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专利名称：一种led显示屏通用开路检测系统的制作方法
技术领域：
—种LED显不屏通用开路检测系统技术领域[0001]本实用新型涉及LED技术领域，具体涉及一种LED显示屏通用开路检测系统。
背景技术：
[0002]在现阶段，LED显示屏的开路检测中，大多情况是每一种检测系统都是基于固定的 模组结构，即在LED显示屏有多行模组的情况下，检测系统针对不同位置的模组使用不同 的反馈时钟来进行数据采样，也即检测系统针对显示屏上每一行模组均使用该行模组的反 馈时钟来采样它自身的反馈数据；同时系统将从每一行模组上采样到的反馈数据存放在若 干个相互独立的存储器中，不同行的模组的反馈数据存放位置独立，而且数据宽度固定。[0003]目前的LED显示屏开路检测系统在产品开发与维护中有很大的弊端。首先，检测 系统针对显示屏的每一个反馈时钟只采样固定位置的反馈数据，一旦LED显示屏模组的区 数或模组的时钟数改变，则每个反馈时钟所采样的反馈数据也要随之发生改变，目前的数 据采样方式很显然不能适应这种改变，从而每次LED显示屏模组结构的改变必然要伴随着 检测系统的改变，给产品开发与维护带来不便。其次，检测系统将从LED显示屏上每行模组 采样到的反馈数据存放在若干个相互独立且固定大小的存储器中，一旦模组数据的区数发 生改变，则存储器要么存储空间和数据宽度不够，要么浪费存储空间和数据宽度，甚至导致 测试结果错误，目前的检测技术不能自适应LED显示屏每个模组的存储数据宽度与结构变 化，同样给产品开发与维护带来不便。[0004]综上所述，现有LED模组开路测试系统中，一旦LED显示屏的模组结构改变，如模 组行数(显示屏有几行模组)、模组区数(模组有几组RGB数据输入)或模组的时钟数(模组有 几组时钟输入)等发生改变，则需要对检测系统做出较大的改变，给产品开发与维护带来极 大的不便，因此需要改进。实用新型内容[0005]本实用新型所要解决的技术问题是提供一种LED显示屏通用开路检测系统，解决 目前LED显示屏开路检测系统通用性不够的问题。[0006]为解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案[0007]一种LED显示屏通用开路检测系统，包括处理器以及用于显示测试结果的显示 单元，用于与外界连接以获取待测LED显示屏的LED模组的配置参数以及向待测LED显示 屏发送测试数据与接收反馈数据的接口单元，用于存储数据的存储单元，所述显示单元、接 口单元、存储单元均与处理器连接；所述存储单元为一个外部存储器，且所述外部存储器中 存有待测显示屏的显示模组的配置参数；所述处理器为FPGA，且FPGA内具有用来缓存接收 到的反馈采样数据的大容量内部存储器。[0008]优选的技术方案中，所述接口单元包括与上位机通讯以便从上位机获取所述配 置参数后保存至外部存储器的网口，以及与LED显示屏通讯，向LED显示屏的LED模组发送 测试数据并且接收反馈数据的排线插座，所述网口和排线插座均与处理器连接。[0009]优选的技术方案中，所述外部存储器为FLASH存储器。[0010]优选的技术方案中，所述显示单元包括一颗在测试未通过时发红光的红色LED，和 一颗在测试通过时发绿光的绿色LED。[0011]本实用新型的有益效果是[0012]由于将待测LED显示屏所有LED模组的采样数据，都保存到一个通用的大容量的 内部存储器中，这个大容量内部存储器内部也可以分为几个完全并行的小存储器，功能和 效果是完全一样及等价的，但是一个通用大容量内部存储器面对的是LED显示屏的显示模 组的所有区的数据，基本跟LED显示屏的模组结构无关，这样一来，不管LED显示屏模组结 构如何变化，对于采样数据的存储来说面对的好像都是完全一样的结构，检测程序只需按 照区的位置按前后顺序将采样数据存放到大存储器中，基本上完全不用考虑LED显示屏模 组的结构。另外，因为只使用其中一个正确的反馈时钟来采样显示屏所有模组的反馈数 据，这样一来，所有反馈数据使用同一时钟来同步与采样，不同的LED显示屏模组结构对于 反馈时钟采样反馈数据来说都是完全一样的，不管LED显示屏的模组结构怎么改变，对于 单一采样时钟来说都是同等对待，这样的设计使得本检测系统可以在所有的LED显示屏上 通用，大大提高了产品开发的效率，保证了系统设计版本的统一性，方便了系统的维护与管 理。[0013]
