专利名称：影像微尘粒检测系统及其检测方法
影像微尘粒检测系统及其检测方法
技术领域：
本发明有关于一种影像微尘粒检测(inspection of particle or dust)技术，更详而言之，关于一种可信赖度更高的影像微尘粒检测系统及其检测方法。
背景技术：
随着数字影像处理(image process)技术发展的成熟，人们逐开始讲究画面质量的细腻度，因此为能够在实感方面与传统相片质量相提并论，甚至彻底取代传统相机的功能，并使画质臻至完美如真临实境，乃为相关业者所致力研究及改善的目标之一，但有关画质好坏的关键，大部分仍取决于最初的摄影机(camera)所撷取影像的质量好坏。
按一般摄影机主要包括影像感测元件(Image sensor)、透镜(lens)、致动器(actuator)以及影像处理器(Image Signal Processor)所组成，且
通过该透镜使摄影机提供成像或自动对焦的功能，然，该透镜的组装过程中因环境灰尘或透镜制程中的点焦材料，而使透镜成像路径上附有微尘粒(particle
or dust)，因而影响取像质量。为避免具有摄影功能的电子产品(例如手机或数字相机等)使用到已有微尘粒附着的透镜而影响该电子产品的取像质量，必须检测于该透镜成像路径上是否附着微尘粒及其所在位置，再予以排除，然，通常细小的微尘粒难以被发现，逐成为一待解决的技术课题。
请参阅图1，为目前普遍使用的一种检测透镜成像路径上是否附着微尘粒的技术，首先根据透镜的摄影尺寸规划其整体标准偏差(global standarddeviation)面积A1，依据分辨率不同依序分割成若干个显示区块Bl，并逐一规划形成局部标准偏差(Local standard deviation)面积为预设基准值，对该透镜透射光源，再逐一计算比对各该显示区块经该光源折射后被遮蔽的面积是否大于该预设基准值，若遮蔽面积大于该基准值，则表示该显示区块为微尘粒的所在位置。
然而，上述的检测技术需于透镜所折射光源为理想状态下，方能准确地检测微尘粒，然而，在实施使用上，因透镜具有弧面，故光源将会受到透镜阴影效应(lens shading affects)或称为周边暗角(Vignetting)的影响，导致检测误差，具体言之，底片上曝光的光度，通常约有50%-70%的光度，由中央到角落有减弱的情形，造成四周较暗的情形，如此，将很容易导致后续运算误判的情形，或是需要透过复杂的修正参数表达式予以补偿，无疑将相对增加系统的工作负担，甚至影响整体检测效能。职是，如何提供一种可克服光学缺陷，以提高微尘粒判断准确度的影像微尘粒检测系统及其检测方法，实为目前此产业界中亟待解决的问题。
发明内容
鉴于上述现有技术的缺点，本发明的一目的在于提供一种可提高微尘粒判断准确度的影像微尘粒检测系统及其检测方法。
本发明的另一 目的在于提供一种可提供较大侦测面积的影像微尘粒检测系统及其检测方法，以克服光学缺陷所产生的误差。
为达上述目的及其它目的，本发明提供一种影像微尘粒检测系统，与光源产生�？榧笆涑龅ピ钆洌霉庠床？橛靡远酝妇堤峁┬Ｕ馐约觳飧猛妇凳欠窀阶盼⒊玖＃糜跋裎⒊玖＜觳庀低嘲且涞ピ靡越猛�
镜所撷取影像分割定义为若干个像素地址(Pixel position)数据予以储存，并
储存有关于在该输出单元上依序定义为对应各该像素地址数据的若干个以行列
排序的显示区块(block);影像处理�？椋谰莞霉庠床？樗峁┑男Ｕ馐垢檬涑龅ピ戏直鹧匦信判蚣傲信判蚍较虻母鞲们槟谑涑鋈舾商跣Ｕ�
光束曲线；设定�？椋檬涑龅ピ涑龅母鞲眯Ｕ馐吡蕉朔直鸲ㄒ�
