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专利名称：探针机构的制作方法
技术领域：
本实用新型是有关于ー种检测用的机构，且特别是有关于ー种探针机构。
背景技术：
任何的电子产品在制作完成后都需要进行电气测试以筛检产品的幼劣。以平面显示面板而言，在制作完成之后，通常都会进行点亮测试或是其他的电性测试来检核平面显示面板是否有缺陷存在。一旦发现缺陷，可以利用后续的修补作业修补。 详细地说，要检测平面显示面板或是其他电子产品时，往往需使用检测设备中的导电探针接触于平面显示面板或是其他电子产品上的测试接点。在这样的检测过程中，为了确保导电探针与测试接点的接触，平面显示面板或是电子产品需要由一定的压カ施加于导电探针上。如此ー来，导电探针与测试接点可能因为这样的压カ而受到损坏，其中测试接点可能被导电探针刮伤而导电探针可能产生无法恢复的形变。所以，要如何維持检测方法的信赖性同时保持检测设备与检测物的质量是一项值得重视的议题。
发明内容本实用新型提供ー种探针机构，可避免导电接触件(即探针)在检测过程中受到损坏并且确保检测作业的进行。本实用新型提出ー种探针机构，适用于接触一对象以进行对象的检测。探针机构包括一底座、多个导电接触件、ー电路板以及ー缓冲件。底座具有多个容纳孔，且各容纳孔贯穿底座。导电接触件分别设置于容纳孔中。各接触件具有一第一端部、一弾性部以及ー第二端部，其中弾性部位于第一端部与第二端部之间，且第一端部与第二端部皆凸出于底座之外。电路板设置于底座上，并接触且电性连接于各导电接触件的第一端部。缓冲件设置于电路板与底座之间，使电路板与底座之间相隔一距离。根据本实用新型的ー实施例，上述导电接触件通过第二端部接触于对象。第二端部接触于对象吋，弾性部例如具有一弹性变形量，而此弹性变形量小于弹性部的最大弾性变形量。另外，弹性变形量与距离的总和可以不小于弹性部的最大弹性变形量。根据本实用新型的ー实施例，上述探针机构更包括ー锁固件。锁固件将电路板、缓冲件以及底座锁固在一起，其中锁固件包括一螺丝。根据本实用新型的ー实施例，上述探针机构还包括ー辅助缓冲件，其设置于电路板远离底座的ー侧。于ー实施例中，辅助缓冲件的材质包括一弾性材料。另外，探针机构选择性地更包括ー锁固件。锁固件将电路板、缓冲件以及底座锁固在一起，其中锁固件具有嵌入于底座的一第一部以及贯穿电路板与该缓冲件的一第二部，且第一部的表面具有至少ー锁固纹路而第二部的表面实质上为平滑的。上述至少ー锁固纹路包括螺纹。根据本实用新型的ー实施例，上述各导电接触件的弾性部包括一弹簧。根据本实用新型的ー实施例，上述缓冲件包括一垫片。垫片例如具有至少ー开ロ。开ロ暴露出导电接触件使各导电接触件的第一端部凸伸于开口中以接触并电性连接于电路板。基于上述，本实用新型在既有的探针机构中，设置缓冲件于电路板与底座之间，使具有弹性的导电接触件可工作范围增加而有利于检测作业的进行同时降低探针结构中导电接触件损坏的可能，此外，本实用新型的探针机构有助于降低检测过程中对检测对象的损害。

图I为本实用新型的一实施例的探针机构的上视示意图。图2为图I的探针机构沿剖线1-1’的剖面示意图。图3为图2的探针机构进行检测时的状态示意图。图4为本实用新型一比较例的探针机构的示意图。图5为本实用新型一实施例与比较例的探针机构在检测过程中，探针机构所承受的压カ与探针机构的压缩距离的关系。图6为本实用新型另ー实施例的探针机构的剖面示意图。图中10，物件；100、100A、200，探针机构；110，底座；112，容纳孔；120，导电接触件；122，第一端部；124，弹性部；126，第二端部；130，电路板；140，缓冲件；142，开ロ；150、220，锁固件；210，辅助缓冲件；222，第一部；224，第二部；C100、C100A，趋势线；d，距离；、[0036]I-I’，剖线；L,长度；R,范围；SI、S2，变化区间。
具体实施方式