以下结合附图对本实用新型作进一步的详细描述。


[0014]图1是本实用新型具体实施方式
LED显示屏通用开路检测系统的原理框图；[0015]图2是本实用新型具体实施方式
LED显示屏通用开路检测系统的工作流程图。
具体实施方式
[0016]本具体实施方式
提供的一种LED显示屏通用开路检测系统如图1所示，包括处理 器以及用于显示测试结果的显示单元，用于与外界连接以获取待测LED显示屏的LED模组 的配置参数以及向待测LED显示屏发送测试数据与接收反馈数据的接口单元，用于存储数 据的存储单元，所述显示单元、接口单元、存储单元均与处理器连接；所述存储单元为一个 外部存储器，且所述外部存储器中存有待测显示屏的显示模组的配置参数。[0017]由于将待测LED显示屏所有LED模组的采样数据，都保存到一个通用的大容量内 部存储器中，这个大容量内部存储器内部也可以分为几个完全并行的小存储器，功能和效 果是完全一样及等价的，但是一个通用的大容量内部存储器面对的是LED显示屏的显示模 组的所有区的数据，基本跟LED显示屏的模组结构无关，这样一来，不管LED显示屏模组结 构如何变化，对于采样数据的存储来说面对的好像都是完全一样的结构，检测程序只需按 照区的位置按前后顺序将采样数据存放到这个大存储器中，基本上完全不用考虑LED显示 屏模组的结构，同时，所有反馈数据均使用同一反馈时钟来同步与采样，不同的LED显示屏 模组结构对于反馈时钟采样反馈数据来说都是完全一样的，O不管LED显示屏的模组结构 怎么改变，对于单一采样时钟来说都是同等对待，这样的设计使得本检测系统可以在所有 的LED显示屏上通用，大大提高了产品开发的效率，保证了系统设计版本的统一性，方便了 系统的维护与管理。[0018]优选的技术方案中，所述处理器为FPGA，且FPGA内具有用来缓存接收到的反馈数 据的大容量内部存储器。FPGA同步设计技术保证了系统运行的稳定性，从而使得系统测试 可靠性高，结果的准确度与稳定性得到提高。[0019]优选的技术方案中，所述接口单元包括与上位机通讯以便从上位机获取所述配 置参数后保存至外部存储器的网口，以及与LED显示屏通讯，向LED显示屏的LED模组发送 测试数据并且接收反馈数据的排线插座，所述网口和排线插座均与处理器连接。通过设置 网口与上位机连接来配置参数，使得本系统可以适用于几乎所有型号的LED显示屏，具有 很强的通用性。[0020]优选的技术方案中，所述外部存储器为FLASH存储器。[0021]优选的技术方案中，所述显示单元包括一颗在测试未通过时发红光的红色LED，和 一颗在测试通过时发绿光的绿色LED。红灯表示测试不通过，绿灯表示测试通过，符合一般 的认识，简单易懂。[0022]本具体实施方式
的LED显示屏通用开路检测系统，其工作流程如图2所示，包括如 下步骤[0023]初始化上电以后，本LED显不屏通用开路检测系统先完成初始化,然后才能开始 测试；[0024]发送测试数据处理器根据外部存储器中待测模组的参数，产生一组测试数据并 通过接口单元发送给待测LED显示屏；[0025]接收反馈数据处理器接收来自待测LED显示屏的反馈数据，并检测LED显示屏的 所有LED模组的反馈时钟的正确性，然后使用其中一个正确的反馈时钟来采样LED显示屏 所有LED模组的反馈数据，并将反馈数据存储在一个通用大容量存储器中；[0026]判断测试结果并显示处理器根据反馈数据运算出测试结果并通过显示单元显 示。