为起始点与终止点，以及将各该校正光束曲线的起始点与终止点的中点间定义
为峰点(peak)，并将各该校正光束曲线的峰点与该起始点及该终止点连接；扫瞄模块，用以依序扫瞄各该校正光束曲线；以及比对�？椋谰莞蒙瓒？樗ㄒ宓呐卸匣迹缘备蒙槟？橐佬蛏楦鞲眯Ｕ馐呤保直鸨榷愿鞲们槟谒涑龅男Ｕ馐呤欠癯龈门卸匣迹舴瘢虮硎靖们槲Ｗ刺羰牵虮硎靖们槲哂形⒊玖５淖刺�。
本发明的另一目的在于提供一种影像微尘粒检测系统，与光源产生�？榧笆涑龅ピ钆洌霉庠床？橛靡远酝妇堤峁┬Ｕ馐约觳飧猛妇凳欠�
附着微尘粒，该影像微尘粒检测系统包括记忆单元，用以将该透镜所撷取影
像分割定义为若干个像素地址(Pixel position)数据予以储存，并储存有关于在该输出单元上依序定义为对应各该像素地址数据的若干个以行列排序的显
示区块(block);影像处理�？椋谰莞霉庠床？樗峁┑男Ｕ馐�
该输出单元上分别沿行排序及列排序方向的各该区块内输出若干条校正光束曲线；设定�？椋檬涑龅ピ涑龅母鞲眯Ｕ馐吡蕉朔直鸲ㄒ逦鹗�
点与终止点，以及将各该起始点与终止点的中点间定义为峰点(peak),并将各该校正光束曲线的峰点与该起始点及该终止点连接，以形成区域面积且将该区域面积定义为判断基准；第一扫瞄单元，用以分别沿行排序方向扫瞄各该校正光束曲线；第二扫瞄单元，用以分别沿列排序方向扫瞄各该校正光束曲线；比对模块，依据该设定�？樗ㄒ宓呐卸匣迹缘备玫谝簧榈ピ佬蛏楦鞲眯Ｕ馐呤保直鸨榷愿鞲们槟谒涑龅男Ｕ馐呤欠癯龈门卸匣迹舴瘢虮硎靖们槲Ｗ刺羰牵蚴涑龃钤赜杏敫们橄嘤Φ南袼氐刂肥莸牡谝灰斐Ｐ藕牛换虻备玫诙榈ピ佬蛏楦鞲眯Ｕ馐呤保苑直鸨榷愿鞲们槟谒涑龅男Ｕ馐呤欠癯龈门卸匣迹舴瘢虮硎靖们槲Ｗ刺羰牵蚴涑龃钤赜杏敫们橄嘤Φ南袼氐刂肥莸牡诙斐Ｐ藕牛灰约芭卸夏？椋靡苑直鸨榷愿鞲玫谝灰斐Ｐ藕庞敫鞲玫诙斐Ｐ藕攀欠裼形呛系南袼氐刂肥荩舴瘢虮硎居敫孟袼氐刂肥荻杂Φ那槲Ｗ刺羰牵虮硎居敫孟袼氐刂肥荻杂Φ那槲哂形⒊玖５淖刺�。
对应上述的影像微尘粒检测系统，本发明所揭的影像微尘粒检测方法，包括以下步骤将该透镜所撷取影像分割定义为若干个像素地址(pixelposition)数据，并于该输出单元上依序定义为对应各该像素地址数据的若干
个以行列排序的显示区块(block);依据该光源产生�？樗峁┑男Ｕ馐�
使该输出单元上分别沿行排序及列排序方向的各该区块内输出若干条校正光束
曲线；将各该校正光束曲线两端分别定义起始点与终止点，以及将各该校正光束曲线的起始点与终止点'的中点间定义为峰点(peak)，以将各该校正光束曲线的峰点与该起始点及该终止点连接，以形成区域面积且将该区域面积定义为判断基准；以及依序扫瞄各该校正光束曲线，以比对各该区块内所输出的校正光束曲线是否超出该判断基准，若否，则表示该区块为正常状态，若是，则表示该区块为具有微尘粒的状态。
因此，相较于现有检测技术，本发明的影像微尘粒检测系统及其检测方法，其主要先将该透镜所撷取影像分割定义为若干个像素地址数据，并于该输出单元上依序定义为对应各该像素地址数据的若干个以行列排序的显示区块，以当影像处理�？橐谰莞霉庠床？樗峁┑男Ｕ馐垢檬涑龅ピ戏直鹧匦信判蚣傲信判蚍较虻母鞲们槟谑涑鋈舾商跣Ｕ馐撸有缮瓒？榉直鸾鞲眯Ｕ馐吡蕉朔直鸲ㄒ逦鹗嫉阌胫罩沟悖⒔鞲闷鹗嫉阌胫罩沟愕闹械慵涠ㄒ逦宓悖詈笥杀榷阅？榻鞲眯Ｕ馐叩姆宓阌敫闷鹗嫉慵案弥罩沟懔樱孕纬汕蛎婊⒔蛎婊ㄒ逦卸匣迹缘鄙槟？橐佬蛏楦鞲眯Ｕ馐呤保菀耘卸细鞲们槭欠翊嬖谖⒊玖＃⑾喽蕴岣吲卸献既范�。
图1为一影像示意图，用以显示现有检测技术的规划影像示意图2为一方块示意图，用以显示本发明的影像微尘粒检测系统的一较佳实施例
