203668SQ200820036249
公开日2009年3月4日 申请日期2008年5月27日 优先权日2008年5月27日
发明者唐建宇, 巢海步 申请人:常州市新瑞得仪器有限公司
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