显示测试结果后又可以重新开始新一轮的开路检测，并一直这样循环进行下去。[0027]本LED显示屏通用开路检测系统，由于首先检测LED显示屏所有模组反馈时钟的 正确性，并使用其中一个正确的反馈时钟来采样显示屏所有模组的反馈数据，这样一来，所 有反馈数据使用同一时钟来同步与采样，不同的LED显示屏模组结构对于反馈时钟采样反 馈数据来说都是完全一样的，不管LED显示屏的模组结构怎么改变，对于单一采样时钟来 说都是同等对待，这样本检测系统就可以适应各种不同的显示屏。而且任何用来采样的反 馈时钟出现问题，都会顺序切换到下一个正确的反馈时钟，保证了采样数据的正确性和采 样的可靠性。[0028]同时，由于将待测LED显示屏所有LED模组的采样数据，都保存到一个通用的大容 量存储器中，该存储器面对的是LED显示屏的显示模组的所有区的数据，基本跟LED显示屏 的模组结构无关，这样一来，不管LED显示屏模组结构如何变化，对于采样数据的存储来说 面对的好像都是完全一样的结构，检测程序只需按照区的位置按前后顺序将采样数据存放 到这个大存储器中，基本上完全不用考虑LED显示屏模组的结构，同样使得本检测系统可 以适用于各种不同结构的显示屏。[0029]综上所述，本LED显示屏通用开路测试系统摒弃了目前的LED显示屏开路测试系 统普遍采用的多存储器和多反馈时钟的方案，而是使用一个单一反馈时钟来采样LED显示 屏所有反馈数据输入，并将所有采样数据存入一个共同的大容量存储器中，这样就能保证本检测系统与LED显示屏模组的结构无关，保证了本系统的可靠性和通用性。以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种LED显示屏通用开路检测系统，包括处理器以及用于显示测试结果的显示单元，用于与外界连接以获取待测LED显示屏的LED模组的配置参数以及向待测LED显示屏发送测试数据与接收反馈数据的接口单元，用于存储数据的存储单元，所述显示单元、接口单元、存储单元均与处理器连接，其特征在于，所述存储单元为外部存储器，且所述外部存储器中存有待测LED显示屏的显示模组的配置参数；所述处理器为FPGA，且FPGA内具有用来缓存接收到的反馈采样数据的一个大容量内部存储器。
2.如权利要求1所述的一种LED显示屏通用开路检测系统，其特征在于，所述接口单元包括与上位机通讯以便从上位机获取所述配置参数后保存至外部存储器的网口，以及与LED显示屏通讯，向LED显示屏的LED模组发送测试数据并且接收反馈数据的排线插座，所述网口和排线插座均与处理器连接。
3.如权利要求1或2所述的一种LED显示屏通用开路检测系统，其特征在于，所述外部存储器为FLASH存储器。
4.如权利要求1或2所述的一种LED显示屏通用开路检测系统，其特征在于，所述显示单元包括一颗在测试未通过时发红光的红色LED，和一颗在测试通过时发绿光的绿色LED。
专利摘要本实用新型公告了一种LED显示屏通用开路检测系统，包括处理器、显示单元、接口单元和存储单元，显示单元、接口单元、存储单元均与处理器连接；所述存储单元为外部存储器，且其中存有待测显示屏的显示模组的配置参数；所述处理器为FPGA，且FPGA内具有用来缓存接收到的反馈采样数据的一个大容量内部存储器。采用了本实用新型技术方案的LED显示屏通用开路检测系统，将待测LED显示屏所有LED模组反馈的采样数据，都保存到一个通用的大容量的内部存储器中。这样的设计使得本检测系统可以在所有的LED显示屏上通用，大大提高了产品开发的效率，保证了系统设计版本的统一性，方便了系统的维护与管理。
文档编号G01R31/02GK202837460SQ201220486179
公开日2013年3月27日 申请日期2012年9月21日 优先权日2012年9月21日
发明者孙兴红, 李选中, 徐健, 吴振志, 吴涵渠 申请人:深圳市奥拓电子股份有限公司