的基本架构方块示意图3为一折线示意图，用以显示本发明的影像微尘粒检测系统沿行(row)排序提取(Fetching)影像的折线示意图4为一折线示意图，用以显示本发明的影像微尘粒检测系统沿列(column)排序提取(Fetching)影像的折线示意7图5为一局部折线放大图，用以显示本发明的影像微尘粒检测系统提取校正光
束曲线进行检测且检测出所检测的区块并无微尘粒的局部折线放大图6为一局部折线放大图，用以显示本发明的影像微尘粒检测系统提取校正光
束曲线进行检测且检测出所检测的区块具有微尘粒的局部折线放大图7为一流程示意图，用以说明本发明的影像微尘粒检测方法的第一实施例的
流程示意图8为一方块示意图，用以用以说明本发明的影像微尘粒检测系统的另一较佳实施例的基本架构方块示意图9为一流程示意图，用以说明本发明的影像微尘粒检测方法的第二实施例的流程示意图IO为一局部折线放大图，用以显示本发明的影像微尘粒检测系统提取校正光束曲线于滤波前的局部折线放大图11为一局部折线放大图，用以显示本发明的影像微尘粒检测系统提取校正光束曲线于滤波后的局部折线放大图；以及
图12为一信号迭合比较示意图，用以显示图10及图ll迭合后的信号差值。
具体实施方式
以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，熟悉此技艺的人士可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其它优点与功效。本发明亦可通过其它不同的具体实例加以施行或应用，本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用，在不悖离本发明的精神下进行各种修饰与变更。
以下的实施例进一步详细说明本发明的观点，但并非以任何观点限制本发明的范畴，以下图式仅以简化的示意图式说明本发明的基本构想，遂图式中仅例示与本发明有关的元件而非按照实际实施时的元件数目、形状及尺寸绘制，因此在实际实施时，各元件的型态、数量及比例并非以图式为限，可依实际设计需要作变化，合先叙明。
参阅图2，用以说明本发明的影像微尘粒检测系统一较佳实施例的基本架构方块示意图。如图所示，该影像微尘粒检测系统10用以检测透镜21表面是否受到微尘粒(particle or dust)的污染，如现有检测方式，本发明的影像微尘粒检测系统10欲对透镜执行检测时，亦需搭配光源产生�？�12及输出单元30，该光源产生�？�12用以对透镜21提供校正光束以达到检测的目的，具体言之，该光源产生�？�12可为测试标准灯箱，该灯箱内包括反射板元件与多组荧光管(图未示)，其可例如为大日本印刷公司(Dai Nippon Printing; DNP)所制造CCV31F/51F系列的标准灯箱(由于该标准灯箱的发光原理为现有技术，故在此不予赘述)，而该输出单元30例如是显示屏幕，其依据本发明的影像微尘粒检测系统10的检测结果进行输出，以供检测人员得知该透镜是否为不良品，进而避免使用到不良的透镜而影响摄影产品的取像质量。而该影像微尘粒检测系统10包括记忆单元11、影像处理�？�13、设定�？�14、扫瞄�？�15、比对�？�16、以及标记模块17。
以下对本发明所揭的影像微尘粒检测系统的各组成构件进行详细说明。
该记忆单元11将该透镜21所撷取影像分割定义为若干个像素地址(pixelposition)数据，并于该输出单元30上依序定义为对应各该像素地址数据的若干个以行列排序的显示区块；具体而言，该显示区块根据透镜21对影像的分辨率而以二维矩阵(2D Matrix)排列，例如100万像素的二维矩阵具有1000x1000个显示区块，200万像素的二维矩阵则将具有2000x1000个显示区块。