图I为本实用新型一实施例的探针机构的上视示意图，而图2为图I的探针机构沿剖线1-1’的剖面示意图。请同时參照图I与图2，探针机构100包括一底座110、多个导电接触件120、一电路板130以及ー缓冲件140。底座110具有多个容纳孔112，且各容纳孔112贯穿底座110。导电接触件120分别设置于容纳孔112中，其中图2仅绘示一个导电接触件120以及ー个容纳孔112以方便说明。电路板130设置于底座110上，并接触且电性连接于各导电接触件120。缓冲件140设置于电路板130与底座110之间，使电路板130与底座110之间相隔ー距离d。另外，探针机构100可以还包括一锁固件150。锁固件150用以将电路板130、缓冲件140以及底座110锁固在一起，其中锁固件150可以是螺丝、铆钉或是其他可用来将上述构件固定住的组件。具体来说，本实施例的各导电接触件120为针状结构物，其具有一第一端部122、一弾性部124以及ー第二端部126，其中弾性部124位于第一端部122与第二端部126之间。換言之，导电接触件120可以是具有弹性的探针，其中上述的弾性部124包括一弹簧，但本实用新型不以此为限。另外，导电接触件120的第一端部122与第二端部126皆凸出 于底座110之外。电路板130则是接触且电性连接于各接触件120的第一端部122。在本实施例中，缓冲件140可以是ー垫片，其具有至少ー开ロ 142。开ロ 142暴露出导电接触件120，使各导电接触件120的第一端部122凸伸于开ロ 142中以接触并电性连接于电路板130。如此一来，电路板130上所传输的电讯号可以通过导电接触件120传送出去以在检测设备中提供检测讯号之传递功能。详细而言，图3为图2的探针机构进行检测时的状态示意图。请同时參照图2与图3，一般来说，探针机构100应用于对象10的检测过程时，对象10会朝向导电接触件120接近并且抵顶于导电接触件120。此时，对象10会对导电接触件120施加应カ而使弹性部124的长度L由原始长度XO被压缩为XI。即，导电接触件120的弾性部124会具有一弾性变形量(XI减去X0)。为了避免弾性部124的损坏，上述弹性变形量(XI减去X0)需小于弹性部124的最大弹性变形量，所以本实施例在底座110与电路板130之间设置有缓冲件140。详细的说，本实施例的缓冲件140使得电路板130与底座110之间相隔ー距离d，因此弹性部124在长度L的方向上的可伸展长度可以相对地増加。对象10抵顶导电探针120使其产生的弹性变形量不容易超过弹性部124自身特性所能承受的最大弹性变形量。所以，探针机构100应用于对象10的量测时不易造成不可回复的形变而具有良好的信赖性。另外，对象10抵顶于导电接触件120时，弹性部124并未处于最大弹性变形状态，弾性部124仍有可压缩的空间。所以，弾性部124在此可以提供缓冲作用使得第二端部126施加于对象10的应カ减缓而可以避免对象10的表面被第二端部126刮伤。图4为本实用新型一比较例的探针机构的示意图。请參照图4，探针机构100A与前述的探针机构100实质上相同，其中相同的组件符号表示为相同的构件。不过，探针机构100A的电路板130直接接触于底座110。也就是说，探针机构100A并无前述的缓冲件140的设计。图5表示为本实用新型一实施例与比较例的探针机构在检测过程中，探针机构所承受的压力与探针机构的压缩距离的关系。请同时參照图2、图4与图5，纵轴上所标示的范围R为检测过程中可确实使对象接触于探针机构时产生的应カ大�。�也就是检测过程中探针机构承受到对象所施加的应カ范围。另外，趋势线Cioo为本实用新型实施例的探针机构100的特性，而趋势线C100A为图4的比较例的探针机构100A的特性。由图5可知，在相同范围R的应カ状态下，探针机构100的压缩距离的变化区间SI较大，而探针机构100A的压缩距离的变化区间S2较小。也就是说，探针机构100在检测过程中，相对具有较大的可工作范围，而有利于提升检测作业的信赖性。S卩，本实用新型ー实施例的缓冲件140确实有利于检测作业的进行以及延长探针机构100的使用寿命。图6为本实用新型另ー实施例的探针机构的剖面示意图。请參照图6，探针机构200除了上述探针机构100所具有个构件外，更包括一辅助缓冲件210。并且，本实施例的探针机构200中，锁固件220包括嵌入于底座110的一第一部222以及贯穿电路板130与缓冲件140的一第二部224。在本实施例中，辅助缓冲件210例如设置于电路板130远离底座110的ー侧，且辅助缓冲件210的材质包括ー弹性材料。因此，探针机构200在进行检测时，辅助缓冲件210有助于减缓检测过程中施加于导电接触件120的应カ而减低导电接触件120损坏的可能性。另外，本实施例的锁固件220中，第一部222的表面具有至少ー锁固纹路222A而第二部224的表面实质上为平滑的，其中锁固纹路22A包括螺纹以利于将电路板130与底座110固定在一起。