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    电路高中低电平测试笔的制作方法

    时间:2025-04-26    作者: 管理员

    专利名称:电路高中低电平测试笔的制作方法
    技术领域:
    本实用新型涉及电子器械,具体涉及电路高中低电平测试笔。
    背景技术:
    目前CM0S、 TTL数字集成电路广泛应用于电子计算机、数字控制、数字通 信和自动化仪表设备中,使用万用表和示波器调试、检修这些电子设备往往比 较烦琐,特别是对于高频瞬态信号不易观察和捕捉。
    实用新型内容
    本实用新型所要解决的问题是如何提供一种电路高中低电平测试笔,该测 试笔采用红、黄、绿三种不同颜色的发光二极管发光,显示被测电路的高、中、 低电平,可应用于CM0S、 TTL数字集成电路的高、中、低电平的测试,方便于 高频瞬态信号的观察和捕捉,有助于较快地寻找和排除故障。
    本实用新型所提出的技术问题是这样解决的构造一种电路高中低电平测 试笔,其特征在于包括电源供给线路、电平测试探头电路、高中低电平显示 电路。电源供给线路由红、黑线分别接上红、黑色鳄鱼夹,用作接入被测电路 的+5V电源和地线电平测试探头电路由探针G、电阻器R1和保护二极管(VD1、 VD2)组成;高中低电平显示电路由检测放大三极管(VT1-VT7)、电阻器(R2-R12) 和红、黄、绿色发光二极管(VD4、 VD5、 VD3)组成。
    本实用新型的有益效果为该测试笔采用红、黄、绿三种不同颜色的发光 二极管发光,显示被测电路的高、中、低电平,可广泛应用于CM0S、 TTL数字 集成电路的高、中、低电平的测试,方便于高频瞬态信号的观察和捕捉,有助 于较快地寻找和排除故障。


    附图1是本实用新型的电路结构图。
    具体实施方式

    以下结合附图对本实用新型作进一步的说明。
    如附图1所示,当探针G检测到电路为低电平时,三极管VT1截止,VT2、 VT3导通,VcE3X).7V,三极管VT4导通,绿色发光二极管VD3得电发光,表示电 路为低电平,同时三极管VT5、 VT6、 VT7均截止,发光二极管VD4、 VD5均不发 光;当探针G测得电路为中电平时,三极管VT1、 VT2导通,VT3饱和导通,Vce3 w0.3V,三极管VT4截止,绿色发光二极管VD3不发光,三极管VT5截止,红色 发光二极管VD4不发光,此时三极管VT5的集电极呈高电平,三极管VT6、 VT7 导通,黄色发光二极管VD5得电发光,表示电路为中电平;当探针G检测到电 路为髙电平时,三极管VT1、 VT2导通,VT3饱和导通,Vce3"0, 3V,三极管VT4 截止,绿色发光二极管VD3不发光,三极管VT5呈饱和导通状态,Vce5"0.3V, 红色发光二极管VD4得电发光,表示为高电平,此时,三极管VT6、 VT7截止, 黄色发光二极管VD5不发光。在电路中,二极管VD1、 VD2组成输入过压保护电 路,防止探针G误触过高正、负电压而损坏测试笔。
    元件参数R1-R12选用1/8W的碳膜电阻器;VD1-VD2选用IN4148 二极管., 绿色发光二极管VD3选用BT104,红色发光二极管VD4选用BT504,黄色发光二 极管VD5选用BT304: VT1-VT7选用C9013NPN硅型三极管。
    装配和使用注意1、本产品可装配成普通的测电笔样式。2、电路高中低 电平测试笔检测低电平范围为0-0. 7V,中电平范围为0, 9-2. 4V,高电平范围为 2.5-5V。 3、电路高中低电平测试笔工作电压使用被测电路工作电压,测试笔+5V 端用红线接上红鳄鱼夹,地线端用黑线接上黑鳄鱼夹,在测试电路电平时,红 色鳄鱼夹夹在被测电路+5V端上,黑色鳄鱼夹夹在被测电路公共地上。
    本实用新型还可做出各种不同的变通方式,以上通过由附图1所示实施例的具体实施方式
    ,是对本实用新型的上述内容作一步详细说明,但不应将此理解 为本实用新型上述的主题的范围仅限于所描述的实例。在不脱离本实用新型上 述技术思想情况下,根据本领域普通技术知识和惯用手段做出的各种替换和变 更,均应包括在本实用新型的范围内。
    权利要求1、一种电路高中低电平测试笔,其特征在于包括电源供给线路、电平测试探头电路、高中低电平显示电路;电源供给线路由红、黑线分别接上红、黑色鳄鱼夹,用作接入被测电路的+5V电源和地线;电平测试探头电路由探针(G)、电阻器(R1)和保护二极管(VD1、VD2)组成;高中低电平显示电路由检测放大三极管(VT1-VT7)、电阻器(R2-R12)和红、黄、绿色发光二极管(VD4、VD5、VD3)组成;其电源+5V端分别和二极管(VD1)负极、电阻器(R2、R3、R5、R9、R11)一端相连;电源负极接地端分别和二极管(VD2)正极、三极管(VT3、VT4、VT5、VT7)发射极、电阻器(R7)一端相连接;电平测试探针(G)和电阻器(R1)一端相连,电阻器(R1)另一端和二极管(VD1)的正极、二极管(VD2)的负极、三极管(VT1)的基极、三极管(VT2)的发射极相连接;绿色发光二极管(VD3)串联在三极管(VT4)的集电极电路上,其正、负极分别和电阻器(R5)、三极管(VT4)集电极相连接;红色发光二极管(VD4)和电阻(R8)并联,其正极和电阻器(R9)、负极和三极管(VT5)的集电极、电阻器(R10)一端相连接;黄色发光二极管(VD5)串联在三极管(VT6、VT7)之间,其正、负极分别和三极管(VT6)发射极、三极管(VT7)集电极相连接。
    专利摘要本实用新型公开了一种电路高中低电平测试笔,其特征在于;包括电源供给线路、电平测试探头电路和高中低电平显示电路。电源供给线路由红、黑线分别接上红、黑色鳄鱼夹,用作接入被测电路的+5V电源和地线;电平测试探头电路由探针G、电阻器R1和保护二极管(VD1、VD2)组成;高中低电平显示电路由检测放大三极管(VT1-VT7)、电阻器(R2-R12)、红、黄、绿色发光二极管(VD4、VD5、VD3)组成。该测试笔采用红、黄、绿三种不同颜色的发光二极管发光,显示被测电路的高、中、低电平,可应用于CMOS、TTL数字集成电路的高中低电平测试,方便于高频瞬态信号的观察和捕捉,有助于较快地寻找和排除故障。
    文档编号G01R19/165GK201293804SQ20082014121
    公开日2009年8月19日 申请日期2008年11月6日 优先权日2008年11月6日
    发明者陈清尧 申请人:陈清尧

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