该影像处理�？�13则用以当接收该校正光束时，使该输出单元30上分别沿行(row)排序及列(column)排序方向的各该区块内形成若干条校正光束曲线；具体而言，该校正光束曲线为颜色饱和特性曲线(color saturation curve),即为红(R)、绿(G)、蓝(B)三原色所相迭的分布曲线。
参阅图3及图4，用以显示本发明的影像微尘粒检测系统分别沿行(row)排序及列(column)排序提取(Fetching)影像的示意图，其中该校正光束曲线以折线图(broken-line graph)的形式分布。如图3所示，揭露由水平方向提取代表行排序的像素点(pixels)影像分布的红、绿、蓝三原色的校正光束曲线。如图4所示，揭露由垂直方向提取代表列排序的像素点(pixels)影像分布的红、绿、蓝三原色的校正光束曲线。
值得一提的是，该光源产生�？�12复包括调节�？�121，用以调节该光源产生�？�12的曝光值(Exposure value; EV)，以尽可能将上述的颜色饱和特性曲线调整在折线中间，以利使用者检视。
请参阅图5及图6，其为本发明的影像微尘粒检测系统针对上述第3A 3B图所提取的红、绿、蓝三原色的校正光束曲线进行检测的局部折线放大图，即利用如图2所揭示的影像微尘粒检测系统10的设定�？�14、扫瞄模块15以及比对�？�16进行提�。捶直鸲孕信判蚣傲信判蛩崛〉暮�、绿、蓝三原色的校正光束曲线进行处理，再透过输出单元30予以输出检测结果；其中，该设定�？�14分别将各该红、绿、蓝三原色的校正光束曲线两端分别定义为起始点a与终止点b，以及将各该起始点a与终止点b的中点间定义为峰点c (peak),并将各该校正光束曲线的峰点c与起始点a与该终止点b连接，而该扫瞄�？�15用以依序扫瞄各该红、绿、蓝三原色的校正光束曲线，再由该比对�？�16依据该设定�？�14所围设的区域面积A定义为判断基准；具体而言，该所围设的区域面积A为三角形，而该连接线则为构成该三角形的斜边(基准线)，而可透过数学积分式予以计算该区域面积判断基准临界值(threshold),以当该扫瞄�？�15依序扫瞄各该红、绿、蓝三原色的校正光束曲线时，分别比对各该区块是否超出所围设的区域面积A，若否，则表示该区块为正常状态，若是，则表示该区块为具有微尘粒，且通过该标记�？�17对该具有微尘粒的区块进行标
9记，以在检测作业完成后，供人员对该具有标记的区块进行后续处理，例如去除微尘粒作业，或者将具有该标记的透镜(表示该透镜具有微尘粒)退还给制造厂商，以有效防止使用到不良的透镜而影响摄影产品的取像质量。
如图5所示，由于所扫瞄的每一像素地址数据皆未超出该红、绿、蓝三原
色的校正光束曲线的峰点c对起始点a以及峰点c对终止点b分别所围设的区域面积A，故使该比对模块16可判断该校正光束曲线L的区块皆为正常状态。
如图6所示，由于所扫瞄的像素地址数据的突波P1、 P2已超出该红、绿、蓝三原色的校正光束曲线的峰点c对起始点a以及峰点c对终止点b分别所围设的区域面积A，即大于比对�？�16所预设的判断基准值，此时，该比对�？�16将可判断该红、绿、蓝三原色的校正光束曲线中的突波Pl、 P2所属的像素地址数据的区块为具有微尘粒。
请参阅图7，其为本发明的影像微尘粒检测方法的第一实施例的流程示意图，如图所示，该影像微尘粒检测方法先执行步骤S101。.
