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专利名称：一种印刷电路板光学检测治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及制造印刷电路的技术领域，特别涉及一种印刷电路板光学检测治具。
背景技术：
目前,SMT (Surface Mounted Technology的缩写,表面组装技术)的生产过程中，PCB(Printed Circuit Board的缩写，印制电路板,又称印刷电路板、印刷线路板)在过回焊炉后通常使用显微镜进行检测，现有的印刷电路板光学检测治具中，由于垂直支承光学显微镜镜体的立柱直接固设于承载平台上，局限了承载平台上检测PCB板的尺寸范围，在遇到尺寸较大的PCB时无法进行有顺序的检测，需要将PCB旋转或变换角度进行检测，即使如此，相交位置或中间位置常容易漏失，或无法检测。如图1，现有的光学显微镜的立柱3'下端固设于承载平台4'的周边上，而光学显微镜的支臂2'长度加上镜体I'的总长度为200MM，则当PCB的尺寸为400X400MM以上时，其中间位置上的元件无法检测到，旋转或变换角度操作也十分不便，影响工作效率和产品良率。

实用新型内容为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种印刷电路板检测治具，以达到增大检测的尺寸范围，使得检测方便，适用性好的目的。为达到上述目的，本实用新型的技术方案如下一种印刷电路板光学检测治具，包括显微镜体、支承所述显微镜体的支臂、支承所述支臂的立柱，及承载工件的承载平台，还包括一呈倒置L型的支架，所述支架下端设于所述承载平台上，其上端面上支承所述立柱。优选的，所述支架与所述承载平台的边端固定连接。优选的，所述支架与所述承载平台为一体成型结构。通过上述技术方案，本实用新型提供的一种印刷电路板光学检测治具通过在承载平台的一边端上固设一呈倒置L型支架，由该支架来支承立柱，设计合理，结构简单，有效增加了检测的尺寸范围，使得检测方便，适用性好。

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。图I为现有的印刷电路板光学检测治具的示意图；图2为本实用新型实施例所公开的一种印刷电路板光学检测治具的示意图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。本实用新型提供了一种印刷电路板光学检测治具，如图2所示，包括显微镜体I、支承所述显微镜体I的支臂2、支承所述支臂2的立柱3，及承载工件的承载平台4，还包括一呈倒置L型的支架5，所述支架5下端与所述承载平台4的边端固定连接，其上端面上支承所述立柱3。此外，为了简化制作工艺，节约生产成本及增架牢固性，所述支架5与所述承载平台4可采用一体成型结构。综上所述，本实用新型提供的一种印刷电路板光学检测治具通过在承载平台4的一边端上固设一呈倒置L型支架5，由该支架5来支承立柱3，支架5横向长度可根据实际需要设计使用。本实用新型设计合理，结构简单，有效增加了检测的尺寸范围，在遇到尺寸较大的PCB时可进行有顺序的检测，有效避免漏检；尺寸满足时，无需旋转或变换角度即可
完成检测操作，使得操作方便，适用性好，有益于提高工作效率和产品良率。对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
权利要求1.ー种印刷电路板光学检测治具，包括显微镜体、支承所述显微镜体的支臂、支承所述支臂的立柱，及承载エ件的承载平台，其特征在干，还包括ー呈倒置L型的支架，所述支架下端设于所述承载平台上，其上端面上支承所述立柱。
2.根据权利要求I所述的ー种印刷电路板光学检测治具，其特征在于，所述支架与所述承载平台的边端固定连接。
3.根据权利要求2所述的ー种印刷电路板光学检测治具，其特征在于，所述支架与所述承载平台为一体成型结构。
专利摘要本实用新型公开了一种印刷电路板光学检测治具，包括显微镜体、支承所述显微镜体的支臂、支承所述支臂的立柱，及承载工件的承载平台，还包括一呈倒置L型的支架，所述支架下端设于所述承载平台上，其上端面上支承所述立柱。本实用新型通过一呈倒置L型支架来支承立柱于承载平台上，设计合理，结构简单，有效增大了检测的尺寸范围，使得检测方便，适用性好。
文档编号G01M11/00GK202582874SQ20122018093
公开日2012年12月5日 申请日期2012年4月25日 优先权日2012年4月25日
发明者谢乐平 申请人:苏州友佳电子有限公司