此时，第二部224的平滑表面意味着第二部224的表面没有明显的纹路，所以辅助缓冲件210被压缩时电路板130可以沿第二部224略微滑移一距离以减缓导电接触件120中弹性部124的压缩应力。整体而言，辅助缓冲件210可以提供额外的缓冲作用以使导电接触件120不容易损坏。综上所述，本实用新型在底座与电路板之间设置一缓冲件使得底座与电路板相隔一距离。因此，设置于底座的容纳孔中的导电接触件向外凸伸上述距离的长度后才接触于电路板。这样的探针机构应用在进行检测的过程中，导电接触件具有较长的可压缩距离而不易使导电接触件因为过度压缩而发生无法回复的形变。換言之，导电接触件在检测过程中不易被压缩至极限，这可以避免待检测的对象因为被压缩至极限的导电接触件而承受较大的应力造成对象之损坏。虽然本实用新型已以实施例揭露如上，然其并非用以限定本实用新型，任何所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，故本实用新型的保护范围应当以专利申请范围所界定的为准。
权利要求1.一种探针机构，适用于接触一对象以进行该对象的检测，其特征在于，该探针机构包括 一底座，具有多个容纳孔，各该容纳孔贯穿该底座； 多个导电接触件，分别设置于所述容纳孔中，各该接触件具有一第一端部、一弹性部以及一第二端部，该弹性部位于该第一端部与该第二端部之间，且该第一端部与该第二端部皆凸出于该底座之外； 一电路板，设置于所述底座上，并接触且电性连接于各该导电接触件的该第一端部；以及 一缓冲件，设置于所述电路板与该底座之间，使该电路板与该底座之间相隔一距离。
2.如权利要求I所述的探针机构，其特征在于，其中所述导电接触件通过所述第二端部接触于该对象。
3.如权利要求2所述的探针机构，其特征在于，其中所述第二端部接触于所述对象时，所述弹性部具有一弹性变形量，而该弹性变形量小于所述弹性部的最大弹性变形量。
4.如权利要求3所述的探针机构，其特征在于，其中所述弹性变形量与所述距离的总和不小于该弹性部的该最大弹性变形量。
5.如权利要求I所述的探针机构，其特征在于，更包括一锁固件，该锁固件将该电路板、该缓冲件以及该底座锁固在一起。
6.如权利要求5所述的探针机构，其特征在于，其中所述锁固件包括一螺丝。
7.如权利要求I所述的探针机构，其特征在于，还包括一辅助缓冲件，设置于所述电路板远离该底座的一侧。
8.如权利要求7所述的探针机构，其特征在于，其中所述辅助缓冲件的材质包括一弹性材料。
9.如权利要求8所述的探针机构，其特征在于，更包括一锁固件，所述锁固件将所述电路板、所述缓冲件以及所述底座锁固在一起，其中所述锁固件具有嵌入于所述底座的一第一部以及贯穿所述电路板与所述缓冲件的一第二部，且所述第一部的表面具有至少一锁固纹路而该第二部的表面实质上为平滑的。
10.如权利要求9所述的探针机构，其特征在于，其中所述至少一锁固纹路包括螺纹。
11.如权利要求I所述的探针机构，其特征在于，其中各所述导电接触件的该弹性部包括一弹簧。
12.如权利要求I所述的探针机构，其特征在于，其中所述缓冲件包括一垫片。
13.如权利要求12所述的探针机构，其特征在于，其中所述垫片具有至少一开口，所述开口暴露出所述导电接触件使各该导电接触件的该第一端部凸伸于该开口中以接触并电性连接于该电路板。
专利摘要一种探针机构，适用于接触一对象以进行对象的检测，探针机构包括一底座、多个导电接触件、一电路板以及一缓冲件。底座具有多个容纳孔，且各容纳孔系贯穿底座，导电接触件分别设置于容纳孔中，各接触件具有一第一端部、一弹性部以及一第二端部，其中弹性部位于第一端部与第二端部之间，且第一端部与第二端部皆凸出于底座之外，电路板设置于底座上，并接触且电性连接于各导电接触件的第一端部，缓冲件设置于电路板与底座之间，使电路板与底座之间相隔一距离。本实用新型在既有的探针机构中，设置缓冲件于电路板与底座之间，使具有弹性的导电接触件可工作范围增加而有利于检测作业的进行同时降低探针结构中导电接触件损坏的可能，此外，本实用新型的探针机构有助于降低检测过程中对检测对象的损害。
文档编号G01R1/067GK202421236SQ201220012070
公开日2012年9月5日 申请日期2012年1月12日 优先权日2012年1月12日
发明者李一帆, 杨子明 申请人:中华映管股份有限公司, 华映视讯(吴江)有限公司