在步骤S101中，将该透镜所撷取影像分割定义为若干个像素地址(pixelposition)数据，并于该输出单元上依序定义为对应各该像素地址数据的若干个以行列排序的显示区块，接着进至步骤S102。
在步骤S102中，朝该透镜投射一校正光束，使该输出单元上分别沿行排序及列排序方向的各该区块内形成若干条校正光束曲线，接着进至步骤S103。
在步骤S103中，将各该校正光束曲线两端分别定义起始点与终止点，以及将各该起始点与终止点的中点间定义为峰点(peak)，由各该校正光束曲线的峰点与该起始点及该终止点连接以形成区域面积，以将该区域面积定义为判断基准，接着进至步骤S104。
在步骤S104中，依序扫瞄各该校正光束曲线，以比对各该区块内的校正光束曲线是否超出该区域面积(即判断基准)，若否，则进至步骤S105，若是，则进至S106。
在步骤S105中，表示该区块为正常状态，接着进至步骤S107。在步骤S106中，表示该区块具有微尘粒，并标记该区块，以供人员对具有该标记的区块进行后续处理，例如去除微尘粒作业，接着进至步骤S107。
在步骤S107中，判断是否已经对该透镜的各区域完成检测，若否，则返回到步骤S104，若是，则进至步骤S108。
在步骤S108中，于输出单元上显示检测结果，然后结束本发明的检测程序。请参阅图8，其用以说明本发明的影像微尘粒检测系统的另一较佳实施例的基本架构方块示意图。如图所示，该影像微尘粒检测系统10'与该图2所示的影像微尘粒检测系统10皆同样具有记忆单元11、光源产生�？�12、影像处理�？�13以及设定�？�14，故相同之处则不另赘述。而本实施例的影像微尘粒检测系统10'与图2所示的影像微尘粒检测系统10不同的是，本实施例还包括第一扫瞄单元151、第二扫瞄单元152、以及判断�？�18。其中，该第一扫瞄 单元151用以分别沿行排序方向扫瞄各该校正光束曲线，以分别比对各该区块 是否超出所围设的区域面积，若否，则表示该区块为正常状态，若是，则输出 搭载有相应像素地址数据的第一异常信号；该第二扫瞄单元152用以分别沿列 排序方向扫瞄各该校正光束曲线，以分别比对各该区块是否超出所围设的区域 面积，若否，则表示该区块为正常状态，若是，则输出搭载有相应像素地址数 据的第二异常信号；而该判断�？榉直鸨榷愿鞲玫谝灰斐Ｐ藕庞敫鞲玫诙斐� 信号是否有吻合的相应像素地址数据，若否，则表示为正常状态，若是，则表 示该所对应的区块为具有微尘粒。
请参阅图9，为本发明的影像微尘粒检测方法的第二实施例的流程示意图， 如图所示，该影像微尘粒检测方法先执行步骤S201。
在步骤S201中，将该透镜所撷取影像分割定义为若干个像素地址(pixel position)数据，并于该输出单元上依序定义为对应各该像素地址数据的若干 个以行列排序的显示区块，接着进至步骤S202。
在步骤S202中，朝该透镜投射一校正光束，使该输出单元上分别沿行排序 及列排序方向的各该区块内形成若干条校正光束曲线，接着进至步骤S203。
在步骤S203中，将各该校正光束曲线两端分别定义起始点与终止点，以及 将各该起始点与终止点的中点间定义为峰点(peak)，由各该校正光束曲线的峰 点与该起始点及该终止点连接而形成区域面积，以将该区域面积定义为判断基 准，接着进至步骤S204。
