专利名称：两脚磁性探头的残余奥氏体含量检测传感器的制作方法
技术领域：
本发明涉及铁磁性材料的残余奥氏体，更具体地说是一种适应于铁磁性材料的残余奥氏体含量检测的两脚磁性探头传感器；
背景技术：
奥氏体是铁的一种相，另一种常见相是马氏体；残余奥氏体是指发生马氏体转变后，还有少量未发生转变的奥氏体；或者说，残余奥氏体是淬火未能转变成马氏体而保留到室温的奥氏体；残余奥氏体对材料的机械性能、物理性能、工艺性能都有重要的影响；适量的残余奥氏体可提高韧性，抗接触疲劳及低温韧性，减少组织应力和淬火变形；但过量的残余奥氏体会降低硬度、耐磨性；特别对一些尺寸、稳定性要求甚高的零件，量具和轴承，残余奥氏体的存在会影响精度和寿命；因此检测残余奥氏体含量对保证铁工件质量具有极为重要的意义；然而传统意义上的残余奥氏体的检测存在检测难度大，检测周期长以及检测成本较高的缺点和测试方法不方便。
发明内容本发明的目的在于提供一种两脚磁性探头的残余奥氏体含量检测传感器；其具有检测难度低，缩短了检测周期，从而延长设备的实际使用寿命，大大降低了耗材成本，而且测试方法简便、同时保证了低成本优势的特点；本发明的目的是通过以下技术方案来实现:一种两脚磁性探头的残余奥氏体含量检测传感器，其包括:用于残余奥氏体含量检测的两个磁性探脚，两组传递信号的绕线圈，以及带有航空插头接合部的圆基座，还有一个用来引出绕线的圆通孔；在两个磁性探脚上分别绕上一组绕线圈，其中一个作为磁化线圈，另一个作为检测线圈。当磁化线圈通入交直电流后，会产生变化的磁化信号磁场，把探脚放置在被检测的材料上，就能够在检测线圈上产生相应的检测信号磁场，绕上绕线圈的探脚生长在圆基座上，圆基座后续部分带有航空插头接合部，航空插头接合部外表面是螺纹结构(螺丝结构)，也就是说所述带有航空插头接合部的圆基座可以拧在标准的航空插头(螺母结构)上，在圆基座中心处设计了一个小的圆通孔，用来引出绕线，进而既可以输入磁化信号，又可以输出材料的检测信号；本发明有益效果为，所述两脚磁性探头的奥氏体含量检测传感器利用铁磁性材料中奥氏体与马氏体磁特性的不同，实现了通过对检测信号的表征分析，将铁磁性材料中的残余奥氏体含量检测出来；这不仅降低了检测的难度，缩短了检测周期，从而延长了设备的实际使用寿命；而且由于对材料没有损伤而降低了耗材成本，成本较低。
下面根据附图和实施例对本发明做进一步详细说明:附图1是本发明的二维侧视图；附图2是本发明的未绕线圈的二维俯视图；图中:1、两脚磁性探头的残余奥氏体含量检测传感器；2、磁性探脚；3、绕线圈；4、圆基座；5、航空插头接合部；6、螺纹结构；7、圆通孔。
具体实施方式
请参照图1、2所示，图1为本发明二维侧视图；图2是本发明的未绕线圈的二维俯视图；所述两脚磁性探头的残余奥氏体含量检测传感器I包括磁性探脚2、绕线圈3、带有航空插头接合部的圆基座4、航空插头接合部5、螺纹结构6以及圆通孔7 ;其中绕线圈3绕在磁性探脚2上用于产生磁化信号和检测信号；磁性探脚2生长在圆基座4上，圆基座4后续部分带有航空插头接合部5，航空插头接合部5外表面是螺纹结构6，能够拧在标准的航空插头上；在圆基座4中心处设计了一个小的圆通孔7，可以将绕线圈3的绕线引出，也就可以将磁化信号导入，并将产生的检测信号引出；所述两脚磁性探头的残余奥氏体含量检测传感器I利用铁磁性材料残余奥氏体与马氏体之间的磁特性的不同，在绕线圈3中利用通入的信号电流产生磁化信号，将磁性探脚2与被测材料相接触，对材料进行磁化，再通过绕线圈3将材料中的残余奥氏体检测信号传导出来，通过对检测信号的表征分析，实现了铁磁性材料中的奥氏体含量的无损、高效检测；上述两脚磁性探头的残余奥氏体含量检测传感器实现了铁磁性材料中的奥氏体含量的检测，测量精度高，测试方法简便、灵活，能达到被测铁磁性材料物体的任何部位，而且能够进行材料的无损测量，更可以对材料进行分层测试。
权利要求1.一种两脚磁性探头的残余奥氏体含量检测传感器，其特征在于，用于残余奥氏体含量检测的两个磁性探脚，两组绕在探脚上用来传递信号的绕线圈，以及带有航空插头接合部的圆基座，和一个用来引出绕线的圆通孔。
2.根据权利要求1所述的两脚磁性探头的残余奥氏体含量检测传感器，其特征在于，磁化线圈可以提供一个磁化信号磁�。觳庀呷岵桓鱿嘤Φ募觳庑藕糯懦。ü礁龃懦⌒藕诺氖荽恚梢圆饬刻判圆牧喜杏喟率咸搴�。
专利摘要本实用新型公开一种两脚磁性探头的残余奥氏体含量检测传感器，包括用于残余奥氏体含量检测的两个磁性探脚，两组传递信号的绕线圈，以及带有航空插头接合部的圆基座，还有一个用来引出绕线的圆通孔。圆基座能够拧在航空插头上，圆通孔引出的线圈绕线上所带有的磁化信号和检测信号可以形成关系曲线，能够反映铁磁性材料的残余奥氏体含量。上述两脚磁性探头的残余奥氏体含量检测传感器，实现了残余奥氏体含量的检测，测试精度高，测量难度低，检测周期短，测试方法简便、灵活，能达到被测铁磁性材料物体的任何部位，而且能够进行材料的无损测量，更可以对材料进行分层测试。
文档编号G01N27/72GK202974942SQ20122051431
公开日2013年6月5日 申请日期2012年10月9日 优先权日2012年10月9日
发明者殷春浩 申请人:无锡强力环�？萍加邢薰�
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