在步骤S204中，分别沿行排序方向扫瞄各该校正光束曲线，以分别比对各 该区块是否超出该区域面积(即判断基准)，若否，则进至S205，若是，则进 至S206。
在步骤S205中，表示该区块为正常状态，接着进至步骤S207。
在步骤S206中，输出搭载有与该区块相应的像素地址数据的第一异常信 号，接着进至S207。
在步骤S207中，判断是否已经对该透镜的行排序方向完成检测，若否，则 返回到步骤S204，若是，则进至S208。
在步骤S208中，分别沿列排序扫瞄各该校正光束曲线，以分别比对各该区 块是否超出该区域面积，若否，则进至S209，若是，则进至S210。
在步骤S209中，表示该区块为正常状态，接着进至步骤S211。
在步骤S210中，输出搭载有与该区块相应的像素地址数据的第二异常信 号，接着进至S211。
在步骤S211中，判断是否已经对该透镜的列排序方向完成检测，若否，则 返回到步骤S208，若是，则进至S212。
在步骤S212中，分别比对各该第一异常信号与各该第二异常信号是否有吻合的相应像素地址数据，若否，则进至步骤S213，若是，则进至步骤S214。 在步骤S213中，表示该区块为正常状态，接着进至步骤S215。 在步骤S214中，表示该区块为具有微尘粒，并标记该区块，接着进至步骤
S215。
在步骤S215中，判断是否已经对各该第一异常信号与各该第二异常信号完 成比对，若否，则返回到步骤S212，若是，则进至步骤S216。
在步骤S216中，于输出单元上显示检测结果，然后结束本发明的影像微尘 粒检测方法。
此外，本发明的影像微尘粒检测系统的实施例中，可透过低通滤波器电路 过滤该校正光束曲线，以形成滤波校正光束曲线；且通过差值撷取电路来撷取 该原校正光束曲线与该滤波校正光束曲线的差值，以作为该比对�？�16的比对 依据。
请参阅图10及图11，其用以显示滤波前、后以及合并后的结果。如图10 所示，揭露未经滤波前的原校正光束曲线中的突波(Pl、 P2)。如图11所示， 揭露经滤波后的校正光束曲线中的突波(Pl' 、 P2)。如图12所示，则揭露图 10及图U合并后的突波差值Pdiff，并作为后续判断是否有微尘粒的比对依据， 以克服透镜遮蔽效应偏移的影响，俾提升判断精准度。
综上所述，本发明提供一种影像微尘粒检测系统及其检测方法，其主要先 透过记忆单元将该透镜所撷取影像分割定义为若干个像素地址数据，并于该输 出单元上依序定义为对应各该像素地址数据的若干个以行列排序的显示区块， 以当影像处理�？榻邮展庠词保垢檬涑龅ピ戏直鹧匦信判蚣傲信判蚍较虻� 各该区块内形成若干条校正光束曲线，接续，由设定�？榉直鸾鞲眯Ｕ馐� 曲线两端分别定义为起始点与终止点，并将各该起始点与终止点的中点间定义 为峰点，最后由比对�？榻鞲眯Ｕ馐叩姆宓阌敫闷鹗嫉慵案弥罩沟懔� 接以围设一区域面积，并将该区域面积定义为判断基准，以当扫瞄�？橐佬蛏� 瞄各该校正光束曲线时，据以判断各该区块是否存在有微尘粒，相较于现有检 测技术，可相对提高判断准确度。
权利要求
1.一种影像微尘粒检测系统，与光源产生�？榧笆涑龅ピ钆洌霉庠床？橛靡远酝妇堤峁┬Ｕ馐约觳飧猛妇凳欠窀阶盼⒊玖＃涮卣髟谟诟糜跋裎⒊玖＜觳庀低嘲且涞ピ靡越猛妇邓⑷∮跋穹指疃ㄒ逦舾筛鱿袼氐刂肥萦枰源⒋妫⒋⒋嬗泄赜谠诟檬涑龅ピ弦佬蚨ㄒ逦杂Ω鞲孟袼氐刂肥莸娜舾筛鲆孕辛信判虻南允厩椋挥跋翊砟？椋谰莞霉庠床？樗峁┑男Ｕ馐垢檬涑龅ピ戏直鹧匦信判蚣傲信判蚍较虻母鞲们槟谑涑鋈舾商跣Ｕ馐撸簧瓒？椋檬涑龅ピ涑龅母鞲眯Ｕ馐吡蕉朔直鸲ㄒ逦鹗嫉阌胫罩沟悖约敖鞲眯Ｕ馐叩钠鹗嫉阌胫罩沟愕闹械慵涠ㄒ逦宓悖⒔鞲眯Ｕ馐叩姆宓阌敫闷鹗嫉慵案弥罩沟懔樱孕纬汕蛎婊医们蛎婊ㄒ逦卸匣迹簧槟？椋靡砸佬蛏楦鞲眯Ｕ馐撸灰约氨榷阅？椋谰莞蒙瓒？樗ㄒ宓呐卸匣迹缘备蒙槟？橐佬蛏楦鞲眯Ｕ馐呤保直鸨榷愿鞲们槟谒涑龅男Ｕ馐呤欠癯龈门卸匣迹舴瘢虮硎靖们槲Ｗ刺羰牵虮硎靖们槲哂形⒊玖５淖刺�。
2. 根据权利要求1所述的影像微尘粒检测系统，其特征在于还包括 低通滤波器电路，用以过滤该校正光束曲线，以形成滤波校正光束曲线；以及差值撷取电路，用以撷取该输出单元输出的校正光束曲线与该低通滤波器 电路所形成的滤波校正光束曲线的差值，以将该差值作为该比对�？楸榷愿鞲� 区块内所输出的校正光束曲线是否超出该判断基准的依据。
3. 根据权利要求1所述的影像微尘粒检测系统，其特征在于还包括标记 �？椋靡员昙蔷门卸夏？榕卸暇哂形⒊玖５那椋矣诟檬涑龅ピ允揪� 有该标记的区块。
4. 根据权利要求1所述的影像微尘粒检测系统，其特征在于该显示区块 以二维矩阵排列。
5. —种影像微尘粒检测系统，与光源产生�？榧笆涑龅ピ钆洌霉庠床� 生�？橛靡远酝妇堤峁┬Ｕ馐约觳飧猛妇凳欠窀阶盼⒊玖＃涮卣髟谟诟糜跋裎⒊玖＜觳庀低嘲且涞ピ靡越猛妇邓⑷∮跋穹指疃ㄒ逦舾筛鱿袼氐刂肥萦枰� 储存，并储存有关于在该输出单元上依序定义为对应各该像素地址数据的若干个以行列排序的显示区块；影像处理�？椋谰莞霉庠床？樗峁┑男Ｕ馐垢檬涑龅ピ� 分别沿行排序及列排序方向的各该区块内输出若干条校正光束曲线；设定�？椋檬涑龅ピ涑龅母鞲眯Ｕ馐吡蕉朔直鸲ㄒ逦鹗� 点与终止点，以及将各该校正光束曲线的起始点与终止点的中点间定义为峰点， 并将各该校正光束曲线的峰点与该起始点及该终止点连接，以形成区域面积且 将该区域面积定义为判断基准；第一扫瞄单元，用以分别沿行排序方向扫瞄各该校正光束曲线； 第二扫瞄单元，用以分别沿列排序方向扫瞄各该校正光束曲线； 比对�？椋谰莞蒙瓒？樗ㄒ宓呐卸匣迹缘备玫谝簧榈ピ佬� 扫瞄各该校正光束曲线时，分别比对各该区块内所输出的校正光束曲线是否超 出该判断基准，若否，则表示该区块为正常状态，若是，则输出搭载有与该区 块相应的像素地址数据的第一异常信号；或当该第二扫瞄单元依序扫瞄各该校 正光束曲线时，以分别比对各该区块内所输出的校正光束曲线是否超出该判断 基准，若否，则表示该区块为正常状态，若是，则输出搭载有与该区块相应的 像素地址数据的第二异常信号；以及判断模块，用以分别比对各该第一异常信号与各该第二异常信号是否有吻 合的像素地址数据，若否，则表示与该像素地址数据对应的区块为正常状态， 若是，则表示与该像素地址数据对应的区块为具有微尘粒的状态。
6. 根据权利要求5所述的影像微尘粒检测系统，其特征在于还包括 低通滤波器电路，用以过滤该校正光束曲线，以形成滤波校正光束曲线；以及差值撷取电路，用以撷取该输出单元所输出的校正光束曲线与该低通滤波 器电路所形成的滤波校正光束曲线的差值，以将该差值作为该比对�？榈谋榷� 依据。
7. 根据权利要求5所述的影像微尘粒检测系统，其特征在于还包括标记 �？椋靡员昙蔷门卸夏？榕卸暇哂形⒊玖５那椋矣诟檬涑龅ピ舷允� 具有该标记的区块。
8. 根据权利要求5所述的影像微尘粒检测系统，其特征在于该显示区块 以二维矩阵排列。.
9. 一种影像微尘粒检测方法，应用于具有光源产生�？榧笆涑龅ピ募觳庀低持校霉庠床？橛靡远酝妇堤峁┬Ｕ馐约觳飧猛妇凳欠窀阶盼⒊玖＃涮卣髟谟诟梦⒊玖＜觳夥椒òㄒ韵虏街杞猛妇邓⑷∮跋穹指疃ㄒ逦舾筛鱿袼氐刂肥荩⒂诟檬涑龅ピ� 依序定义为对应各该像素地址数据的若干个以行列排序的显示区块；依据该光 源产生�？樗峁┑男Ｕ馐垢檬涑龅ピ戏直鹧匦信判蚣傲信判蚍较虻母鞲们槟谑涑鋈舾商跣Ｕ馐撸唤鞲眯Ｕ馐吡蕉朔直鸲ㄒ迤鹗嫉阌胫罩沟悖约敖鞲眯Ｕ馐� 曲线的起始点与终止点的中点间定义为峰点，以将各该校正光束曲线的峰点与 该起始点及该终止点连接，以形成区域面积且将该区域面积定义为判断基准； 以及依序扫瞄各该校正光束曲线，以比对各该区块内所输出的校正光束曲线是 否超出该判断基准，若否，则表示该区块为正常状态，若是，则表示该区块为 具有微尘粒。
10.根据权利要求9所述的影像微尘粒检测方法，其特征在于该依序扫瞄 各该校正光束曲线的步骤中复包括以下步骤分别沿行排序方向扫瞄各该校正光束曲线，以分别比对各该区块内所输出 的校正光束曲线是否超出该判断基准，若否，则表示该区块为正常状态，若是，则输出搭载有与该区块相应的像素地址数据的第一异常信号；分别沿列排序扫瞄各该校正光束曲线，以分别比对各该区块内所输出的校 正光束曲线是否超出该判断基准，若否，则表示该区块为正常状态，若是，则 输出搭载有与该区块相应的像素地址数据的第二异常信号；以及分别判断各该第一异常信号与各该第二异常信号是否有吻合的像素地址数 据，若否，则表示与该像素地址数据对应的区块为正常状态，若是，则表示与 该像素地址数据对应的区块为具有微尘粒。
11.根据权利要求10所述的影像微尘粒检测方法，其特征在于还包括过 滤各该区块内输出的校正光束曲线，以形成滤波校正光束曲线，并分别撷取各 该区块内输出的各校正光束曲线与该过滤的各滤波校正光束曲线的差值，以将 各该差值作为判断出各该校正光束曲线是否超出该判断基准的依据。
12. 根据权利要求9或10所述的影像微尘粒检测方法，其特征在于还包括用以标记具有微尘粒的区块，且于该输出单元上显示具有该标记的区块。
13. 根据权利要求9所述的影像微尘粒检测方法，其特征在于该显示区块以二维矩阵排列。
全文摘要
一种影像微尘粒检测系统及其检测方法，将透镜所撷取影像分割定义为若干个像素地址数据，并于输出单元上依序定义为对应各该像素地址数据的若干个以行列排序的显示区块，以当影像处理模块依据光源产生�？樗峁┑男Ｕ馐垢檬涑龅ピ戏直鹧匦信判蚣傲信判蚍较虻母鞲们槟谑涑鋈舾商跣Ｕ馐撸有缮瓒？榉直鸾鞲眯Ｕ馐吡蕉朔直鸲ㄒ逦鹗嫉阌胫罩沟悖⒔鞲闷鹗嫉阌胫罩沟愕闹械慵涠ㄒ逦宓悖⒔鞲眯Ｕ馐叩姆宓阌敫闷鹗嫉慵案弥罩沟懔樱孕纬汕蛎婊⒔蛎婊ㄒ逦卸匣迹砸佬蛏楦鞲眯Ｕ馐呤保ü杞峁敫门卸匣祭磁卸细鞲们槭欠翊嬖谟形⒊玖＃源讼喽蕴岣呶⒊玖Ｅ卸献既范�。
文档编号G01N21/88GK101661006SQ20081019809
公开日2010年3月3日 申请日期2008年8月29日 优先权日2008年8月29日
发明者刘永信, 林晓铭 申请人:佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司
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